1.一种自带DAC功能的ADC积分器，其特征在于该积分器电路包括采样电容，2个积分电容，1个运算放大器，开关组；所述采样电容具有两组，一组连接运算放大器正输入端，一组连接运算放大器负输入端；2个积分电容，分别接于运算放大器的正输入端和负输入端；所述开关组设置于运算放大器与采样电路之间，及采样电容与输入信号之间。
2.如权利要求1所述的自带DAC功能的ADC积分器，其特征在于所述采样电容，包括有2*n个采样电容，即每组采样电容包括有n个，n个采样电容串联起来，接于运算放大器上。
3.如权利要求1所述的自带DAC功能的ADC积分器，其特征在于所述开关组，包括有复数个采样开关及复数个控制开关。
4.如权利要求3所述的自带DAC功能的ADC积分器，其特征在于所述采样开关，其中两个采样开关串联于一个采样电容，接于VIP输入信号正端和VIN输入信号的负端；两个采样开关并联于一个采样电容，接于参考电压的正端REFP和参考电压的负端REFN。
5.如权利要求4所述的自带DAC功能的ADC积分器，其特征在于所述采样电容分为Cs11～Cs1n等n个正端信号采样电容和Cs21～Cs2n等n个负端信号采样电容，其中Cs1x(x＝1、2、…、n)正端信号采样电容的上极板各自对应连接1x(x＝1、2、…、n)、3x1(x＝1、2、…、n)、3x2(x＝1、2、…、n)三个开关，Cs1x(x＝1、2、…、n)正端信号采样电容的下极板各自对应连接1x1(x＝1、2、…、n)、1x2(x＝1、2、…、n)两个开关；Cs2x(x＝1、2、…、n)负端信号采样电容的上极板各自对应连接2x(x＝1、2、…、n)、4x1(x＝1、2、…、n)、4x2(x＝1、2、…、n)三个开关，Cs2x(x＝1、2、…、n)负端信号采样电容的下极板各自对应连接2x1(x＝1、2、…、n)、2x2(x＝1、2、…、n)两个开关；1x1(x＝1、2、…、n)、2x2(x＝1、2、…、n)开关的另一端连接输入信号的正端Vip，1x2(x＝1、2、…、n)、2x1(x＝1、2、…、n)开关的另一端连接输入信号的负端Vin，3x2(x＝1、2、…、n)、4x1(x＝1、2、…、n)开关的另一端连接参考电压的正端REFP，3x1(x＝1、2、…、n)、4x2(x＝1、2、…、n)开关的另一端连接参考电压的负端REFN。
6.如权利要求3所述的自带DAC功能的ADC积分器，其特征在于所述控制开关，设置于每个采样电容与运算放大器之间。
7.如权利要求1所述的自带DAC功能的ADC积分器，其特征在于所述积分电容分为正端积分电容和负端积分电容各一个，其中正端积分电容的上极板连接1x(x＝1、2、…、n)开关的另一端及运算放大器的正输入端，正端积分电容的下极板连接积分器正输出端Vop和运算放大器的负输出端；负端积分电容的上极板连接2x(x＝1、2、…、n)开关的另一端和运算放大器的负输入端，负端积分电容的下极板连接积分器负输出端Von及30运算放大器的正输出端。
8.一种自带DAC功能的ADC积分器的测量方法，其特征在于该方法通过采样电容，使得被测信号可以加上一个参考电压比例变量DAC的值后再进行ADC转换。
9.如权利要求8所述的自带DAC功能的ADC积分器的测量方法，其特征在于所述DAC的值的大小由控制开关3x1(x＝1、2、…、n)或3x2(x＝1、2、…、n)、4x1(x＝1、2、…、n)或4x2(x＝1、2、…、n)决定(假设正端n个电容中有m个电容接REFN，有n-m个电容接REFP，对应负端n个电容中有m个电容接REFP，有n-m个电容接REFN，m＝0、1、2、…、n)，则对应DAC的值为：-(1-2m/n)*(REFP-REFN)/(REFP-REFN)，DAC的分辨率为：Log(n)/log2。
10.如权利要求1所述的自带DAC功能的ADC积分器的测量方法，其特征在于所述经过ADC转换输出的ADC值为：
(2(Vip-Vin)-(1-2m/n)*(REFP-REFN))/(REFP-REFN)。