质变化作为与能量分布的种类数量相同的数量以下的任意物质(特定基准物质）的透过距 离，使用所计算出的透过距离，来显示相邻元件间、相邻模块间的线质特性的差异。
[0112] 图6中示出本实施方式的X射线CT装置(运算装置22)的功能框图。在图6中，与图2 相同的要素以相同符号来表示，并省略说明。如图所示，运算装置22具备图像生成部221、固 有滤过计算部223、判定部226。此外，该X射线CT装置具备对判定部226的判定结果进行警告 的警告装置227。也可以使输出装置25(图1)具备警告装置227的功能。
[0113]以下，参照图7所示的处理流程，主要来说明判定部226所进行的处理。在本实施方 式的X射线CT装置中，固定过滤计算部223计算特定基准物质的透过距离Sj的步骤也与图4 所示的处理S201~S206相同，总括表示为处理S400,并省略说明。
[0114]首先，求取相邻的检测元件间的线质差△或者检测模块间的线质差A'（S401)。由 式(14)来定义检测元件间的线质差△。由式(15)来定义检测模块间的线质差Δ'。
[0117]式中，Ch是检测元件编号。
[0120] 式中，mod是检测模块的编号，s'j(mod)是各检测模块内的Sj的平均。
[0121] 所求取到的Δ或者Δ '为了记录经时变化而被保存（S402)，并且判定是否超过预 先设定的阈值(S403)。阈值能够预先求取对画质没有影响的范围内的容许线质变化，将其 用作阈值。在处理S402中，在△或者△'超过阈值的情况下，判断为发现了异常线质，通过警 告装置227向用户通知警告消息（S404)。也可以取代该通知或者在通知的同时在维护服务 进行显示、联络。用户或维护服务人员，由此能够发现线质特性较大不同的检测元件、检测 模块，也能够采取模块的交换、排序、线质补偿滤波器或切片准直器的调整等措施。
[0122] 处理S400~S403定期性地进行，能够记录判定部226的判定结果。由此，能够记录 线质及其经时变化。另外，由于定期性地拍摄装置的空气数据，因此与此同时能够自动进行 固有滤过的估算即可。
[0123] 以上，说明了将本发明的X射线摄像装置应用于X射线CT装置的实施方式，但本发 明提供一种估算装置所引起的固有滤过的方法，也能够应用于X射线CT装置以外的X射线摄 像装置。
[0124] 符号说明
[0125] 1 · · · X射线管球(X射线源），2 · · ·开口部，3 · · ·被摄体，4 · · · X射线检 测器，5· ··防散射栅格，6· ··卧台，7· ··线质补偿滤波器，8· ··检测器模块， 9· ·· X射线焦点，10· ··摄像部，20· ··操作部，21· ··存储装置，22· ··运算 装置，23· ··控制装置，24· ··输入装置，25· ··输出装置，100· · ·Χ射线CT装置， 221· ··图像生成部，222 · ··存储部，223 · ··固有滤过计算部，224 · ··基准物质 设定部，225 · ··校正部，226 · ··判定部，227 · ··警告装置。
【主权项】
1. 一种X射线摄像装置，其特征在于，具备： X射线源，其产生能量不同的多个X射线； X射线检测器，其与所述X射线源对置配置，并具有多个检测元件； 旋转盘，其支撑所述X射线源和所述X射线检测器，并进行旋转;和 运算装置，其使用在所述X射线源产生的X射线的能量分布不同的条件下分别由所述X射线检测器检测出的测量数据，来计算与存在于所述X射线源与所述X射线检测器之间的物 质相关的信息， 所述运算装置具备固有滤过计算部，该固有滤过计算部针对X射线的能量分布不同的 多个条件的每个条件，使用在所述X射线源与所述X射线检测器之间没有被摄体时所述X射 线检测器所检测出的测量数据，按照所述X射线检测器的每个检测元件，来计算任意的基准 物质的透过距离来作为固有滤过。2. 根据权利要求1所述的X射线摄像装置，其特征在于， 所述固有滤过计算部生成将X射线检测器的输出变换为所述基准物质的透过距离的变 换表，并使用该变换表、所述X射线检测器所检测出的测量数据、以及针对所述基准物质通 过计算而求取到的X射线检测器输出的理论值，来计算所述基准物质的透过距离。3. 根据权利要求1所述的X射线摄像装置，其特征在于， 所述固有滤过计算部具有设定所述基准物质的基准物质设定部。4. 根据权利要求3所述的X射线摄像装置，其特征在于， 所述基准物质设定部将从被用作线质补偿滤波器的物质中选择出的物质设定为所述 基准物质。5. 根据权利要求3所述的X射线摄像装置，其特征在于， 所述基准物质设定部将具有规定的质量衰减系数和规定的密度的虚拟物质设定为所 述基准物质。6. 根据权利要求1所述的X射线摄像装置，其特征在于， 所述固有滤过计算部在所述X射线源与所述X射线检测器之间没有被摄体时，使用以低 能量条件以及高能量条件这2个条件测量出的测量数据，来计算2个以下的基准物质的透过 距离。7. 根据权利要求1所述的X射线摄像装置，其特征在于， 所述X射线摄像装置具有： 存储部，其针对X射线的能量分布不同的条件，将X射线检测器输出对于构成所述被摄 体的规定物质的依赖性存储为被检体透过距离变换表;和 图像生成部，其针对X射线的能量分布不同的条件，使用在所述X射线源与所述X射线检 测器之间存在所述被摄体时所述X射线检测器所检测出的测量值、根据构成所述被摄体的 物质的透过距离而计算出的理论值、和存储在所述存储部中的被检体透过距离变换表，来 生成所述被摄体的图像， 所述被检体透过距离变换表被用所述固有滤过计算部所计算出的固有滤过进行校正。8. 根据权利要求7所述的X射线摄像装置，其特征在于， 所述图像生成部生成构成所述被摄体的每个规定物质的物质识别图像、虚拟标准管电 压图像、虚拟单色X射线图像、有效原子序数图像、电子密度图像以及相互作用增强图像中 的至少一个图像。9. 根据权利要求1所述的X射线摄像装置，其特征在于， 所述运算装置具备判定部，该判定部根据所述固有滤过计算部按照每个检测元件计算 出的固有滤过，来判定检测元件的异常。10. 根据权利要求9所述的X射线摄像装置，其特征在于， 所述X射线摄像装置具备记录所述判定部的判定结果的记录装置。11. 根据权利要求9所述的X射线摄像装置，其特征在于， 所述X射线摄像装置具备在所述判定部判定出异常时输出判定结果的输出装置。12. 根据权利要求1所述的X射线摄像装置，其特征在于， 所述运算装置具备将所述多个检测元件之中的一个检测元件作为参考元件来进行强 度校正的校正部， 使用所述固有滤过计算部所计算出的每个检测元件的基准物质的透过距离，来选择从 基准线质处的变化最小的检测元件，所述校正部将所选择的检测元件作为参考元件来进行 强度校正。13. -种X射线摄像方法，其以不同的多种能量分布来拍摄被摄体，得到多种被摄体投 影数据，所述X射线摄像方法的特征在于， 预先以不同的多种能量分布在没有所述被摄体的状态下进行拍摄， 根据以所述多种能量分布得到的空气投影数据，计算入射到各检测元件的X射线的线 质变化，并作为与所述能量分布的种类数量相同数量以下的任意物质的透过距离， 使用所计算出的线质变化和所述多种被摄体投影数据，来生成线质变化得到了校正的 图像。14. 根据权利要求13所述的X射线摄像方法，其特征在于， 使用了所述多种被摄体投影数据的图像的生成包括如下处理： 将所述多种被摄体投影数据变换为构成所述被检体的多种物质的透过距离数据的处 理； 使用所计算出的所述线质变化来校正所述透过距离数据的处理;和 对校正后的透过距离数据进行重构而得到构成被摄体的物质的等价断层图像的处理。15. -种X射线摄像装置的监控方法，所述X射线摄像装置具备具有多个检测元件的X射 线检测器，所述监控方法的特征在于： 预先以不同的多种能量分布在没有被摄体的状态下进行拍摄，获取多种空气投影数 据， 根据所述多种空气投影数据，计算入射到各检测元件的X射线的线质变化，并作为与所 述能量分布的种类数量相同数量以下的任意物质的透过距离， 使用所计算出的透过距离，来显示相邻元件间、相邻模块间的线质特性的差异。
【专利摘要】估算并校正位于X射线源与检测元件之间的物质的微小的设计公差等所引起的X射线的线质的变化。由此防止双能量摄影法中的物质识别能力的下降。X射线摄像装置(100)具备：固定过滤计算部(223)，其使用以二种以上不同的管电压来拍摄空气(无被摄体)而得到的测量数据，计算与基准线质的偏移量，作为规定基准物质的透过距离(固有滤过)。固定过滤计算部通过针对上述测量数据应用基于双能量摄影法的基准物质透过距离变换，从而按照每个检测元件来计算基准物质透过距离(固有滤过)。在被摄体摄影时，通过考虑所计算出的每个检测元件的固有滤过来实施双能量摄影法，从而能够得到线质的变化被校正了的图像。
【IPC分类】G01N23/04, A61B6/03
【公开号】CN105451659
【申请号】CN201480044568
【发明人】坪田悠史, 渡边史人, 昆野康隆, 小岛进一, 山川惠介, 黑川真次
【申请人】株式会社日立医疗器械
【公开日】2016年3月30日
【申请日】2014年10月22日
【公告号】US20160199018, WO2015064446A1