、横向偏心、横向力变化、静态平衡、切线力变化或其它合适的均匀性参 数。在从所述波形任选地移除妨害效应之后，可通过分析在不同轮胎间变化的效应的均匀 性测量值来识别瞬态效应。在一个实例中，均匀性测量值可建模为非瞬态效应项与瞬态效 应项的总和。瞬态效应项可经指定使得其可在不同轮胎间变化。可使用（例如）回归或编程 分析识别与瞬态效应项相关联的系数。与瞬态效应项相关联的系数可用于评估瞬态均匀性 效应的一或多个特性，例如瞬态效应项在不同轮胎间的变化速率。
[0027] 可根据本发明的实例方面识别的一个实例瞬态效应是可归因于用于硫化所述组 轮胎的硫化膜片的膜片效应。将出于说明和论述的目的参考瞬态膜片效应的识别论述本发 明的各方面。所属领域的一般技术人员使用本文中所提供的揭示内容将理解，可在不脱离 本发明的范围的情况下从均匀性测量值识别其它合适的瞬态效应。
[0028] 在轮胎制造期间，当轮胎在硫化机中硫化时，硫化膜片可经充气以啮合轮胎。硫化 膜片可包含膜片接合。当硫化膜片在循序硫化工艺期间被充气和再充气时，硫化膜片接合 的形状可更改。此硫化膜片接合的更改可导致轮胎上的瞬态均匀性效应。膜片效应可具有 对应于轮胎圆周的周期，且因此是瞬态轮胎谐波均匀性效应。硫化膜片所导致的瞬态膜片 效应可通过分析针对一组轮胎测得的均匀性波形（例如针对所述组轮胎测得的均匀性波 形，或基于所述组轮胎的均匀性汇总数据(例如均匀性效应的一或多个谐波分量的量值和 相角)来识别。
[0029] 可至少部分地基于所识别的瞬态均匀性效应修改轮胎制造。举例来说，膜片效应 可用于确定在轮胎制造期间何时更换硫化膜片，因为其可提供膜片径向偏心的逐轮胎估 计。与硫化机操作期间尝试测量硫化膜片的径向偏心(其可能困难、昂贵且具有破坏性)相 比，这是一个优点。
[0030] 作为另一实例，可使用轮胎均匀性测量值的分析在硫化膜片接合上进行接合审查 以便提供膜片构造过程的反馈校正。此外，硫化膜片中的膜片接合的特性可在逆向工程过 程中使用硫化膜片的观察到的瞬态效应来设计，目标是减小对于轮胎的均匀性的膜片效 应。膜片效应还可被视为可用于轮胎均匀性优化过程中的非均匀性的来源，例如通过改变 生胎相对于硫化机中的硫化膜片的装载角度以使其效应与来自所述过程中的其它组件的 效应最佳匹配。
[0031] 实例轮胎制造工艺
[0032] 图1描绘实例轮胎制造工艺的简化描绘。轮胎胎体100形成于成型鼓元件105上。在 单阶段制造工艺中，胎体100保持在鼓元件105上。在二阶段过程中，胎体100可从鼓元件105 移除且移动到第二阶段表面处理鼓元件。在任一情况下，将胎体充气以接纳完成的胎面带 110以产生完成的生胎115。胎面带110可建置在形状加工元件112上，随后胎面带110与胎体 组合以产生完成的生胎115。
[0033]生胎115可随后加载到硫化机120中且硫化以产生硫化轮胎125。硫化机120可包含 硫化机元件和硫化膜片122。在轮胎的硫化期间，硫化膜片122可充气以啮合生胎115且抵靠 着硫化机元件按压生胎115。可从硫化机元件且从硫化膜片122将热施加到生胎115以产生 硫化轮胎125。
[0034] 可在轮胎制造工艺期间的各个阶段使用均匀性测量机器在轮胎上执行各种均匀 性参数的均匀性测量。举例来说，可测量生胎115的径向偏心，且随后将生胎115加载到硫化 模具120中。可在硫化轮胎已在硫化模具120中硫化之后测量硫化轮胎125的径向力变化。将 参看图10更详细论述用于执行均匀性测量和分析均匀性参数的实例系统。
[0035] 以上加工元件中的每一者可对轮胎的均匀性产生影响。举例来说，成型鼓元件105 的失圆度、形状加工元件110和/或硫化机120可影响轮胎的均匀性。硫化膜片122也可影响 轮胎的均匀性。举例来说，归因于(例如)膜片接合的硫化膜片122的失圆度可影响轮胎的均 匀性。因为膜片接合的形状可随每次硫化改变，所以硫化膜片122所导致的均匀性效应可在 不同轮胎间改变且因此随时间演变。
[0036] 用于改进轮胎的均匀性的实例方法
[0037] 图2描绘根据本发明的实施例用于经由瞬态均匀性效应的识别改进轮胎的均匀性 的实例方法(200)的流程图。图2可至少部分使用合适的均匀性改进系统（例如图10中所描 绘的系统600)来实施。图2描绘出于说明和论述的目的以特定次序执行的步骤。所属领域的 一般技术人员使用本文中所提供的揭示内容将理解，可在不脱离本发明的范围的情况下以 不同方式省略、扩展、调适、重新布置和/或修改本文中所揭示的方法中的任一者的各种步 骤。
[0038]在(202)处，所述方法包含识别用于均匀性分析的一组多个轮胎。所述组轮胎可包 含经受相同瞬态均匀性效应的轮胎。举例来说，在识别可归因于硫化膜片的瞬态均匀性效 应的实例中，所述组轮胎可包含使用相同硫化膜片连续硫化的轮胎。可选择任何数目的轮 胎以供在所述组轮胎中使用。举例来说，可识别使用相同硫化膜片连续硫化的5到10个轮胎 以供分析。
[0039]在（204)处，获得所述组轮胎的均匀性测量值。如本文所使用，"获得均匀性测量 值"可包含实际上执行均匀性测量或存取存储于(例如)计算装置的存储器中的均匀性测量 值。均匀性测量值可为任何合适的均匀性参数。举例来说，均匀性测量值可对应于(例如)此 些均匀性参数，比如：径向偏心(RRO )、横向偏心（LRO )、质量方差、均衡、径向力变化(RFV)、 横向力变化(LFV)、切线力变化(TFV)和其它参数。
[0040]在一个实施方案中，均匀性测量值可包含所述组轮胎的均匀性波形。或者，均匀性 测量值可包含均匀性汇总数据。均匀性汇总数据可包含所关注的均匀性参数的一或多个谐 波的量值和/或相角。举例来说，均匀性汇总数据可包含所述组轮胎中的每一轮胎的径向力 变化的前四个谐波的量值。
[0041 ]均匀性测量值可包含来自许多不同效应的贡献。举例来说，均匀性测量值可包含 来自轮胎谐波均匀性效应(例如加工效应）以及过程谐波均匀性效应的贡献。为识别来自这 些各种效应的贡献，轮胎的均匀性测量值可建模为轮胎谐波项、过程谐波项和残余的总和。 [0042]以下提供实例模型：
[0043]
[0044] W1为关于轮胎的N个数据点的每一数据点i的测得的均匀性数据。数学模型建模轮 胎谐波均匀性效应t = l到T A为轮胎谐波均匀性效应的特定谐波。数学模型还建模过程谐 波P = 1到P。心为特定过程谐波均匀性效应的谐波数目。谐波数目提供过程谐波均匀性效应 相对于轮胎圆周的引入速率的量度。ath和b th是与轮胎谐波项相关联的系数。adPbP是与过 程谐波项相关联的系数。为残余项。
[0045] 可通过估计与轮胎谐波项和过程谐波项相关联的系数而从模型确定各种轮胎谐 波均匀性效应和过程谐波均匀性效应。可(例如)使用回归分析或编程分析估计所述系数。 依据回归方法，估计系数以使数学模型最佳拟合到均匀性测量值中的数据点。依据编程方 法，估计所述系数以最小化均匀性测量值与使用模型估计的测量值之间的差或误差。
[0046] 与轮胎谐波项和过程谐波项相关联的系数通常是恒定的且并不在不同轮胎间改 变。对于许多轮胎谐波均匀性效应和过程谐波均匀性效应情况就是如此。例如成型鼓和转 移环等加工元件通常相对刚性且因此往往会在持续使用中施加相同均匀性效应。过程谐波 可取决于过程谐波相对于轮胎圆周的引入速率而使其影响在不同轮胎间改变。然而，过程 谐波的总体效应对于所述组轮胎保持相对恒定。
[0047] 不同于过程谐波和轮胎谐波均匀性效应，瞬态均匀性效应随时间演变。可通过将 模型扩展为包含逐轮胎建模不同瞬态效应的项来从均匀性测量值识别瞬态效应。下文提供 包含用于建模对均匀性测量值的瞬态效应贡献的瞬态效应项的实例数学模型