用于OLED显示器退化的补偿系统和方法与流程

用于oled显示器退化的补偿系统和方法
技术领域
[0001]
本公开涉及用于发光视觉显示技术的图像校正，尤其涉及用于校正有源矩阵有机发光二极管器件(amoled)显示器的图像的有机发光器件(oled)退化补偿系统和方法。


背景技术：


技术实现要素：

[0002]
根据第一方面，提供了一种对安装在主机设备中的显示面板模块的像素的退化进行补偿的方法；其中每个像素包括发光器件；该方法包括：在显示面板模块的操作期间，对针对每个像素的图像数据的灰度级数据进行采样，并对每个像素对应的温度数据进行采样；根据与针对每个像素的所述灰度级数据和所述温度数据的函数关系来确定针对每个像素的更新后的校正因子；将针对每个像素的校正因子应用到针对所述像素的所述图像数据上，生成校正的图像数据用于通过所述显示面板模块进行显示。
[0003]
一些实施例进一步提供了将更新后的校正因子存储在主机设备或显示面板模块中的非易失性存储器中。在一些实施例中，在每次确定更新后的校正因子时，将更新后的校正因子存储在非易失性存储器中。在一些实施例中，紧接在主机设备关闭之前，将更新后的校正因子存储在非易失性存储器中。
[0004]
一些实施例进一步提供了将针对每个子像素的更新后的校正因子存储在主机设备或显示面板模块中的易失性存储器中。在一些实施例中，将针对每个子像素的更新后的校正因子存储在易失性存储器中的查找表中。
[0005]
在一些实施例中，还根据与采样时间段的函数关系来确定针对每个子像素的更新后的校正因子。
[0006]
在一些实施例中，将针对每个子像素的更新后的校正因子确定为每个子像素的采样的灰度级数据的第一函数、采样时间段的第二函数和采样的温度数据的第三函数的乘积之和。
[0007]
在一些实施例中，使用查找表、采样的灰度级数据、采样时间段和采样的温度数据来确定针对每个子像素的更新后的校正因子。
[0008]
根据另一方面提供一种设备，包括：显示面板模块、图像数据块、主机处理单元和补偿块。
[0009]
显示面板模块包括：显示面板，其包括多个像素，每个像素包括发光器件、显示处理单元、显示器非易失性存储器和显示器易失性存储器。
[0010]
图像数据块用于向显示面板提供图像数据。
[0011]
主机处理单元包括：主机非易失性存储器和主机易失性存储器。
[0012]
主机处理单元被配置用于：针对每个像素，将表示像素退化的校正因子存储在主机非易失性存储器中；在显示面板工作期间，针对每个像素对从图像块接收的图像数据的灰度级数据进行采样，以及对从显示面板接收的与像素对应的温度数据进行采样；以及根
据与针对每个像素的采样的灰度级数据和温度数据的函数关系来确定针对每个像素的更新后的校正因子。
[0013]
补偿块用于将针对每个像素的更新后的校正因子应用于从图像数据块接收的针对像素的图像数据，并生成校正的图像数据以供显示面板显示。
[0014]
在一些实施例中，主机非易失性存储器或显示器非易失性存储器还用于存储更新后的校正因子。在一些实施例中，主机非易失性存储器或显示器非易失性存储器还用于在每次确定更新后的校正因子时存储更新后的校正因子。在一些实施例中，主机非易失性存储器或显示器非易失性存储器还用于紧接在主机设备关机之前存储更新后的校正因子。
[0015]
一些实施例还提供了用于存储针对每个子像素的更新后的校正因子的主机易失性存储器或显示器易失性存储器。在一些实施例中，将针对每个子像素的更新后的校正因子存储在主机易失性存储器或显示器易失性存储器中的查找表中。
[0016]
在一些实施例中，处理单元根据oled退化模型确定针对每个子像素的更新后的校正因子。
[0017]
在一些实施例中，处理单元还根据与采样时间段的函数关系来确定针对每个子像素的更新后的校正因子。
[0018]
在一些实施例中，处理单元将针对每个子像素的更新后的校正因子确定为每个子像素的采样的灰度级数据的第一函数、采样时间段的第二函数和采样的温度数据的第三函数的乘积之和。
[0019]
在一些实施例中，处理单元使用查找表、采样的灰度级数据、采样时间段和采样的温度数据来确定针对每个子像素的更新后的校正因子。
[0020]
在一些实施例中，其中处理单元包括主机设备的图形处理单元(gpu)或中央处理单元(cpu)。
[0021]
鉴于结合附图对各种实施例和/或方面的详细描述，本公开的前述和其他的方面以及实施例对于本领域技术人员将是明显的，下面将给出简要的附图说明。
附图说明
[0022]
通过阅读以下详细描述并参考附图，本公开的前述和其他优点将变得清楚明确。
[0023]
图1示出了应用于本公开的退化补偿系统和方法的一个示例显示系统，并且该示例显示系统的像素通过本公开的退化补偿系统和方法进行校正。
[0024]
图2为根据一个实施例的oled退化补偿系统的示意框图。
[0025]
图3为根据另一实施例的oled退化补偿系统的示意框图。
[0026]
已经通过附图中的示例示出了具体的实施例或实施方式，并且在本文中将对其进行详细描述，然而本公开易于进行各种修改和替代形式。应当理解的是，本公开不旨在限于所公开的具体形式，而是本公开包含所有落入由所附权利要求限定的本发明的精神和范围内的修改、等价和替代形式。
具体实施方式
[0027]
oled器件是发光二极管(led)，其中发光电致发光层是有机化合物薄膜，该有机化合物薄膜响应于电流而发光。这层有机层位于两个电极之间。通常，这些电极中的至少一个
是透明的。与传统的液晶显示器(lcd)相比，有源矩阵有机发光器件(amoled)显示器具有更低的功耗、制造灵活性、更快的响应时间、更大的视角、更高的对比度、更轻的重量以及对柔性基板的适应性。amoled显示器可在无背光源的情况下工作，这是因为它会发出可见光，并且每个像素都由独立发光的不同颜色的oled组成。oled面板可以显示深黑级，并且可以比lcd显示器薄。
[0028]
led和amoled显示器通常需要某种形式的图像校正后加工。所有的led和amoled显示器(无论采用何种背板技术)均在像素间呈现出亮度差异，这主要是由于工艺或构造上的不均等，或者是由于长期的操作使用而导致的老化所致。显示器中的亮度不均匀性也可能是由led和oled材料本身在化学和性能上的自然差异而引起的。这些不均匀性必须由led和amoled显示器电子器件管理，以使显示设备达到商业上可接受的性能水平，以供大众市场使用。
[0029]
为了促进图像校正，对于给定的单一化(singularization)之后的显示器，还可以使用诸如像素内补偿(ipc)或电测量或ipc补偿和电测量两者的组合的方法来获取校正数据。然后将校正数据作为初始校正数据存储在显示系统和最终产品中的非易失性存储器(nvm)芯片上，以用于当出现进一步退化时进行后续处理和更新。
[0030]
虽然本文描述的实施例将是在amoled显示器的背景下，但应理解的是，本文描述的退化校正系统和方法适用于任何其他的包括像素的显示器，其中所述像素经历类似于下文所描述的oled的像素退化。
[0031]
应该理解的是，本文描述的实施例涉及图像校正和退化补偿的系统和方法，并且不限制这些实施例的操作所基于的显示技术，也不限制对实现这些实施例的显示器的操作。本文描述的系统和方法适用于任意数量的各种类型和实施方式的各种可视化显示技术。
[0032]
图1是示例性显示系统150的示图，将使用以下进一步描述的系统和方法，结合图2的补偿系统200的布置，来对显示系统的退化进行补偿，并对显示系统的图像进行校正。显示系统150包括显示面板120、地址驱动器108、数据驱动器104、控制器102和存储器106。
[0033]
显示面板120包括以行和列布置的像素阵列110(仅明确示出一个)。每个像素110可单独编程以发出具有单独可编程亮度值的光。控制器102接收数字数据，该数字数据指示出将要在显示面板120上显示的信息。控制器102将信号132发送至数据驱动器104，并将调度信号134发送至地址驱动器108，以驱动显示面板120中的像素110对指示的信息进行显示。因此，显示面板120的多个像素110包括显示阵列或显示屏，该显示阵列或显示屏适于根据控制器102接收到的输入数字数据动态地显示信息。显示屏及其像素的各种子集限定了“显示区域”，该“显示区域”可用于监视和管理显示亮度。显示屏可以显示来自控制器102接收到的数据的图像和视频信息流。电源电压114提供恒定的电力电压，或者可以用作通过来自控制器102的信号进行控制的可调电压电源。显示系统150还可以包括来自电流源或电流阱(未示出)的特征以向显示面板120中的像素110提供偏置电流，从而减少用于像素110的编程时间。
[0034]
为了说明的目的，在图1的显示系统150中仅明确地示出了一个像素110。应当理解的是，显示系统150通过使用显示屏来实现，该显示屏包括大量像素(例如，像素110)，并且该显示屏不限于具体数量的像素行和像素列。例如，显示系统150可以通过使用具有在移动
设备、基于监视器的设备和/或投影设备的显示器中通常可用的若干行像素和列像素的显示屏来实现。在多通道或彩色显示器中，显示器中将存在若干不同类型的像素，每种类型像素负责复制特定通道的颜色，或诸如红色、绿色或蓝色的颜色。这种像素也可以被称为“子像素”，因为一组这些子像素在显示器的特定行和列处共同提供所需的颜色，该组子像素也可以被统称为“像素”。
[0035]
像素110通过驱动电路或像素电路进行操作，其中该驱动电路或像素电路通常包括驱动晶体管和发光器件。在下文中，像素110可以指像素电路。发光器件可以可选地为有机发光二极管，但是本公开的实施方式适用于具有其他电致发光器件的像素电路，该电致发光器件可能经历类似的退化，其包括电流驱动的发光器件。像素110中的驱动晶体管可以可选地为n-型或p-型非晶硅薄膜晶体管，但是本公开的实施方式不限于具有特定晶体管极性的像素电路，或者不仅限于具有薄膜晶体管的像素电路。像素电路110还可以包括存储电容器，该存储电容器用于存储编程信息并允许像素电路110在被寻址之后驱动发光器件。因此，显示面板120可以是有源矩阵显示阵列。
[0036]
如图1所示，在显示面板120中被图示为左上像素的像素110耦合到选择线124、电源线126、数据线122和监控线128。还可以包括读取线以用于控制与监控线的连接。在一个实施方式中，电源电压114还可以向像素110提供第二电源线。例如，每个像素可以耦合至使用vdd充电的第一电源线126以及耦合至使用vss充电的第二供电线127，并且该像素电路110可以位于第一和第二电源线之间，以促进在像素电路的发光阶段在两个电源线之间的驱动电流。应当理解的是，显示面板120的像素阵列中的每个像素110都耦合至适当的选择线、电源线、数据线和监控线。需要指出的是，本公开的各方面适用于具有附加连接(例如与附加选择线的连接)的像素，以及适用于具有较少连接的像素。
[0037]
参考显示面板120的像素110，选择线124由地址驱动器108提供，并且可以用于例如通过启动开关或晶体管以允许数据线122对像素110进行编程来启用像素110的编程操作。数据线122将编程信息从数据驱动器104传送到像素110。例如，可以利用数据线122将编程电压或编程电流施加到像素110，以便对像素110进行编程以发出所期望的亮度。由数据驱动器104经由数据线122提供的编程电压(或编程电流)是适于根据由控制器102接收到的数字数据使像素110发出具有期望亮度的光的电压(或电流)。可在像素110的编程操作期间将编程电压(或编程电流)施加到像素110，以对像素110内的存储设备(例如存储电容器)进行充电，从而使像素110能够在编程操作后的发光操作期间发出具有所期望亮度的光。例如，可以在编程操作期间对像素110中的存储设备进行充电，以在发光操作期间将电压施加到驱动晶体管的栅极或源极端子中的一个或多个上，从而使驱动晶体管根据存储在存储设备上的电压传送驱动电流通过发光设备。
[0038]
通常，在像素110中，在像素110的发射操作期间由驱动晶体管传送通过发光设备的驱动电流是由第一电源线126供应的并被排放到第二电源线126的电流。第一电源线126和第二电源线127耦合到电源电压114。第一电源线126可以提供正电源电压(例如，在电路设计中通常被称为“vdd”的电压)，以及第二电源线127可以提供负电源电压(例如，在电路设计中通常被称为“vss”的电压)。在电源线中的一条或另一条(例如，电源线127)被固定在接地电压或另一参考电压处的情况下，可以实现本公开的实施方式。
[0039]
显示系统150还包括监控系统112。再次参考显示面板120的像素110，监控线128将
像素110连接到监控系统112。监控系统12可以与数据驱动器104集成在一起，或可以是单独的独立系统。特别地，监控系统112可以可选地通过在像素110的监控操作期间对数据线122的电流和/或电压进行监控来实施，并且监控线128可以被完全省略。监控线128允许监控系统112测量与像素110相关联的电流或电压，从而提取指示像素110的退化或老化或指示像素110的温度的信息。在一些实施例中，显示面板120包括专用于感测像素110中所实施的温度的温度感测电路。在一些实施例中，显示面板120的温度感测电路逐个像素地测量温度；而在其他实施例中，温度感测电路针对若干显示区域确定粗略的局部温度；而在其他实施例中，温度感测电路确定显示面板120的单个整体温度(single global temperature)。在其他实施例中，像素110包括既参与感测温度也参与驱动像素的电路。例如，监控系统112可以经由监控线128提取流过像素110内的驱动晶体管的电流，从而基于测量的电流以及基于在测量期间施加到驱动晶体管的电压来确定驱动晶体管的阈值电压或其偏移。
[0040]
控制器102和存储器106一起或还结合校正块(图1中未示出)来使用补偿数据或校正数据，以便解决和校正制造时存在的各种缺陷、变化和不均匀性、以及使用后由老化和劣化所进一步带来的缺陷。在一些实施例中，校正数据包括用于校正像素的亮度的数据，其中像素的亮度是通过使用如下所述的补偿系统的oled退化跟踪和建模获得的。而在其他实施例中，在图像数据被提供到存储器106之前先将oled退化应用于图像数据。一些实施例采用监控系统112来表征像素的行为，并随着显示器的老化而继续监控老化和劣化，并更新校正数据以对随时间的所述老化和劣化进行补偿。一些实施例将由监控系统112和控制器102执行的补偿与下面描述的由补偿系统200执行的退化补偿结合起来，而在其他实施例中，只有补偿系统200执行任何退化补偿。
[0041]
参考图2，现在将描述根据一个实施例的用于显示退化的补偿系统200。
[0042]
补偿系统200包括待校正的oled显示器210、中央或图形处理单元216、以及生成或接收将要显示的图像的图像数据块212、以及诸如nand闪存之类的非易失性存储器(nvm)214。nvm 214可以在实施校正系统200的主机设备的非易失性存储器中实施。中央或图形处理单元216可以包括例如实施oled显示器210的主机设备或系统的cpu或gpu。这样的主机设备或系统可以是例如移动设备、电话、笔记本电脑、平板计算机、台式计算机或电视机。在另一种情况下，处理单元216可以是图1所示的显示系统和/或控制器102的一部分，例如，集成在定时控制器tcon中。在一些实施方式中，图2的oled显示器210可以或多或少地对应于图1的显示系统150，并包括与图1所示的相似的部件。在一些实施例中，处理单元216在图1所示的显示系统150的外部，并且将校正后的图像数据244提供给存储器106作为上文关于图1所指的图像数据。
[0043]
处理单元216包括sram存储器220以及若干个功能块，这些功能块可以使用处理单元216的软件、固件或专用硬件来实现。这些功能块包括采样器226、校正块218和校正因子确定单元221，其中该校正因子确定单元221包括校正因子查找单元224和校正因子计算单元222。如图2所示，处理单元216的每个功能块可以在需要时访问sram 220，以用于存储和检索补偿处理中使用的任何数据。
[0044]
图像数据230在图像数据块212处被生成或接收，并包括用于在oled显示器210上显示的图像。该图像数据230由处理单元216的校正块218利用校正因子238(如下所述)进行处理以生成校正的图像数据244以用于由oled显示器210显示。该校正的图像数据244补偿
oled显示器210的子像素的oled退化。
[0045]
用于oled显示器210的每个子像素的校正因子k被存储在诸如非易失性存储器214之类的持久性存储器中，以便保存oled显示器210在实施补偿系统200的主机或系统的连续加电和关机期间的退化记录。在一些实施例中，针对查找表中的每个子像素存储校正因子k。查找表在校正系统200工作的同时被存储在处理单元216的sram 220中，并且在校正系统200断电的同时也被存储在用于持久存储的nvm 214中。在上电时，先前存储的校正因子k作为初始k值从nvm 214被加载到sram 220中，这些初始值会定期更新。在一些实施例中，设备或系统以从工厂预先填充在nvm 214中的校正因子k开始。
[0046]
为了根据以下描述的模型跟踪oled显示器210的每个子像素的oled退化，在操作中，处理单元216的采样器226周期性地从用于oled显示器210的子像素的图像数据块212采样图像数据230的灰度级或灰度级数据。采样器226还访问源自oled显示器210的温度数据(t)234，对其进行周期性采样。在一些实施例中，为每个子像素提供该温度数据，而在其他实施例中，相同的温度数据(t)234应用于每个显示区域中的多个子像素；或者在温度数据(t)234为单个整体温度的情况下，该温度数据应用于所有子像素。采样器226将采样的灰度级和温度数据(采样数据246)提供给校正因子确定单元221，校正因子确定单元221根据以下描述的模型执行必要的计算(包括积分或求和)以生成校正因子k。
[0047]
一旦提供有采样数据248，校正因子计算单元222就通过获取当前存储的k因子并根据模型对其进行添加来计算新的校正因子k。如下所述，新校正因子k的计算取决于灰度级数据(gl)、温度数据(t)和时间(t)，校正因子计算单元可以独立地访问它们中的最后一个。在一些实施例中，使用校正因子查找单元224从sram 220中的查找表获得当前存储的用于特定子像素的k因子。一旦确定了新的校正因子k，就将该新的校正因子k存储在sram 220中，并且也存储在nvm 214中。在一些实施例中，对sram 220中的校正因子的任何更新都会反映在nvm 214中，以便使持久性校正因子保持最新。在其他实施例中，紧接在主机设备或系统被断电之前，利用sram 220中的当前校正因子来更新nvm 214。
[0048]
在将图像数据230校正成提供给oled显示器210的校正的图像数据244期间，校正块218对各个子像素应用校正因子k。在一些实施例中，校正块218利用校正因子查找单元224来获取用于其数据当前正在被校正的子像素的当前校正因子k 238。在其他实施例中，当前校正因子直接从sram 220获得。
[0049]
在图3所示的可替代实施例中，补偿系统300包括设置在oled显示器210(例如，显示处理单元(诸如数据驱动器104或控制器102))中的校正块或补偿块318。利用oled显示器210上的校正块318降低了对主机处理单元216的要求，并提高了处理速度。
[0050]
图像数据230在图像数据块212处被生成或接收，并包括用于在oled显示器210上显示的图像。通过oled显示器210的校正块318利用校正因子238(如下所述)来处理图像数据230以生成校正的图像数据244供oled显示器210显示。校正的图像数据244补偿oled显示器210的子像素的oled退化。
[0051]
用于oled显示器210的每个子像素的校正因子k被存储在诸如非易失性存储器106或214之类的持久性存储器中，以便保存oled显示器210在其中实施补偿系统300的主机设备或系统的连续加电和关机期间的退化记录。在一些实施例中，针对查找表中的各个和每个子像素存储校正因子k。该查找表可以在校正系统300工作的同时被存储在处理单元216
的sram220中和/或oled显示器210的sram 320中，并且还可以在校正系统300或oled显示器210断电的同时被存储在用于持久性存储的nvm 214中。上电时，将先前存储的校正因子k作为初始k值从nvm 214被加载到sram 220和/或sram 320，这些初始k值会定期更新。在一些实施例中，设备或系统以从工厂预先填充在nvm 214中的校正因子k开始。
[0052]
为了根据以下描述的模型跟踪oled显示器210的每个子像素的oled退化，在操作中，处理单元216的采样器226周期性地从用于oled显示器210的子像素的图像数据块212采样图像数据230的灰度级或灰度级数据。采样器226还访问源自oled显示器210的温度数据(t)234，对其进行周期性采样。在一些实施例中，为每个子像素提供该温度数据，而在其他实施例中，相同的温度数据(t)234应用于每个显示区域中的多个子像素，或者在温度数据(t)234为单个整体温度的情况下，应用于所有子像素。采样器226将采样的灰度级和温度数据(采样数据246)提供给校正因子确定单元221，校正因子确定单元221根据以下描述的模型执行必要的计算(包括积分或求和)以生成校正因子k。
[0053]
一旦提供有采样数据248，校正因子计算单元222通过获得当前存储的k因子并根据模型对其进行添加来计算新的校正因子k。如下所述，新的校正因子k的计算取决于灰度级数据(gl)、温度数据(t)和时间(t)，校正因子计算单元可以独立访问它们中的最后一个。在一些实施例中，使用校正因子查找单元224从sram 220和/或sram 320中的查找表中获得用于特定子像素的当前存储的k因子。一旦确定了新的校正因子k，该新的校正因子k被存储在sram 320中，并且也被存储在nvm 214中。在一些实施例中，对sram 220和/或320中的校正因子的任何更新都被反映在nvm 214中，以便使持久性校正因子保持最新。在其他实施例中，紧接在主机设备或系统断电之前，使用sram 220和/或320中的当前校正因子来更新nvm 214。
[0054]
校正块318在将图像数据230校正成提供给oled显示器150的校正图像数据244期间，对各个子像素应用校正因子k。在一些实施例中，校正块318利用校正因子查找单元224，以获取用于其数据当前正在被校正的子像素的当前校正因子238。在其他实施例中，当前校正因子直接从sram 220或sram 320获得。
[0055]
在一些实施例中，校正块218或318利用校正因子进行乘法运算以生成校正图像数据244。在一些实施例中，由校正块218或318通过将图像数据230中每个子像素的原始灰度级乘以该子像素的相应校正因子k的函数来生成校正的图像数据244中的每个子像素的校正灰度级。在一些实施例中，该函数是非线性的。
[0056]
在一些实施例中，校正因子查找单元224包括查找附加查找表的功能，该附加查找表用于根据模型来优化校正因子的计算。在这些实施例中，校正因子k对采样数据(灰度级gl、温度t以及时间t)的函数依赖性被存储在查找表中，以减少校正因子k的处理计算。在这样的实施例中，校正因子计算单元222使用校正因子查找单元和采样的灰度级和温度数据以及其自身的时间跟踪来获取f1、f2和f3的值(参见下文)，校正因子计算单元222从这些值计算校正因子k的值，或直接获取校正因子k。
[0057]
在一些实施例中，校正块218或318对校正因子k的访问频率超过与校正因子确定单元221协同工作的采样器226对校正因子k的计算和更新的频率。在这样的实施例中，校正块218或318在每次需要时访问当前校正因子k，与校正因子确定单元221何时更新校正因子无关。
[0058]
校正因子确定单元221根据如下oled退化校正模型确定校正因子k，其中校正因子k与oled在从t
i
至t
n
的时间段期间所承受的应力能量的总和成比例：
[0059]
k
∝
e
oled
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(1)
[0060]
这里，oled能量e
oled
是oled电压v
oled
与oled驱动电流i
oled
的乘积的累积：
[0061][0062]
如公式(2)所示，p
oled
表示oled的瞬时功率，t表示oled的工作温度。
[0063]
oled电压v
oled
可以在一段时间内变化，驱动电流i
oled
的大小也可以变化。提供公式(2)的经验模型，使得校正因子k与累积的应力灰度级(gl)和时间成比例，其数学函数如下：
[0064]
k
∝
f(gl,t,t)
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(3)
[0065]
k
∝
∑f1(gl)
×
f2(t)
×
f3(t)
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(4)
[0066]
其中，f1(gl)、f2(t)和f3(t)分别表示oled工作时oled驱动电流的函数、时间的函数和温度的函数。在一些实施例中，例如，f1(gl)的形式为a*(gl)
γ
，其中γ为oled显示器的强度伽玛曲线，而在其他实施例中，f1(gl)是gl的多项式。在一些实施例中，f2(t)是t的多项式。在一些实施例中，f3(t)的形式为c*t/t0；在其他实施例中为t的多项式，以及在其他实施例中为[-c*exp(1/t-1/t0)]的多项式，其中t0为预设的参考温度。
[0067]
在利用查找表来计算校正因子k或f1、f2和f3中的每一个的实施例中，校正因子计算单元222利用校正因子查找单元224使用gl、t和t来获取相关值。在其他实施例中，k的值是通过积分或求和连同计算f1、f2和f3的适当函数形式的乘积来计算的。
[0068]
尽管已经分别描述了上述算法或过程，但是应当理解的是，本文公开的任何两个或更多个算法或过程可以以任何组合进行组合。本文描述的任何方法、算法、实施方式或过程可以包括机器可读指令，该机器可读指令可由以下各项执行：(a)处理器，(b)控制器和/或(c)任何其他合适的处理设备。本文公开的任何算法、软件或方法都可以以存储在非易失性有形介质(例如闪存、cd-rom、软盘、硬盘驱动器、数字通用磁盘(dvd)或其他存储设备)上的软件的形式体现，但本领域普通技术人员将容易理解的是，整个算法和/或其部分可以可替代地由控制器以外的设备执行和/或以固件或专用硬件的形式按照众所周知的方式(例如，可以通过专用集成电路(asic)、可编程逻辑器件(pld)、现场可编程逻辑器件(fpld)、离散逻辑等来实施)来体现。而且，在本文描述的过程中表示的一些或所有机器可读指令可以被手动实施，而不是通过控制器、处理器或类似的计算设备或机器来自动实施。此外，尽管已经描述了具体的算法或过程，但是本领域普通技术人员将容易理解的是，可以可替代地使用实施示例性机器可读指令的许多其他方法。例如，可以改变步骤的执行顺序，和/或可以改变、消除或组合所描述的一些块。
[0069]
应当注意的是，本文示出和讨论的算法具有执行特定功能并且彼此交互的各种模块。应当理解的是，出于描述的目的，这些模块仅基于它们的功能被分离，并且表示存储在计算机可读介质上以在适当的计算硬件上执行的计算机硬件和/或可执行软件代码。不同模块和单元的各种功能可以作为模块以任何方式被组合或分离为存储在如上所述的非易失性计算机可读介质上的硬件和/或软件，并且可以单独或组合使用。
[0070]
尽管已经示出和描述了本公开的特定实施方式和应用，但是应当理解的是，本公
开不限于本文公开的精确构造和组成，并且在不脱离所附权利要求书所限定的本发明的精神和范围的前提下根据前述描述得到的各种修改、改变和变化可以是明显的。