间隙。在这些点上，会有很强的背向散射光被反射回来。因此，测试单元就是利用菲涅尔反射的信息来定位连接点，光纤终端或断点。
[0062]优选地，数据处理单元控制脉冲发生单元发出制定脉宽的信号，激光把此电信号转换成光信号发送到光纤中，在光纤中反射回来的信号通过光电转换模块把光信号转换成模拟信号，再经模式转换单元把模拟信号转换成数字信号送到数据处理单元中经过处理就能得出光纤长度，动态范围，盲区等技术指标，以完成对关光纤链路的测量。
[0063]如图3所示，优选地，所述数据处理单元200还连接有接口单元，显示单元，其中，所述接口单元包括RJ-45以太网接口，RS232接口，USB接口，时钟接口 ；所述显示单元为触摸显示屏。
[0064]优选地，所述测试单元包括按键操控模块。
[0065]优选地，测试仪表采用ARM处理器和嵌入式WINCE操作系统，支持DDR内存，最大可扩展到1GB，采用超高速总线，支持多任务处理能力，可同时完成多种网络测试。
[0066]优选地，所述显示单元采用10.4寸防反射TFT彩色触摸屏，即使在光线强的地方也可清晰显示，易于读取和操作，满足室外应用需求。
[0067]优选地，采用USB、RJ45、VGA多种接口，实现测试数据采集、处理与分析。
[0068]如图5所示，本发明的用于对多个光模块同时进行测试的方法包括:S100，测试单元对多个光模块同时进行测试，以获取光测试信号；S200，数据处理单元接收测试单元发送的光测试信号，并进行处理，以得到所述多个光模块的相关信息数据；S300，数据存储单元对所述多个光模块的相关信息数据进行存储，和/或生成测试报告。
[0069]优选地，SlOO包括:采用多个级联的SFP光模块对多个光模块同时进行测试。
[0070]优选地，S200包括:采用FPGA接收所述SFP光模块发送的光测试信号，并由FPGA内部的PHY处理模块进行处理，以得到所述多个光模块的相关信息数据。
[0071]本实施例的用于对多个光模块同时进行测试的方法可以模拟实际的多种业务，可同时产生多种不同的数据流，测试这些类型的业务在以太网网络中的转发性能，通过同时设置和产生多个数据流，每个数据流设置不同优先级，通过分析和统计多流的测试结果来验证多业务的性能。
[0072]本发明的有益效果为:
[0073]第一，结构简单，系统包括:测试单元，用于对多个光模块同时进行测试，以获取光测试信号；数据处理单元，用于接收测试单元发送的光测试信号，并进行处理，以得到多个光模块的相关信息数据；数据存储单元，用于对多个光模块的相关信息数据进行存储，就可以实现对多个光模块同时进行测试，实现实时监测光模块的温度、供电电压、偏置电流，以及发射和接收光功率等参数的发明目的。
[0074]第二，应用性强，采用多个级联的SFP光模块对多个光模块同时进行测试，并且采用FPGA接收所述SFP光模块发送的光测试信号，并由FPGA内部的PHY处理模块进行处理，以得到所述多个光模块的相关信息数据，进而自动生成测试报告，通过对相关信息数据的监测，可以帮助系统管理员预测光模块的寿命、隔离系统故障并在现场安装中验证模块的兼容性等不仅节省了时间，提高了测试效率，而且能够避免测试过程中出现的误差，从而使得获取光测试数据的准确性大为提高。
[0075]上述说明示出并描述了本申请的若干优选实施例，但如前所述，应当理解本申请并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述申请构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离本申请的精神和范围，则都应在本申请所附权利要求的保护范围内。
【主权项】
1.一种用于对多个光模块同时进行测试的系统，其特征在于，包括: 测试单元，用于对多个光模块同时进行测试，以获取光测试信号； 数据处理单元，用于接收测试单元发送的光测试信号，并进行处理，以得到所述多个光模块的相关信息数据； 数据存储单元，用于对所述多个光模块的相关信息数据进行存储，和/或生成测试报生口 O
2.根据权利要求1所述的用于对多个光模块同时进行测试的系统，其特征在于，所述测试单元包括:多个级联的SFP模块。
3.根据权利要求2所述的用于对多个光模块同时进行测试的系统，其特征在于，所述数据处理单元为FPGA，所述FPGA包括PHY处理模块。
4.根据权利要求2所述的用于对多个光模块同时进行测试的系统，其特征在于，所述SFP模块包括:光发射器，脉冲发生器，光电转换器与模数转换器；其中， 脉冲发生器，用于与数据处理单元连接，使数据处理单元控制脉冲发生器发出设定脉宽的电信号； 光发射器，用于将所述电信号转换成光信号发送到光纤中； 光电转换器，用于将光纤中反射回来的信号转换成模拟信号； 模数转换器，用于将所述模拟信号转换成数字信号发送到数据处理单元，以获取光纤长度，动态范围，和盲区的测量数据。
5.根据权利要求1所述的用于对多个光模块同时进行测试的系统，其特征在于，所述数据存储单元包括FLASH存储模块，EEPROM，外置USB存储模块。
6.根据权利要求1所述的用于对多个光模块同时进行测试的系统，其特征在于:所述数据处理单元还连接有接口单元，显示单元，其中， 所述接口单元包括RJ-45以太网接口，RS232接口，USB接口，时钟接口 ； 所述显示单元为触摸显示屏。
7.根据权利要求1所述的用于对多个光模块同时进行测试的系统，其特征在于，所述测试单元包括按键操控模块。
8.一种用于对多个光模块同时进行测试的方法，其特征在于，包括: 步骤一，测试单元对多个光模块同时进行测试，以获取光测试信号； 步骤二，数据处理单元接收测试单元发送的光测试信号，并进行处理，以得到所述多个光模块的相关信息数据； 步骤三，数据存储单元对所述多个光模块的相关信息数据进行存储，和/或生成测试?艮胃。
9.根据权利要求8所述的用于对多个光模块同时进行测试的方法，其特征在于，所述步骤一包括:采用多个级联的SFP光模块对多个光模块同时进行测试。
10.根据权利要求9所述的用于对多个光模块同时进行测试的方法，其特征在于，所述步骤二包括:采用FPGA接收所述SFP光模块发送的光测试信号，并由FPGA内部的PHY处理模块进行处理，以得到所述多个光模块的相关信息数据。
【专利摘要】本申请公开了一种用于对多个光模块同时进行测试的系统，包括：测试单元，用于对多个光模块同时进行测试，以获取光测试信号；数据处理单元，用于接收测试单元发送的光测试信号，并进行处理，以得到所述多个光模块的相关信息数据；数据存储单元，用于对所述多个光模块的相关信息数据进行存储，和/或生成测试报告。本发明的优点是：第一，结构简单，可以对多个光模块同时进行测试，实现实时监测光模块的温度、供电电压、偏置电流，以及发射和接收光功率等参数的发明目的；第二，应用性强，可以帮助系统管理员预测光模块的寿命、隔离系统故障，不仅节省了时间，提高了测试效率，而且能够避免测试过程中出现的误差，大为提高光测试数据的准确性。
【IPC分类】H04B10-07
【公开号】CN104717006
【申请号】CN201510011637
【发明人】朱天全, 鲍胜青, 张青翠
【申请人】北京奥普维尔科技有限公司
【公开日】2015年6月17日
【申请日】2015年1月9日