一种一体式中大尺寸测试FPC的制作方法

一种一体式中大尺寸测试fpc
技术领域
1.本实用新型涉及柔性电路板技术领域，具体为一种一体式中大尺寸测试 fpc。


背景技术：

2.amoled为主动矩阵有机发光二极体面板的简称，相比传统tft材质屏幕， amoled屏幕具有反应速度较快、对比度更高、视角较广等特点，因此在显示屏领域的应用越来越广泛，半成品amoled在生产出来的时候，需要对其性能及相应的功能进行检测，将性能较差的半成品剔除并重新加工，以保证其半成品的质量，在半成品amoled的测试阶段，通常采用采用半成品amoled通过fpc与测试设备fpc进行连接，测试的fpc会直接影响半成品amoled的测试效果。
3.在对平板amoled屏幕等中大型屏幕进行测试时，由于屏幕较大，相应的模块单元较多，那么屏幕与测试设备fpc进行连接相应的连接触点较多，与金手指的为了起到良好的测试效果，现有的技术中通常采用三段式fpc拼接后进行测试，在测试时，需要同时连接三个fpc进行测试，测试的效率较低，成本较高，而且三个fpc在进行弯折时，需要同时弯折，操作比较麻烦，造成测试的良品率较低，而且三个fpc在进行视觉对位识别时，至少需要六个标记点，视觉识别的标记点角度，造成装配的时间较长。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的在于提供一种一体式中大尺寸测试fpc，以解决上述背景技术中提出的问题。
5.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：
6.一种一体式中大尺寸测试fpc，包括基板、第一连接单元、第二连接单元、第三连接单元和第四连接单元，其中：
7.所述基板呈t形，且具有上表面和下表面，所述基板下表面的底部设置有第一连接单元，所述基板上表面的顶部设置有第二连接单元、第三连接单元和第四连接单元，所述基板下表面设置有第一连接排线和第三连接排线，所述基板上表面设置有第二连接排线；
8.所述第一连接排线一端和第一连接单元电性连接，另一端通过过孔和第二连接排线电性连接，所述第二连接排线另一端通过过孔和第三连接排线电性连接，所述第一连接单元、第二连接单元、第三连接单元和第四连接单元并联在第三连接排线上，所述第一连接排线和第二连接排线平行排列，所述第二连接排线和第三连接排线垂直排列，所述基板上表面开有对位窗，用于显示器与所述fpc连接时通过视觉识别进行对位。
9.优选的，所述第三连接单元位于基板上表面的顶部的中部，所述第二连接单元和第四连接单元分布在第三连接单元的两侧。
10.优选的，所述第一连接单元包括第一金手指组和第一连接线，所述第一金手指组通过第一连接线和第一连接排线电性连接，第二连接单元包括第二金手指组和第二连接线，所述第三连接单元包括第三金手指组和第三连接线，所述第四连接单元包括第四金手
指组和第四连接线，所述第二金手指组、第三金手指组和第四金手指组分别通过第二连接线、第三连接线和第四连接线与第三连接排线电性连接。
11.优选的，所述第一金手指组、第二金手指组、第三金手指组和第四金手指组的表面均电镀有一层镍合金层，所述基板表面采用pi补强板进行补强。
12.优选的，所述基板上的对位窗至少设置有两组，且宽度为100um
‑
200um。
13.与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
14.本实用新型通过将传统的三个测试fpc集中在一块t字型的一体式fpc 上，能够大大降低制造的成本，在测试时只需要连接一个fpc即可，提高测试的效率，并且t字型的结构下部弯折起来较为简单，容易进行弯折操作，降低操作的难度，提升测试的产品良率，在进行视觉对位识别时，只需要对位两个对位窗即可，降低装配对位的时间，易于高精度精压接准。
附图说明
15.图1为本实用新型整体结构示意图；
16.图2为本实用新型中第一连接单元部分放大示意图；
17.图3为本实用新型中第二连接单元部分放大示意图；
18.图4为本实用新型中第三连接单元部分放大示意图；
19.图5为本实用新型中第四连接单元部分放大示意图；
20.图6为本实用新型中a处放大示意图。
21.图中：1基板、2第一连接单元、201第一金手指组、202第一连接线、3 第二连接单元、301第二金手指组、302第二连接线、4第三连接单元、401 第三金手指组、402第三连接线、第四连接单元5、第四金手指组501、第四连接线502、第一连接排线6、第二连接排线7、过孔8、第三连接排线9、对位窗10。
具体实施方式
22.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
23.实施例：
24.请参阅图1至图6，本实用新型提供一种技术方案：
25.一种一体式中大尺寸测试fpc，包括基板1、第一连接单元2、第二连接单元3、第三连接单元4和第四连接单元5，其中：
26.所述基板1呈t形，且具有上表面和下表面，通过将传统的三个测试fpc 集中在一块t字型的一体式fpc上，能够大大降低制造的成本，在测试时只需要连接一个fpc即可，提高测试的效率，所述基板1下表面的底部设置有第一连接单元2，所述基板1上表面的顶部设置有第二连接单元3、第三连接单元4和第四连接单元5，所述第三连接单元4位于基板1上表面的顶部的中部，所述第二连接单元3和第四连接单元5分布在第三连接单元4的两侧，所述基板1下表面设置有第一连接排线6和第三连接排线9，所述基板1上表面设置有第二连接排
线7；
27.所述第一连接排线6一端和第一连接单元2电性连接，所述第一连接单元2包括第一金手指组201和第一连接线202，所述第一金手指组201通过第一连接线202和第一连接排线6电性连接，第一连接排线6另一端通过过孔8 和第二连接排线7电性连接，所述第二连接排线7另一端通过过孔8和第三连接排线9电性连接，所述第一连接单元2、第二连接单元3、第三连接单元 4和第四连接单元5并联在第三连接排线9上，第二连接单元3包括第二金手指组301和第二连接线302，所述第三连接单元4包括第三金手指组401和第三连接线402，所述第四连接单元5包括第四金手指组501和第四连接线402，所述第二金手指组301、第三金手指组401和第四金手指组501分别通过第二连接线302、第三连接线402和第四连接线402与第三连接排线9电性连接，所述第一连接排线6和第二连接排线7平行排列，第一连接排线6和第二连接排线7平行排列，相对于成一定的角度等排列方式，弯折的难度较低，并且位于t字型的结构的下部，弯折起来较为简单，容易进行弯折操作，降低操作的难度，提升测试的产品良率。
28.所述第二连接排线7和第三连接排线9垂直排列，所述基板1上表面开有对位窗10，所述基板1上的对位窗10至少设置有两组，且宽度为 100um
‑
200um，显示器与所述fpc连接时,通过视觉识别对位窗10的位置，从而进行对位，提高对位的精确度，并在进行视觉对位识别时，只需要对位两个对位窗即可，降低装配对位的时间，易于高精度精压接准。
29.所述第一金手指组201、第二金手指组301、第三金手指组401和第四金手指组401的表面均电镀有一层镍合金层11，镍合金层11主要为金镍合金，让第一金手指组201、第二金手指组301、第三金手指组401和第四金手指组501的表面，较为光滑，减低摩擦力，有效减少对半成品amoled金手指的伤害，所述基板1表面采用pi补强板进行补强，减小fpc受到压力后的伸缩系数，延长使用寿命。
30.本实用新型的使用原理：显示器与所述fpc连接时,通过视觉识别两组对位窗10的位置后，将第一金手指组201与半成品amoled进行电性连接，然后将第二金手指组301、第三金手指组401和第四金手指组501和测试设备进行对位，进行准确的连接，通过所述fpc传输测试信号，完成测试
31.尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。