一种检测测试仪表的系统及方法_3

文档序号:8301336阅读:来源:国知局
动远端发现,是否可以同时独立测试上行和下行双向链路。所述环回测试就是通过将被测设备或线路的收发端进行短接,让被测的设备接收自己发出的信号来判断线路或端口是否存在断点。也可以在被环回的线路上来测试被环回一段线路的传输质量。
[0103]当通过故障现象可以初步判断是线路问题时,通常从一端设备开始,从最近的结点向此设备环回,逐步扩展到再远一级的结点、更远一级的结点,用多次不同的结点向同一个设备环回,以判断到底是哪两个结点之间存在问题,本发明所述的环回检测模块,主要是用于判断出同时独立测试上行和下行双向链路。
[0104]所述数据处理单元102,进一步为:单片机、CPU中央处理器或微处理器;当然,还可以为其他处理器。
[0105]所述数据存储单元104,进一步为:硬盘、ROM存储器、RAM存储器或光盘;当然,还可以为其他处理器。
[0106]所述智能终端105,进一步包括:移动终端和/或者非移动终端;所述移动终端进一步为手机、笔记本电脑和平板电脑,所述非移动终端进一步为PC机。
[0107]实施例3
[0108]如图1所示,为本发明所述的另一种检测测试仪表的系统,包括:环境创建单元,数据处理单元,数据传输单元,数据存储单元和智能终端,其中,
[0109]所述环境创建单元101,用于创建不同的测试环境,并且对测试仪表进行检测;
[0110]所述数据处理单元102,用于接收所述环境创建单元101传来的检测结果,并将该检测结果转换为数据;
[0111]所述数据传输单元103,用于将数据处理单元102转换的数据传输至数据存储单元和智能终端;
[0112]所述数据存储单元104,用于对数据处理单元102转换的数据进行存储;
[0113]所述智能终端105,用于对数据处理单元102转换的数据进行分析。
[0114]优选地,如图4所示,所述测试仪表为同步测试仪表,所述同步测试仪表的环境创建单元101,进一步包括:校准模块1031、授时GPS模块1032、同步精度模块1033和光补偿模块1034,其中,
[0115]所述校准模块1031,用于检测同步测试仪表是否进行了初始化环境的校准;
[0116]所述授时GPS模块1032,用于检测所述同步测试仪表是否可以复现UTC时间及产生的时钟,并判断是否可以5分钟内锁定GPS时间信号;GPS时钟是一种接受GPS卫星发射的低功率无线电信号,通过计算得出GPS时间的接受装置。为获得准确的GPS时间,GPS时钟必须先接受到至少4颗GPS卫星的信号,计算出自己所在的三维位置。在已经得出具体位置后,GPS时钟只要接受到I颗GPS卫星信号就能保证时钟的走时准确性。
[0117]GPS授时系统是针对自动化系统中的计算机、控制装置等进行校时的高科技产品,GPS授时产品它从GPS卫星上获取标准的时间信号,将这些信息通过各种接口类型来传输给自动化系统中需要时间信息的设备(计算机、保护装置、故障录波器、事件顺序记录装置、安全自动装置、远动RTU),这样就可以达到整个系统的时间同步。
[0118]所述同步精度模块1033,用于检测所述同步测试仪表的时间同步精度和/或者时钟同步精度;所述时间同步和/或者时钟同步,均叫作“对钟”。要把分布在各地的时钟对准(同步起来),最直观的方法就是搬钟,可用一个标准钟作搬钟,使各地的钟均与标准钟对准。或者使搬钟首先与系统的标准时钟对准,然后使系统中的其他时针与搬钟比对,实现系统其他时钟与系统统一标准时钟同步。
[0119]所述光补偿模块1034,用于检测所述同步测试仪表是否能统计分析随机变化的时差信号,以实现光路非对称补偿的测试,可以为用户制定补偿策略提供可靠依据。
[0120]所述数据处理单元102,进一步为:单片机、CPU中央处理器或微处理器;当然,还可以为其他处理器。
[0121]所述数据存储单元104,进一步为:硬盘、ROM存储器、RAM存储器或光盘;当然,还可以为其他处理器。
[0122]所述智能终端105,进一步包括:移动终端和/或者非移动终端;所述移动终端进一步为手机、笔记本电脑和平板电脑,所述非移动终端进一步为PC机。
[0123]实施例4
[0124]如图5所示,为本发明所述的一种检测测试仪表的方法,包括以下步骤:
[0125]步骤1:环境创建单元创建不同的测试环境,并且对测试仪表进行检测;
[0126]步骤2:数据处理单元接收所述环境创建单元传来的检测结果,并将该检测结果转换为数据;
[0127]步骤3:所述数据传输单元将数据处理单元转换的数据传输至数据存储单元和智能终端;
[0128]步骤4:所述数据存储单元对数据处理单元转换的数据进行存储;
[0129]步骤5:智能终端对数据处理单元转换的数据进行分析。
[0130]优选地,所述步骤I还包括:
[0131]步骤1.1:跳线模块检测光测试仪表是否进行了锯齿波以及初始长度的校准;
[0132]步骤1.2:短光纤模块检测光测试仪表的短光纤链路是否正确,以及检测光测试仪表的事件盲区和衰减盲区;
[0133]步骤1.3:长光纤模块检测光测试仪表的长光纤链路是否正确,以及检测光测试仪表的动态范围。
[0134]具体操作时,可以将多个光测试仪表放在传送带的一端,针对第一个光测试仪表,开启环境创建单元,首先对第一个光测试仪表依次进行跳线环境、短光纤环境以及长光纤环境的检测,并将检测结果发送至数据处理单元,所述数据处理单元将该检测结果转换为数据,且由所述数据传输单元将该数据传输至数据存储单元和智能终端,进而智能终端对所述数据进行分析,判断该所述光测试仪表的各项指标是否合格,是否可以正常使用;当检测结束后,将该第一个光测试仪表传送至传送带的另一端,进而进行第二个光测试仪表的检测。
[0135]本发明还提供了另一种检测测试仪表的方法,包括以下步骤:
[0136]步骤1:环境创建单元创建不同的测试环境,并且对测试仪表进行检测;
[0137]步骤2:数据处理单元接收所述环境创建单元传来的检测结果,并将该检测结果转换为数据;
[0138]步骤3:所述数据传输单元将数据处理单元转换的数据传输至数据存储单元和智能终端;
[0139]步骤4:所述数据存储单元对数据处理单元转换的数据进行存储;
[0140]步骤5:智能终端对数据处理单元转换的数据进行分析。
[0141 ] 优选地,所述步骤I还包括:
[0142]步骤101:校准模块检测IP RAN/PTN测试仪表是否进行了初始化环境的校准;
[0143]步骤102:RFC2544模块检测IP RAN/PTN测试仪表是否支持吞吐量、帧丢失率、时延或背靠背的性能测试;
[0144]步骤103:帧分析模块检测IP RAN/PTN测试仪表的成帧和非成帧信号是否能够发生和接收;
[0145]步骤104:误码模块检测IP RAN/PTN测试仪表是否可以进行比特误码、编码误码、帧误码、CRC误码、E比特误码的性能测试;
[0146]步骤105:环回检测模块检测IP RAN/PTN测试仪表是否可自动远端发现,是否可以同时独立测试上行和下行双向链路。
[0147]具体操作时,可以将多个IP RAN/PTN测试仪表放在传送带的一端,针对第一个IPRAN/PTN测试仪表,开启环境创建单元,首先对第一个IP RAN/PTN测试仪表依次进行校准模块、RFC2544模块、帧分析模块、误码模块和环回检测模块的检测,并将检测结果发送至数据处理单元,所述数据处理单元将该检测结果转换为数据,且由所述数据传输单元将该数据传输至数据存储单元和智能终端,进而智能终端对所述数据进行分析,判断该所述IPRAN/PTN测试仪表的各项指标是否合格,是否可以正常使用;当检测结束后,将该第一个IPRAN/PTN测试仪表传送至传送带的另一端,进而进行第二个IP RAN/PTN测试仪表的检测。
[0148]本发明又提供了另外一种检测测试仪表的方法,包括以下步骤:
[0149]步骤1:环境创建单元创建不同的测试环境,并且对测试仪表进行检测;
[0150]步骤2:数据处理单元接收所述环境创建单元传来的检测结果,并将该检测结果转换为数据;
[0151]步骤3:所述数据传输单元将数据处理单元转换的数据传输至数据存储单元和智能终端;
[0152]步骤4:所述数据存储单元对数据处理单元转换的数据进行存储;
[0153]步骤5:智能终端对数据处理单元转换的数据进行分析。
[0154]优选地,所述步骤I还包括:
[0155]步骤111:校准模块检测同步测试仪表是否进行了初始化环境的校准;
[0156]步骤112:授时GPS模块检测所述同步测试仪表是否可以复现UTC时间及产生的时钟,并是否能5分钟内锁定GPS时间信号;
[0157]步骤113:同步精度模块检测所述同步测试仪表的时间同步精度和/或者时钟同步精度;
[0158]步骤114
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