一种麦克风芯片的校准装置及方法与流程

本发明涉及麦克风校准领域，具体涉及一种麦克风芯片的装置及方法。

背景技术：

目前，相关行业里进行麦克风芯片校准时多利用一体式校准装置进行麦克风芯片的校准。现有技术中，在大批量的麦克风芯片生产测试之前，需要进行标样测试，现有的标样测试是通过人工将标样芯片一颗一颗的放到每个工装通道里依次进行标样测试。一般工装的工装通道是24通道和48通道，这也就代表着完成上述每个通道的标样测试的时间较长，标样测试速度较慢。随着工装通道的数量越多，标样测试速度越慢，严重影响工作效率。并且在进行大批量的待测麦克风芯片的生产测试之后，每隔4小时需要重复做一次这样的标样测试，以及生产测试的换料/换班前也需要进行标样测试，也就是说在一天的大批量生产测试生产测试中，要进行多次标样测试，而每次标样测试至少一个小时，浪费时间和人力，并且标样测试工序比较繁琐，工作效率低。

因此，需要提出一种新的麦克风芯片的校准装置及方法。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种麦克风芯片的装置及方法，以解决现有技术中存在的问题中的至少一个；

为达到上述目的，本发明采用下述技术方案：

一种麦克风芯片的校准装置，包括：标样模组、测试模组、扬声器和控制器；

所述标样模组，用于安装至少一个标样芯片；

所述测试模组，用于安装多个待测芯片；

所述控制器，用于控制所述扬声器发出测试语音信号，获取所述标样芯片采集所述测试语音信号所输出的标样测试数据及所述待测芯片采集所述测试语音信号所输出的生产测试数据，并基于所述标样测试数据和所述生产测试数据对所述待测芯片进行校准。

可选地，所述装置还包括通道板卡，所述通道板卡用于形成标样模组与控制器之间的至少一路标样通道及形成测试模组与控制器之间的多路生产测试通道。

可选地，所述标样模组与控制器之间利用至少一路第一数据传输通道进行标样测试数据的传输；所述测试模组与控制器之间利用多路第二数据传输通道进行生产测试数据的传输。

可选地，所述控制器进一步用于基于对通道板卡的切换，实现切换标样通道和测试通道。

可选地，所述控制器还用于存储及输出所述标样测试数据和所述生产测试数据。

可选地，所述标样模组包括：

至少一个用于安装标样芯片的标样测试座；以及

与各标样测试座连接的第一pcb板。

可选地，所述测试模组包括：

多个用于安装待测芯片的待测测试座；以及

与各待测测试座连接的第二pcb板。

可选地，所述标样模组包括多个用于安装标样芯片的标样测试座，所述控制器，还用于获取安装于标样模组的多个标样芯片采集所述测试语音信号所输出的多个标样测试数据，比较所述多个标样测试数据以判断所述多个标样芯片是否符合标准，并输出不符合标准的标样芯片的提示信息。

本发明第二方面提供一种利用本发明第一方面提供的校准装置进行麦克风芯片校准的方法，该方法包括：

在所述标样模组上安装标样芯片并在所述测试模组上安装待测芯片；

控制所述扬声器发出测试语音信号，获取所述标样麦克风芯片采集所述测试语音信号所输出的标样测试数据及所述待测芯片采集所述测试语音信号所输出的测试数据，并基于所述标样测试数据和所述测试数据对所述待测芯片进行校准。

可选地，所述标样模组上安装标样芯片并在所述测试模组上安装待测芯片进一步包括：在所述标样模组上安装多个标样芯片并在所述测试模组上安装多个待测芯片；

所述获取所述标样麦克风芯片采集所述测试语音信号所输出的标样测试数据及所述待测芯片采集所述测试语音信号所输出的测试数据，并基于所述标样测试数据和所述测试数据对所述待测芯片进行校准进一步包括：依次获取各标样芯片采集所述测试语音信号所输出的多个标样测试数据，依次获取各待测芯片采集所述测试语音信号所输出的多个生产测试数据，并基于所述多个标样测试数据和各测试数据对各待测芯片进行校准。

本发明的有益效果如下：

本发明的技术方案在工装上采用可同时安装标样芯片和待测芯片的标样模组和测试模组，利用控制器实现标样通道和测试通道的切换，无需人工逐一通道进行标样测试和生产测试的切换，减少了标样测试和生产测试时不必要的重复性工作，节省了标样测试的时间，使标样的安装及更换更加简单便利，具有降低人力成本，提高测试工作效率以及保证待测芯片的质量等优点。

附图说明

下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步详细的说明。

图1示出本发明实施例提供的麦克风芯片的校准装置的示意图；

附图标记：标样模组1；测试模组2；控制器3；通道板卡4；扬声器5；标样通道41；测试通道42；第一数据传输通道31；第二数据传输通道32。

具体实施方式

为了更清楚地说明本发明，下面结合优选实施例和附图对本发明做进一步的说明。附图中相似的部件以相同的附图标记进行表示。本领域技术人员应当理解，下面所具体描述的内容是说明性的而非限制性的，不应以此限制本发明的保护范围。

如图1所示，本发明实施例公开了一种麦克风芯片的校准装置，包括：

标样模组1、测试模组2、扬声器5和控制器3；

标样模组1，用于安装至少一个标样芯片；

测试模组2，用于安装多个待测芯片；

控制器3，用于控制扬声器5发出测试语音信号，获取标样芯片采集测试语音信号所输出的标样测试数据及待测芯片采集测试语音信号所输出的生产测试数据，并基于标样测试数据和生产测试数据对待测芯片进行校准。

现有技术中，由于进行标样测试的标样通道和进行待测芯片生产测试的生产测试通道都是使用的同一个工装通道，进而造成了生产测试之前的标样测试时需要人工依次在每个工装通道放置标样芯片，生产测试时又需要将标样芯片取出后进行待测芯片的生产测试。因此，标样芯片与待测芯片的多次人工切换极大影响了麦克风芯片校准的工作效率。

本实施例提供的麦克风芯片的校准装置在工装上采用可同时安装标样芯片和待测芯片的标样模组和测试模组，利用控制器实现标样通道和测试通道的切换，无需人工逐一通道进行标样测试和生产测试的切换，减少了标样测试和生产测试时不必要的重复性工作，节省了标样测试的时间，使标样的安装及更换更加简单便利，具有降低人力成本，提高测试工作效率以及保证待测芯片的质量等优点。

在本实施例的一个具体示例中，由于符合生产测试标准的待测芯片最后要和扬声器组装，为实现对待测芯片更精确地校准，本发明的实施例的一个具体示例中，扬声器5设置于安装在标样模组1的标样芯片声波接收范围及安装在测试模组2的待测芯片的声波接收范围内。扬声器5播放的测试语音信号既用于对标样芯片进行标样测试以生成标样测试数据，还用于对待测芯片进行生产测试以生成生产测试数据。

在本实施例的一些可选地实现方式中，该麦克风芯片的校准装置还包括通道板卡4，通道板卡4用于连接标样模组1和控制器3以形成标样模组1与控制器3之间的至少一路标样通道41；以及还用于连接测试模组2和控制器3以形成测试模组与控制器之间的多路生产测试通道42。

在本实施例的一个具体示例中，通道板卡4可采用工装生产常用的24通道或48通道，标样模组1连接通道板卡4的上的通道线路资源，标样模组1的线路与通道板卡的24通道或48通道线路资源分别形成一一对应的标样通道41。在进行标样芯片的标样测试时，利用标样通道41形成了标样模组1与控制器3之间的通路，通过用户进一步利用控制器3以实现标样通道41的接通、停止与切换。

大批量生产的待测芯片需要在生产测试中选择与标样芯片的功能一致的符合标准的芯片，待测芯片通过测试通道42进行生产测试。测试通道42的连接线同样与通道板卡的24通道或48通道分别形成一一对应的测试通道42。测试通道41与标样通道42互不干扰。通过用户对控制器3控制，就可以实现测试通道42通路的开启、停止与切换。在进行待测芯片的生产测试时，利用测试通道42形成了测试模组2与控制器3之间的通路，通过用户进一步利用控制器3以实现测试样通道42的接通、停止与切换。

在本实施例的一个具体示例中，每一次需要进行标样通道41和测试通道42的切换时，只需要控制控制器3界面上显示的通道切换图标就可以进行标样通道41和测试通道42的切换生产测试。

通过上述设置，利用控制器即可控制标样通道和测试通道的切换，以实现标样测试和生产测试的快速切换，而无需通过人工在工装通道逐一进行标样芯片和待测芯片的切换，达到不用经常更换标样芯片和待测芯片的目的。

在本实施例的一些可选地实现方式中，标样模组1与控制器3之间利用至少一路第一数据传输通道31进行标样测试数据的传输；测试模组2与控制器3之间利用多路第二数据传输通道32进行生产测试数据的传输。

在本发明的实施例的一个具体示例中，标样测试时标样模组内的标样芯片会基于扬声器5发出的测试语音信号进而生成用于参考的标样测试数据，标样测试数据在控制器3中存储与显示用于后续待测芯片的测试数据进行比较。生产测试时，测试模组2内的待测芯片会基于扬声器5发出的测试语音信号测试生成生产测试数据。上述标样测试数据与生产测试数分别通过第一数据传输通道31和第二数据传输通道32由控制器3获取，并在控制器3内进行生产测试数据与标样测试数据的对比，如果生产测试数据在预定的跳动范围内与标样测试数据相近，那么则证明生产测试的待测芯片符合生产需求，可进行后续的组装生产；不符合标准的待测芯片即可被立即发现进行返修，以此确保待测芯片的质量。

在本实施例的一些可选地实现方式中，控制器3进一步用于基于对通道板卡4的切换，实现切换标样通道41和测试通道42。

在本实施例的一个具体示例中，控制器3的显示界面上，显示有控制标样通道工作状态的标样通道工作图标，控制测试通道工作状态的标测试通道工作图标，用于实现标样通道和测试通道的快速切换；为防止出现标样测试以及生产测试时由于意外发生而无法及时停止测试的状况，显示界面还有标样通道急停图标和测试通道急停图标以实现标样测试和生产测试的紧急停止。每一次需要进行标样测试和生产测试的切换时，只需要控制控制器3界面上显示的通道切换图标进行标样通道和测试通道的切换就可以达到切换上述两个通道的目的。而无需通过人工在工装通道逐一进行标样芯片和待测芯片的切换，达到不用经常更换标样芯片和待测芯片的目的。

在本实施例的一些可选地实现方式中，控制器3还用于存储及输出标样测试数据和生产测试数据。

在本实施例的一个具体示例中，控制器3的界面窗口上除上述通道切换图标，控制器还包括另一个输出测试数据的显示窗口，控制器获取的标样测试数据和生产测试数据可通过显示窗口显示，当待测芯片的生产测试数据与标样测试数据之间的偏差数值不满足预设的偏差阈值时，该待测芯片的生产测试数据会以不同颜色的方式输出，并显示该待测芯片对应于通道板卡的具体通道位置，以及时对不符合标准的芯片进行返修。

在本实施例的其他具体示例中，当待测芯片的生产测试数据与标样测试数据之间的偏差值不满足预设的偏差阈值时，不符标准的待测芯片的输出方式还包括语音提示等方式以及时筛选出不符规格的待测芯片，确保待测芯片的品质。

在本实施例的一个具体示例中，控制器3获取的生产测试数据与标样测试数据会存储到数据库中，用于后续需要的调取。在本实施例的一个具体示例中，控制器3存储数据的格式可定义为具体年月日，班次以及产线。如果后续组装生产麦克风时发现大批量的芯片问题，则可以通过调用数据库的数据，进行及时的拦截。

在本实施例的一些可选地实现方式中，标样模组1包括：

至少一个用于安装标样芯片的标样测试座；以及

与各标样测试座连接的第一pcb板。

在本实施例的一个具体示例中，一个第一pcb板和一个安装标样芯片的标样测试座形成一个标样测试工装的整体，标样模组包括至少一个标样测试工装，标样模组中的每一个标样测试工装分别与通道板卡的单个的线路通道连接，以形成多个标样通道41。多个标样通道41可与待测芯片的测试数据进行多次比较，以实现更精准地测试，避免出现因为一次性测试而造成的待测芯片测试数据的误差，从而导致不符合规格的待测芯片流出的质量问题。

在本实施例的一些可选地实现方式中，测试模组包括：

多个用于安装待测芯片的待测测试座；以及

与各待测测试座连接的第二pcb板。

在本实施例的一个具体示例中，一个第二pcb板和一个用于安装待测芯片的待测测试座形成一个测试工装的整体，测试模组包括多个测试工装，其中，每一个测试工装分别与通道板卡的单个的线路通道连接，以形成多个与通道板卡线路通道连接的测试通道。

在本实施例的一些可选地实现方式中，标样模组1包括多个用于安装标样芯片的标样测试座，控制器3还用于获取安装于标样模组1的多个标样芯片采集测试语音信号所输出的多个标样测试数据，比较多个标样测试数据以判断多个标样芯片是否符合标准，并在输出不符合标准的标样芯片的提示信息。

在本实施例的一个具体示例中，标样芯片随着使用时间与使用频率的增加，其标样测试数据会与实验室多次试验后的对应最高性能时的实验数据产生偏差，这种情况下需要对标样芯片进行更换。为防止上述性能减弱的标样芯片没有及时更换而影响校准精度的情况发生，可通过控制器3在显示窗口输出的多个标样芯片的标样测试数据之间进行对比，性能减弱的标样芯片的标样测试数据与其他标样芯片的标样测试数据不在同一水平，即可发现区别于其他标样测试数据的性能减弱的标样芯片。

在另一个具体示例中，也可以预设标样数据的波动范围，当有标样测试数据不满足了预设范围后，则控制器3发出相应的提示信息，提醒工作人员更换标样芯片。在另一个具体示例中，可预设标样测试数据与实验数据偏差存在±0.3db的波动范围，若超出此波动范围，则认为此时的标样芯片已经无法进行标样测试，不能提供标准参考，此时，直接从安装标样芯片的标样模组1中取出偏差的标样芯片并更换满足偏差内的新的标样芯片即可。

本发明的另一个实施例公开了一种利用上述装置进行麦克风芯片校准的方法，具体包括：

在标样模组1上安装标样芯片并在测试模组2上安装待测芯片；

控制扬声器5发出测试语音信号，获取标样麦克风芯片采集测试语音信号所输出的标样测试数据及待测芯片采集测试语音信号所输出的测试数据，并基于标样测试数据和测试数据对待测芯片进行校准。

在本实施例的一个具体示例中，首先在标样模组1中安装标样芯片，以及在测试模组2中安装待测芯片，由于标样通道41与测试通道42互不干扰，因此，安装标样芯片和待测芯片的步骤可以同时进行。然后点击控制器3测试界面的标样通道工作图标，控制标样通道41的开启以进行标样测试。

标样芯片通过标样通道41以及与标样通道连接的扬声器5生成了标样测试数据并由控制器3获取，在控制器3的测试数据显示窗口进行显示，并由控制器3的数据保存功能自动保存进数据库。

标样测试完成后，进行大批量的待测芯片的生产测试，点击控制器测试界面的测试通道工作图标，控制测试通道的开启以进行生产测试。待测芯片通过测试通道42以及与测试通道42连接的扬声器5生成了生产测试数据并由控制器3获取，在控制器3的测试数据显示窗口进行显示，并由控制器3的数据保存功能自动保存进数据库。

当待测芯片的生产测试数据与标样测试数据之间的偏差数值不满足预设的偏差阈值时，该待测芯片的生产测试数据会标红并显示该待测芯片对应于通道板卡的具体通道位置，以及时对不合标准的芯片进行返修。

为确保标样芯片的性能仍处于标准状态，预设每4小时从生产测试通道42切换回标样通道41再次进行标样测试。通过点击控制器测试界面的通道切换图标进行标样通道41和测试通道42的切换就可以达到切换上述两个通道的目的。这样，通过控制器即可控制标样通道和测试通道的切换，以实现标样测试和生产测试的快速切换，而无需通过人工在工装通道逐一进行标样芯片和待测芯片的切换，达到不用经常更换标样芯片和待测芯片的目的。

在本实施例的一些可选地实现方式中，

标样模组上安装标样芯片并在测试模组上安装待测芯片进一步包括：在标样模组上安装多个标样芯片并在测试模组上安装多个待测芯片；

获取标样麦克风芯片采集测试语音信号所输出的标样测试数据及待测芯片采集测试语音信号所输出的测试数据，并基于标样测试数据和测试数据对待测芯片进行校准进一步包括：依次获取各标样芯片采集测试语音信号所输出的多个标样测试数据，依次获取各待测芯片采集测试语音信号所输出的多个生产测试数据，并基于多个标样测试数据和各测试数据对各待测芯片进行校准。

在本实施例的其他可选地实现方式中，本发明的实施例公开的麦克风芯片校准的方法与上述本发明的实施例公开的麦克风芯片的校准装置的工作原理及工作流程相似，相关之处可以参照上述说明，在此不再赘述。

本发明实施例的提供的麦克风芯片的校准装置及方法，减少了标样测试和生产测试时不必要的重复性工作，节省了标样测试的时间，使标样的安装及更换更加简单便利，具有降低人力成本，提高测试工作效率以及保证待测芯片的质量等优点。

显然，本发明的上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例，而并非是对本发明的实施方式的限定，对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动，这里无法对所有的实施方式予以穷举，凡是属于本发明的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明的保护范围之列。