一种测试方法及测试设备与流程

本申请属于测试技术领域，尤其涉及一种测试方法及测试设备。

背景技术：

在液晶面板或者LED芯片制程中，需要对液晶面板中的像素单元或者LED的晶粒进行点测，以确定该像素单元或者晶粒是否正常，若异常，后续对该异常像素单元进行修复或者将制程异常的晶粒剔除。

现有的点测方式为对液晶面板中的所有像素单元或者经过激光切割的LED圆片中所有的晶粒进行点测，点测结束后，按照制程中预设的SPC(Statistical Process Control)量测规格上下限设定点测规格，将超出点测规格上下限的像素单元或者晶粒设为像素单元或者异常晶粒，但是由于测试设备在点测过程中有可能是因为测试设备造成的点测异常(例如探针扎偏，未扎在测试点或者电极上)，而非制程异常，这就需要根据首次点测记录的坐标重新点测所有首次点测超出规格上下限的异常像素单元或者晶粒，以确定该像素单元或者晶粒是点测异常还是制程异常。重新点测异常像素单元或者晶粒的过程需要机械臂按照异常像素单元或者晶粒的测量顺序重新进行一次测量，浪费点测时间，点测效率低。

技术实现要素：

鉴于此，本申请提供一种测试方法及测试设备，省去多个测试点之间移动的时间，提高点测效率。

本申请提供一种测试方法，所述方法包括：

获取待测试样品的测试点的坐标；

根据所述待测试样品的测试点的坐标驱动探针至所述测试点的坐标对应的位置进行测试，并获得第一测试结果；

判断所述第一测试结果是否在预定范围内；

若所述第一测试结果不在预定范围内，则重新对所述测试点的坐标对应的位置进行测试，获得第二测试结果；

在获得第二测试结果之后，根据预设的测试方式驱动探针至所述待测试样品中的下一个测试点进行测试。

本申请还提供一种测试设备，所述测试设备包括：

测试点坐标获取模块，用于获取待测试样品的测试点的坐标；

第一测试结果获取模块，用于根据所述待测试样品的测试点的坐标驱动探针至所述测试点的坐标对应的位置进行测试，并获得第一测试结果；

判断模块，用于判断所述第一测试结果是否在预定范围内；

第二测试结果获取模块，若所述第一测试结果不在预定范围内，则重新对所述测试点的坐标对应的位置进行测试，获得第二测试结果；

处理模块，用于获取所述点位的第二测试结果，并根据预设的测试方式驱动探针至所述待测试样品中的下一个点位进行测试。

本申请还提供一种测试方法，包括：

获取待测试样品的测试点的坐标；

根据所述待测试样品的测试点的坐标驱动探针至所述测试点的坐标对应的位置进行测试，并获得第一测试结果；

判断所述第一测试结果是否在预定范围内；

若所述第一测试结果不在预定范围内，则重新对所述测试点的坐标对应的位置进行测试，获得第二测试结果；

在获得第二测试结果之后，根据预设的测试方式驱动探针至所述待测试样品中的下一个测试点进行测试；

所述预设的测试方式为驱动探针根据当前的位置按照预设步长从当前测试点步进到下一个测试点；

若连续检测到所述第二测试结果不在所述预定范围内的测试点的数量大于预设数量，则发出第一提醒信息用于提醒所述待测试样品异常。

本申请还提供一种测试设备，所述测试设备包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现本申请提供一种测试方法的步骤。

本申请还提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质可以是非易失性的，所述计算机存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序在被一个或多个处理器读取并执行时可实现上述提供的一种测试方法的步骤。

本申请获取待测试样品的测试点的坐标；根据所述待测试样品的测试点的坐标驱动探针至所述测试点的坐标对应的位置进行测试，并获得第一测试结果；若所述第一测试结果不在预定范围内，则重新对所述测试点的坐标对应的位置进行测试，获得第二测试结果；在获得第二测试结果之后，根据预设的测试方式驱动探针至所述待测试样品中的下一个测试点进行测试。省去了多个测试点之间移动的时间，提高点测效率。并且本方法无需硬件的改进，操作方便、实现简单，适应面广，具有较强的易用性和实用性。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请一实施例提供的测试方法的示意流程图；

图2是本申请一实施例提供的测试设备的示意框图；

图3是本申请又一实施例提供的测试设备的示意框图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。

还应当理解，在此本申请说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本申请。如在本申请说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。

还应当进一步理解，在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。

如在本说明书和所附权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。

为了说明本申请所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。

在本申请实施例中的测试设备表示通过以下所述方法对待测试样品进行测试的设备。并不用于限制现有的以点测机命名的测试设备。本领域技术人员应对本申请实施例中的测试设备做广义的理解。

参见图1，图1是本申请实施例一提供的测试方法的示意流程图，如图所示该方法可以包括以下步骤：

步骤S101，获取待测试样品的测试点的坐标.

在本申请实施例中，所述待测试样品是指需要通过测试设备测试的样品。例如，在封装组立之前的液晶面板模块、LED圆片、LED晶粒等。所述测试点是指测试时探针需要接触的位置，通常并不限制于某一个点，而是在某一个范围内。测试点的坐标是指在这个范围内的一个坐标，为了保证探针在测试的时候不会因为机械移动的误差造成扎偏，尽量保证测试点的坐标在这个范围内居中的位置。测试点可以是液晶面板中每个像素单元的外引线、LED中每个晶粒的电极等，测试点的坐标对应的指不超出液晶面板中每个像素单元的外引线范围或者不超出晶粒电极范围，通常测试点的坐标是指外引线或者电极范围内居中的点的坐标。液晶面板每个像素单元或者LED晶粒都是阵列排列的。所以在测试时，可以设定(0,0)点的位置、步长等，根据设定的步长值获得待测试样品中的所有测试点的坐标。

步骤S102，根据所述待测试样品的测试点的坐标驱动探针至所述测试点的坐标对应的位置进行测试，并获得第一测试结果。

在本申请实施例中，可以通过两种方式进行测试，一种是根据坐标原点(0,0)点的位置驱动探针按照预设的步长步进至所述测试点的坐标所在的位置对所述测试点进行测试，或者先根据步长值以及(0,0)点位置计算所述测试点的坐标，根据所述测试点的坐标驱动探针至所述测试点的坐标对应的位置进行测试，测试的结果就是第一测试结果。由于若采用根据预设步长的方式步进至该测试点时，当其中的一次步进有误差时，就可能造成后续测试的测试点的坐标对应的位置都可能出现误差，造成测试异常，在第一次对所述测试点进行测试时可以采用先计算测试点的坐标，然后驱动探针至所述测试点坐标对应的位置进行测试。

步骤S103，判断所述第一测试结果是否在预定范围内。

步骤S104，若所述第一测试结果不在预定范围内，则重新对所述测试点的坐标对应的位置进行测试，获得第二测试结果。

在本申请实施例，所述预定范围是指根据不同规格的待测试样品设定的正常测试规格范围，可以通过测试的结果是否在预定范围内判断该测试点对应的像素单元或者晶粒是否异常，通常会根据不同规格的产品设定不同的预定范围。一般第一测试结果不在预定范围内，该测试点对应的像素单元或者晶粒会被认定是异常晶粒，但是在实际应用中，发现也有一些测试设备造成的异常(例如探针扎偏，未扎在测试点上)，而非制程异常，这时就需要重新测试确定该测试点对应的像素单元或者晶粒到底是测试异常还是制程异常。就需要重新对该测试点的坐标对应的位置进行测试，以便于根据再次点测的结果确定该测试点对应的像素单元是否是制程异常。再次测试的结果为第二测试结果。

可选的，所述重新对所述测试点的坐标对应的位置进行测试包括：

根据所述测试点的坐标信息重置探针的位置；

通过重置位置后的探针对所述测试点进行测试。

在本申请实施例中，一些测试设备在进行点测前会对待测试样品进行影像扫描，这种测试设备通常会配置摄像装置或者CCD(Charge-coupled Device)，在重新对所述测试点的坐标对应的位置进行测试时，可以采用摄像装置或者CCD在所述测试点的坐标预定距离内搜寻探针扎过的位置，根据所述探针第一次扎过的位置重置探针的位置，可以使得再次测试的结果不会因为探针扎偏出现测试异常。

可选的，在获得第一测试结果之后，若所述测试点的第一测试结果在预定范围内，则驱动探针至所述待测试样品中的下一个测试点进行测试。

在本申请实施例中，若是确定所述测试点的第一测试结果在预定范围内，则可以确定该测试点对应的像素单元是正常的，就无需再次对所述测试点进行测试，可以驱动探针至所述待测试样品中的下一个测试点进行测试。

步骤S105，在获得第二测试结果之后，根据预设的测试方式驱动探针至所述待测试样品中的下一个测试点进行测试。

在本申请实施例中，所述预设的测试方式为驱动探针根据当前的位置按照预设步长从当前测试点步进到下一个测试点。所述第二测试结果是根据重置位置后的探针点测的，若是第二测试结果在预定范围内，则表明该测试点对应的像素单元是正常的，若第二测试结果不在预定范围内，则表明该测试点对应的像素单元是异常的，并且为制程异常。获得该测试点对应的像素单元是正常还是异常后，就可以对下一个测试点进行测试。获得第二次测试结果后，也可以根据步骤S102中描述的两种方式进行测试，但是由于少数的玻璃基板或者LED外延片有可能本身存在翘曲，虽然这个翘曲度非常小，但是相对于像素单元或者LED晶粒仍然会造成探针按照由步长计算的测试点的坐标进行测试时，探针实际所在的位置与该测试点实际的位置有偏差，若是一个测试点出现偏差，可能后续的测试点都会存在偏差，这时就需要按照预设步长驱动重置位置后的探针至下一个测试点的位置。

可选的，该方法还包括：

若所述第一测试结果在预定范围内，则上传所述第一测试结果至服务器；

若所述第一测试结果不在预定范围内，则在获得第二测试结果之后，上传所述第一测试结果和所述第二测试结果至服务器，或上传所述第二测试结果至服务器。

在本申请实施例中，对待测试样品进行测试是为了找到异常像素单元或者异常晶粒，所以，若第一测试结果在预定范围内，则表明该测试点对应的像素单元或者晶粒正常，只要上传第一测试结果至服务器就可以。若第一测试结果不在预定范围内，才会针对该测试点进行第二次点测获得第二测试结果，若第二测试结果在预定范围内，表明第一测试结果为测试异常造成的第一测试结果不在预定范围内，则上传第二测试结果至服务器，当然还可以上传第一测试结果至服务器，若第二测试结果不在预定范围内，则表明该测试点对应的像素单元或者晶粒异常，上传第一测试结果或者第二测试结果都可以，当然也可以将所述第一测试结果和第二测试结果均上传至服务器。

作为本申请又一实施例，若连续检测到所述第二测试结果不在所述预定范围内的测试点的数量大于预设数量，则发出第一提醒信息用于提醒所述待测试样品异常。

在本申请实施例中，由于第一测试结果有可能是测试异常，但是第二测试结果是经过重置位置后的探针测试的，基本排除了测试异常，若是连续多个测试点的第二测试结果不在预定范围内，则可能所述待测试样品本身制程异常，就可以设定一个预设数量，所述预设数量可以根据不同规格的产品设定不同的具体值。例如，预设数量可以设定为50个，若连续检测到所述第二测试结果不在所述预定范围内的测试点的数量大于预设数量，则发出第一提醒信息用于提醒所述待测试样品异常。所述第一提醒信息可以是机台灯光报警信息、或者声音报警信息等。

应理解，在上述实施例一中，各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各步骤的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。

参见图2，图2是本申请一实施例提供的测试设备的示意框图，为了便于说明，仅示出与本申请实施例相关的部分。

该测试设备可以是内置于终端设备(例如现有的点测机、与点测机连接的计算机等)内的软件单元、硬件单元或者软硬结合的单元，也可以作为独立的挂件集成到所述终端设备中。

所述测试设备2包括：

测试点坐标获取模块21，用于获取待测试样品的测试点的坐标；

第一测试结果获取模块22，用于根据所述待测试样品的测试点的坐标驱动探针至所述测试点的坐标对应的位置进行测试，并获得第一测试结果；

判断模块23，用于判断所述第一测试结果是否在预定范围内；

第二测试结果获取模块24，若所述第一测试结果不在预定范围内，则重新对所述测试点的坐标对应的位置进行测试，获得第二测试结果；

处理模块25，用于获取所述点位的第二测试结果，并根据预设的测试方式驱动探针至所述待测试样品中的下一个点位进行测试。

可选的，所述预设的测试方式为驱动探针根据当前的位置按照预设步长从当前测试点步进到下一个测试点。

可选的，所述测试设备2还包括：

提醒模块，用于若连续检测到所述第二测试结果不在所述预定范围内的测试点的数量大于预设数量，则发出第一提醒信息用于提醒所述待测试样品异常。

可选的，所述测试设备2还包括：

上传模块，用于若所述第一测试结果在预定范围内，则上传所述第一测试结果至服务器；

若所述第一测试结果不在预定范围内，则在获得第二测试结果之后，上传所述第一测试结果和所述第二测试结果至服务器，或上传所述第二测试结果至服务器。

可选的，所述处理模块25还用于：

若所述测试点的第一测试结果在预定范围内，则驱动探针至所述待测试样品中的下一个测试点进行测试。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，仅以上述各功能模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成，即所述测试设备的内部结构划分成不同的功能模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本申请的保护范围。上述测试设备中模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例的对应过程，在此不再赘述。

参见图3，图3是本申请又一实施例提供的测试设备的示意框图。如图所示的该测试设备可以包括：一个或多个处理器301(图3中仅示出一个)；一个或多个输入设备302(图3中仅示出一个)，一个或多个输出设备303(图3中仅示出一个)和存储器304。上述处理器301、输入设备302、输出设备303和存储器304通过总线305连接。存储器304用于存储指令，处理器301用于执行存储器304存储的指令。其中：

所述处理器301，用于通过输入设备302获取待测试样品的测试点的坐标；所述处理器301还用于根据所述待测试样品的测试点的坐标驱动探针至所述测试点的坐标对应的位置进行测试，并通过输入设备302获得第一测试结果；所述处理器301还用于若所述第一测试结果不在预定范围内，则重新对所述测试点的坐标对应的位置进行测试，并通过输入设备302获得第二测试结果；所述处理器301还用于在通过输入设备302获得第二测试结果之后，根据预设的测试方式驱动探针至所述待测试样品中的下一个测试点进行测试。

可选的，所述预设的测试方式为驱动探针根据当前的位置按照预设步长从当前测试点步进到下一个测试点。

可选的，所述处理器301还用于若连续检测到所述第二测试结果不在所述预定范围内的测试点的数量大于预设数量，则通过输出设备303发出第一提醒信息用于提醒所述待测试样品异常。

可选的，所述处理器301还用于若所述第一测试结果在预定范围内，则上传所述第一测试结果至服务器；若所述第一测试结果不在预定范围内，则在获得第二测试结果之后，上传所述第一测试结果和所述第二测试结果至服务器，或上传所述第二测试结果至服务器。。

可选的，所述处理器301还用于在获得第一测试结果之后，若所述测试点的第一测试结果在预定范围内，则驱动探针至所述待测试样品中的下一个测试点进行测试。

所述存储器304，用于存储软件程序、模块、单元以及测试设备中需要或者获得的数据信息，所述处理器301通过运行存储在所述存储器304的软件程序、模块以及单元，从而执行各种功能应用以及数据处理，省去多个测试点之间移动的时间，提高点测效率。

应当理解，在本申请实施例中，所称处理器301可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，该处理器还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。

输入设备302可以包括触控板、指纹采集传感器(用于采集用户的指纹信息和指纹的方向信息)、麦克风、数据采集装置、数据接收装置等，输出设备303可以包括显示器(LCD等)、扬声器、数据发送装置等。

该存储器304可以包括只读存储器和随机存取存储器，并向处理器301提供指令和数据。存储器304的一部分还可以包括非易失性随机存取存储器。例如，存储器304还可以存储设备类型的信息。

具体实现中，本申请实施例中所描述的处理器301、输入设备302、输出设备303和存储器304可执行本申请实施例提供的测试方法的实施例中所描述的实现方式，也可执行测试设备的实施例中所描述的实现方式，在此不再赘述。

本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的模块及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。

在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的测试设备和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通讯连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)或处理器(processor)执行本申请实施例各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请实施例各实施例技术方案的精神和范围。