本技术涉及一种通信装置和通信方法。更具体地，本技术涉及一种适于改变由于例如零件的变化而导致的通信性能劣化的通信装置和通信方法。
背景技术：
已知国际标准nfc(近场通信)作为短距离无线通信技术的一个实施例。在诸如公共交通、账单、以及认证等费用支付应用使用中，nfc已经赢得广泛的认可，尤其在亚洲国家。
nfc广泛用于智能手机。在将来，期望该技术找到其进入诸如可穿戴设备等更小型设备的方法。进一步地，期望用于实现(基于)nfc的通信能力的零件小型化，以使得nfc能够应用于小尺寸的设备。
使用r/w(读取器/写入器)与和r/w通信的诸如ic(集成电路)卡等应答机(transponder)之间的磁场进行nfc通信。
更具体地，r/w和应答机通过其用作天线的线圈之间的电磁感应而彼此通信。
顺便提及，用作r/w和应答机中的天线的线圈各自构成谐振电路。谐振电路的谐振频率通常随着构成谐振电路的零件的变化而变化。如果谐振频率偏离其正常值(设计值)，诸如通信距离等通信性能(特性)劣化。
鉴于此，已经提出了用于校正谐振频率的技术。技术涉及发送调整信号、接收所发送的信号、并且根据所接收的信号调整可变电容器，以改善通常归因于零件变化的通信性能的劣化(例如，见ptl1)。
【引用列表】
【专利文献】
【ptl1】
jp2011-078040a
技术实现要素：
技术问题
同时，在nfc通信中，有源负载调制作为用于将数据从应答机发送至r/w的技术正在引起关注。
有源负载调制涉及使得应答机生成与从r/w发送的发送载波同步的同步信号。以反映发送目标数据(即，以发送为目标的数据)的方式导通及关断同步信号的发送。这生成将发送载波与同步信号进行组合的信号作为有源负载调制信号，其中，根据发送目标数据调制发送载波。
此外，在有源负载调制中，例如，由于零件的变化，r/w或应答机的谐振频率可能偏离设计值，因此，诸如可通信距离等通信性能劣化。
例如，通过使用ptl1中描述的技术校正谐振频率能够改善通信性能的劣化。
然而，ptl1中的技术需要将可变电容器(或电容组)添加到应答机中。因为可变电容器具有大面积和显著的成本，所以添加可变电容器使得应答机的尺寸更大并且成本更高。
鉴于上述情况，做出了本技术。因此，例如，本技术目的是在使得尺寸和成本增加最小化的同时，改善由于零件的变化而导致的通信性能劣化。
问题的解决方案
一种根据本技术的通信装置包括：测试信号生成部，被配置为生成预定的测试信号；检测部，被配置为从发送和接收部接收所述测试信号时获得的接收测试信号中检测影响有源负载调制信号的强度的影响参数，所述有源负载调制信号将发送载波与同步信号组合，其中，所述发送载波由另一通信装置发送并由所述发送和接收部接收，所述同步信号是所述发送和接收部同步于接收所述发送载波时获得的接收信号所发送的；以及控制部，被配置为根据所述影响参数控制所述有源负载调制信号的强度。
在本技术的通信装置中，首先生成预定的测试信号。之后检测影响有源负载调制信号的强度的影响参数，有源负载调制信号将通过另一通信装置发送并且通过发送和接收部接收的发送载波与通过发送和接收部同步于接收发送载波时获得的接收信号发送的同步信号进行组合，从接收测试信号时获得的接收测试信号检测影响参数。根据影响参数控制有源负载调制信号的强度。
根据本技术的第一通信方法包括：生成预定的测试信号；以及从发送和接收部接收所述测试信号时获得的接收测试信号中检测影响有源负载调制信号的强度的影响参数，所述有源负载调制信号将发送载波与同步信号组合，其中，所述发送载波由另一通信装置发送并由所述发送和接收部接收，所述同步信号是所述发送和接收部同步于接收所述发送载波时获得的接收信号所发送的。根据所述影响参数控制所述有源负载调制信号的强度。
利用本技术的第一通信方法，首先生成预定的测试信号。之后检测影响有源负载调制信号的强度的影响参数，有源负载调制信号将通过另一通信装置发送并且通过发送和接收部接收的发送载波与通过发送和接收部同步于接收发送载波时获得的接收信号发送的同步信号进行组合，从接收测试信号时获得的接收测试信号检测影响参数。影响参数用于控制有源负载调制信号的强度。
根据本技术的第二通信方法包括：生成预定的测试信号；并且从发送和接收部接收所述测试信号时获得的接收测试信号中检测影响有源负载调制信号的强度的影响参数，所述有源负载调制信号将发送载波与同步信号组合，其中，所述发送载波由另一通信装置发送并由所述发送和接收部接收，所述同步信号是所述发送和接收部同步于接收所述发送载波时获得的接收信号所发送的。根据如此获得的影响参数控制所述有源负载调制信号的强度。
利用本技术的第二通信方法，首先生成预定的测试信号。之后检测影响有源负载调制信号的强度的影响参数，有源负载调制信号将通过另一通信装置发送并且通过发送和接收部接收的发送载波与通过发送和接收部同步于接收发送载波时获得的接收信号发送的同步信号进行组合，从接收测试信号时获得的接收测试信号检测影响参数。根据影响参数控制有源负载调制信号的强度。
顺便提及，通信装置可以是独立的装置或构成单一装置的一部分的内部模块。
发明的有益效果
例如，根据本技术，改善了由于零件变化而导致的通信性能劣化。
上面概括的有益效果并不限制本公开。从随后的描述中，本公开的进一步有益效果将变得显而易见。
附图说明
【图1】是描述使用无源负载调制执行短距离无线通信的通信系统的典型配置的框图。
【图2】是说明有源负载调制的概况的说明性图。
【图3】是描述如何通过使用有源负载调制执行nfc通信的通信系统发送一发送目标数据的示意图。
【图4】是描述对使用有源负载调制的nfc通信的通信性能执行的模拟的结果的图形表示。
【图5】是描述使用有源负载调制执行nfc通信的通信系统的典型配置的框图。
【图6】是描述使用给定的r/w-a作为r/w70执行的模拟的结果的表格图。
【图7】是描述应用本技术的通信系统的一个实施方式的典型配置的框图。
【图8】是说明应答机110在运行模式是测试模式的情况下如何运行的实施例的概况的说明性图。
【图9】是说明应答机110在运行模式是测试模式的情况下如何运行的实施例的流程图。
【图10】是说明应答机110在运行模式是正常模式的情况下如何运行以将发送目标数据发送至r/w70的实施例的流程图。
【图11】是说明应答机110在运行模式是测试模式的情况下如何运行的另一实施例的流程图。
【图12】是说明应答机110在测试模式下如何运行以在控制有源负载调制信号的强度时调整通过相移部116执行的相移量的实施例的流程图。
【图13】是描述一方面的相位与另一方面的用作发送和接收部81的谐振电路的谐振频率之间的关系的模拟的结果的图形表示。
【图14】是说明应答机110在测试模式下如何运行以在控制有源负载调制信号的强度时调整输出部86的输出阻抗的实施例的流程图。
具体实施方式
<使用无源负载调制的通信系统的典型配置>
图1是描述使用无源负载调制执行短距离无线通信的通信系统的典型配置的框图。
下面的描述将nfc通信作为短距离无线通信的实施例。然而，短距离无线通信并不局限于nfc通信。
在图1中，通信系统包括r/w10和应答机20。使用r/w10与应答机20之间的磁场进行nfc通信。
r/w10包括载波生成部11、调制部12、放大器13、电阻器14、发送和接收部15、以及解调部16。
例如，载波生成部11生成预定频率为13.56mhz的正弦波作为发送载波。载波生成部11将生成的发送载波供应至调制部12。
在r/w10将数据发送至应答机20的情况下，向调制部12例如以212kbps(每秒位数)的预定速率供应要从r/w10发送至应答机20的发送目标数据。
例如，根据发送目标数据，调制部12通过ask(幅移键控)对发送载波进行调制。调制部12将产生的经经ask调制的的信号供应至放大器13。
可替代地，调制部12将通过载波生成部11生成的发送载波供应至放大器13，而不对载波进行调制。
放大器13将来自调制部12的经ask调制的信号或发送载波进行放大，并且经由电阻器14将经放大的信号或发送载波供应至发送和接收部15。
发送和接收部15包括电容器15b和用作天线的线圈15a，电容器和线圈构成谐振电路。
发送和接收部15将来自放大器13的经经ask调制的的信号或发送载波转换成磁场变化并且发送产生的磁场变化。
此外，从r/w10角度，发送和接收部15接收由应答机20改变应答机20的负载(电阻)通过对发送载波的无源负载调制而提供的无源负载调制信号作为磁场变化。
将接收无源负载调制信号时通过发送和接收部15获得的接收信号供应至解调部16。
解调部16解调来自发送和接收部15的接收信号。解调部16输出产生的解调数据，即，应答机20发送的数据(发送目标数据)。
例如，应答机20可以是掌控诸如智能手机等便携式终端中的ic卡功能的ic卡或模块。应答机20包括发送和接收部21、电阻器22、解调部23、电阻器24、以及mosfet(金属氧化物半导体场效应晶体管)25。
发送和接收部21包括电容器21b和用作天线的线圈21a，电容器和线圈构成谐振电路。
发送和接收部21接收r/w10发送的经经ask调制的的信号或发送载波作为磁场变化。
此外，作为从r/w10的角度，发送和接收部21发送由fet25导通及关断应答机20的负载、通过对来自r/w10的发送载波进行无源负载调制信号而发送无源负载调制信号作为磁场变化。
解调部23对发送和接收部21在接收经ask调制的信号时所获得的接收信号进行解调。解调部23输出产生的解调数据，即，从r/w10发送的发送目标数据。
向mosfet25(其栅极)以例如212kbps的预定速率供应要从应答机20发送至r/w10的发送目标数据。
mosfet25用作响应供应至其的发送目标数据而导通及关断的开关。因此，mosfet25将发送和接收部21切换至电阻器22或切换至电阻器22和24。这从r/w10的角度，改变了应答机20的负载，由此根据被供应至mosfet25的发送目标数据而使得从r/w10发送的发送载波经历无源负载调制。
在上述配置的图1中的通信系统的r/w10将发送目标数据发送至应答机20的情况下，r/w10将根据发送目标数据对发送载波进行ask调制的发送目标数据进行发送。
在应答机20将发送目标数据发送至r/w10的情况下，应答机20通过对发送载波执行根据发送目标数据的无源负载调制以从r/w10角度改变应答机的负载，发送该发送目标数据。
更具体地，r/w10通过从用作谐振电路的发送和接收部15处出现的信号中读取代表反映应答机20中的发送目标数据的负载变化的磁场变化而从应答机20接收发送目标数据。
顺便提及，如上所述，期望用于实现nfc通信能力的零件的小型化，以使得nfc通信应用于诸如可穿戴设备等小型设备。
在nfc通信中，占据明显大面积的部件零件是天线。因此，图1中的通信系统要求作为天线的线圈15a和21a的尺寸较小。
然而，无源负载调制的使用使得难以缩小用作天线的线圈15a和21a的尺寸。
更具体地，在无源负载调制中，通过改变应答机20的负载(当从r/w10观察应答机20侧的负载)而改变磁场。
在用作天线的线圈15a和21a的尺寸较小或其远离的情况下，线圈15a与21a之间的耦合系数降低。这就转化成了产生更小的磁场变化。因此，对于r/w10而言，变得难以对根据磁场变化获得的无源负载调制信号进行解调。
在图1的通信系统中，为了通过无源负载调制发送该发送目标数据，要求用作天线的线圈15a和21a的耦合系数比预定值更高。线圈15a和21a需要足够大，以获得所需的其间耦合系数。
出于此原因，在诸如公共交通的费用支付等应用中使用图1中的通信系统要求确保约50mm至100mm的通信距离(即，r/w10与应答机20之间的距离，在该距离，r/w10与应答机20能够彼此通信)的情况下，为了实现该目的，用作天线的线圈15a和21a需要足够大。
鉴于此，使用无源负载调制的nfc通信通常由能够通过无源负载调制发送(接收)的发送目标数据的距离决定速率。
更具体地，即使距离使得r/w10能够通过ask调制将发送目标数据发送至应答机20，应答机20可能也不能通过无源负载调制将发送目标数据发送至r/w10。
为了克服该故障，存在使用有源负载调制代替无源负载调制的技术。
有源负载调制涉及让应答机生成并且发送与来自r/w的发送载波同步的同步信号。这就生成了将从r/w发送的发送载波与通过应答机发送的同步信号进行组合的有源负载调制信号。
应答机根据发送目标数据导通及关断同步信号的输出。这致使有源负载调制信号变成根据发送目标数据对发送载波进行调制(方式)的信号。
在有源负载调制中，代表同步信号的电流流过应答机的天线。这转化成了产生大的磁场(磁通量)变化，因此，相比于无源负载调制，诸如通信距离等通信性能更好。因此，例如，即使缩小天线的尺寸，有源负载调制的使用也使得可以维持通信性能与天线小型化之前的无源负载调制的通信性能一样高。
<有源负载调制>
图2是说明有源负载调制的概况的说明性图。
更具体地，图2是概括使用有源负载调制执行nfc通信的通信系统的典型配置的框图。
在图2中，通信系统包括r/w30和应答机50，并且允许使用磁场在r/w30与应答机50之间进行nfc通信。
顺便提及，图2描述了r/w30从功能上被划分成发送一发送载波的发送系统31和接收有源负载调制信号的接收系统32。然而，实际上，发送系统31和接收系统32可以被一体化配置。
r/w30包括载波生成部41、电容器42和43、线圈44、电容器45、以及解调部46。
从载波生成部41至线圈44的部件构成发送系统31。从线圈44至解调部46的部件构成接收系统32。
在发送系统31中，电容器42的一端与电容器43的一端及载波生成部41连接。电容器42的另一端与线圈44的一端连接，并且电容器43的另一端与线圈44的另一端连接。
在接收系统32中，线圈44和电容器45构成并联谐振电路。解调部46与线圈44和电容器45之间的连接点连接。
应答机50包括线圈51、电容器52、电阻器53、同步信号生成部54、以及开关55。
在应答机50中，线圈51、电容器52、以及电阻器53彼此并联连接。同步信号生成部54和开关55与包括彼此并联连接的线圈51至电阻器53的部件电路串联连接。
例如，在通过有源负载调制将发送目标数据从应答机50发送至r/w30的情况下，r/w30的发送系统31中的载波生成部41生成频率为13.56mhz的发送载波。然后，经由电容器42和43通过用作天线的线圈44发送载波生成部41生成的发送载波作为磁场变化。
通过用作应答机50中的天线的线圈51接收线圈44发送的发送载波。将产生的接收信号从包括线圈51和电容器52的谐振电路供应至同步信号生成部54。
同步信号生成部54生成与来自包括线圈51和电容器52的谐振电路的接收信号同步(也与发送载波同步)的同步信号。
此外，在应答机50中，开关55根据例如速率212kbps的发送目标数据而导通及关断。其导通及关断由同步信号生成部54生成的同步信号的输出。
在开关55导通的周期期间，经由电阻器53将同步信号输出至包括线圈51和电容器52的谐振电路。用作天线的线圈51以磁场变化的形式发送同步信号。
通过应答机50发送的同步信号致使从应答机50发送的同步信号与r/w30发送的发送载波进行组合。发送载波与同步信号的组合提供了有源负载调制信号。
在应答机50中，根据上述发送目标数据导通及关断同步信号的输出。因此，有源负载调制信号变成通过根据发送目标数据对发送载波进行调制而获得的信号。
通过用作r/w30的接收系统32中的天线的线圈44接收有源负载调制信号。将线圈44接收有源负载调制信号时获得的接收信号从包括线圈44和电容器45的谐振电路供应至解调部46。
解调部46对来自包括线圈44和电容器45的谐振电路的接收信号进行解调。解调部46输出产生的解调数据，即，从应答机50发送的发送目标数据。
图3是描述如何通过图2中的使用有源负载调制执行nfc通信的通信系统发送一发送目标数据的概况的示意图。
在r/w30将发送目标数据发送至应答机50的情况下，r/w30利用在用作天线的线圈44与51之间建立的预定耦合系数k将通过对发送目标数据执行ask调制的而获得的经ask调制的信号发送至应答机50。
另一方面，在应答机50将发送目标数据发送至r/w30的情况下，应答机50生成与在接收r/w30发送载波时获得的接收信号同步的同步信号。
进一步地，在应答机50中，利用在用作天线的线圈44与51之间建立的预定耦合系数k，应答机50将根据发送目标数据导通及关断其输出的同步信号发送至r/w30。
顺便提及，在应答机50关闭同步信号的输出的情况下，不发送同步信号，但是，出于方便，假定以零振幅发送同步信号。
通过应答机50发送同步信号致使从应答机50发送的同步信号与从r/w30发送的发送载波进行组合。将发送载波与同步信号进行组合提供了有源负载调制信号，其中，根据应答机50的发送目标数据对发送载波的负载进行有源调制。即，获得其振幅随着应答机50的发送目标数据而变化的有源负载调制信号。
如上所述，在有源负载调制中，将通过r/w30发送的发送载波与从应答机50发送的同步信号进行组合。
如果此处假定参考字符t代表时间，并且w代表角频率，则将用作发送载波的正弦波表达为asin(wt)，并且给定用作同步信号的正弦波为bsin(wt+theta)。参考字符a表示发送载波asin(wt)的振幅，并且b表示同步信号bsin(wt+theta)的振幅。theta代表参考发送载波asin(wt)的相位的、同步信号bsin(wt+theta)的相位(移位)。
基于正弦波合成定理，将通过发送载波asin(wt)与同步信号bsin(wt+theta)组合而获得的有源负载调制信号alms表达成下列表达式(1)：
alms＝asin(wt)+bsin(wt+theta)
＝√(a2+b2+2abcos(theta))sin(theta+phi)
...(1)
在上述表达式(1)中，phi代表预定相位。
根据表达式(1)，在保持公式√(a2+b2+2abcos(theta))＝a的情况下，即，保持公式cos(theta)＝-b/2a，或b＝-2acos(theta)，无论同步信号的输出是否导通(b<>0)还是关闭(b＝＝0)，存在具有0％调制度的振幅null，即，有源负载调制信号alms的振幅与发送载波的振幅a相同。
如上所述，在发送载波的振幅a、同步信号的振幅b、以及同步信号的相位theta具有由表达式cos(theta)＝-b/2a定义其间的关系的情况下，有源负载调制要求生成振幅null。振幅null禁用应答机50将发送目标数据发送至r/w30(即，r/w30不能够将有源负载调制信号alms解调成发送目标数据)。
有源负载调制信号alms的调制度影响使用有源负载调制的nfc通信的通信性能。根据表达式(1)，调制度随着发送载波的振幅a、同步信号的振幅b、以及同步信号的相位theta而变化。
如上所述，使用有源负载调制的nfc通信的通信性能受发送载波的振幅a、同步信号的振幅b、以及同步信号的相位theta的影响。
图4是描述对使用有源负载调制的nfc通信的通信性能执行的模拟的结果的图形表示。
在图4中，横轴表示同步信号的相位theta，纵轴表示使用有源负载调制的nfc通信的通信距离(即，能够通过有源负载调制执行通信的距离)。
从图4中能够看出，同步信号的相位theta显著影响了代表通信性能的通信距离。
在有源负载调制中，调制度随着同步信号的相位theta而变化。在最糟糕的情况场景中，调制度可以变成0％(振幅null)。
如上所述，在有源负载调制中，调制度随着相位theta而变化。这就意味着代表通信性能的通信距离也随着相位theta而变化。
图5是描述使用有源负载调制执行nfc通信的通信系统的典型配置的框图。
在图5中，通信系统包括r/w70和应答机80，并且允许使用磁场在r/w70与应答机80之间进行nfc通信。
顺便提及，图5仅描述了应答机80通过有源负载调制将发送目标数据发送至r/w70所必需的这些零件。附图省去了r/w70通过ask调制将发送目标数据发送至应答机80所需的模块。
r/w70包括载波生成部71、缓冲器72和73、电容器74和75、发送和接收部76、以及解调部77。
例如，载波生成部71生成预定频率为13.56mhz的正弦波作为发送载波，并且将生成的发送载波供应至缓冲器72和73。
缓冲器72对来自载波声波部71的发送载波进行缓冲，并且经由电容器74将经缓冲的发送载波供应至发送和接收部76。
缓冲器73对来自载波生成部71的发送载波进行缓冲和反相，并且经由电容器75将经反相的发送载波供应至发送和接收部76。
发送和接收部76包括电容器76b和用作天线的线圈76a，其构成并联谐振电路。将来自缓冲器72的发送载波供应至连接线圈76a的一端与电容器76b的一端的连接点。将发送载波从缓冲器73供应至连接线圈76a的另一端与电容器76b的另一端的连接点。
发送和接收部76将来自缓冲器72和73的发送载波转换成磁场变化并且发送产生的磁场变化。
此外，发送和接收部76接收通过应答机80发送的有源负载调制信号(其中，利用同步信号对发送载波进行调制)作为磁场变化。
将发送和接收部76在接收有源负载调制信号时获得的接收信号通过连接线圈76a的一端与电容器76b的一端的连接点供应至解调部77。
解调部77对来自发送和接收部76的接收信号进行解调，以获得解调数据。解调部77输出产生的解调数据，即，从应答机80发送的发送目标数据。
例如，应答机80可以是掌控诸如智能手机等便携式终端中的ic卡的功能的ic卡或模块。应答机80包括发送和接收部81、解调部82、控制部83、同步信号生成部84、相移部85、以及输出部86。
发送和接收部81包括电容器81b和用作天线的线圈81a，它们构成并联谐振电路。在连接点u处，线圈81a的一端与电容器81b的一端连接。在连接点d处，线圈81a的另一端与电容器81b的另一端连接。
发送和接收部81接收从r/w70发送的发送载波或经ask调制的信号作为磁场变化，以获得接收信号。发送和接收部81将产生的接收信号供应至解调部82和同步信号生成部84。
此外，发送和接收部81将通过输出部86输出的同步信号转换成磁场变化，并且发送产生的磁场变化。
虽然发送和接收部81构成线圈81a与电容器81b彼此并联连接的并联谐振电路，发送和接收部81可以替代地使用串联谐振电路。例如，作为其他替代，发送和接收部81可被配置为使用并联谐振电路和串联谐振电路、发送和接收部81可被配置为除诸如单独线圈81a等谐振电路之外的某种电路、发送和接收部81可被另行配置为通过电磁感应将信号发送至r/w70并且从r/w70接收信号。
解调部82对来自发送和接收部81的接收信号(即，在接收来自r/w70的经ask调制的信号时获得的接收信号)进行解调，以获得解调数据。解调部82将产生的解调数据(即，从r/w70发送的发送目标数据)供应至控制部83。
控制部83根据来自解调部82的解调数据执行预定的处理。
此外，根据待发送至r/w70的发送目标数据，控制部83控制输出部86导通及关断同步信号自输出部86至发送和接收部81的输出。
例如，同步信号生成部84包括pll(锁相环)。同步信号生成部84生成与来自发送和接收部81的接收信号同步的同步信号，即，与发送载波同步的同步信号。同步信号生成部84将生成的同步信号供应至相移部85。
相移部85将来自同步信号生成部84的同步信号的相位移位预定的相移量，并且将经过相移的同步信号供应至输出部86。
在控制部83的控制下，输出部86根据发送目标数据将来自相移部85的同步信号输出至发送和接收部81。
输出部86包括缓冲器91和92，以及开关93和94。
缓冲器91对来自相移部85的同步信号进行缓冲，并且经由开关93将经过缓冲的同步信号输出至发送和接收部81(例如，至其连接点u)。
缓冲器92对来自相移部85的同步信号进行缓冲和反相，并且经由开关94将经过反相的同步信号输出至发送和接收部81(即，至其连接点d)。顺便提及，缓冲器91和92能够以预定的增益对来自相移部85的同步信号进行放大，放大因数为一或更大。
在控制部83的控制下，开关93和94根据发送目标数据而导通及关断，以将同步信号从相移部85输出至发送和接收部81。
在上述配置的通信系统中的应答机80将发送目标数据发送至r/w70的情况下，r/w70致使载波生成部71生成发送载波，并且在发送产生的磁场变化之前，致使发送和接收部76经由缓冲器72和73以及电容器74和75将发送载波转换成磁场变化。
在应答机80中，发送和接收部81从r/w70接收发送载波，以获得接收信号。发送和接收部81将接收信号供应至同步信号生成部84。
同步信号生成部84生成与来自发送和接收部81的接收信号同步的同步信号，并且将生成的同步信号供应至相移部85。
例如，相移部85通过延迟从同步信号生成部84供应的同步信号而将同步信号的相位移位预定的量。相移部85将经过相移的同步信号供应至输出部86。
在控制部83的控制下，输出部86根据发送目标数据而导通及关断同步信号从相移部85至发送和接收部81的输出。
发送和接收部81将输出部86输出的同步信号转换成磁场变化，并且发送产生的磁场变化。
通过应答机80中的发送和接收部81发送同步信号，致使从应答机80发送的同步信号与从r/w70中的发送和接收部76发送的发送载波进行组合。发送载波与同步信号的组合提供了有源负载调制信号，其中，以根据应答机80的发送目标数据的负载对发送载波进行有源调制。即，生成其振幅随着应答机80的发送目标数据变化的有源负载调制信号。
通过r/w70的发送和接收部76接收有源负载调制信号。将接收有源负载调制信号时获得的接收信号从发送和接收部76供应至解调部77。
解调部77对来自发送和接收部76的接收信号进行解调，以获得解调数据。解调部77输出产生的解调数据(即，从应答机80发送的发送目标数据)。
此处，应注意，通过应答机80中的同步信号生成部84生成的同步信号与通过发送和接收部81接收发送载波时获得的接收信号同步。
通过r/w70中的载波生成部71生成的发送载波通过包括发送和接收部76和81的谐振电路而变成接收信号。在通过这些部件时，发送载波以及最终的接收信号自身具有相位移位。
在发送载波asin(wt)通过包括发送和接收部76和81的谐振电路的情况下，出现参考上面表达式(1)中的发送载波asin(wt)的相位，同步信号bsin(wt+theta)的相位theta。
例如，在发送载波是具有13.56mhz的频率的正弦波并且谐振电路的q值是12的情况下，发送载波在通过谐振电路时自身具有约90度的相位移位。
如上面参考图4说明的，同步信号bsin(wt+theta)的相位theta明显影响了使用有源负载调制的nfc通信的通信性能。
鉴于此，相移部85将同步信号bsin(wt+theta)的相位theta移位预定的相移量，以改善通信性能。
以这样一种方式确定由相移部85做出的相移量，即，关于经过相移的同步信号bsin(wt+theta)的相位theta，能够改善通信性能。
然而，例如，通过同步信号生成部84生成并且与接收信号同步的同步信号的相位theta随着诸如获取接收信号的发送和接收部81中包括的线圈81a和电容器81b等零件的变化而变化。
更具体地，应答机80获得的同步信号的相位根据其零件的变化而在一个单独的应答机与另一个应答机不同。
出于此原因，即使可以获得由相移部85做出的相移量，以达到确保设计所需的合适通信性能的同步信号的合适相位(以下将该相位称为合适的相位)，并且最终即使可以获得同步信号的合适相位(以下将相移量称为合适的量)，然而，尚需移位合适量的同步信号的相位变化也能防止经过合适量的相位移位的同步信号的相位theta达到合适的相位。这就导致通信性能劣化。
图6是描述使用给定的r/w-a为r/w70而执行模拟的结果的图表图。
更具体地，图6描述了一方面的通信性能与另一方面的用作发送和接收部81的谐振电路的谐振频率及通过相移部85输出的经过相移的同步信号的相位theta之间的关系的模拟的结果。
在图6中，圆圈表示利用有源负载调制比利用无源负载调制的通信距离更佳的情况，并且三角形表示利用有源负载调制不比利用无源负载调制的通信距离更佳的情况。
根据图6，在用作发送和接收部81的谐振电路的谐振频率为13.56mhz的情况下，即，等于发送载波的频率，在相位theta位于约15度至120度的范围内的前提下，利用有源负载调制比利用无源负载调制的通信性能更佳。
此外，在用作发送和接收部81的谐振电路的谐振频率为13.31mhz的情况下，即，从发送载波的13.56mhz的频率移位-250khz，在相位theta位于约0度至105度的范围内的前提下，利用有源负载调制比利用无源负载调制的通信性能更佳。
进一步地，在用作发送和接收部81的谐振电路的谐振频率为13.81mhz的情况下，即，从发送载波的13.56mhz的频率移位+250khz，在相位theta位于约45度至150度的范围内的前提下，利用有源负载调制比利用无源负载调制的通信性能更佳。
从图6中能够看出，利用有源负载调制，如果将用作发送和接收部81的谐振电路的谐振频率从发送载波的13.56mhz的设计值频率移位约250khz，则实现比利用有源负载调制更佳的通信性能的同步信号的相位theta移位约15度至30度。
即，能够看出，如果将用作发送和接收部81的谐振电路的谐振频率从发送载波的13.56mhz的频率移位约250khz，则通过发送和接收部81接收发送载波时获得的接收信号的相位从正常值(即，适用于谐振频率无变化的设计值)移位约15度至30度。
如上所述，在用作发送和接收部81的谐振电路的谐振频率由于零件变化而发生相位移位的情况下，接收信号的相位及最终从接收信号生成并且与接收信号同步的同步信号的相位从正常值发生移位(适用于零件无变化的设计值)。
出于此原因，即使同步信号的相位移位合适的量，因为同步信号的尚未移位相位已经从正常值移位，所以移位合适量的同步信号的相位theta不能达到合适的相位。这就导致了通信性能劣化。
不仅由于用作发送和接收部81的谐振电路的零件的变化，而且还由于用于未被描述的谐波消除的过滤器中所使用的线圈和电容器的变化，由于同步信号生成部84中包括的pll零件的变化导致的可变延迟，或者由于输出部86中包括的零件的变化导致的可变延迟，导致了同步信号(接收信号)的相位移位与最终可归因于零件变化的通信性能的劣化。
改善由于零件变化而导致上述通信性能的劣化的一种典型方式是以这样一种方式手动调整由相移部85做出的相移量，即，通过相移部85移位的同步信号的相位达到合适的相位。
然而，不易于手动调整通过各个装置上的相移部85完成的相移量。
此外，如上面引用的ptl1中描述的，改善可归因于零件变化而导致的通信性能劣化的另一种典型方式是通过使谐振电路中包括的发送和接收部81配备有以这样一种方式调整谐振频率的外部可变电容器而调整可变电容器的方法，即，通过相移部85移位合适量的同步信号的相位达到合适的相位，即，用作发送和接收部81的谐振电路的谐振频率达到13.56mhz的设计值。
然而，可变电容器具有大的面积和显著的成本。安装可变电容器将使得应答机80的尺寸更大并且成本更高。
例如，鉴于上述内容，本技术旨在使尺寸和成本的增加最小化的同时改善由于零件变化而导致的通信性能劣化。
<应用本技术的通信系统的实施方式>
图7是描述应用本技术的通信系统的一个实施方式的典型配置的框图。
在图7中，与图5中的零件对应的零件以相同的参考标号表示，并且在下文中，根据情况省去其说明。
在图7中，通信系统包括r/w70和应答机110。
因此，图7中的通信系统与图5中的配置的相似之处在于通信系统具有r/w70、并且与图5中的配置的不同之处在于通信系统具有应答机110而非应答机80。
图7中的通信系统使用磁场在r/w70与应答机110之间执行nfc通信。
通过ask调制将发送目标数据从r/w70发送至应答机110并且通过有源负载调制将发送目标数据从应答机110发送至r/w70。
例如，应答机110可以是掌控诸如智能手机等便携式终端中的ic卡的功能的ic卡或模块。应答机110包括发送和接收部81、解调部82、同步信号生成部84、输出部86、测试信号生成部111、开关112、检测部113、存储部114、控制部115、以及相移部116。
因此，应答机110与图5中的应答机80的相似之处在于应答机110具有发送和接收部81、解调部82、同步信号生成部84、以及输出部86。
然而，应答机110与图5中的应答机80的不同之处在于应答机110具有分别代替控制部83和相移部85的控制部115和相移部116。进一步地，应答机110与图5中的应答机80的不同之处在于应答机110新包括了测试信号生成部111、开关112、检测部113、以及存储部114。
测试信号生成部111生成并且输出预定的信号作为测试信号。
作为测试信号，通常使用具有发送载波(在该实施方式中，为13.56mhz)的频率的信号或具有某一其他固定频率的信号。此外，可以使用具有预定范围内的扫描频率的信号作为测试信号。作为另一可替代地，可以使用适当的交流信号作为测试信号。
在控制部115的控制下，导通及关断开关112。通过导通开关112，开关112向输出部86供应通过测试信号生成部111输出的测试信号。
顺便提及，应答机110具有两种运行模式，例如，应答机110与r/w70通信的正常模式、和应答机110对有源负载调制信号进行校准的测试模式。
通常，通过预定的操作可以将应答机110从一种运行模式切换至另一种。例如，在制造应答机110的工厂，当对应答机110进行检查时，将应答机110的运行模式设置成测试模式。否则，将应答机110的运行模式设置成正常模式。
当将应答机110的运行模式设置成测试模式时，开关112导通。当将应答机110的运行模式设置成正常模式时，开关112关断。
因此，当运行模式是测试模式时，将通过测试信号生成部111输出的测试信号输出(供应)至输出部86。将测试信号从输出部86进一步输出至发送和接收部81。
发送和接收部81从输出部86接收测试信号。
例如，在发送和接收部81中，线圈81a的一端在连接点u处与电容器81b的一端连接，并且线圈81a的另一端在连接点d处与电容器81b的另一端连接。发送和接收部81用作并联谐振电路。
发送和接收部81的连接点d与解调部82、同步信号生成部84、以及检测部113连接。将通过发送和接收部81接收测试信号时获得的接收测试信号从连接点d输出至检测部113(以及解调部82和同步信号生成部84)。
当运行模式是正常模式时，向输出部86供应通过后面讨论的相移部116输出的同步信号。输出部86将来自相移部116的同步信号输出至发送和接收部81。
发送和接收部81将来自输出部86的同步信号转换成磁场变化并且发送产生的磁场变化(至r/w70)。
进一步地，当运行模式是正常模式时，发送和接收部81接收从r/w70发送的发送载波或经ask调制的信号作为磁场变化。将通过发送和接收部81从r/w70接收发送载波或经ask调制的信号时获得的接收信号从连接点d输出至解调部82和同步信号生成部84(以及检测部113)。
检测部113根据需要使用通过测试信号生成部111生成的测试信号,从发送和接收部81的连接点d输出的接收测试信号中检测影响有源负载调制信号的强度的影响参数，通过从r/w70发送的发送载波与通过发送和接收部81发送的同步信号的组合而获得有源负载调制信号。
更具体地，检测部113检测诸如接收测试信号的电流(其振幅)、接收测试信号的电压(其振幅)、以及接收测试信号与测试信号之间(电压或电流)的相位差等影响参数中的至少一个。
检测部113向控制部115供应从接收测试信号检测的影响参数。
例如，在控制部115的控制下，存储部114存储用于控制有源负载调制信号的强度的控制参数。
如同图5中的控制部83，控制部115根据从解调部82供应的解调数据执行预定的处理、并且控制输出部86(其开关93和94)保持与待发送至r/w70的发送目标数据一致，以导通及关断同步信号从输出部86至发送和接收部81的输出。
进一步地，根据从检测部113供应的影响参数，控制部115控制有源负载调制信号的强度。
更具体地，根据来自检测部113的影响参数，控制部115计算用于控制有源负载调制信号的强度的控制参数、并且利用已计算的控制参数更新存储在存储部114中的控制参数。
进一步地，控制部115根据存储在存储部114中的控制参数控制有源负载调制信号的强度。
在这种情况下，使用用于控制的被定义为√(a2+b2+2abcos(theta))的有源负载调制信号alms的振幅控制由上面表达式(1)定义的有源负载调制信号alms的强度。
关于被定义为√(a2+b2+2abcos(theta))的有源负载调制信号alms信号的振幅，通过应答机110能够控制的因素是同步信号bsin(wt+theta)的振幅b和相位theta。
鉴于上述内容，可以使用关于同步信号bsin(wt+theta)的振幅b和相位theta的信息作为控制参数。在保持与这些控制参数一致的同时，控制部115调整同步信号bsin(wt+theta)的振幅b和相位theta，以控制由表达式(1)定义的有源负载调制信号alms的强度。
更具体地，例如，控制部115可以控制相移部116调整相移量，即，相移部116将同步信号bsin(wt+theta)的相位theta移位的量。因此，通过调整相移部116的相移量，相应地调整通过发送和接收部81发送的同步信号bsin(wt+theta)的相位theta。
此外，例如，控制部115可以控制输出部86调整输出部86的(电压)增益。通过调整输出部86的增益，调整用作通过输出部86输出至发送和接收部81的同步信号的电压，并且因此调整流经用作发送和接收部81的谐振电路的电流。因此，对通过发送和接收部81发送的同步信号bsin(wt+theta)的振幅b进行调整。
此外，例如，控制部115可以控制输出部86以调整其输出阻抗。通过由此调整输出部86的输出阻抗，对用作通过输出部86输出至发送和接收部81的同步信号的电流进行调制，并且因此调整流经用作发送和接收部81的谐振电路的电流。因此，对通过发送和接收部81发送的同步信号bsin(wt+theta)的振幅b进行调整。
此处，例如，通过改变用于运行输出部86的电源电压可以调整输出部86的增益。从r/w70发送的发送载波或经ask调制的信号可以生成电力或从安装在应答机110中的未被描述的内部电池可以获取电力。
此外，例如，通过使开关93和94中的每个均配置有并联连接的多个mosfet并且通过改变待导通的mosfet的数目，可以调整输出部86的输出阻抗。
进一步地，通过调整相移部116的相移量、通过调整输出部86的增益、或通过调整输出部86的输出阻抗；或通过采用诸如调整相移部116的相移量、调整输出部86的增益、以及调整输出部86的输出阻抗措施中至少两种，可以控制有源负载调制信号的强度。
例如，如同图5中的相移部85，在将经过相移的同步信号供应至输出部86之前，相移部116将从同步信号生成部84馈送的同步信号的相位移位预定的量。
应注意，在控制部115的控制下，相移部116调整(设置)相移的预定量，即，同步信号的相移量。
顺便提及，例如，在图7中，如果将通过测试信号生成部111输出的测试信号供应至相移部116的下游(即，相移部116与输出部86之间)，则也可以将测试信号供应至同步部84的上游或下游。
此外，在图7中，位于同步信号生成部34的下游的检测部113从通过同步信号生成部84输出的接收测试信号(即，从与接收测试信号同步的同步信号)检测影响有源负载调制信号的强度的影响参数。
在这种情况下，例如，可以检测接收测试信号与测试信号之间的相位差作为包括由同步信号生成部84导致的延迟效应的影响参数。
进一步地，在图7中，经由连接点d，向与发送和接收部81的连接点d连接的检测部113供应通过发送和接收部81接收测试信号时获得的接收测试信号。检测部113还可以与发送和接收部81的连接点u连接。在这种情况下，经由连接点u，将发送和接收部81接收测试信号时获得的接收测试信号供应至检测部113。
此外，在图7中，检测部113可以与解调部82一体化形成。
利用上述配置的图7中的通信系统并且在应答机110的运行模式是正常模式并且将发送目标数据从r/w70发送至应答机110的情况下，r/w70发送通过根据发送目标数据对发送载波进行调制而获得的经ask调制的信号。
在应答机110中，发送和接收部81被供应来自r/w70的经ask调制的信号，以获得接收信号。发送和接收部81将由此获得的接收信号发送至解调部82。
解调部82对来自发送和接收部81的接收信号进行解调，以获得解调数据。解调部82将由此获得的解调数据供应至控制部115。
另一方面，在应答机110的运行模式是正常模式并且应答机110将发送目标数据发送至r/w70的情况下，应答机110通过有源负载调制发送该发送目标数据。
更具体地，r/w70发送该发送载波。
在应答机110中，发送和接收部81从r/w70接收发送载波，以获得接收信号。发送和接收部81将由此获得的接收信号供应至同步信号生成部84。
同步信号生成部84生成与来自发送和接收部81的接收信号同步的同步信号、并且将生成的同步信号供应至相移部116。
相移部116将来自同步信号生成部84的同步信号的相位移位由控制部115控制的相移量。相移部116将经过相移的同步信号供应至输出部86。
更具体地，例如，为了以反映存储在存储部114中的控制参数的方式控制有源负载调制信号的强度，控制部115致使相移部116调整相移量。
在控制部115的控制下，相移部116调整相移量。相移部116将来自同步信号生成部84的同步信号的相位移位经过调整的相移量并且将经过相移的同步信号供应至输出部86。
在控制部116的控制下，输出部86根据发送目标数据将来自相移部116的同步信号输出至发送和接收部81。
还是在控制部115的控制下，输出部86调整其增益及其输出阻抗。
更具体地，例如，控制部115根据存储在存储部114中的控制参数致使输出部86调整其增益及其输出阻抗，以控制有源负载调制信号的强度。
在控制部116的控制下，输出部86调整其增益及其输出阻抗。输出部86根据发送目标数据将来自相移部116的同步信号输出至发送和接收部81。
发送和接收部81将通过输出部86输出的同步信号转换成磁场变化并且发送产生的磁场变化。
通过应答机110中的发送和接收部81发送同步信号致使从应答机110发送的同步信号与从r/w70中的发送和接收部76发送的发送载波进行组合。发送载波与同步信号的组合生成了有源负载调制信号，其中，根据应答机110的发送目标数据对发送载波的负载进行有源调制。
r/w70接收上述有源负载调制信号并且进行解调。
<测试模式的运行实施例>
图8是说明应答机110在运行模式是测试模式的情况下如何运行的实施例的概况的说明性图。
例如，在工厂，检查应答机110的用户可以操作应答机110将其运行模式设置成测试模式。这致使控制部115将应答机110的运行模式设置成测试模式。
在测试模式中，控制部115导通在正常模式下保持关断的开关112。
还是在测试模式中，控制部115导通在正常模式中根据发送目标数据被导通及关断的开关93和94中的一个或两个。在图8中，仅导通两个开关93和94中的开关93。
顺便提及，如上面参考图7说明的，开关93和94中的每个均配置有多个mosfet，控制部115在正常模式下可以根据存储在存储部114中的控制参数改变作为各个开关93和94的多个mosfet中待导通的mosfet的数目，以在控制有源负载调制信号的强度时调整输出部86的输出阻抗。在这种情况下，根据存储在存储部114中的控制参数也可以在测试模式中控制开关93中待导通的mosfet的数目。
开关112导通，由此将通过测试信号生成部111输出的测试信号供应至输出部86。顺便提及，根据需要将通过测试信号生成部111输出的测试信号供应至检测部113。
如上所述，在输出部86中，导通开关93。由此经由放大器91和开关93将测试信号从测试信号生成部111输出至发送和接收部81。
发送和接收部81从输出部86接收测试信号，以获得接收测试信号。将由此获得的接收测试信号从连接点d输出至检测部113。
此处，在通过发送和接收部81接收测试信号时获得接收测试信号。例如，以反映用作发送和接收部81的谐振电路的谐振频率的方式，接收测试信号的振幅和相位相对于测试信号改变。
检测部113根据需要通过使用由测试信号生成部111生成的测试信号而从通过发送和接收部81输出的接收测试信号中检测影响有源负载调制信号的强度的影响参数中的至少一个，诸如，接收测试信号的电流或电压及接收测试信号与测试信号之间的相位差等。然后，检测部113将经过检测的影响参数供应至控制部115。
根据从检测部113供应的影响参数，控制部115计算用于控制有源负载调制信号的强度的控制参数中的至少一个，诸如，相移部116的相移量、输出部86的增益、以及输出部86的输出阻抗等。
更具体地，控制部115以这样一种方式计算相移部116的相移量及输出部86的增益和输出阻抗作为控制参数，即，在表达式(1)中，被定义为有源负载调制信号alms的√(a2+b2+2abcos(theta))的振幅与发送载波asin(wt)的振幅a之差为最大化。
然后，控制部115使用根据影响参数计算的控制参数对存储在存储部114中的控制参数进行更新。
之后，控制部115将应答机110的运行模式设置(返回)至正常模式。
在正常模式中，如上面参考图7说明的，应答机110通过有源负载调制将发送目标数据发送至r/w70。
应注意，控制部115调整相移部116的相移量、输出部86的增益、以及输出部86的输出阻抗，从而以反映存储在存储部114中的更新控制参数的方式控制有源负载调制信号的强度。
如上所述，在应答机110处于测试模式时，首先生成测试信号。然后，在通过发送和接收部81接收测试信号时，获得接收测试信号。从接收测试信号中检测影响有源负载调制信号的强度的影响参数。根据已检测的影响参数，计算用于控制有源负载调制信号的强度的控制参数。
因此，能够针对各个单独的应答机110设置控制参数的适当值。
进一步地，在应答机110处于正常模式时，根据在测试模式中计算的控制参数控制有源负载调制信号的强度。例如，这在使得尺寸和成本的增加最小化的同时改善了可归因于零件变化而导致的通信性能劣化。
更具体地，应答机110改善了由于发送和接收部81中包括的线圈81a和电容器81b的变化而导致的通信性能劣化。因此，针对其自身零件的这种变化改善了应答机110的鲁棒性。
进一步地，在应答机110中包括单一芯片ic的情况下，鉴于应答机110需要范围从测试信号生成部111至相移部116的部件，所以可以将这些部件整合在占据较小面积并且成本较低的单一芯片ic(集成电路)中。因此，如引用的ptl1中描述的，与提供可变电容器的情况相比较，尺寸与成本的增加降低。
此外，为了改善由于零件变化而导致的通信性能劣化，应答机110不需要调整用作发送和接收部81的谐振电路的谐振频率。
进一步地，在应答机110包括未被描述的模拟ic来处理接收信号和与接收信号同步的同步信号的情况下，不需要管理模拟ic特定的延迟时间。
更具体地，在图5的应答机80中，应答机80可以包括未被描述的模拟ic来处理接收信号和与接收信号同步的同步信号。在这种情况下，模拟ic的延迟时间将输出部86输出至发送和接收部81的同步信号的相位移位。这要求每个单独的应答机80管理其模拟ic的延迟时间并且考虑延迟时间而确定相移部85的相移量。
相反，图7中的应答机110使用测试信号计算合适的控制参数。这减少了用于管理上述模拟ic的延迟时间的需求。
因此，应答机110不需要更多的时间和精力来调整谐振频率或管理延迟时间。由此断定，与调整谐振频率和管理延迟时间的情况相比较，应答机110的制造成本降低。
图9是说明应答机110在运行模式是测试模式的情况下如何运行的实施例的流程图。
当用户操作应答机110将其运行模式设置成测试模式时，达到步骤s11。在步骤s11中，控制部115将应答机110的运行模式设置成测试模式。然后，控制转移至步骤s12。
此时，处于测试模式的控制部115导通开关112并且还导通输出部86中的开关93和94中的一个或两个。
在步骤s12，测试信号生成部111开始生成并且输出测试信号，然后，控制转移至步骤s13。
此时，经由开关112将通过测试信号生成部111输出的测试信号供应至输出部86。此外，根据需要将通过测试信号生成部111输出的测试信号供应至检测部113。
如上所述，在输出部86中导通开关93和94中的至少一个。因此，将通过测试信号生成部111给出的测试信号从输出部86输出至发送和接收部81。
在步骤s13中，发送和接收部81从输出部86接收测试信号。将通过发送和接收部81接收测试信号时获得的接收测试信号输出至检测部113。控制从s13转移至步骤s14。
在步骤s14，检测部113根据需要使用由测试信号生成部111生成的测试信号从通过发送和接收部81输出的接收测试信号中检测接收测试信号的电流和电压及接收测试信号与测试信号之间的相位差，作为影响有源负载调制信号的强度的影响参数。检测部113将经过检测的影响参数供应至控制部115。然后，控制转移至步骤s15。
在步骤s15，控制部115根据从检测部113供应的影响参数计算相移部116的相移量、输出部86的增益、以及输出部86的输出阻抗作为用于控制有源负载调制信号的强度的控制参数。
控制从步骤s15转移至步骤s16。在步骤s16中，控制部115确定在之前步骤s15计算的控制参数是否位于控制参数的合适值范围内。
如果在步骤s16确定控制参数不在合适的值范围内，即，控制参数在合适范围之外，控制则转移至步骤s17。在步骤s17，控制部115执行预定的误差处理。这致使过程结束。
例如，误差处理涉及在未被描述的监测器上显示误差消息并且将指示误差的值写入也未被描述的寄存器中。
在这种情况下，对于控制参数，存在设计所需的最佳值。然而，实际上，控制参数由于诸如发送和接收部81中包括的线圈81a和电容器81b等零件的变化而变化。
由于零件的这种变化而变化的控制参数的范围是可预测的。在步骤s15中，如果计算超过预测范围的任意控制参数，则存在应答机110中出现部件故障或缺陷性连接的高概率性。
因此，如果在步骤s15中计算的控制参数在上述值的预测范围之外，则执行误差处理。执行误差处理允许检查应答机110的用户易于辨别被检查的应答机110是有缺陷的。
另一方面，如果在步骤s16中确定控制参数落在合适值范围内，即，控制参数具有合适范围内的值，控制则转移至步骤s18。
在步骤s18，控制部115使用在步骤s15中计算的控制参数对存储在存储部114中的控制参数进行更新(校正)。然后，控制转移至步骤s19。
在步骤s19，控制部115取消测试模式并且将运行模式设置(返回)至正常模式。这致使过程结束。
<正常模式的运行实施例>
图10是说明应答机110在运行模式是正常模式的情况下如何运行、以将发送目标数据发送至r/w70的实施例的流程图。
在步骤s31中，控制部115调整相移部116的相移量、输出部86的增益、以及输出部86的输出阻抗，从而以反映存储在存储部114中的更新控制参数的方式控制有源负载调制信号的强度。然后，控制转移至步骤s32。
在步骤s32中，应答机110生成与从r/w70接收发送载波时获得的接收信号同步的同步信号。应答机110根据发送目标数据导通及关断已生成的同步信号的输出，因此，通过有源负载调制将发送目标数据发送至r/w70。
更具体地，发送和接收部81从r/w70接收发送载波，以获得接收信号。发送和接收部81将由此获得的接收信号供应至同步信号生成部84。
同步信号生成部84生成与来自发送和接收部81的接收信号同步的同步信号、并且将生成的同步信号供应至相移部116。
相移部116将从同步信号生成部84供应的同步信号的相位移位由控制部115控制的相移量。相移部116将经过相移的同步信号供应至输出部86。
输出部86根据发送目标数据导通及关断同步信号从相移部116至发送和接收部81的输出。
发送和接收部81将通过输出部86输出的同步信号转换成磁场变化、并且发送产生的磁场变化。
通过应答机110中的发送和接收部81发送同步信号致使同步信号与从r/w70发送的发送载波进行组合。发送载波与同步信号的组合生成了有源负载调制信号，其中，根据应答机110的发送目标数据对发送载波的负载进行有源调制。
<运行测试模式的另一实施例>
图11是说明应答机110在运行模式是测试模式的情况下如何运行的另一实施例的流程图。
在图9的这种情况下，确定通过控制部115计算的控制参数在合适的值范围内。如果确定控制参数在合适的范围之外，则执行误差处理。
相反，在图11中，确定检测部113从接收测试信号中检测的影响参数是否在合适的值范围内。如果确定影响参数在合适范围之外，则执行误差处理。
如上所述，图9与图11的不同之处在于用于确定是否执行误差处理的信息由图9中的控制参数构成，而该信息在图11中是影响参数。
在步骤s41至s44，完成与图9中的步骤s11至s14中的过程相似的过程。
在步骤s44，检测部113从发送和接收部81输出的接收测试信号中检测接收测试信号的电流和电压及接收测试信号与测试信号之间的相位差，作为影响有源负载调制信号的强度的影响参数。检测部113将经过检测的影响参数供应至控制部115。然后，控制转移至步骤s45。
在步骤s45，控制部115确定在之前步骤s44检测的影响参数是否落在影响参数的合适值范围内。
如果在步骤s45确定影响参数未落在合适的值范围内，即，影响参数在合适范围之外，控制则转移至步骤s46。控制部115执行与图9中的步骤s17相似的误差处理。这致使过程结束。
在这种情况下，对于接收信号的电流和电压并且对于接收测试信号与接收信号之间的相位差，存在设计所需的值(设计值)。然而，实际上，影响参数由于诸如发送和接收部81中包括的线圈81a和电容器81b等零件的变化而变化。
由于零件的这种变化而变化的影响参数的范围是可预测的。如果在步骤s44中检测到超过预测范围的任何影响参数，则存在应答机110中出现部件故障或缺陷性连接的高概率性。
因此，如果在步骤s44检测的影响参数在上述值的预测范围之外，则执行误差处理。执行误差处理允许检查应答机110的用户易于辨别被检查的应答机110是有缺陷的。
另一方面，如果在步骤s45确定影响参数落在合适的值范围内，控制则转移至步骤s47。
如同图9中的步骤s15，在步骤s47，控制部115根据从检测部113供应的影响参数计算相移部116的相移量、输出部86的增益、以及输出部86的输出阻抗作为用于控制有源负载调制信号的强度的控制参数。
然后，控制从步骤s47转移至步骤s48。在步骤s48和s49中，执行与图9中的步骤s18和s19相似的过程。这致使过程结束。
图12是说明应答机110在测试模式中如何运行、以在控制有源负载调制信号的强度时调整通过相移部116执行的相移量的实施例的流程图。
在步骤s51至s53，执行与图11中的步骤s41至s43相似的过程。在接收通过输出部86输出的测试信号时获得接收测试信号的发送和接收部81转而将接收的测试信号输出至检测部113。然后，控制转移至步骤s54。
在步骤s54，给定通过发送和接收部81输出的接收测试信号并且使用通过测试信号生成部111生成的测试信号，检测部113检测接收测试信号与测试信号之间的(电压)相位差，即，由于测试信号通过输出部86与发送和接收部81产生的相位移位，相位差指影响有源负载调制信号的强度的影响参数。检测部113将经过检测的相位差供应至控制部115。然后，控制转移至步骤s55。
在步骤s55，控制部115确定在之前步骤s54检测的接收测试信号与测试信号之间的相位差(以下可以将差值称之为经过检测的相位差)作为影响参数是否落在合适的值范围内，例如，范围从约-90度至+90度的值的范围内。
如果在步骤s55确定经过检测的相位差部在合适的值范围内，控制则转移至步骤s56。在步骤s56，控制部115执行与图11中的步骤s46相似的误差处理。这致使过程结束。
另一方面，如果在步骤s55确定经过检测的相位差落在合适的值范围内，控制则转移至步骤s57。
在步骤s57，控制部115根据从检测部113供应的经过检测的相位差,计算相移部116的相移量作为用于控制有源负载调制信号的强度的控制参数。
更具体地，例如，如果从领先正常值30度的已检测相位差辨别通过经由输出部86及发送和接收部81的测试信号而获得的接收测试信号，控制部115则将延迟(补偿)相位的-30度作为用于补偿相位的补偿量。
此处，如果假定相移部116的相移量的合适设计值为指示将相位延迟180度的-180度，则-180度的合适设计值为接收测试信号的相位的正常值。将该值存储到存储部114中作为用作控制参数的相移量的初始值。
在这种情况下，控制部115计算指示将相位延迟210度的-210度作为用作控制参数的相移量，通过将作为相移量的初始值存储的-30度至-180度的补偿量添加到存储部114中进行计算。
然后，控制从步骤s57转移至步骤s58。在步骤s58中，控制部115使用在步骤s57中计算的控制参数对存储在存储部114中的控制参数进行更新。控制从步骤s58转移至步骤s59。
更具体地，控制部115使用例如-210度的相移量作为从上述经过检测的相位差计算的控制参数而对作为存储在存储部114中的控制参数的相移量的初始值进行更新。
如图11中的步骤s49，在步骤s59中，控制部115取消测试模式并且将运行模式设置成正常模式。这致使过程结束。
图13是描述一方面用作发送和接收部81的谐振电路的谐振频率与另一方面的接收测试信号的相位之间的关系的模拟的结果的图形表示。
顺便提及，在图13中，横轴表示用作发送和接收部81的谐振电路的谐振频率(天线谐振频率)，并且纵轴表示参考(＝0)13.56mhz的谐振频率作为设计值的接收测试信号的相位。
从图13中能够看出，在例如零件的变化致使用作发送和接收部81的谐振电路的谐振频率从设计值13.56mhz偏离至13.4mhz的的情况下，接收测试信号的相位为约+30度。
更具体地，与谐振频率不偏离的情况相比较，在用作发送和接收部81的谐振电路的谐振频率从设计值13.56mh偏离至13.4mhz的情况下，通过发送和接收部81的信号自身具有提前约30度的相位。
出于此原因，通过同步信号生成部84生成并且与接收信号同步的同步信号的相位领先设计值约30度。这能够导致生成例如振幅null，从而导致利用有源负载调制的通信性能劣化。
在图12中，利用取消上述提前约30度的相位的控制参数对作为存储在存储部114中的控制参数的相移量进行更新。因此，改善了由于零件变化而导致的通信性能劣化。
顺便提及，在图12中，鉴于通过将从已检测的相位差获得的补偿量添加到存储部114中的对应控制参数的初始值而计算用于对存储在存储部114中的对应控制参数进行更新的控制参数(以下可以将新的控制参数称之为更新参数)，例如，使用映射和函数也可以获取更新参数。
更具体地，提前获得其中经过检测的相位差和补偿量与更新参数相关联的映射(表)，并且因此映射(表)是接收已检测的相位差和补偿量的输入并且输出更新参数的函数。然后，给定已检测的相位差和补偿量，使用映射和函数获得更新参数。
图14是说明应答机110在测试模式中如何运行、以在控制有源负载调制信号的强度时调整输出部86的输出阻抗的实施例的流程图。
在步骤s61至s64，执行与图12中的步骤s51至s54相似的过程。给定通过发送和接收部81输出的接收测试信号并且使用通过测试信号生成部111生成的测试信号，允许检测部113检测作为影响有源负载调制信号的强度的影响参数的相位差，即，接收测试信号与测试信号之间的(电压)已检测相位差。检测部113将已检测的相位差供应至控制部115。然后，控制转移至步骤s65。
在步骤s65，控制部115确定经过检测的相位差是否在值的第一范围内，例如，在约-45度至+45度的范围的合适值范围内，例如约-5度至+5度的范围。
如果在步骤s65确定已检测的相位差在第一范围内，控制则转移至步骤s66。
在步骤s66，根据从检测部113供应的检测相位差，控制部115将例如由输出阻抗的设计值构成的输出部86的输出阻抗的默认值设置(计算)为用于控制有源负载调制信号的强度的更新参数。
更具体地，在用作发送和接收部81的谐振电路的谐振频率与谐振频率的设计值约匹配、以使得接近0度的检测相位差落在第一范围内的情况下，有源负载调制的强度并不略微低于有源负载调制的强度的设计值。在这种情况下，使用由其设计值构成的输出阻抗的默认值作为用作更新参数的输出阻抗。
之后，控制从步骤s66转移至步骤s67。在步骤s67，控制部115使用更新参数对存储在存储部114中的控制参数进行更新。然后，控制转移至步骤s68。
如同图12中的步骤s59，在步骤s68，控制部115取消测试模式并且将运行模式设置成正常模式。这致使过程结束。
另一方面，如果在步骤s65确定已检测的相位差不在值的第一范围内，即，已检测的相位差在第一范围之外，控制则转移至步骤s69。
在步骤s69，控制部115确定经过检测的相位差是否在值的第二范围内，即，比第一范围更宽并且例如在合适的值范围内的范围为约-15度至+15度。
如果在步骤s69确定已检测的相位差在值的第二范围内，控制则转移至步骤s70。
在步骤s70，根据从检测部113供应的已检测相位差，控制部115计算例如通过第一值对默认值进行校正而获得的第一校正值作为用作控制有源负载调制信号的强度的更新参数的输出部86的输出阻抗。
更具体地，在用作发送和接收部81的谐振电路的谐振频率偏离谐振频率的设计值一点点、以使得经过检测的相位差在超过第一范围的值的第二范围内的情况下，预期有源负载调制的强度略微低于有源负载调制的强度的设计值。在这种情况下，使用通过对由输出阻抗的设计值构成的默认值进行校正而获得的第一校正值作为用作更新参数的输出阻抗。
此时，使用流经发送和接收部81的电流的增加值作为第一校正值，值代表补偿由于用作发送和接收部81的谐振电路的谐振频率与谐振频率的设计值的第二范围值的偏差而对有源负载调制的强度的预期下降的量。因此，第一校正值小于由其设计值构成的输出阻抗的默认值。
之后，控制从步骤s70转移至步骤s67。在步骤s67和s68中，完成上述过程。
如果在步骤s69确定已检测的相位差部在值的第二范围内，即，已检测的相位差在第二范围之外，控制则转移至步骤s71。
在步骤s71，控制部115确定已检测的相位差是否在值的第三范围内，即，比第二范围更宽并且在合适的值范围内的范围为例如约-45度至+45度。
如果在步骤s71确定已检测的相位差在值的第三范围内时，控制则转移至步骤s72。
在步骤s72，根据从检测部113供应的已检测相位差，控制部115计算例如通过第二值对默认值进行校正而获得的第二校正值作为用作控制有源负载调制信号的强度的更新参数的输出部86的输出阻抗。
更具体地，在用作发送和接收部81的谐振电路的谐振频率进一步偏离谐振频率的设计值、以使得经过检测的相位差在超过第二范围的值的第三范围内的情况下，预期有源负载调制的强度略微低于有源负载调制的强度的设计值。在这种情况下，使用比第一校正值更大的量对由输出阻抗的设计值构成的默认值进行校正而获得的第二校正值作为用作更新参数的输出阻抗。
因此，第二校正值小于流经发送和接收部81的电流的增加值，即，比第一校正值更小。
然后，控制从步骤s72转移至步骤s67。在步骤s67和s68中，完成上述过程。
另一方面，如果在步骤s71确定已检测的相位差不在第三范围内，即，经过检测的相位差在合适的值范围之外，则存在应答机110中出现部件故障或缺陷性连接的高概率性。在这种情况下，控制转移至步骤s73。
在步骤s73，控制部115执行与图12中的步骤s56相似的误差处理。这致使过程结束。
在该描述中，术语“系统”指多个部件(例如，设备或模块(零件))的累加。全部部件是否容纳在同一外壳中并不重要。因此，系统可被配置有容纳在独立外壳内并且经由网络互连的多个设备、以及将多个模块容纳在单一外壳内的单一设备。
本技术并不局限于上述实施方式并且在技术的实质和范围内可以多种方式进行变形或改造。
例如，本技术不仅可以应用于出于调制目的单独执行有源负载调制的应答机，而且还可以应用于根据需要在有源负载调制与诸如无源负载调制等其他类型的调制之间切换的应答机。
此外，该描述中所陈述的有益效果仅是实施例并且并不局限于还提供其他优点的本技术。
顺便提及，本技术可被配置如下：
<1>一种通信装置，包括：
测试信号生成部，被配置为生成预定的测试信号；
检测部，被配置为从发送和接收部接收所述测试信号时获得的接收测试信号中检测影响有源负载调制信号的强度的影响参数，所述有源负载调制信号将发送载波与同步信号组合，其中，所述发送载波由另一通信装置发送并由所述发送和接收部接收，所述同步信号是所述发送和接收部同步于接收所述发送载波时获得的接收信号所发送的；以及
控制部，被配置为根据所述影响参数控制所述有源负载调制信号的强度。
<2>根据上述段落<1>所述的通信装置，其中，所述检测部检测所述接收测试信号的电压、所述接收测试信号的电流、或所述接收测试信号与所述测试信号之间的相位差作为所述影响参数。
<3>根据上述段落<1>或<2>所述的通信装置，进一步包括：
同步信号生成部，被配置为生成所述同步信号；和
相移部，被配置为将所述同步信号的相位移位；
其中，所述控制部通过根据所述影响参数调整相移量来控制所述有源负载调制信号的强度，其中，所述相移部将所述同步信号的所述相位移位所述相移量。
<4>根据上述段落<1>或<2>所述的通信装置，进一步包括：
同步信号生成部，被配置为生成所述同步信号；和
输出部，被配置为根据发送目标数据导通及关断所述同步信号至所述发送和接收部的输出；
其中，所述控制部根据所述影响参数通过调整所述输出部的输出阻抗或增益来控制所述有源负载调制信号的强度。
<5>根据上述段落<1>至<4>中任一项所述的通信装置，其中，在所述影响参数在预定范围的值之外的情况下，所述控制部执行预定的误差处理。
<6>根据上述段落<1>至<4>中任一项所述的通信装置，
其中，所述控制部
根据所述影响参数计算控制所述有源负载调制信号的强度的控制参数；
根据所述控制参数控制所述有源负载调制信号的强度；并且
在所述控制参数位于预定范围的值之外的情况下，执行预定的误差处理。
<7>根据上述段落<1>至<6>中任一项所述的通信装置，其中，所述通信装置使用磁场执行短距离无线通信。
<8>一种通信方法，包括：
生成预定的测试信号；以及
从发送和接收部接收所述测试信号时获得的接收测试信号中检测影响有源负载调制信号的强度的影响参数，所述有源负载调制信号将发送载波与同步信号组合，其中，所述发送载波由另一通信装置发送并由所述发送和接收部接收，所述同步信号是所述发送和接收部同步于接收所述发送载波时获得的接收信号所发送的，
其中，根据所述影响参数控制所述有源负载调制信号的强度。
<9>一种通信方法，包括：
生成预定的测试信号；并且
从发送和接收部接收所述测试信号时获得的接收测试信号中检测影响有源负载调制信号的强度的影响参数，所述有源负载调制信号将发送载波与同步信号组合，其中，所述发送载波由另一通信装置发送并由所述发送和接收部接收，所述同步信号是所述发送和接收部同步于接收所述发送载波时获得的接收信号所发送的，
由此，根据如此获得的所述影响参数控制所述有源负载调制信号的强度。
【参考标识列表】
10r/w11载波生成部12调制部13放大器
14电阻器15发送和接收部15a线圈
15b电容器16解调部20应答机21发送和接收部
21a线圈21b电容器22提供23解调部
24电阻器25mosfet31发送系统
32接收系统41载波生成部42,43电容器
44线圈45电容器46解调部
51线圈52电容器53电阻器
54同步信号生成部55开关
70r/w71载波生成部72,73缓冲器
74,75电容器76发送和接收部
76a线圈76b电容器77解调部80应答机
81发送和接收部81a线圈81b电容器
82解调部83控制部84同步信号生成部
85相移部86输出部91,92缓冲器
93,94开关110应答机111测试信号生成部
112开关113检测部114存储部
115控制部116相移部。