一种无线设备测试系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及通信领域，具体涉及一种无线设备测试系统。
【背景技术】
[0002]无线通信技术是利用电磁波能够在自由空间中传播的特性，在两点或多点之间通过空中(非有线)的方式进行信息传递和交换的技术。因此，天线作为发送和接收无线通信信息载体一一电磁波的核心部件，其性能好坏直接决定了无线终端实现通讯的能力。
[0003]传统的通信系统使用单个发射天线和单个接收天线，称之为SISO(Single-1nputSingle-Output)系统，而MIMO(Multiple-1nput Multiple-Output)系统包含多个发射天线和多个接收天线，它能充分利用空间资源，通过多个天线实现多发多收，在不增加频谱资源和天线发射功率的情况下，可以成倍的提高系统信道容量和传输速率。
[0004]无线终端空口(0TA，0ver The Air)测试是无线设备性能的一个重要测试项目。SISO终端的OTA测试方案，其模拟实现的受控环境即自由空间传播环境，在自由空间传播环境下，测试被测终端的收发性能，其主要的测试指标是TRP(总辐射功率)和TIS(总全向灵敏度)，采用的标准是CTIA或3GPP制定的。而MMO终端的OTA测试，必须将信道模型在实验室中进行真实的复现，模拟真实的无线传播环境。目前MMO测试方法主要包括三类:暗室多探头法(MPAC,Mult1-Probe Anechoic Chamber)，福射两阶段法(RTS,Radiated Two-Stage)及混响室法。
[0005]多探头无反射暗室中，测量天线通常设于环状支撑结构上，常规的SISO/MHTO暗室中，为了满足既能兼顾多探头SISO测试，又能实现MIMO测试，所需天线数量会很多，为了保证测试精度，需要保证天线之间间隔一定的距离，以将天线之间的耦合干扰控制在一定程度(例如-30dB)，通常在暗室中加设一个或多个天线支撑环，通常一个环上的天线用于SISO测试，另一个环上的天线用于MMO测试，然而这样做会加大系统复杂程度，增加的机械支撑结构同时也会增加测量干扰。若建造一个足够大的暗室，也可以将所有天线设于一个支撑环上，同时保证天线与天线之间有足够的距离，但此设计会极大地增加暗室的建造成本。
【发明内容】
[0006]本发明的主要目的在于克服现有技术的不足，提供一种无线设备测试系统，在同一硬件测试环境中，采用较少数量的天线，实现兼顾SISO OTA测试和MIMO OTA测试。
[0007]为实现上述目的，本发明采用以下技术方案:
[0008]—种无线设备测试系统，包括屏蔽壳体、安装于所述屏蔽壳体内壁的测试天线、以及设于所述屏蔽壳体内中央位置的测试转台，所述测试天线包括以45°间隔的呈圆环状围绕所述屏蔽壳体内壁排列的8个复用的双极化探头天线、以及与所述8个复用的双极化探头天线沿同一圆环排列的3个SISO测试用的双极化探头天线，在所述3个SISO测试用的双极化探头天线中，SISO测试用的第一双极化探头天线与SISO测试用的第二双极化探头天线之间间隔90°，SIS0测试用的第一双极化探头天线与SISO测试用的第二双极化探头天线分别与SISO测试用的第三双极化探头天线之间间隔135°，且SISO测试用的第一双极化探头天线与所述8个复用的双极化探头天线中的一个双极化探头天线之间间隔15°，从而8个复用的双极化探头天线和3个SISO测试用的双极化探头天线共同构成在一个圆环上按照15°的逻辑间隔分布的11个天线序列。
[0009]进一步地:
[0010]还包括与所述8个复用的双极化探头天线沿同一圆环排列的8个MMO测试用的双极化探头天线，其中每个MIMO测试用的双极化探头天线与两侧相邻的复用的双极化探头天线之间分别间隔22.5°。
[0011]所述测试转台为在一个方向可转动的单轴转台，其旋转轴垂直于天线所在的平面。
[0012]所述测试转台为在两个方向可转动的双轴转台，其中一个旋转轴垂直于天线所在的平面，另一个旋转轴位于天线所在平面。
[0013]所述屏蔽壳体内壁设置有吸波材料。
[0014]所述屏蔽壳体为24边等边柱状多边体。
[0015]所述8个复用的双极化探头天线和所述3个SISO测试用的双极化探头天线均设置在所述等边柱状多边体中的对应边的中间位置。
[0016]所述屏蔽壳体为24边等边柱状多边体，所述8个复用的双极化探头天线和所述3个SISO测试用的双极化探头天线均设置在所述等边柱状多边体中的对应边的中间位置，所述8个MIMO测试用的双极化探头天线设置在所述等边柱状多边体中的对应边与边的交接处。
[0017]所述8个复用的双极化探头天线和所述3个SISO测试用的双极化探头天线可共同用于基于锥切法的SISO OTA测试，和/或所述测试天线的任一者可用于基于大圆法的SISOOTA测试;所述8个复用的双极化探头天线在充当MIMO测试用的双极化探头天线时，构成16个信道仿真器物理通道，可共同用于基于暗室多探头法的MMO OTA测试，和/或所述8个复用的双极化探头天线中的任意一个用于基于辐射两阶段法的MMO OTA测试。
[0018]所述8个复用的双极化探头天线和所述3个SISO测试用的双极化探头天线可共同用于基于锥切法的SISO OTA测试，和/或所述测试天线的任一者可用于基于大圆法的SISOOTA测试;所述8个复用的双极化探头天线在充当MIMO测试用的双极化探头天线时，与所述8个MMO测试用的双极化探头天线共同构成32个信道仿真器物理通道，可共同用于基于暗室多探头法的MMO OTA测试，和/或所述8个复用的双极化探头天线与所述8个MMO测试用的双极化探头天线中的任意一个用于基于辐射两阶段法的[MO OTA测试。
[0019]所述屏蔽壳体例如采用内切圆直径为7米、高为3.6米的24边等边柱状多边体。
[0020]本发明的有益效果:
[0021]本发明的测试系统中，测试天线包括以45°间隔的呈圆环状围绕屏蔽壳体内壁排列的8个复用的双极化探头天线以及与8个复用的双极化探头天线沿同一圆环排列的3个SISO测试用的双极化探头天线，且SISO测试用的双极化探头天线的分布方式使得8个复用的双极化探头天线和3个SISO测试用的双极化探头天线共同构成在一个圆环上按照15°的逻辑间隔分布的11个天线序列，从而，本测试系统中实现了对部分天线复用，即一定数量的天线既用于SISO测试，又用于MMO测试，相比传统测试系统具有以下显著优势:1.可使用较少的天线且兼顾多种测试，包括基于暗室多探头法的MMO OTA测试，基于辐射两阶段法的MIMO OTA测试，基于大圆(Great Circle)法的SISO OTA测试和基于锥切(Conical Cut)法的SISO OTA测试。2.不必增设天线支撑环(但本发明不排除设置天线支撑环)，也不用扩大暗室体积，相比传统测试系统，本发明可采用较小尺寸的暗室来实现良好的测量精度。
【附图说明】
[0022]图1是本发明实施例暗室的外部结构立体图；
[0023]图2-图3是本发明实施例暗室的立体剖视图，其中，为了清楚的展示暗室内部的测试转台和天线，图3中未示出吸波材料；
[0024]图4是本发明实施例暗室的天线排布示意图。
【具体实施方式】
[0025]以下对本发明的实施方式作详细说明。应该强调的是，下述说明