轮胎600通过接触、非接触或近接触定位操作，以便在轮胎围绕中心线旋转时在多个数据 点（例如，128个点）处确定轮胎表面的相对位置。均匀性测量机器604还可以包含用于装载 轮胎以在轮胎600旋转时获得力测量值的轮。
[0096]可中继由测量机器604获得的测量值使得其在一或多个可分别含有一或多个处理 器608的计算装置606处被接收，但出于说明的简单和清楚的目的，图10中仅展示一个计算 机和处理器。处理器608可以经配置以接收来自输入装置614的输入数据或存储在存储器 612中的数据。处理器608随后可以根据所揭示的方法分析此些测量值，且经由输出装置616 向用户提供可使用的输出（例如数据)或者向过程控制器618提供信号。均匀性分析可以替 代地由一或多个服务器610或跨越多个计算和处理装置实施。
[0097]可提供各种存储器/媒体元件612a、612b、612c(统称为"612"）作为一或多个种类 的非暂时性计算机可读媒体的单一或多个部分，包含但不限于RAM、R0M、硬盘驱动器、快闪 驱动器、光学媒体、磁性媒体或其它存储器装置。图10的计算/处理装置可以适合于充当专 用机器，所述专用机器通过存取存储在存储器/媒体元件中的一或多者中的以计算机可读 形式渲染的软件指令来提供所需功能性。当使用软件时，任何适合的编程、脚本或其它类型 的语言或语言的组合可以用于实施本文中包含的教示。
[0098] 在一个实施方案中，处理器608可执行存储于存储器元件612a、612b和612c中的计 算机可读指令以致使处理器执行操作。所述操作可包含获得一组多个轮胎中的每一轮胎的 均匀性参数的均匀性测量值，以及分析所述均匀性测量值以识别例如膜片效应等瞬态均匀 性效应。
[0099] 实例应用结果
[0100] 获得一组50个连续制造的轮胎的一组50个均匀性波形。均匀性波形各自包含256 个数据点。除波形数据之外，例如配制操作者、表面处理操作者、硫化机和硫化装载角度以 及硫化机内硫化的次序等其它变量可用于所述组中的每一轮胎。依据此数据，存在在7个不 同硫化机中的每一者中连续硫化的近似7个轮胎。
[0101] 均匀性波形被清除由配制和表面处理操作者使用加工签名分析所导致均匀性效 应。使用傅里叶分析将来自加工签名分析的残余波形分解为前10个相应谐波分量。前10个 谐波中的每一者的量值建模为硫化机效应项与瞬态膜片效应项的总和。针对每一谐波确定 可归因于瞬态膜片效应的量值的变化速率。下文表1中提供结果：
[0102] 藍
Lm 〇4」所述趋势估计值提供经由里复硫化的膜片效应的所估计改变。膜片效应的变化速 率并不经由所有谐波相等。此暗示膜片接合形状以及其总体厚度在改变。图6描绘基于提供 于表1中的数据确定的改变的接合形状的实例曲线。
[0105]尽管已关于本发明的特定示范性实施例及其方法详细地描述本发明标的物，但应 了解，在获得对前述内容的理解之后所属领域的技术人员可以容易地产生对此类实施例的 改变、变型及等效物。因此，本发明的范围是作为举例而非作为限制，并且本发明并不排除 包含所属领域的一般技术人员使用本文所揭示的教示将容易明白的对本发明标的物的此 类修改、变型和/或添加。
【主权项】
1. 一种用于改进轮胎的均匀性的方法，所述方法包括： 获得一组多个轮胎中的每一轮胎的均匀性参数的均匀性测量值； 利用一或多个处理装置分析所述均匀性测量值以识别瞬态均匀性效应，所述瞬态均匀 性效应在所述组轮胎中的不同轮胎间改变;以及 至少部分地基于所述瞬态均匀性效应修改一或多个轮胎的所述制造。2. 根据权利要求1所述的方法，其中利用一或多个处理装置分析所述均匀性测量值以 识别瞬态均匀性效应包括： 利用所述一或多个处理装置从所述均匀性测量值移除一或多个均匀性效应以确定残 余均匀性测量值;以及 利用所述一或多个处理装置分析所述残余均匀性测量值以识别在所述组轮胎中的不 同轮胎间变化的效应。3. 根据权利要求1所述的方法，其中所述瞬态均匀性效应可归因于轮胎谐波均匀性效 应。4. 根据权利要求1所述的方法，其中所述瞬态均匀性效应包括可归因于硫化膜片的膜 片效应。5. 根据权利要求4所述的方法，其中使用相同硫化膜片连续硫化所述组轮胎。6. 根据权利要求4所述的方法，其中所述方法包括估计所述硫化膜片的膜片接合形状。7. 根据权利要求4所述的方法，其中所述均匀性测量值包括所述组轮胎中的每一轮胎 的均匀性波形，所述均匀性波形包括关于所述轮胎的多个数据点的所测得的均匀性参数。8. 根据权利要求7所述的方法，其中利用一或多个处理装置分析所述均匀性测量值以 识别瞬态均匀性效应包括： 从所述均匀性波形移除一或多个均匀性效应以识别一或多个残余波形； 将所述一或多个残余波形建模为硫化机效应项与膜片效应项的总和； 估计与所述膜片效应项相关联的系数；以及 至少部分地基于所述所估计的系数确定所述硫化膜片的所述膜片效应的一或多个参 数。9. 根据权利要求4所述的方法，其中所述均匀性测量值包括针对所述组轮胎中的每一 轮胎测得的所述均匀性参数的多个谐波分量中的每一者的量值。10. 根据权利要求9所述的方法，其中利用一或多个处理装置分析所述均匀性测量值以 识别瞬态均匀性效应包括： 从所述多个谐波分量中的每一谐波分量移除一或多个均匀性效应以识别与所述组轮 胎相关联的多个残余谐波； 将所述残余谐波中的每一者建模为硫化机量值效应项与膜片效应项的总和，所述膜片 效应项随着所述组轮胎中的每一轮胎改变； 估计与所述膜片效应项相关联的系数；以及 至少部分地基于所述所估计的系数确定所述膜片效应的一或多个参数。11. 根据权利要求1所述的方法，其中修改一或多个轮胎的所述制造包括修改对所述瞬 态均匀性效应产生贡献的过程元件。12. 根据权利要求4所述的方法，其中修改一或多个轮胎的所述制造包括至少部分地基 于所述膜片效应的所述一或多个参数更换硫化机的硫化膜片。13. 根据权利要求4所述的方法，其中修改一或多个轮胎的所述制造包括至少部分地基 于所述膜片效应设计硫化膜片的膜片接合。14. 根据权利要求4所述的方法，其中修改轮胎制造包括至少部分地基于所述膜片效应 改变硫化机中生胎的装载角度。15. -种用于改进轮胎的均匀性的系统，所述系统包括： 测量机器，其经配置以获得一组多个轮胎中的每一轮胎的均匀性测量值；以及 计算系统，其耦合到所述测量机器，所述计算装置包括一或多个处理器和至少一个非 暂时性计算机可读媒体，所述至少一个非暂时性计算机可读媒体存储计算机可读指令，所 述计算机可读指令在由所述一或多个处理器执行时致使所述一或多个处理器执行操作，所 述操作包括分析所述均匀性测量值以识别瞬态均匀性效应，所述瞬态均匀性效应在所述组 轮胎中的不同轮胎间改变。
【专利摘要】本发明提供用于经由识别对轮胎的非均匀性产生贡献的瞬态效应来改进轮胎均匀性的系统和方法。更确切地说，可获得一组多个轮胎的均匀性测量值。所述均匀性测量值可包含来自轮胎谐波均匀性效应(例如可归因于轮胎制造期间使用的加工元件的效应)以及过程谐波均匀性效应(例如可归因于轮胎制造期间使用的过程元件的效应)的贡献。所述轮胎谐波均匀性效应中的某些可为在不同轮胎间改变的瞬态效应。举例来说，可归因于硫化工艺期间使用的硫化膜片的效应可在不同轮胎间瞬时地改变。本发明的各方面是针对识别对均匀性测量值的瞬态效应贡献，以及使用所述所识别的瞬态效应贡献改进所述轮胎的所述均匀性。
【IPC分类】B29D30/06
【公开号】CN105682910
【申请号】
【发明人】W·D·马夫布伊, J·M·特雷勒, C·阿普尔曼
【申请人】米其林集团总公司, 米其林研究和技术股份有限公司
【公开日】2016年6月15日
【申请日】2013年11月8日