技术特征：
技术总结
本发明公开一种显示装置坏点检测方法及其检测设备。此显示装置坏点检测方法先在清除显示装置上的落尘的一段时间内，连续取得所述显示装置的外观的多个第一影像，其中第一影像中的不可清除落尘的位置为第一可能异常位置。接着比对所述多个第一影像中的所述多个第一可能异常位置，并且将在所有所述第一影像中都保持固定位置的所述第一可能异常位置记录为多个第一异常位置。接着点亮所述显示装置，并且取得点亮后的所述显示装置的外观的第二异常位置。接着比对所述第二异常位置与所述第一异常位置，将未与所述第一异常位置重叠的所述第二异常位置记录为坏点位置。本发明可节省准备无尘环境的费用，并降低坏点漏判与误判的机率。
技术研发人员：廖期异
受保护的技术使用者：和硕联合科技股份有限公司
技术研发日：2016.08.04
技术公布日：2018.02.13