一种定位弱覆盖直放站的方法和装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及无线通信领域，特别是指一种定位弱覆盖直放站的方法和装置。
【背景技术】
[0002] 直放站覆盖评估有两种；测量报告汇总（MRR，MeasurementReportRecording)分 析，小区话务记录（CTR，CellTra巧CRecording)工具分析，MRR分析包括常规MR和特殊 MRo
[0003] 通过常规MR分析的小区时间提前量灯AiTimingAdvance)分布，分析小区下挂直 放站的分布情况，该方法简单易行，适合大范围网元分析，但无法分辨出小区下挂的质差直 放站与非质差直放站。因为常规MR采集RxlevO-63的采样点，所W采样点既包含0-10的 弱覆盖部分，也包含11-63的非弱覆盖部分。因此常规MR分析局限于分析直放站的分布情 况，而无法对弱覆盖直放站进行定位。
[0004] CTR工具将小区的质差情况与TA分布情况等指标关联起来分析，较直观呈现出小 区话务分布距离，同时可W实现TA、Rxqual和Rxlev等指标的关联分析，定位弱覆盖直放 站，但是只能小区级进行任务制定与分析，无法大范围进行统一采集，因此时效性极差，更 适合定位后的验证，不合适全网分析。
[0005] 现有技术存在如下问题；针对直放站监控及弱覆盖排查的方法均具有一定的局限 性；常规MR分析采用TA分布可W分析信源小区话务分布情况，但是无法精确定位弱覆盖直 放站网元；CTR分析可W实现TA与Rxlev关联分析，但是无法实现批量分析，时效差，效率 低。
【发明内容】
[0006] 本发明要解决的技术问题是提供一种定位弱覆盖直放站的方法和装置，解决现有 技术中，常规MR分析无法精确定位弱覆盖直放站网元，CTR分析时效差，效率低的缺陷。
[0007] 为解决上述技术问题，本发明的实施例提供一种定位弱覆盖直放站的方法，方法 包括：质差分析步骤：采用质差采样点定位小区的质差直放站；弱覆盖分析步骤：采用弱覆 盖采样点定位小区的弱覆盖直放站；定位步骤：对弱覆盖采样点和质差采样点的小区时间 提前量TA进行拟合分析得到弱覆盖和质差之间的相关系数r，相关系数r满足阔值所对应 的直放站是弱覆盖质差直放站。
[0008] 所述的方法中，质差分析步骤中，采用上行质差采样，具体采集上行Rxquais~7 条件下的测量报告。
[0009] 所述的方法中，采用质差采样点定位小区的质差直放站包括；通过联合分析常规 测量报告与特殊测量报告辨别出质差直放站与非质差直放站；识别小区时间提前量TA最 大值，采用TA最大值估算直放站与信源小区的距离；在数字光纤射频拉远近端下查询不同 直放站的时延设置，通过时延设置大小与波峰处的TA进行匹配，定位质差直放站具体的地 理位置。
[0010] 所述的方法中，弱覆盖分析步骤中，采用上行弱覆盖采样，具体采集上行弱覆盖 RxlevUlX= -100 的采样点。
[0011] 所述的方法中，定位步骤之前还包括描述步骤；根据质差采样点和弱覆盖采样点 分别描述质差性能曲线和弱覆盖性能曲线；定位步骤具体包括：在描述质差性能曲线和弱 覆盖性能曲线上，对弱覆盖RxleWL和质差Rxqual化的TA进行拟合分析得到相关系数r， 定位弱覆盖质差直放站。
[0012] 所述的方法中，定位步骤中，采用弱覆盖Rxqual化和质差Rxlev化的TA进行拟 合得到弱覆盖和质差之间的相关系数
X是 RxlevUlX= -100条件下的测量报告采样TA数值，Y是上行RxqualS~7条件下的测量报 告采样TA数值，相关系数r取值范围是-1《r《1，IrI表明两变量间相关的程度，r的正 负号表明两变量间变化的方向，r〉0表示正相关，r<0表示负相关，r= 0表示零相关，IrI 接近1，表明两变量相关程度高，它们之间的关系越密切；当IrI〉= 0. 7时候，判断直放站 质差由于弱覆盖导致。
[0013] 一种定位弱覆盖直放站的装置，包括；质差分析单元，用于采用质差采样点定位小 区的质差直放站；弱覆盖分析单元，用于采用弱覆盖采样点定位小区的弱覆盖直放站；定 位单元，用于对弱覆盖采样点和质差采样点的小区时间提前量TA进行拟合分析得到弱覆 盖和质差之间的相关系数r，相关系数r满足阔值处所对应的直放站是弱覆盖质差直放站。
[0014] 所述的装置中，质差分析单元包括；联合分析模块，用于通过常规测量报告测量与 特殊测量报告测量联合分析辨别出质差直放站与非质差直放站；定位模块，用于识别小区 时间提前量TA最大值，通过TA最大值估算直放站与信源小区的距离；质差直放站定位模 块，用于在GRRU近端下查询不同直放站的时延设置，通过时延设置大小与波峰处的TA进行 匹配，定位质差直放站具体的地理位置。
[0015] 所述的装置中，还包括；性能曲线单元，用于根据质差采样点和弱覆盖采样点分别 描述质差性能曲线和弱覆盖性能曲线；定位单元包括；性能曲线定位模块，用于在描述质 差性能曲线和弱覆盖性能曲线上，对弱覆盖RxleWL和质差Rxqual化的TA进行拟合分析 得到相关系数r，定位弱覆盖质差直放站。
[001引所述的装置中，定位单元包括：相关系数模块，用于采用弱覆盖RxqualUL和质差RxlevUL的TA进行拟合得到弱覆盖和质差之间的相关系数
X是RxlevUlX= -100条件下的测量报告 采样TA数值，Y是上行RxqualS~7条件下的测量报告采样TA数值，相关系数r取值范围 是-1《r《1，M表明两变量间相关的程度，r的正负号表明两变量间变化的方向，r〉0表 示正相关，r<0表示负相关，r=O表示零相关，IrI接近I表明两变量相关程度高，它们之 间的关系越密切；当|r|> = 0. 7时候，判断直放站质差由于弱覆盖导致。
[0017] 本发明的上述技术方案的有益效果如下；采用差异化的特殊MR分析的定位直放 站弱覆盖质差，通过差异化MR统计分析，智能辨别小区下挂的弱覆盖直放站与非弱覆盖直 放站，从而精确定位直放站弱覆盖导致的质差。
【附图说明】
[0018] 图1表示一种定位弱覆盖直放站的方法流程示意图；
[0019] 图2A表示常规MR测量的TA分布示意图；
[0020] 图2B表示特殊MR测量的TA分布示意图；
[002。 图3表示采用Rxqual化和RxlevUL的TA进行拟合分析的示意图；
[0022] 图4表示各个远端直放站的光纤传输时延原理示意图。
【具体实施方式】
[0023] 为使本发明要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具 体实施例进行详细描述。
[0024] 直放站，由天线、射频双工器、低噪声放大器、混频器、电调衰减器、滤波器、功率放 大器等元器件或模块组成上行放大链路、下行放大链路。
[00巧]常规MR分析，是化anne1Group级别的，通过统计移动终端上报的测量报告(MeasurementReport)得到需要的信息，统计内容可W个性化设定。测量报告中的统计内 容有：
[0026] RXLEV;信号强度，包括上行和下行，取值范围0~63,即-110~-47地m。
[0027] RXQUAL;信号质量，包括上行和下行，取值范围0~7,0为最好，7为最差。
[0028] PathLossUL;上行路损，取值范围30~153地。
[0029] PathLossDL;下行路损，取值范围30~190地。
[0030] 小区时间提前量灯imingAdvance) :TA值，取值范围0~219,当TA< = 63时，统 计步长为1，TA〉63时统计步长为10。
[0031] MobileStationPowerLevel;移动终端发送功率，取值范围0~39地m。
[0032] BaseStationPowerReduction;基站功控幅度，取值范围0~30地，取偶数，统 计时对应为0~15。
[0033] Pathlossdifference;等于F*athlossDkPathloss化，取值范围 <-24，-24 ~ 24, 24地〉。
[0034] 误顿率（阳时；包括上行和下行，取值范围0~96,表示0~96%，对于某些设备 需要开启增强型测量报告EMR和语音质量检测SQS功能才能激活FER，同时在使用DTX时也 无法计算FER。
[0035] 特殊MR，通过自定义的约束条件实现质差采样及弱覆盖采样：
[0036] 上行弱覆盖义样；义集RxlevUlX= -100条件下的MR;
[0037] 下行弱覆盖义样；义集RxlevDlX= -94条件下的MR;
[0038] 上行质差采样：采集上行RxqualS~7条件下的MR;
[0039] 下行质差采样