一种多通道无线基站射频测试系统的制作方法

本实用新型涉及无线通信技术领域，具体涉及一种多通道无线基站射频测试系统。

背景技术：

无线通信基站测试系统在生产线对基站整机的主要射频指标做一致性测试，从而满足规格要求，并筛选、检测生产中的不良品。

如图1所示，目前生产线上的基站整机测试都是配一台信号源、一台频谱仪，只能一个通道顺序分时测试，测试效率较低，尤其针对5G Massive MIMO超大规模天线阵列基站多通道射频指标测试效率极低。

技术实现要素：

为了克服以上现有技术的不足,本实用新型提供一种多通道无线基站射频测试系统，能够满足未来5G多通道无线基站射频指标的高效率测试要求，并兼容2G,3G,4G基站的生产测试。

本申请采用以下技术方案予以实现：

一种多通道无线基站射频测试系统，包括网络交换机、控制模块、基站数字模块模拟器以及基站射频单元，其关键在于，还包括8×N个衰减器、射频开关矩阵、环形器、PXI架构信号源SG以及PXI架构频谱分析仪SA，其中，所述BTS RRU单元的8×N个输出通道分别与8×N个衰减器一一对应连接，所述8×N个衰减器分别接入所述射频开关矩阵的输入端，所述射频开关矩阵的各输出端均连接有一个环形器，各环形器均连接所述PXI架构频谱分析仪SA进行下行链路测试，同时，各环形器均连接所述PXI架构信号源SG进行上行链路测试，所述控制模块与所述基站射频单元连接，所述PXI架构信号源SG以及PXI架构频谱分析仪SA通过所述基站数字模块模拟器与所述基站射频单元连接,所述控制模块与所述网络交换机连接，所述网络交换机分别与所述射频开关矩阵、PXI架构信号源SG以及PXI架构频谱分析仪SA连接。

进一步地，为了兼容TDD基站系统的波束成型校准端口测试，所述基站射频单元的波束成型校准端口BF Cal连接所述射频开关矩阵的输入端口IN 8*N+1。

进一步地，每个所述环路器与所述PXI架构频谱分析仪SA之间连接有耦合射频信号的耦合器。

进一步地，所述PXI架构信号源SG为9通道信号源，所述PXI架构频谱分析仪SA为9通道频谱分析仪，所述环形器为9个。

进一步地，所述射频开关矩阵为8N*8+1路矩阵。

所述基站射频单元基站天线口发射链路射频输出信号经过8×N个衰减器(ATT1……ATT8*N)，然后通过所述射频开关矩阵SW(8N*8+1路矩阵,8N代表基站天线通道数)将64路通道发射信号分时切换到9路环形器的输入，再经过环形器(C1到C9)到PXI架构9通道频谱仪进行下行链路测试，从而实现同时可以测试至少8通道基站下行射频指标的高效率测试系统；

同时，PXI架构9通道信号源发出9通道测试信号经过环形器(C1到C9)，再通过射频开关矩阵SW，将9路通道信号源测试信号分时切换到64路基站的天线口输入口，实现上行链路高效率测试。

与现有技术相比，本申请提供的技术方案，具有的技术效果或优点是：大大提高了测试效率；具有可扩展性，可扩展到8N*8通道基站射频指标的测试；完全兼容2G、3G、4G基站测试架构。

附图说明

图1为现有技术中的生产线基站射频测试系统结构框图；

图2为本实施例的多通道无线基站射频测试系统结构框图。

具体实施方式

本实用新型提供一种多通道无线基站射频测试系统，能够满足未来5G多通道无线基站射频指标的高效率测试要求，并兼容2G,3G,4G基站的生产测试。

为了更好的理解上述技术方案，下面将结合说明书附图以及具体的实施方式，对上述技术方案进行详细的说明。

实施例

一种多通道无线基站射频测试系统，如图2所示，包括网络交换机、控制模块、基站数字模块模拟器TAD-CPRI以及基站射频单元，还包括8×N个衰减器(ATT1到ATT8N)、射频开关矩阵(SW，8N*8+1路矩阵，8N代表基站天线通道数)、9个环形器(C1到C9)、PXI架构9通道信号源SG以及PXI架构9通道频谱分析仪SA，其中，所述BTS RRU单元的8×N个输出通道分别与8×N个衰减器一一对应连接(N的取值为1-16)，所述8×N个衰减器分别接入所述射频开关矩阵的输入端，所述射频开关矩阵的各输出端均连接有一个环形器，各环形器均连接所述PXI架构频谱分析仪SA进行下行链路测试，同时，各环形器均连接所述PXI架构信号源SG进行上行链路测试，所述控制模块与所述基站射频单元连接，所述PXI架构信号源SG以及PXI架构频谱分析仪SA通过所述基站数字模块模拟器与所述基站射频单元连接,所述控制模块与所述网络交换机通过以太网连接，所述网络交换机分别与所述射频开关矩阵、PXI架构信号源SG以及PXI架构频谱分析仪SA通过以太网连接。

所述基站射频单元基站天线口发射链路射频输出信号经过8×N个衰减器，然后通过所述射频开关矩阵SW，将64路通道发射信号分时切换到9路环形器的输入，再经过环形器(C1到C9)到PXI架构9通道频谱仪SA进行下行链路测试，从而实现同时可以测试至少8通道基站下行射频指标的高效率测试系统；

同时，PXI架构9通道信号源SG发出9通道测试信号经过环形器(C1到C9)，再通过射频开关矩阵SW，将9路通道信号源测试信号分时切换到64路基站的天线口输入口，实现上行链路高效率测试。

为了兼容TDD基站系统的波束成型校准端口测试，所述基站射频单元的波束成型校准端口BF Cal连接所述射频开关矩阵的输入端口IN 8*N+1。

每个所述环路器与所述PXI架构频谱分析仪SA之间连接有耦合射频信号的耦合器(DCB1到DCB9)。

所述基站数字模块模拟器TAD-CPRI用来模拟基站数字模块BBU，时钟板CLOCK BOARD是用来提供参考时钟转换，从而给信号源SG和频谱仪SA同步时钟信号。

本申请的上述实施例中，通过提供一种多通道无线基站射频测试系统，包括BTS RRU单元、8×N个衰减器、射频开关矩阵、环形器、PXI架构信号源SG以及PXI架构频谱分析仪SA，其中，所述BTS RRU单元的8×N个输出通道分别与8×N个衰减器一一对应连接，所述8×N个衰减器分别接入所述射频开关矩阵的输入端，所述射频开关矩阵的各输出端均连接有一个环形器，各环形器均连接所述PXI架构频谱分析仪SA进行下行链路测试，同时，各环形器均连接所述PXI架构信号源SG进行上行链路测试。本实用新型大大提高了测试效率；具有可扩展性，可扩展到8N*8通道基站射频指标的测试；完全兼容2G、3G、4G基站测试架构。

应当指出的是，上述说明并非是对本实用新型的限制，本实用新型也并不仅限于上述举例，本技术领域的普通技术人员在本实用新型的实质范围内所做出的变化、改性、添加或替换，也应属于本实用新型的保护范围。