用于对多个光模块同时进行测试的系统及方法
【技术领域】
[0001]本发明属于通信测试领域，涉及一种用于对多个光模块同时进行测试的系统及方法。
【背景技术】
[0002]目前，伴随着通信网络技术日新月异的发展，为了检查数据传输在程序执行过程中是否完整和正确，各类数据传输测量仪器应运而生，以光测试仪器为例，一般而言，需要具备以下要求，第一，灵敏度高，即表示测试器把光功率转变为电流的效率高；第二，响应速度快，即指射入光信号后，马上就有电信号输出；光信号一停，电信号也停止输出，不要延迟。这样才能重现入射信号；第三，噪声小，即为了提高光纤传输系统的性能，要求系统的各个组成部分的噪声要求足够小；第四，稳定可靠，即要求测试器的主要性能尽可能不受或者少受外界温度变化和环境变化的影响，以提高系统的稳定性和可靠性。
[0003]在光通信产品中，光模块占有十分重要的地位。光收发模块作为光纤通信网的关键技术之一，被广泛应用在同步光纤网络(SONET)和同步数字体系(SDH)、异步传输模式(ATM)、光纤分布数据接口(FDDI)，以及快速以太网和千兆以太网等系统中。现有技术中通常只能一次性对单个光模块进行测试，当前光模块测试信息记录主要是通过人工读取信息，手动记录光模块信息到测试报告中。因此，其显著缺点是:不仅测试效率不高，而且测试过程中常常出现较大的误差，从而影响光测试数据的准确性。为了适应专业通信测试需求，使得测试流程更加方便可靠，亟待出现一种用于对多个光模块同时进行测试的系统及测试方法。
【发明内容】
[0004]本发明的目的在于克服上述不足，提供一种用于对多个光模块同时进行测试的系统，其能够提高光测试效率，并且降低测试误差。
[0005]为了实现上述目的，本发明采用的技术方案为:一种用于对多个光模块同时进行测试的系统，其特征在于，包括:测试单元，用于对多个光模块同时进行测试，以获取光测试信号；数据处理单元，用于接收测试单元发送的光测试信号，并进行处理，以得到所述多个光模块的相关信息数据；数据存储单元，用于对所述多个光模块的相关信息数据进行存储，和/或生成测试报告。
[0006]进一步地，所述测试单元包括:多个级联的SFP模块。
[0007]进一步地，所述数据处理单元为FPGA，所述FPGA包括PHY处理模块。
[0008]进一步地，所述SFP模块包括:光发射器，脉冲发生器，光电转换器与模数转换器；其中，脉冲发生器，用于与数据处理单元连接，使数据处理单元控制脉冲发生器发出设定脉宽的电信号；光发射器，用于将所述电信号转换成光信号发送到光纤中；光电转换器，用于将光纤中反射回来的信号转换成模拟信号；模数转换器，用于将所述模拟信号转换成数字信号发送到数据处理单元，以获取光纤长度，动态范围，和盲区的测量数据。
[0009]进一步地，所述数据存储单元包括FLASH存储模块，EEPROM，外置USB存储模块。
[0010]进一步地，所述数据处理单元还连接有接口单元，显示单元，其中，所述接口单元包括RJ-45以太网接口，RS232接口，USB接口，时钟接口 ；所述显示单元为触摸显示屏。
[0011]进一步地，所述测试单元包括按键操控模块。
[0012]本发明的另一目的在于提供一种用于对多个光模块同时进行测试的方法，其特征在于，包括:步骤一，测试单元对多个光模块同时进行测试，以获取光测试信号；步骤二，数据处理单元接收测试单元发送的光测试信号，并进行处理，以得到所述多个光模块的相关信息数据；步骤三，数据存储单元对所述多个光模块的相关信息数据进行存储，和/或生成测试报告。
[0013]进一步地，所述步骤一包括:采用多个级联的SFP光模块对多个光模块同时进行测试。
[0014]进一步地，所述步骤二包括:采用FPGA接收所述SFP光模块发送的光测试信号，并由FPGA内部的PHY处理模块进行处理，以得到所述多个光模块的相关信息数据。
[0015]本发明的有益效果为:
[0016]第一，结构简单，系统包括:测试单元，用于对多个光模块同时进行测试，以获取光测试信号；数据处理单元，用于接收测试单元发送的光测试信号，并进行处理，以得到多个光模块的相关信息数据；数据存储单元，用于对多个光模块的相关信息数据进行存储，就可以对多个光模块同时进行测试，实现实时监测光模块的温度、供电电压、偏置电流，以及发射和接收光功率等参数的发明目的。
[0017]第二，应用性强，采用多个级联的SFP光模块对多个光模块同时进行测试，并且采用FPGA接收所述SFP光模块发送的光测试信号，并由FPGA内部的PHY处理模块进行处理，以得到所述多个光模块的相关信息数据，进而自动生成测试报告，通过对相关信息数据的监测，可以帮助系统管理员预测光模块的寿命、隔离系统故障，并在现场安装中验证模块的兼容性，不仅节省了时间，提高了测试效率，而且能够避免测试过程中出现的误差，从而使得获取光测试数据的准确性大为提高。
【附图说明】
[0018]此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中:
[0019]图1是本发明的用于对多个光模块同时进行测试的系统的结构原理示意图；
[0020]图2是图1所示系统的第一实施例结构示意图；
[0021]图3是图1所示系统的第二实施例结构示意图；
[0022]图4是本发明的PHY模块电路的实施例示意图；
[0023]图5是是本发明的用于对多个光模块同时进行测试的系统的测试方法流程图。
【具体实施方式】
[0024]如在说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特定组件。本领域技术人员应可理解，硬件制造商可能会用不同名词来称呼同一个组件。本说明书及权利要求并不以名称的差异来作为区分组件的方式，而是以组件在功能上的差异来作为区分的准则。如在通篇说明书及权利要求当中所提及的“包含”为一开放式用语，故应解释成“包含但不限定于”。“大致”是指在可接收的误差范围内，本领域技术人员能够在一定误差范围内解决所述技术问题，基本达到所述技术效果。说明书后续描述为实施本申请的较佳实施方式，然所述描述乃以说明本申请的一般原则为目的，并非用以限定本申请的范围。本申请的保护范围当视所附权利要求所界定者为准。
[0025]请参照图1，本发明的用于对多个光模块同时进行测试的系统，包括:测试单元100，用于对多个光模块同时进行测试，以获取光测试信号；数据处理单元200，用于接收测试单元100发送的光测试信号，并进行处理，以得到所述多个光模块的相关信息数据；数据存储单元300，用于对所述多个光模块的相关信息数据进行存储，和/或生成测试报告。
[0026]如图2所示，优选地，所述测试单元100包括:多个级联的SFP模块。所述SFP模块包括:光发射器101，脉冲发生器102，光电转换器103与模数转换器104 ;其中，脉冲发生器102，用于与数据处理单元连接，使数据处理单元控制脉冲发生器发出设定脉宽的电信号；光发射器101，用于将所述电信号转换成光信号发送到光纤中；光电转换器103，用于将光纤中反射回来的信号转换成模拟信号；模数转换器104，用于将所述模拟信号转换成数字信号发送到数据处理单元，以获取光纤长度，动态范围，和盲区的测量数据。
[0027]优选地，光发射器101在光传输过程中的主要作用是将电脉冲信号转换成光脉冲信号，输入的是电信号，输出的是光信号。
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