电光装置的检查方法、电光装置的检查用电路、电光装置及电子设备的制作方法

文档序号:2616162阅读:189来源:国知局
专利名称:电光装置的检查方法、电光装置的检查用电路、电光装置及电子设备的制作方法
技术领域
本发明涉及电光装置的检查方法、电光装置的检查用电路、电光装置及电子设备。
背景技术
近年来,作为各种电子设备的显示装置,以液晶装置为代表的电光装置正得到广泛的普及。这种电光装置,例如,在结构上一般具有形成了多条扫描线及数据线的元件基板、与元件基板相对设置并将电光物质夹在中间的对置基板、及与扫描线和数据线的各交叉点对应配置的象素。
在这种电光装置的制造工序中,将上述扫描线或数据线的配线断路或短路、或象素中所包含的开关元件等的缺陷(以下,将这些简单地总称为「缺陷」)完全排除是极其困难的,因而缺陷不可避免地以一定的概率发生。因此,必须对所制成的电光装置检查有无上述缺陷。迄今为止,作为这种检查的方法,例如已知有一种在作为检查对象的电光装置上显示规定的测试模式并通过目视或用CDD(电荷耦合器件)摄像机等进行观察而判断各象素是否正常点亮的方法。
但是,例如当伴随着显示的高清晰度化而使各象素的面积变得极小时,只凭目视或用CDD摄像机很难对各个象素进行精确的识别。此外,当因象素的缺陷而使实际供给象素的电压与预期的电压不同时,也很难识别出由此而产生的显示浓淡度的差别,所以很难发现这种象素的缺陷。因此,当采用现有的检查方法时,在充分地确保其检查的精确性上目前还存在着限制。

发明内容
本发明,是鉴于以上说明的情况而开发的,其目的是提供一种可以对配线或电极等有无缺陷进行精确检查的电光装置的检查方法、检查用电路、电光装置及电子设备。
为解决上述课题,本发明的电光装置的检查方法,利用根据电平反复变化的动作指示信号进行动作的检查用电路对具有与扫描线和数据线的交叉点对应设置并构成电容的一端的象素电极及插接在上述象素电极和上述数据线之间的象素开关元件的电光装置进行检查,该电光装置的检查方法的特征在于包括通过使上述象素开关元件接通而对上述象素电极供给数据信号的第1步骤、在由上述检查用电路将施加于上述象素电极的电压输出到读出信号线的过程中在比上述动作指示信号的电平变化时刻延迟了的时刻使检查开关元件接通的第2步骤、判断输出到上述读出信号线的电压是否与供给该象素电极的数据信号所对应的电压对应。
按照这种检查方法,将施加于象素电极的电压供给读出信号线并判断所供给的该电压是否是与供给该象素电极的数据信号对应的电压,所以能够对电光装置中的象素电极、扫描线、及数据线等精确地检查其有无缺陷。此外,即使供给到读出信号线的电压上叠加了因动作指示信号的电平变化而产生的噪声时,由于使检查开关元件接通的时刻与该动作指示信号的电平变化时刻不同,所以也仍然能够精确地检测实际施加于象素电极的电压。因此,可以进行精确的检查而不受这种噪声的影响。
另外,为解决上述课题,本发明的电光装置的检查用电路,对具有与扫描线和数据线的交叉点对应设置并构成电容的一端的象素电极及插接在上述象素电极和上述数据线之间的象素开关元件的电光装置,在通过使上述象素开关元件接通而对上述象素电极供给数据信号后,将施加于上述象素电极的电压输出到读出信号线,以判断施加于该象素电极的电压是否与该数据信号所对应的电压对应,该检查用电路的特征在于设有插接在上述数据线和上述读出信号线之间的检查开关元件、及根据电平反复变化的动作指示信号进行动作并在比该动作指示信号的电平变化时刻延迟了的时刻使上述检查开关元件接通的控制电路。
如采用这种检查用电路,则与对上述检查方法的说明一样,通过判断供给读出信号线的电压是否是与供给象素电极的数据信号对应的电压,可以对电光装置有无缺陷进行精确的检查。进一步,按照该检查用电路,由于将施加于象素电极的电压输出到读出信号线的时刻与动作指示信号的电平变化时刻不用,所以即使在动作指示信号的电平变化的时刻产生噪声时,也仍然能够精确地检测施加于象素电极的电压。因此,如采用该检查用电路,则可以进行精确的检查而不受噪声发生的影响。此外,该检查用电路,可以在构成电光装置的基板上形成为该电光装置的一部分,也可以作为与电光装置分别设置的检查装置使用。
在该检查用电路中,上述控制电路,最好构成为在比上述动作指示信号的电平变化的时刻延迟了与该动作指示信号的周期的1/8~1/4相当的时间的时刻使上述检查开关元件接通。即,当使检查开关元件的接通时刻延迟了与动作指示信号的周期的1/2相当的时间时,供给到读出信号线的电压将与噪声叠加,因而不能精确地检测施加于象素电极的电压。此外,上述噪声在时间轴上以规定的宽度产生。考虑到这些情况,为了将噪声的影响排除而精确地检测施加于象素电极的电压,最好将检查开关元件的接通时刻设定在上述范围内。
进一步,上述检查用电路,最好构成为将用于对上述控制电路输入上述动作指示信号的输入端子与上述读出信号线的输出端子隔着该控制电路而设置在彼此相反的位置。按照这种结构,可以缩短读出信号线的引向上述输入端子的部分,所以具有能够减低由该读出信号线与用于供给动作指示信号的配线之间产生的电容耦合所引起的噪声的优点。
另外,上述控制电路,最好构成为具有输出其电平随上述动作指示信号而变化的控制信号的输出装置、及使上述控制信号的电平变化时刻比上述动作指示信号的电平变化时刻延迟的时刻变更装置。在这种情况下,作为输出装置,例如可以采用根据作为动作指示信号的时钟信号进行动作的移位寄存器、或根据作为动作指示信号的地址信号进行动作的地址译码器等。另一方面,作为时刻变更装置。例如可以采用使控制信号延迟的延迟装置等。
另外,为解决上述课题,本发明的电光装置的检查用电路,对具有与扫描线和数据线的交叉点对应设置并构成电容的一端的象素电极及插接在上述象素电极和上述数据线之间的象素开关元件的电光装置,在通过使上述象素开关元件接通而对上述象素电极供给数据信号后,将施加于上述象素电极的电压输出到读出信号线,以判断施加于该象素电极的电压是否与该数据信号相对应,该检查用电路的特征在于设有插接在上述数据线和上述读出信号线之间的检查开关元件、根据电平反复变化的动作指示信号使上述检查开关元件接通的控制电路、用于对上述控制电路输入上述动作指示信号的输入端子、及相对于上述控制电路而设置在与上述输入端子相反的一侧的用于输出上述读出信号线的电压的输出端子。如上所述,当构成为使输入端子与输出端子隔着控制电路而位于彼此相反的一侧时,与上述相同,可以减低由电容耦合所引起的噪声。
另外,上述检查用电路,也可以实施为备有该检查用电路的电光装置。即,该电光装置的特征在于备有与扫描线和数据线的交叉点对应设置并构成电容的一端的象素电极、插接在上述象素电极和上述数据线之间的象素开关元件、及通过使上述象素开关元件接通而对上述象素电极供给数据信号后将施加于上述象素电极的电压输出到读出信号线以判断施加于该象素电极的电压是否与该数据信号所对应的电压对应的检查用电路,上述检查用电路,备有插接在上述数据线和上述读出信号线之间的检查开关元件、及根据电平反复变化的动作指示信号进行动作并在比该动作指示信号的电平变化时刻延迟了的时刻使上述检查开关元件接通的控制电路。
在该电光装置中,也与上述检查方电路一样,上述控制电路,通过采用在比上述动作指示信号的电平变化时刻延迟了与该动作指示信号的周期的1/8~1/4相当的时间的时刻使上述检查开关元件接通的结构、或将用于对上述控制电路输入上述动作指示信号的输入端子与上述读出信号线的输出端子相对于控制电路而设置在彼此相反的一侧的结构等,可以实现更为精确的检查。
另外,可以考虑将上述电光装置的电容构成为将上述象素电极作为其一端、将对置电极作为另一端并将电光物质夹在中间。在这种情况下,可以对将电光物质夹在象素电极和对置电极之间而形成了电光电容的阶段的电光装置进行检查。此外,作为用于存储与施加于象素电极的电压对应的电荷的电容,该电光装置也可以构成为具有一端与上述象素电极连接而另一端与电容线连接的存储电容。按照这种结构,即使是对形成电光电容之前的电光装置、即将电光物质夹在象素电极和对置电极之间的处于预加工阶段的电光装置也能进行检查。可是,即使没有形成上述的电光电容及存储电容,也可以将与数据信号对应的电压施加于象素电极,因此,只要能够将与该电压对应的电荷存储在将该象素电极作为其一端的电容内,则该电容可以具有任何形态。
另外,上述电光装置,可以按照备有该装置的电子设备的形态实施。如上所述,由于能够对这类电光装置进行精确的检查,所以对备有该电光装置的电子设备也能确保高的可靠性。
附图的简单说明图1是表示本发明实施形态的电光装置的结构的平面图。
图2是图1中的A-A’线的剖视断面图。
图3是表示该电光装置的电气结构的框图。
图4是表示在该电光装置中将电荷存储在各象素的电容内时的动作的时间图。
图5是表示在该电光装置中检测与存储在各象素的电容内的电荷对应的电压时的动作的时间图。
图6是表示采用与该电光装置不同的结构的其他液晶装置的结构的框图。
图7是用于说明在上述其他电光装置装置中检测的与存储在各象素的电容内的电荷对应的电压的波形的时间图。
图8是表示本发明变形例的电光装置的电气结构的框图。
图9是表示本发明变形例的电光装置的检查用电路的结构的框图。
图10是表示本发明变形例的电光装置的电气结构的框图。
图11是表示作为应用了本发明的电光装置的电子设备的一例的个人计算机的结构的斜视图。
图12是表示作为应用了该电光装置的电子设备的一例的携带式电话机的结构的斜视图。
发明的具体实施形态以下,参照


本发明实施形态的电光装置。这种实施形态,表示出本发明的一种实施形态,但并不是对本发明的限定,在本发明的范围内可以任意变更。此外,以下说明的电光装置,是将液晶用作电光物质并根据其电光变化进行显示的液晶装置。
<A实施形态的结构>
首先,图1是表示本实施形态的电光装置的结构的平面图,图2是图1中的A-A’线的断面图。如这两个图所示,电光装置100,将元件基板101和对置基板102通过含有间隔物103的密封材料104粘合,并形成在两个基板之间封入作为电光物质的液晶105的结构。此外,在本实施形态中,假定元件基板101和对置基板102由玻璃、石英或半导体等具有透光性的材料构成。在这种情况下,通过使来自背面侧的光向观察侧射出,可以构成所谓的透射型显示。然而,也可以采用不透明的基板作为这两个基板并通过反射来自观察侧的光而进行反射型显示。
如图2所示,在元件基板101的内侧(液晶105侧)表面上的与密封材料104的内侧相应的区域内,形成着各种元件和象素电极106等。另外,在元件基板101的从对置基板102伸出的部分的表面上,形成着如后文所述的扫描线驱动电路1、数据线驱动电路2及检查用电路3、以及用于从外部装置向上述各电路输入各种信号的端子(图中省略)。检查用电路3,是在检查该电光装置100中的象素等有无缺陷时使用的电路。
另一方面,在对置基板102的内侧表面上,在其整个表面设置着对置电极107。此外,在对置基板102的内侧表面上,还根据需要设置与象素电极106相对的着色层(彩色滤光器)、与各象素电极106的间隙部分相对的遮光膜等,但因与本发明没有直接关系所以将其图示省略。另外,元件基板101及对置基板102的内侧表面,由进行了研磨处理以使液晶105的分子长轴方向在两基板之间连续扭曲的取向膜覆盖,而在两基板的外侧表面上分别设有与研磨处理对应的偏振片(图中都未示出)。此外,在图2中,为便于说明而将象素电极106和对置电极107等画得较厚,但实际上该各部分与基板相比都薄到足以将其忽略的程度。
以下,参照图3说明本实施形态的电光装置100的电气结构。
如该图所示,电光装置100,具有沿X(行)方向延伸的m条扫描线4-1、4-2、……、4-m、及沿Y(列)方向延伸的n条数据线5-1、5-2、……、5-n。各扫描线4-i(1≤i≤m)的一端,与扫描线驱动电路1连接。而各数据线5-j(1≤j≤n)的一端,与数据线驱动电路2连接,另一端与检查用电路3连接。另外,与这些扫描线4-i和数据线5-j的各交叉点对应地设置着象素6。就是说,本实施形态的象素6,按m行n列的矩阵状排列。
扫描线驱动电路1,被称作所谓的Y移位寄存器。即,扫描线驱动电路1,根据规定的时钟信号对脉冲信号进行移位,并输出按每个水平扫描周期分别对m条扫描线4-1、4-2、……、4-m进行选择的扫描信号G1、G2、……、Gm。
数据线驱动电路2,是响应时钟信号CLK、反相时钟信号CLKB、起动脉冲SP、图象数据VID、锁存脉冲LP而将数据信号DT供给数据线5-1、5-2、……、5-n的电路,具有移位寄存器21、第1锁存电路22及第2锁存电路23。本实施形态的数据线驱动电路2,按线的顺序对沿X方向排列的n个象素6(每1行6个象素)进行在1个水平扫描周期内同时供给与图象数据VID对应的数据信号DT的驱动。
其次,各象素6,具有象素开关元件61和电容62。此外,在本实施形态中,举例说明了将TFT(Thin Film Transistor薄膜晶体管)用作象素开关元件61的情况。各象素开关元件61,插接在数据线5-j与象素电极106之间,当选择与其栅极连接的扫描线4-i时,即当供给扫描线4-i的扫描信号Gi为激活电平(H电平)时,变为接通状态。
各象素6的电容62,由液晶电容621和存储电容622构成。液晶电容621,形成为由象素电极106和对置电极107夹持液晶105的结构。存储电容622,是一端与象素电极106连接而另一端与施加有一定电压的电容线108(例如连接着电源的低位侧电位)连接的电容,该存储电容622起着防止由液晶电容621保持的电荷的泄漏的作用。
按照这种结构,当在象素开关元件61为接通状态的期间从数据线驱动电路2向数据线5-j输出数据信号DT时,该数据信号DT的电压施加于象素电极106,并将与该电压对应的电荷存储在液晶电容621及存储电容622内。另一方面,在将与数据信号DT对应的电荷存储在电容62内的状态下通过使象素开关元件61变为接通状态,将与存储在该象素6的液晶电容621及存储电容622内的电荷对应的电压输出到数据线5-j。
另外,检查用电路3,是用于将与存储在各电容62内的电荷对应的电压输出到外部装置的电路,具有与数据线5-1、5-2、……、5-n的条数对应的n级移位寄存器32、与数据线5-1、5-2、……、5-n对应设置的n个延迟电路33-j及n个检查开关元件34-j(1≤j≤n)、读出信号线35。
移位寄存器32,根据检查用时钟信号TCK及将其反转后的检查用反相时钟信号TCKB对从图中未示出的外部装置通过输入端子31供给的检查用起动脉冲TSP进行移位,并将激活电平彼此不重复的信号Ta1、Ta2、……、Tan分别输出到延迟电路33-1、33-2、……、33-n。该移位寄存器32,具有从输入端子31沿X方向延伸的2条时钟信号供给线321,用作分别供给检查用时钟信号TCK及检查用反相时钟信号TCKB的配线。
各延迟电路33-j,将从移位寄存器32输出的信号Taj延迟,以使该信号Taj的上升时刻与检查用时钟信号TCK及检查用反相时钟信号TCKB的电平变化时刻(即,上升或下降的时刻)不同,并将其作为信号Tbj输出到检查开关元件34-j。此外,在本实施形态中,假定由延迟电路33-j将从移位寄存器32输出的信号Taj延迟与检查用时钟信号TCK(或检查用反相时钟信号TCKB)的1/8周期相当的时间D。
各检查开关元件34-j,一端与数据线5-j连接,另一端连接着读出信号线35,响应从延迟电路33-j输出的信号Tbj而变为接通状态或断开状态。具体地说,各检查开关元件34-j,在来自延迟电路33-j的信号Tbj为激活电平的期间变为接通状态。而当检查开关元件34-j变为接通状态时,将数据线5-j的电压通过该检查开关元件34-j输出到读出信号线35。
读出信号线35,是沿X方向延伸的配线,与上述所有的检查开关元件34-1、34-2、……、34-n的一端连接。此外,如图3所示,在该读出信号线35的一端形成输出端子351。输出端子351,是用于将与读出信号线35的电压对应的读出信号RS输出到外部装置的端子。这里,输出端子351,相对于该检查用电路3而位于与输入端子31相反的一侧。即,如以图3为例,则其形态为输出端子351位于检查用电路3的左侧而输入端子31位于检查用电路3的右侧。由于采用这种结构的,所以如图3所示不需要将读出信号线35的与输出端子351相反一侧(图3中的右侧)的端部引向输入端子31的附近。
<B实施形态的动作>
以下,说明对电光装置100进行检查时的动作。
在该检查方法中,首先,将与图象数据VID对应的数据信号DT的电压施加于象素电极106,并将与该电压对应的电荷存储在液晶电容621及存储电容622两者内。此外,在本实施形态中,为便于说明,假定对所有象素6供给同一数据信号DT(即,在所有的电容62内存储同一电荷)。然后,按每个象素6将与存储在电容62内的电荷对应的电压输出到读出信号线35,并将与该电压对应的读出信号RS从输出端子351输出到外部装置。接着,根据该读出信号RS,判断象素6、扫描线4-1、4-2、……、4-m、或数据线5-1、5-2、……、5-n有无缺陷。以下,对上述处理进行详细说明。
图4是表示用于将与图象数据VID对应的数据信号DT的电压施加于各象素6的象素电极106的动作的时间图。如该图所示,在某个水平扫描周期Ha0的开始时刻,对数据线驱动电路2内的移位寄存器21供给起动脉冲SP,移位寄存器21,根据时钟信号CLK及反相时钟信号CLKB对该起动脉冲SP进行移位,并在该水平扫描周期Ha0内输出激活电平彼此不重复的信号Sa1、Sa2、……、San。另一方面,第1锁存电路22,在从移位寄存器21供给的各信号Sa1、Sa2、……、San的下降边,依次锁存从外部装置供给的图象数据VID。按照这种方式,在该水平扫描周期Ha0的结束时,可以将应供给每1行的各象素6的图象数据VID作为信号Sb1、Sb2、……、Sbn输出到第2锁存电路23。
接着,当在下一个水平扫描周期Ha1的开始时刻对图3中的上数第1条扫描线4-1供给的扫描信号G1变为激活电平时,与该扫描线4-1连接的1行的象素6的象素开关元件61全部变为接通状态。另一方面,在该水平扫描周期Ha1的开始时刻,对数据线驱动电路2内的第2锁存电路23供给锁存脉冲LP。在该锁存脉冲LP的下降边,第2锁存电路23,将由第1锁存电路22按点的顺序锁存的信号Sb1、Sb2、……、Sbn作为数据信号DT同时输出到所有的数据线5-1、5-2、……、5-n。并且,由第1锁存电路22以与该数据信号DT的输出并行的方式按点的顺序锁存应供给与图3中的上数第2条扫描线4-2对应的1行的象素6的图象数据VID。
这里,如上所述,在将与图象数据VID对应的数据信号DT同时输出的期间,上数第1行的象素6的象素开关元件61变为接通状态。其结果是,对该n个象素6的象素电极106施加在该时刻从数据线驱动电路2输出的数据信号DT的电压。按照这种方式,可将与输出到相应的数据线5-j的数据信号DT的电压对应的电荷存储在各象素6的电容62内。
在这之后,反复进行同样的动作,直到输出与第m条扫描线4-m对应的扫描信号Gm为止。其结果是,可以将与数据信号DT的电压对应的电荷存储在所有的m×n个象素6的电容62内。
然后,执行用于将与存储在各电容62内的电荷对应的电压按每个象素6输出到读出信号线35的处理。以下,参照图5对该处理进行详细说明。
首先,在按如上所述的方式将与数据信号DT对应的电荷存储在所有象素6的电容62内之后的水平扫描周期Hb1中,输出到扫描线4-1的扫描信号G1变为激活电平,其结果是,使与该扫描线4-1连接的1行的象素6的象素开关元件61全部变为接通状态。
另一方面,如图5所示,在该水平扫描周期Hb1的开始时刻,对检查用电路3内的移位寄存器32供给检查用起动脉冲TSP。移位寄存器32,根据检查用时钟信号TCK及检查用反相时钟信号TCKB对该检查用起动脉冲TSP进行移位,从而在该水平扫描周期Hb1内分别对延迟电路33-1、33-2、……、33-n输出激活电平彼此不重复的信号Ta1、Ta2、……、Tan。
各延迟电路33-1、33-2、……、33-n,如图5所示,将从移位寄存器32输出的信号Ta1、Ta2、……、Tan分别延迟与检查用时钟信号TCK或检查用反相时钟信号TCKB的1/8周期相当的时间D,并将由此而得到的信号Tb1、Tb2、……、Tbn分别输出到检查开关元件34-1、34-2、……、34-n。其结果如图5所示,在1个水平扫描周期Hb1内,在比检查用时钟信号TCK及检查用反相时钟信号TCKB的电平变化时刻延迟了时间D的时刻,以择一方式使各检查开关元件34-1、34-2、……、34-n依次变为接通状态。
这里,如上所述,在水平扫描周期Hb1内,使上数第1行的象素6的象素开关元件61变为接通状态。因此,当通过使信号Tbj变为激活状态而使检查开关元件34-j变为接通状态时,对与该检查开关元件34-j连接的数据线5-j和上数第1条扫描线4-1的交叉点对应的象素6,将与存储在其液晶电容621及存储电容622内的电荷对应的电压通过该数据线5-j及检查开关元件34-j输出到读出信号线35。这种动作,每当各检查开关元件34-1、34-2、……、34-n在水平扫描周期Hb1内变为接通状态时进行。其结果是,每当各检查开关元件34-1、34-2、……、34-n变为接通状态时,读出信号RS就变为与存储在扫描线4-1和数据线5-j的交叉点上的象素6的电容62内的电荷对应的电压。就是说,在理想的状态下,是将图5所示的读出信号RS’从输出端子351输出到外部装置。但是,图5所示的读出信号RS’的波形只能是一种理想的波形,而实际上从输出端子351输出的读出信号RS的波形,如图5所示,包含着噪声N。即,由于在分别供给检查用时钟信号TCK及检查用反相时钟信号TCKB的移位寄存器32内的各时钟信号供给线321与读出信号线35之间产生的电容耦合,使从输出端子351输出的读出信号RS中包含着在该检查用时钟信号TCK及检查用反相时钟信号TCKB的电平变化时刻附近发生的噪声N。
另一方面,当上述水平扫描周期Hb1结束时,在随后的水平扫描周期Hb2、Hb3、……、Hbm中也进行同样的动作。即,在某个扫描信号Gi变为激活电平的水平扫描周期Hbi中,在比检查用时钟信号TCK的电平变化时刻延迟了时间D的时刻,将存储在对应于扫描线4-i的第i行的各电容62内的电荷所对应的电压(即,施加于象素电极106的电压)依次输出到读出信号线35。其结果是,读出信号RS,作为反映对各象素6输出的电压而且包含噪声N的信号,从输出端子351输出。
当对所有的电容62完成上述处理时,根据作为处理结果得到的读出信号RS判断该电光装置中有无缺陷。即,首先,检测各检查开关元件34-1、34-2、……、34-n变为接通状态的各期间内的读出信号RS的电压。按这种方式检测出的各电压,是与存储在m×n个象素6的各个电容62内的电荷对应的电压。接着,按每个象素6将与存储在该象素6的电容62内的电荷对应的电压与对该象素6供给的数据信号DT的电压进行比较,从而判断象素6、扫描线4-1、4-2、……、4-m、数据线5-1、5-2、……、5-n各有无缺陷。例如,当与存储在某个象素6的电容62内的电荷对应的电压远小于与数据信号DT对应的电压时,可以判定象素6存在着某种形式的缺陷。而当与存储在1行的象素6的所有电容62内的电荷对应的电压远小于对该各象素6供给的数据信号DT的电压时,可以判定与这些象素6连接的扫描线4-i存在着断线等缺陷。同样,如果将与存储在1列的象素6的所有电容62内的电荷对应的电压与对这些象素6供给的数据信号DT的电压进行比较,则可以检定出具有缺陷的数据线5-j。然后,将已判断出存在某种缺陷的电光装置100判定为不合格品,而将判断为不存在任何缺陷的电光装置100判定为合格品。
如上所述,按照本实施形态,可以根据与存储在各象素6的电容62内的电荷对应的电压判断有无缺陷,所以,可以对电光装置100的象素6、扫描线4-1、4-2、……、4-m及数据线5-1、5-2、……、5-n精确地判断其有无缺陷。进一步,按照本实施形态,将与存储在象素6的电容62内的电荷对应的电压按每个象素6输出到读出信号线35,所以,可以从多个象素6中检定出具有缺陷的象素6。同样,也可以从多条扫描线4-1、4-2、……、4-m或数据线5-1、5-2、……、5-n中检定出具有缺陷的扫描线4-i或数据线5-j。
另外,如上所述,在读出信号RS中包含着与检查用时钟信号TCK及检查用反相时钟信号TCKB的电平变化同步的噪声N,但本实施形态具有可以抑制这种噪声的影响而进行精确的检查的优点。以下,详细说明其效果。
这里,为进行与上述相同的检查,一度还曾考虑过采用结构如图6所示的检查用电路3’。该检查用电路3’与本实施形态的检查用电路3的不同点在于(参照图3),不具备图3所示的延迟电路33-j,因而将移位寄存器32的输出信号Ta1、Ta2、……、Tan直接输出到移位寄存器32,并将输出端子351和移位寄存器32的输入端子31配置在检查用电路3’的同一侧。
当用这种检查用电路3’将与存储在各电容62内的电荷对应的电压输出到读出信号线35时,各信号的波形如图7所示。即,在该检查用电路3’中,由从移位寄存器32直接供给的信号Ta-j控制检查开关元件34-j的开闭,所以检查开关元件34-j从断开状态切换到接通状态的时刻(即,信号Ta-j变为激活电平的时刻)与检查用时钟信号TCK的电平变化时刻基本对应。就是说,从各电容62对读出信号线35输出电压的时刻,将与检查用时钟信号TCK的电平变化时刻极为接近。其结果是,在输出到输出端子351的信号RS”中,从各电容62输出的电压将与噪声N重叠。因此,很难精确地检测与存储在各电容62内的电荷对应的电压,因而将妨碍精确的检查。
与此不同,按照本实施形态的检查用电路3,可以利用插接在移位寄存器32和检查开关元件34-j之间的延迟电路33-j使检查开关元件34-j变为接通状态的时刻与检查用时钟信号TCK的电平变化时刻不同。因此,如图5所示,可以避免发生从各电容62输出的电压与噪声N在读出信号RS中重叠的情况。因此,可以精确地检测与存储在各电容62内的电荷对应的电压,因而与图6所示的检查用电路3’相比可以实现精确的检查。
进一步,在图6所示的检查用电路3’中,由于将输出端子351与移位寄存器32的输入端子31配置在同一侧,所以在形成读出信号线35时必须将其延伸到输入端子31附近。就是说,不得不使读出信号线35与时钟信号供给线321并行的部分比较长,因此将使由该部分的电容耦合引起的噪声N增大。
与此不同,在本实施形态中,输出端子351,相对于检查用电路3而配置在与输入端子31相反的一侧。因此,可以缩短读出信号线35的引向输入端子31的部分。换句话说,可以减小发生电容耦合的部分,所以,与图6所示的结构相比,可以减少出现在读出信号RS中的噪声,因而可以实现更为精确的检查。
<C变形例>
以上说明了本发明的一实施形态,但上述实施形态只是给出的一例,在不脱离本发明的要点的范围内,可以对上述实施形态进行各种变更。作为变形例,例如可以考虑如下的情况。
(1)在上述实施形态中,以将元件基板101和对置基板102通过密封材料104粘合并封入液晶105后的电光装置100为检查对象,但也可以对将两基板粘合前的阶段的电光装置100(元件基板101)进行检查。但是,在这种情况下,由于是尚未形成液晶电容621的状态(即,只形成了象素电极106的状态),所以在检查中可采用各象素6的存储电容622。具体地说,首先,通过从数据驱动电路2对各象素6输出数据信号DT,对该各象素6的象素电极106施加与该数据信号DT对应的电压,并将与该电压对应的电荷存储在存储电容622内。然后,将与存储在存储电容622内的电荷对应的电压(即,施加于象素电极106的电压)按每个象素6输出到读出信号线35,并作为读出信号RS从输出端子351输出。在本变形例中,也可以取得与上述实施形态同样的效果。进一步,按照本实施形态,可以在进行基板的粘合及液晶105的封入之前的阶段判别象素6等有无缺陷,所以具有能够减低制造成本的优点。
如上所述,在本发明中,不一定必需将与数据信号DT对应的电荷存储在由液晶电容621及存储电容622两者构成的电容62内。重要的是构成为在将与数据信号对应的电压施加于象素电极106后能够将该电压输出到读出信号线35。
(2)在上述实施形态中,举例说明了只将数据线驱动电路2配置在数据线5-j的一端的电光装置100,但例如如图8所示,也可以将本发明应用于将第1数据线驱动电路2a配置在各数据线5-j的一端而将第2数据线驱动电路2b配置在另一端的电光装置100。在这种情况下,如该图所示,只需构成为将上述实施形态中的检查用电路3设置在第2数据线驱动电路2b与离该第2数据线驱动电路2b最近的1行的象素6之间即可。或者,也可以将检查用电路3设置在第1数据线驱动电路2a与离该第2数据线驱动电路2a最近的1行的象素6之间。
这里,如图8所示,在将检查用电路3设置成横跨多条数据线5-1、5-2、……、5-n时,将使检查用电路3的移位寄存器32内的时钟信号供给线321与各数据线5-j交叉。因此,不仅在时钟信号供给线321与读出信号线35之间而且在时钟信号供给线321与各数据线5-j之间也产生电容耦合。所以,当采用图8所示的结构时,与采用图3所示的结构时相比,读出信号RS中所包含的噪声增大。即使是在这种噪声大的情况下,按照本发明,由于可以使从各象素6的电容62对读出信号线35输出电压的时刻与检查用时钟信号TCK或检查用反相时钟信号TCKB的电平变化时刻不同,所以也仍然能够进行精确的检查。除上述以外,当然也可以将本发明应用于将一对扫描线驱动电路分别设置在扫描线4-I的两侧的电光装置或采用了逐点驱动方式的数据线驱动电路的电光装置。
(3)在上述实施形态中,举例说明了将检查用电路3在元件基板101上形成的情况,但也可以考虑将检查用电路3与电光装置分别设置。即,如图9所示,不是将检查用电路3设在电光装置内,而是用备有检查用电路3的检查装置7进行检查。该图所示的检查装置7,具有安放检查用电路3的壳体71、及与检查用电路3所备有的各检查开关元件34-j的一端电气连接的探针72。当采用这种检查装置7进行检查时,在将各探针72分别与作为各数据线5-j的一部分的检查对象部73连接的状态下依次使各检查开关元件34-j为接通状态,由此即可将与存储在各象素6的电容62内的电荷对应的电压输出到读出信号线35,所以,可以执行与上述实施形态同样的检查,并能取得与上述实施形态同样的效果。进一步,按照这种结构,不需要将检查用电路3装入作为制造对象的各电光装置100内,并可以用同一个检查装置7对多个电光装置100进行检查,所以能够降低制造成本。此外,在上述实施形态中,由于节省了检查用电路3的形成空间,因而能使电光装置100小型化。
(4)在上述实施形态中,举例说明了检查用电路3仅备有1条读出信号线35的情况,但读出信号线35的条数及输出端子351的个数不限于此。例如,如图10所示,也可以考虑设有2条读出信号线35a和35b、用于从读出信号线35a输出读出信号RS1的输出端子351a、用于从读出信号线35b输出读出信号RS2的输出端子351b的结构。当采用这种结构时,如该图所示,可以构成为将左数第奇数个检查开关元件34-j的一端与读出信号线35a连接,而将左数第偶数个检查开关元件34-j+1的一端与读出信号线35b连接。
(5)在上述实施形态中,将读出信号线35的输出端子351设置在与移位寄存器32的输入端子31相反的一侧,而且设定为使从电容62向读出信号线35输出电压的时刻与检查用时钟信号TCK的电平变化时刻不同,但也可以只采用其中的任何一种设置或设定方式。即,例如,如果仅使向读出信号线35输出电压的时刻与检查用时钟信号TCK的电平变化时刻不同就可以充分地抑制噪声的影响从而能实现精确的检查,则就没有必要将输出端子351设置在与输入端子31相反的一侧了。反之亦然。
(6)在上述实施形态中,为按点的顺序使检查用电路3的检查开关元件34-j变为接通状态而使用了移位寄存器32,但例如也可以用地址译码器代替该移位寄存器32。即,也可以采用可对与在多条数据线5-1、5-2、……、5-n上供给的地址信号对应的任何一个检查开关元件34-j输出激活电平信号的地址译码器,并可以任意选择任何一个检查开关元件34-j。在这种情况下,只需根据指定任何一个检查开关元件34-j的读出地址而使电平反复变化的地址信号的电平变化时刻与从62从输出电压的时刻(即,使检查开关元件34-j变为接通状态的时刻)不同即可。按照这种方式,本发明的「动作指示信号」的概念,将不限于总是以一定周期反复改变电平的时钟信号,还包含着像上述地址信号这样的信号。就是说,本发明的「动作指示信号」,不仅是使电平反复变化的信号,而且可以是规定检查用电路内的动作的信号。
另外,在上述实施形态中,作为使检查开关元件34-j变为接通状态的时刻与检查用时钟信号TCK的电平变化时刻不同的装置,使用了延迟电路33-j,但用于实现这种功能的装置,不限于延迟电路33-j。
如上所述,检查用电路3的结构,不限于在上述实施形态或各变形例中举例说明的结构。就是说,本发明的「检查用电路」,只要是能根据上述动作指示信号进行动作、且可以在与该动作指示信号的电平变化时刻不同的时刻将与存储在各象素6的电容62内的电荷对应的电压输出到读出信号线35的电路,则可以具有任何结构。
(7)在上述实施形态中,将延迟电路33-j的延迟时间D设定为与检查用时钟信号TCK的1/8周期相当的时间,但当然也可以设定为除此以外的时间。重要的是,只要能够使从各电容62输出电压的时刻与检查用时钟信号TCK的电平变化时刻不同从而可以从包含噪声的读出信号RS检测出与存储在各象素6的电容62内的电荷对应的电压,使两个时刻的不同的程度可以任意设定。
可是,在将时间D设定为与检查用时钟信号TCK的1/2周期相当的时间时,与图7所示的情况一样,结果将会使从各电容62输出电压的时刻与检查用时钟信号TCK的电平变化时刻(即,噪声的发生时刻)对应。此外,如图5和图7所示,噪声N在时间轴上以规定的宽度产生。当考虑到这种情况时,为有效地消除噪声的影响以确保检查的精确性,最好将上述时间D设定为检查用时钟信号TCK的1/8周期至1/4周期。
另外,在上述实施形态中,将与数据信号DT对应的同一电荷存储在所有的m×n个象素6的电容62内,但也可以将上述电荷只存储在一部分象素6内,或对每个象素6供给电压不同的数据信号DT,并将不同的电荷存储在各个电容62内。
(8)在上述实施形态中,举例说明了将液晶装置作为电光装置100的情况,但可以应用本发明的装置不限于此。例如,作为可以应用本发明的电光装置,除液晶装置外,还可以考虑采用电致发光(EL)或等离子发射或电子发射的荧光等并利用其电光效应进行显示的各种电光装置。这时,作为电光物质,当采用EL时,由于将EL夹在元件基半101上的象素电极106与对置电极107之间,因此可以将液晶装置中必要的对置基板102去掉。
<D电子设备>
以下,说明几种采用了上述实施形态的电光装置的电子设备。
<1移动式计算机>
首先,参照图11说明将上述电光装置100应用于移动式个人计算机的例。如该图所示,计算机400,备有装有键盘401的本体部402、用作显示部的电光装置100。此外,在该电光装置的背面,设置着用于提高可视性的背照灯装置(图中省略)。
<2携带式电话机>
以下,参照图12说明将上述电光装置100应用于携带式电话机的显示部的例。如该图所示,携带式电话机400,除多个操作按钮411外,还备有受话口412、送话口413、以及上述的电光装置100。
按照本发明的电光装置,可以精确地检查各象素、扫描线、及数据线有无缺陷,所以在装有这种电光装置的电子设备中,也可以确保高的可靠性。此外,作为可以应用本发明的电光装置的电子设备,除上述的移动移动式计算机及携带式电话机外,还可以举出液晶电视机、寻象器型或监视器直观型磁带录像机、导航装置、寻呼机、电子笔记本、台式电子计算器、字处理器、工作站、电视电话、POS终端、数字式静象摄影机、备有触摸板的设备、将电光装置用作光阀的投影机等。
发明的效果如上所述,按照本发明,具有能够对电光装置的配线和电极等有无缺陷进行精确的检查的效果。
权利要求
1.一种电光装置的检查方法,利用根据电平反复变化的动作指示信号进行动作的检查用电路对具有与扫描线和数据线的交叉点对应设置并构成电容的一端的象素电极及插接在上述象素电极和上述数据线之间的象素开关元件的电光装置进行检查,该电光装置的检查方法的特征在于包括通过使上述象素开关元件接通而对上述象素电极供给数据信号的第1步骤、在由上述检查用电路将施加于上述象素电极的电压输出到读出信号线的过程中在比上述动作指示信号的电平变化时刻延迟了的时刻使插接在上述象素电极和上述数据线之间的检查开关元件接通的第2步骤、判断输出到上述读出信号线的电压是否与供给该象素电极的数据信号所对应的电压对应。
2.一种电光装置的检查用电路,对具有与扫描线和数据线的交叉点对应设置并构成电容的一端的象素电极及插接在上述象素电极和上述数据线之间的象素开关元件的电光装置,在通过使上述象素开关元件接通而对上述象素电极供给数据信号后,将施加于上述象素电极的电压输出到读出信号线,以判断施加于该象素电极的电压是否与该数据信号所对应的电压对应,该检查用电路的特征在于设有插接在上述数据线和上述读出信号线之间的检查开关元件、及根据电平反复变化的动作指示信号进行动作并在比该动作指示信号的电平变化时刻延迟了的时刻使上述检查开关元件接通的控制电路。
3.根据权利要求2所述的电光装置的检查用电路,其特征在于上述控制电路,在比上述动作指示信号的电平变化时刻延迟了与该动作指示信号的周期的1/8~1/4相当的时间的时刻,使上述检查开关元件接通。
4.根据权利要求2或3所述的电光装置的检查用电路,其特征在于将用于对上述控制电路输入上述动作指示信号的输入端子与上述读出信号线的输出端子隔着该控制电路而设置在彼此相反的位置。
5.根据权利要求2~4中的任何一项所述的电光装置的检查用电路,其特征在于上述控制电路,具有输出其电平随上述动作指示信号而变化的控制信号的输出装置、及使上述控制信号的电平变化时刻比上述动作指示信号的电平变化时刻延迟的时刻变更装置。
6.根据权利要求5所述的电光装置的检查用电路,其特征在于上述时刻变更装置,是延迟装置。
7.一种电光装置的检查用电路,对具有与扫描线和数据线的交叉点对应设置并构成电容的一端的象素电极及插接在上述象素电极和上述数据线之间的象素开关元件的电光装置,在通过使上述象素开关元件接通而对上述象素电极供给数据信号后,将施加于上述象素电极的电压输出到读出信号线,以判断施加于该象素电极的电压是否与该数据信号相对应,该检查用电路的特征在于备有插接在上述数据线和上述读出信号线之间的检查开关元件、根据电平反复变化的动作指示信号使上述检查开关元件接通的控制电路、用于对上述控制电路输入上述动作指示信号的输入端子、及相对于上述控制电路而设置在与上述输入端子相反的一侧的用于输出上述读出信号线的电压的输出端子。
8.一种电光装置,其特征在于具有与扫描线和数据线的交叉点对应设置并构成电容的一端的象素电极、插接在上述象素电极和上述数据线之间的象素开关元件、及通过使上述象素开关元件接通而对上述象素电极供给数据信号后将施加于上述象素电极的电压输出到读出信号线以判断施加于该象素电极的电压是否与该数据信号所对应的电压对应的检查用电路,上述检查用电路,备有插接在上述数据线和上述读出信号线之间的检查开关元件、及根据电平反复变化的动作指示信号进行动作并在比该动作指示信号的电平变化时刻延迟了的时刻使上述检查开关元件接通的控制电路。
9.根据权利要求8所述的电光装置,其特征在于上述控制电路,在比上述动作指示信号的电平变化时刻延迟了与该动作指示信号的周期的1/8~1/4相当的时间的时刻,使上述检查开关元件接通。
10.根据权利要求8或9所述的电光装置,其特征在于具有用于对上述控制电路输入上述动作指示信号的输入端子、及相对于上述控制电路而设置在与上述输入端子相反的一侧的用于输出上述读出信号线的电压的输出端子。
11.根据权利要求8~10中的任何一项所述的电光装置,其特征在于上述电容,将上述象素电极作为其一端、将对置电极作为另一端,并将电光物质夹在中间。
12.根据权利要求8~11中的任何一项所述的电光装置,其特征在于具有一端与上述象素电极连接而另一端与电容线连接的存储电容。
13.根据权利要求8~12中的任何一项所述的电光装置,其特征在于上述控制电路,具有输出其电平随上述动作指示信号而变化的控制信号的输出装置、及使上述控制信号的电平变化时刻比上述动作指示信号的电平变化时刻延迟的时刻变更装置。
14.根据权利要求13所述的电光装置,其特征在于上述时刻变更装置,是延迟装置。
15.一种电光装置,其特征在于具有与扫描线和数据线的交叉点对应设置并构成电容的一端的象素电极、插接在上述象素电极和上述数据线之间的象素开关元件、及通过使上述象素开关元件接通而对上述象素电极供给数据信号后将施加于上述象素电极的电压输出到读出信号线以判断施加于该象素电极的电压是否与该数据信号所对应的电压对应的检查用电路,上述检查用电路,备有插接在上述数据线和上述读出信号线之间的检查开关元件、根据电平反复变化的动作指示信号使上述检查开关元件接通的控制电路、用于对上述控制电路输入上述动作指示信号的输入端子、及相对于上述控制电路而设置在与上述输入端子相反的一侧的用于输出上述读出信号线的电压的输出端子。
16.一种电子设备,其特征在于备有权利要求8~15中的任何一项所述的电光装置。
全文摘要
本发明的课题是对配线和电极等有无缺陷进行精确检查。其目的是提供一种对备有与扫描线4-i和数据线5-j的交叉点对应设置的电容的电光装置100进行检查的方法。在将与数据信号对应的电荷存储在电容62内之后,通过使设置在数据线5-j与读出信号线35之间的检查开关元件34-j接通,将与存储在上述电容62内的电荷对应的电压输出到读出信号线35。使检查开关元件34-j接通的时刻,与规定检查用电路3的动作的检查用时钟信号TCK的电平变化时刻不同。
文档编号G09G3/34GK1357871SQ01142
公开日2002年7月10日 申请日期2001年12月6日 优先权日2000年12月7日
发明者藤田伸 申请人:精工爱普生株式会社
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