一种检测测试仪表的系统及方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及通信测试领域，具体的说，是涉及一种检测测试仪表的系统及方法。
【背景技术】
[0002]目前，伴随着通信网络技术日新月异的发展，为了检查数据传输在程序执行过程中是否完整和正确，各类数据传输测量仪器应运而生，以光测试仪器为例，一般而言，需要具备以下要求，第一，灵敏度高，即表示测试器把光功率转变为电流的效率高；第二，响应速度快，即指射入光信号后，马上就有电信号输出；光信号一停，电信号也停止输出，不要延迟。这样才能重现入射信号；第三，噪声小，即为了提高光纤传输系统的性能，要求系统的各个组成部分的噪声要求足够小；第四，稳定可靠，即要求测试器的主要性能尽可能不受或者少受外界温度变化和环境变化的影响，以提高系统的稳定性和可靠性。
[0003]以网络测试仪为例，随着网络的普及化和复杂化，网络的合理架设和正常运行变得异常重要，而保障网络的正常运行必须要从两个方面着手。其一，网络施工质量直接影响网络的后续使用，所以施工质量不容忽视，必须严格要求，认证检查，防患于未然。其二，网络故障的排查至关重要，直接影响网络的运行效率，必须追求高效率、短时间。因此网络检测辅助设备在网络施工和网络维护工作中变得越来越重要。而测试仪表的使用可以极大地降低网络管理员排查网络故障的时间，可以提供综合布线施工人员的工作效率，加速工程进度和工程质量，是网络检测和网络施工过程中必不可少的工具。
[0004]然而，在各种测试仪表出厂时，对测试仪表的检测和校准非常耗时耗力，现有技术中对于测试仪表的检测，主要是通过工作人员对测试仪表进行测试前的校准和各种选件的测试以及进行各种环境的测试，最后进行查看报告以及相关性能检测，其工作内容复杂，大多数时间还需要手动进行校准，以及各种选件进行手动测试，耗时耗力，严重影响工作人员的工作效率。
[0005]因此，如何研发一种检测测试仪表的系统及方法，解决上述问题，便成为亟待解决的技术问题。
【发明内容】
[0006]本申请解决的主要问题是提供一种检测测试仪表的系统及方法，以解决无法实现的对测试仪表的批量测试、省时省力、进而提高工作效率、减少测试环境来回切换所消耗的时间以及对测试仪表相关性能进行检测的技术问题。
[0007]为了解决上述技术问题，本发明公开了一种检测测试仪表的系统，包括:环境创建单元，数据处理单元，数据传输单元，数据存储单元和智能终端，其中，
[0008]所述环境创建单元，用于创建不同的测试环境，并且对测试仪表进行检测；
[0009]所述数据处理单元，用于接收所述环境创建单元传来的检测结果，并将该检测结果转换为数据；
[0010]所述数据传输单元，用于将数据处理单元转换的数据传输至数据存储单元和智能终端；
[0011]所述数据存储单元，用于对数据处理单元转换的数据进行存储；
[0012]所述智能终端，用于对数据处理单元转换的数据进行分析。
[0013]进一步地，其中，所述测试仪表为光测试仪表，所述光测试仪表的环境创建单元，进一步包括:跳线模块、短光纤模块和长光纤模块，其中，
[0014]所述跳线模块，用于检测光测试仪表是否进行了锯齿波以及初始长度的校准；
[0015]所述短光纤模块，用于检测光测试仪表的短光纤链路是否正确，以及检测光测试仪表的事件盲区和衰减盲区；
[0016]所述长光纤模块，用于检测光测试仪表的长光纤链路是否正确，以及检测光测试仪表的动态范围。
[0017]进一步地，其中，所述测试仪表为IP RAN/PTN测试仪表，所述IP RAN/PTN测试仪表的环境创建单元，进一步包括:校准模块、RFC2544模块、帧分析模块、误码模块和环回检测模块，其中，
[0018]校准模块，用于检测IP RAN/PTN测试仪表是否进行了初始化环境的校准；
[0019]所述RFC2544模块，用于检测IP RAN/PTN测试仪表是否支持吞吐量、帧丢失率、时延或背靠背的性能测试；
[0020]所述帧分析模块，用于检测IP RAN/PTN测试仪表的成帧和非成帧信号是否能够发生和接收；
[0021]所述误码模块，用于检测IP RAN/PTN测试仪表是否可以进行比特误码、编码误码、帧误码、CRC误码、E比特误码的性能测试；
[0022]所述环回检测模块，用于检测IP RAN/PTN测试仪表是否可自动远端发现，是否可以同时独立测试上行和下行双向链路。
[0023]进一步地，其中，所述测试仪表为同步测试仪表，所述同步测试仪表的环境创建单元，进一步包括:校准模块、授时GPS模块、同步精度模块和光补偿模块，其中，
[0024]所述校准模块，用于检测同步测试仪表是否进行了初始化环境的校准；
[0025]所述授时GPS模块，用于检测所述同步测试仪表是否可以复现UTC时间及产生的时钟，并判断是否可以5分钟内锁定GPS时间信号；
[0026]所述同步精度模块，用于检测所述同步测试仪表的时间同步精度和/或者时钟同步精度；
[0027]所述光补偿模块，用于检测所述同步测试仪表是否能统计分析随机变化的时差信号，以实现光路非对称补偿的测试。
[0028]进一步地，其中，
[0029]所述数据处理单元，进一步为:单片机、CPU中央处理器或微处理器；
[0030]所述数据存储单元，进一步为:硬盘、ROM存储器、RAM存储器或光盘；
[0031]所述智能终端，进一步包括:移动终端和/或者非移动终端。
[0032]进一步地，其中
[0033]步骤1:环境创建单元创建不同的测试环境，并且对测试仪表进行检测；
[0034]步骤2:数据处理单元接收所述环境创建单元传来的检测结果，并将该检测结果转换为数据；
[0035]步骤3:所述数据传输单元将数据处理单元转换的数据传输至数据存储单元和智能终端；
[0036]步骤4:所述数据存储单元对所述数据处理单元转换的数据进行存储；
[0037]步骤5:智能终端对所述数据处理单元转换的数据进行分析。
[0038]进一步地，其中，所述步骤I还包括:
[0039]步骤1.1:跳线模块检测光测试仪表是否进行了锯齿波以及初始长度的校准；
[0040]步骤1.2:短光纤模块检测光测试仪表的短光纤链路是否正确，以及检测光测试仪表的事件盲区和衰减盲区；
[0041]步骤1.3:长光纤模块检测光测试仪表的长光纤链路是否正确，以及检测光测试仪表的动态范围。
[0042]进一步地，其中，所述步骤I还包括:
[0043]步骤101:校准模块检测IP RAN/PTN测试仪表是否进行了初始化环境的校准；
[0044]步骤102:RFC2544模块检测IP RAN/PTN测试仪表是否支持吞吐量、帧丢失率、时延或背靠背的性能测试；
[0045]步骤103:帧分析模块检测IP RAN/PTN测试仪表的成帧和非成帧信号是否能够发生和接收；
[0046]步骤104:误码模块检测IP RAN/PTN测试仪表是否可以进行比特误码、编码误码、帧误码、CRC误码、E比特误码的性能测试；
[0047]步骤105:环回检测模块检测IP RAN/PTN测试仪表是否可自动远端发现，是否可以同时独立测试上行和下行双向链路。
[0048]进一步地，其中，所述步骤I还包括:
[0049]步骤111:校准模块检测同步测试仪表是否进行了初始化环境的校准；
[0050]步骤112:授时GPS模块检测所述同步测试仪表是否可以复现UTC时间及产生的时钟，并是否能5分钟内锁定GPS时间信号；
[0051]步骤113:同步精度模块检测所述同步测试仪表的时间同步精度和/或者时钟同步精度；
[0052]步骤114:光补偿模块检测所述同步测试仪表是否能统计分析随机变化的时差信号，判断同步测试仪表是否实现光路非对称补偿的测试。
[0053]进一步地，其中，
[0054]所述数据处理单元，进一步为:单片机、CPU中央处理器或微处理器；
[0055]所述数据存储单元，进一步为:硬盘、ROM存储器、RAM存储器或光盘；
[0056]所述智能终端，进一步包括:移动终端和/或者非移动终端。
[0057]与现有技术相比，本申请所述的一种检测测试仪表的系统及方法，达到了如下效果:
[0058](I)本发明所述的检测测试仪表的系统，包括:环境创建单元，数据处理单元，数据传输单元，数据存储单元和智能终端，根据不同的测试仪表，创建不同的环境创建单元，以实现对测试仪表的批量测试、省时省力、进而提高工作效率。
[0059](2)本发明所述的检测测试仪表的系统，所述环境创建单元，可以包括跳线模块、短光纤模块和长光纤模块，用以检测光测试仪表；所述环境创建单元，还可以包括校准模块、RFC2544模块、帧分析模块、误码模块和环回检测模块，用以检测IP RAN/PTN测试仪表；也可