显示面板及显示装置的制作方法

本发明涉及显示技术领域，更具体地，涉及一种显示面板及显示装置。

背景技术：

随着显示技术的不断发展，显示设备在各个领域的应用越来越广泛。通常情况下，在显示面板的制作过程中会在母板上形成多个显示面板的图形，再对母板进行切割，最终得到分立的显示面板，但在切割工艺中可能会在显示面板的边缘产生裂纹，随着使用时间的增加，裂纹可能会向显示面板的内部延伸，影响显示面板的使用寿命，因此，在显示面板板切割形成后要进行裂纹检测。

现有技术中，大多裂纹检测的方法都是在显示面板的边缘形成一圈用于进行裂纹检测的金属线，该金属线与裂纹检测电路电连接，利用裂纹检测电路对显示面板是否存在裂纹进行检测。但是，在显示面板的生产过程中，裂纹检测电路中的走线容易积累静电，该静电极易导致与上述金属线电连接的裂纹检测电路失效，无法正常检测出裂纹。

技术实现要素：

有鉴于此，本发明提供了一种显示面板及显示装置，在裂纹检测单元和信号输入端之间引入虚拟单元，避免静电对裂纹检测单元造成影响，从而有利于提升裂纹检测过程的可靠性。

第一方面，本申请提供一种显示面板，所述显示面板包括显示区和非显示区，所述非显示区包括绑定区，所述绑定区包括多个信号输入端；

所述显示面板还包括位于非显示区的至少一个裂纹检测电路，一个所述裂纹检测电路包括多个裂纹检测单元、至少一个虚拟单元和至少一条第一信号线；所述裂纹检测单元和所述虚拟单元均与所述第一信号线电连接，所述第一信号线还与所述信号输入端电连接；在所述第一信号线的延伸方向上，所述虚拟单元位于所述裂纹检测单元和信号输入端之间。

第二方面，本申请提供一种显示装置，包括本申请所提供的显示面板。

与现有技术相比，本发明提供的显示面板及显示装置，至少实现了如下的有益效果：

本发明所提供的显示面板及显示装置中，在显示面板的非显示区设置有至少一个裂纹检测电路，该裂纹检测电路包括多个裂纹检测单元、至少一个虚拟单元和至少一条第一信号线，该第一信号线分别与信号输入端、裂纹检测单元和虚拟单元电连接，特别是，在第一信号线的延伸方向上，虚拟单元位于裂纹检测单元和信号输入端之间，如此，相当于第一信号走线先连接虚拟单元，再连接裂纹检测单元。当第一信号走线上有静电累积时，静电将通过第一信号线传输至虚拟单元，该虚拟单元的引入减小了静电传输至裂纹检测单元的可能，从而大大减小了裂纹检测单元由于静电而发生失效的可能，进而有利于减小裂纹检测单元无法正常检测出裂纹的可能，因此有利于提升显示面板及显示装置中裂纹检测过程的可靠性。

当然，实施本发明的任一产品必不特定需要同时达到以上所述的所有技术效果。

通过以下参照附图对本发明的示例性实施例的详细描述，本发明的其它特征及其优点将会变得清楚。

附图说明

被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本发明的实施例，并且连同其说明一起用于解释本发明的原理。

图1所示为本申请实施例所提供的显示面板的一种俯视图；

图2所示为本申请实施例所提供的显示面板中裂纹检测电路的一种结构示意图；

图3所示为本申请实施例所提供的显示面板中裂纹检测电路的另一种结构示意图；

图4所示为本申请实施例所提供的显示面板中裂纹检测电路的另一种结构示意图；

图5所示为本申请实施例所提供的显示面板中裂纹检测电路的另一种结构示意图；

图6所示为本申请实施例所提供的显示面板中裂纹检测电路的另一种结构示意图；

图7所示为本申请实施例所提供的显示面板中裂纹检测电路的另一种结构示意图；

图8所示为本申请实施例所提供的显示面板中裂纹检测电路的另一种结构示意图；

图9所示为本申请实施例所提供所显示面板中绑定区的一种结构示意图；

图10所示为本申请实施例所提供所显示面板中绑定区的另一种结构示意图；

图11所示为裂纹检测电路与显示面板中的子像素的一种对应关系图；

图12所示为本申请实施例所提供的显示装置的一种示意图。

具体实施方式

现在将参照附图来详细描述本发明的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。

以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。

对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。

在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

图1所示为本申请实施例所提供的显示面板的一种俯视图，图2所示为本申请实施例所提供的显示面板中裂纹检测电路的一种结构示意图，请参见图1和图2，本申请提供一种显示面板100，所述显示面板100包括显示区10和非显示区20，所述非显示区20包括绑定区21，所述绑定区21包括多个信号输入端60；

所述显示面板100还包括位于非显示区20的至少一个裂纹检测电路，一个所述裂纹检测电路包括多个裂纹检测单元30、至少一个虚拟单元40和至少一条第一信号线50；所述裂纹检测单元30和所述虚拟单元40均与所述第一信号线50电连接，所述第一信号线50还与所述信号输入端60电连接；在所述第一信号线50的延伸方向上，所述虚拟单元40位于所述裂纹检测单元30和信号输入端60之间。

需要说明的是，上述显示面板100既可以为液晶显示面板，也可以为有机发光二极管显示面板。随着显示技术的不断发展，柔性显示面板的使用越来越广泛，柔性显示面板本身可能会发生弯折，弯折的应力可能会导致显示面板上形成裂纹，因此本申请所提供的上述显示面板100还尤其适用于柔性显示面板。还需说明的是，图1仅对显示面板100的整体俯视结构进行了示意，并不代表显示区10和非显示区20的实际尺寸。另外，图2也仅对裂纹检测电路中所包含的部分裂纹检测单元30和部分虚拟单元40进行了示意，并不代表裂纹检测单元30和虚拟单元40的实际数量。

具体地，请继续参见图1和图2，本申请所提供的显示面板100中，在绑定区21设置有多个信号输入端60，在非显示区20设置有至少一个裂纹检测电路，该裂纹检测电路包括多个裂纹检测单元30、至少一个虚拟单元40和至少一条第一信号线50，该第一信号线50分别与信号输入端60、裂纹检测单元30和虚拟单元40电连接，特别是，在第一信号线50的延伸方向上，虚拟单元40位于裂纹检测单元30和信号输入端60之间，如此，相当于第一信号走线先连接虚拟单元40，再连接裂纹检测单元30。当第一信号走线上有静电累积时，静电将通过第一信号线50传输至虚拟单元40，该虚拟单元40的引入减小了静电传输至裂纹检测单元30的可能，从而大大减小了裂纹检测单元30由于静电而发生失效的可能，进而有利于减小裂纹检测单元30无法正常检测出裂纹的可能，因此有利于提升显示面板100裂纹检测过程的可靠性。

在本发明的一种可选实施例中，请继续参见图3，图3所示为本申请实施例所提供的显示面板100中裂纹检测电路的另一种结构示意图，请参见图3，本申请实施例所提供的显示面板100还包括多条沿第一方向x排布并沿第二方向y延伸的数据线70，所述第一方向x和所述第二方向y相交；

所述裂纹检测电路还包括控制信号线sw、电平信号线v1和检测信号线t，所述检测信号线t环绕所述显示区10设置；

所述裂纹检测单元30包括多个第一开关单元31，各所述第一开关单元31的控制端连接同一所述控制信号线sw，各所述第一开关单元31的第一端分别与不同的数据线70电连接，至少部分第一开关单元31的第二端连接所述电平信号线v1，至少部分所述第一开关单元31的第二端连接所述检测信号线t。

请结合图1和图3，显示面板100设置有显示区10为围绕显示区10的非显示区20，本申请所提及的检测信号线t环绕显示区10设置，指的是检测信号线t设置在显示面板100的非显示区20，且其是顺着非显示区20延伸的，通过该检测信号线t对显示面板100是否存在裂纹进行检测，检测操作简单且可靠。请参见图3，本申请中的裂纹检测单元30包括多个第一开关单元31，各第一开关单元31的控制端连接至同一控制信号线sw，各第一开关单元31的第一端与不同的数据线70电连接，一部分第一开关单元31的第二端与检测信号线t电连接，另一部分开关单元的第二端与电平信号线v1电连接。在裂纹检测的过程中，控制信号线sw向各第一开关单元31输入交流信号，当显示面板100未出现裂纹时，检测信号线t是完整的，未出现断线的情况，此时各第一开关单元31处于关闭的状态，显示面板100整体呈现黑态；当显示面板100出现裂纹时，检测信号线t出现断线，导致第一开关单元31中与检测信号线t所电连接的第二端的信号发生变化，例如检测信号线t断线后，检测信号线上的电压将为0，这使得第一开关单元31的控制端与第二端之间的电压差发生变化，进而使得第一开关单元31导通，如此将有信号通过第一开关单元31传输至数据线70，点亮与数据线70电连接的子像素，因而在显示面板100中出现亮线。也就是说，在裂纹检测的过程中，如果显示面板100呈现黑态，则代表显示面板100上不存在裂纹；如果显示面板100上出现亮线，则代表显示面板100上存在裂纹。

可选地，上述第一开关单元31例如可为p型晶体管，以下将以第一开光单元为p型晶体管为例对裂纹检测的过程进行说明，此时，检测信号线t和电平信号线v1上的电压均为高电平信号。在裂纹检测阶段，控制信号线sw向各p型晶体管的栅极输入交流信号，交流信号中的高电平信号的幅度小于检测信号线t和电平信号线v1上的高电平信号的幅度，也就是说，p型晶体管的栅极的电压小于p型晶体管中与检测信号线t或电平信号线v1所电连接的一极的电压，因而该p型晶体管处于截止的状态，当p型晶体管截止时，没有信号向数据线70传输，因而显示面板100呈现黑态。当显示面板100上出现裂纹时，检测信号线t断裂，检测信号线t上的电压降低，导致p型晶体管中与检测信号线t电连接的一极的电压小于栅极电压，此时对应p型晶体管导通，检测信号线t上的较低的电压信号将通过p型晶体管传输至数据线70，点亮与数据线70电连接的子像素，使显示面板100上出现亮线，该亮线的存在则代表显示面板100上有裂纹存在。在本申请的一些其他实施例中，第一开关单元31还可体现为n型晶体管，本申请对此不进行具体限定。

在本发明的一种可选实施例中，请参见图1和图3，所述第一信号线50为所述控制信号线sw、所述电平信号线v1和所述检测信号线t中的至少一者。

具体地，当第一信号线50为控制信号线sw时，表明控制信号线sw是首先与虚拟单元40电连接，然后再与裂纹检测单元30电连接的，如果控制信号线sw上存在静电累积时，静电将会作用至距离控制信号线sw最近的虚拟单元40，而不会对裂纹检测单元30造成影响。同理，当第一信号线50为电平信号线v1时，表明电平信号线v1是首先与虚拟单元40电连接，然后再与裂纹检测单元30电连接的，如果电平信号线v1上存在静电累积时，静电将会作用至距离电平信号线v1最近的虚拟单元40，而不会对裂纹检测单元30造成影响。同理，当第一信号线50为检测信号线t时，表明检测信号线t是首先与虚拟单元40电连接，然后再与裂纹检测单元30电连接的，如果检测信号线t上存在静电累积时，静电将会作用至距离检测信号线t最近的虚拟单元40，而不会对裂纹检测单元30造成影响。优选地，本申请中的控制信号线sw、电平信号线v1和检测信号线t均可先与虚拟单元40电连接，再与裂纹检测单元30电连接，如此，控制信号线sw、电平信号线v1和检测信号线t中的任一者存在静电累积，该静电也只能作用于虚拟单元40，而不会对裂纹检测单元30造成影响，从而有效避免了静电对裂纹检测过程的影响，有利于提升裂纹检测过程的可靠性。

在本发明的一种可选实施例中，图4所示为本申请实施例所提供的显示面板100中裂纹检测电路的另一种结构示意图，所述虚拟单元40包括第二开关单元42，所述第二开关单元42的控制端连接所述控制信号线sw，第一端连接所述电平信号线v1，第二端浮置。

具体地，图4示出了虚拟单元40的一种实施例，该实施例中，虚拟单元40包括第二开关单元42，该第二开关单元42的控制端连接控制信号线sw，第一端连接电平信号线v1，第二端浮置，即floating。可选地，电平信号线v1和检测信号线t电连接，二者等电位。当电平信号线v1、检测信号线t或者控制信号线sw上有静电累积时，由于电平信号线v1和控制信号线sw是先与虚拟单元40电连接的，静电将会传输至虚拟单元40中的第二开关单元42，作用到第二开关单元42，由于第二开关单元42的第二端是浮置的，即使有静电作用与第二开关单元42，也不会对显示面板100上的其他电路造成影响，同样不会对裂纹检测单元30造成影响，从而避免静电的存在导致裂纹检测单元30失效而无法实现裂纹检测的现象，有利于提升裂纹检测的可靠性。需要说明的是，图4仅示出了一个裂纹检测电路中包括两个第二开关的情形，实际上，第二开关单元42的数量可根据显示面板100的空间来设定，若显示面板100上有足够的空间设置虚拟单元40，则可在显示面板100上设置更多的第二开关单元42，以进一步减小静电对裂纹检测单元30的影响。

在本发明的一种可选实施例中，图5所示为本申请实施例所提供的显示面板100中裂纹检测电路的另一种结构示意图，虚拟单元40的第二端连接金属走线43。如此，相当于将虚拟单元40的浮置端连接了金属走线43，该金属走线43相当于一个电阻，如此增加了虚拟单元40的负载，若有静电作用至虚拟单元40，静电将被传导至该金属走线43，如此有利于增强虚拟单元40的抗静电能力。

在本发明的一种可选实施例中，图6所示为本申请实施例所提供的显示面板100中裂纹检测电路的另一种结构示意图，所述虚拟单元40包括第一电容44，所述第一电容44的第一极连接所述电平信号线v1，所述第一电容44的第二极连接所述检测信号线t。

具体地，图6示出了裂纹检测电路中虚拟单元40的另一种实施例，该实施例中，虚拟单元40体现为一电容44，该电容44的两极分别连接电平信号线v1和检测信号线t，当静电作用到虚拟单元40时，静电电荷将存储至该第一电容44中，从而同样有利于避免静电传输至裂纹检测单元30而对裂纹检测过程造成影响。需要说明的是，第一电容44的大小可根据显示面板100的上的实际空间来设定，第一电容44的容置越大，其所能够存储的静电电荷将越多，越有利于提升虚拟单元40的抗静电能力。需要说明的是，图6仅示出了一个裂纹检测电路中包括两个第一电容44的情形，实际上，第一电容44的数量可根据显示面板100的空间来设定，若显示面板100上有足够的空间设置虚拟单元40，则可在显示面板100上设置更多的第一电容44，以进一步减小静电对裂纹检测单元30的影响。

在本发明的一种可选实施例中，图7所示为本申请实施例所提供的显示面板100中裂纹检测电路的另一种结构示意图，所述虚拟单元40包括静电释放单元，一个所述静电释放单元包括第一晶体管41和第二晶体管42，所述第一晶体管41的控制端和第一极均连接所述电平信号线v1，所述第一晶体管41的第二极连接所述检测信号线t或控制信号线sw，所述第二晶体管42的控制端和第一极均连接所述第一晶体管41的第二极，所述第二晶体管42的第二极连接第一固定电压信号v2，其中，所述第一固定电压信号v2和所述电平信号线v1的信号的极性相反。

具体地，图7示出了裂纹检测电路中虚拟单元40的另一种实施例，该实施例中的虚拟单元40体现为静电释放单元。一个静电释放单元中包括两个晶体管，分别为第一晶体管41和第二晶体管42，其中，第一晶体管41的控制端和第一极连接电平信号线v1，第一晶体管41的第二极、第二晶体管42的控制端和第一极均连接至检测信号线t或控制信号线sw，第二晶体管42的第二极连接第一固定电压信号v2，可选地，此处的第一固定电压信号v2为低电平信号。当检测信号线t、控制信号线sw或电平信号线v1中有静电累积时，静电作用于第一晶体管41和第二晶体管42后，将第一晶体管41和第二晶体管42导通，静电将会被传导至第二晶体管42的第二极，从而通过静电释放单元对静电进行释放，也就是说，静电在虚拟单元40中进行了释放，将不会再传导至裂纹检测单元30中，从而避免裂纹检测单元30受到静电影响而发生失效的可能，因此有利于提升显示面板100裂纹检测的可靠性。需要说明的是，本申请中虚拟单元40所包含的静电释放单元的结构还可体现为其他，只要能起到释放静电的作用即可，本申请对此不进行具体限定。

在本发明的一种可选实施例中，请继续参见图7，所述信号输入端60包括控制信号输入端s1、电平信号输入端s2和检测信号输入端s3，所述控制信号输入端s1与所述控制信号线sw电连接，所述电平信号输入端s2与所述电平信号线v1电连接，所述检测信号输入端s3与所述检测信号线t电连接。

具体地，请继续参见图7，控制信号输入端s1与裂纹检测电路中的控制信号线sw电连接，用于向控制信号线sw发送控制信号，此处的控制信号例如为交流信号。电平信号输入端s2与裂纹检测电路中的电平信号线v1电连接，检测信号输入端s3与裂纹检测电路中的检测信号线t电连接，当裂纹检测单元30中的第一开关单元31为p型晶体管时，电平信号输入端s2用于向电平信号线v1发送高电平信号，检测信号输入端s3用于向检测信号线t发送高电平信号；当裂纹检测单元30中的第一开关单元31为n型晶体管时，电平信号输入端s2用于向电平信号线v1发送低电平信号，检测信号输入端s3用于向检测信号线t发送低电平信号；从而使得在显示面板100不存在裂纹时，裂纹检测单元30中的第一开关单元31保持关闭状态，并使得在显示面板100存在裂纹时，裂纹检测单元30中的第一开关单元31导通。

在本发明的一种可选实施例中，图8所示为本申请实施例所提供的显示面板100中裂纹检测电路的另一种结构示意图，所述电平信号输入端s2复用所述检测信号输入端s3。

具体地，图8示出了裂纹检测电路中电平信号线v1和检测信号线t连接相同的信号输入端的方案，也即，电平信号输入端s2和检测信号输入端s3是复用同一个信号输入端的，如此，使得检测信号线t和电平信号线v1是接收相同的电平信号的，如此，有利于减少显示面板100中信号输入端的数量。当电平信号线v1和检测信号线t连接相同的信号输入端时，检测信号线t和电平信号线v1可短接在一起，形成回路，例如可形成如图8所示的双圈绕线的结构。

在本发明的一种可选实施例中，请参见图8，所述非显示区20还包括与所述绑定区21相邻设置的第一边框区22；所述裂纹检测单元30和所述虚拟单元40位于所述绑定区21；所述虚拟单元40位于所述裂纹检测单元30远离所述第一边框区22的一侧。

具体地，图8示出了显示面板100中包括两个裂纹检测电路的情形，本申请将裂纹检测电路中的裂纹检测单元30和虚拟单元40均设置在绑定区21，合理利用绑定区21中原本空闲的区域，从而避免在显示面板100中引入裂纹检测电路后会增加显示面板100的边框宽度的风险。此外，在裂纹检测电路中，本申请将虚拟单元40设置在裂纹检测单元30远离第一边框区22的一侧，即，将虚拟单元40设置在绑定区21的内侧，如此有利于增加检测信号线t、电平信号线v1和控制信号线sw的绕线长度，当有静电作用到检测信号线t、电平信号线v1或控制信号线sw时，由于走线本身具备一定的电阻，较长的走线可以消耗一部分静电，达到分压的目的，从而有利于减小传输至虚拟单元40的静电的大小，因此有利于避免静电过大而传输至裂纹检测单元30的可能，因此更加有利于避免静电对裂纹检测单元30的影响，因而更加有利于提升显示面板100裂纹检测过程的可靠性。可选的，为了进一步减小边框，可采用异层布线的方式，可根据实际需求进行设计。

需要说明的是，在本申请的一些可选实施例中，虚拟单元40还可位于裂纹检测单元30靠近第一边框区22的一侧，即虚拟单元40位于裂纹检测单元30外侧，当检测信号线t、控制信号线sw或电平信号线v1上有静电累积时，静电也会先作用至虚拟单元40，而不会对裂纹检测单元30造成影响，因此同样有利于提升显示面板100裂纹检测过程的可靠性。

在本发明的一种可选实施例中，图9所示为本申请实施例所提供所显示面板100中绑定区21的一种结构示意图，该绑定区21包括多个第一导电衬垫组p1和多个第二导电衬垫组p2，沿所述第二方向y，所述第二导电衬垫组p2位于所述第一导电衬垫组p1靠近所述显示区的一侧，所述裂纹检测单元30和所述虚拟单元40位于所述第一导电衬垫组p1和所述第二导电衬垫组p2之间，所述信号输入端60位于所述第一导电衬垫组p1中。

具体地，图9所示实施例中，第一导电衬垫组p1和第二导电衬垫组p2是用于绑定控制芯片的导电衬垫组，现有技术中，沿第二方向y，第一导电衬垫组p1和第二导电衬垫组p2之间有一部分空间未利用，本申请将裂纹检测电路中的裂纹检测单元30和虚拟单元40设置在绑定区21的第一导电衬垫组p1和第二导电衬垫组p2之间，合理利用了绑定区21的空间，避免裂纹检测单元30和虚拟单元40的引入增加显示面板100的边框宽度。可选地，本申请中与裂纹检测电路对应的信号输入端60可位于第一导电衬垫组p1中，为不影响第一导电衬垫组p1中其他导电衬垫的正常排布，可将裂纹检测电路对应的信号输入端60设置于第一导电衬垫组p1中的两侧，相当于在第一导电衬垫组p1中原有的导电衬垫的外围增加信号输入端60，从而有利于简化在显示面板100中引入裂纹检测电路后显示面板100的制作流程。

可选地，图10所示为本申请实施例所提供所显示面板100中绑定区21的另一种结构示意图，在实施例示出了显示面板100为cof(chiponfilm或chiponfpc)的结构，绑定区21包括多个导电衬垫p3，绑定区21的导电衬垫pa用于绑定fpc，控制芯片绑定于fpc上而非面板上。

此时，裂纹检测电路中的裂纹检测单元30和虚拟单元40位于这些导电衬垫靠近显示区10的一侧，同样能够利用绑定区21的空间来设置裂纹检测单元30和虚拟单元40，从而实现显示面板100的裂纹检测功能。

在本发明的一种可选实施例中，图11所示为裂纹检测电路与显示面板100中的子像素的一种对应关系图，显示面板100的显示区10包括至少三种不同颜色的子像素，所述子像素与所述数据线70电连接；其中，与所述裂纹检测单元30连接的数据线70所对应的子像素的颜色相同。

具体地，图11示出了显示面板100中包括红绿蓝三种不同颜色的子像素的情形，即包括红色子像素r、绿色子像素g和蓝色子像素b，其中，同一像素列中所包含的子像素的颜色是相同的，同一像素列中的子像素与同一数据线70电连接。本申请将与相同颜色(例如绿色)子像素对应的数据线70分别与裂纹检测电路中的裂纹检测单元30电连接，当显示面板100上存在裂纹时，与检测信号线t电连接的裂纹检测单元30将导通，与导通的裂纹检测单元30对应的数据线70电连接的子像素将发光，从而形成亮线，当将与所述裂纹检测单元30连接的数据线70所对应的子像素的颜色设置为相同时，亮线的颜色将体现为与子像素对应的颜色，当子像素的颜色为绿色时，亮线的颜色为绿色；当子像素的颜色为红色时，亮线的颜色为红色；当子像素的颜色为蓝色时，亮线的颜色为蓝色。亮线能够对显示面板100中存在的裂纹进行提醒，在实际应用过程中，可根据实际需求设置亮线的颜色，本申请对此不进行具体限定。

基于同一发明构思，本申请还提供一种显示装置，图12所示为本申请实施例所提供的显示装置的一种示意图，该显示装置200包括本申请上述任一实施例所提供的显示面板。

需要说明的是，本申请实施例所提供的显示装置200的实施例可参见上述显示面板的实施例，重复之处不再赘述。本申请所提供的显示装置200可以为：手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有现实功能的产品或部件。

综上，本发明提供的显示面板及显示装置，至少实现了如下的有益效果：

本发明所提供的显示面板及显示装置中，在显示面板的非显示区设置有至少一个裂纹检测电路，该裂纹检测电路包括多个裂纹检测单元、至少一个虚拟单元和至少一条第一信号线，该第一信号线分别与信号输入端、裂纹检测单元和虚拟单元电连接，特别是，在第一信号线的延伸方向上，虚拟单元位于裂纹检测单元和信号输入端之间，如此，相当于第一信号走线先连接虚拟单元，再连接裂纹检测单元。当第一信号走线上有静电累积时，静电将通过第一信号线传输至虚拟单元，该虚拟单元的引入减小了静电传输至裂纹检测单元的可能，从而大大减小了裂纹检测单元由于静电而发生失效的可能，进而有利于减小裂纹检测单元无法正常检测出裂纹的可能，因此有利于提升显示面板及显示装置中裂纹检测过程的可靠性。

虽然已经通过例子对本发明的一些特定实施例进行了详细说明，但是本领域的技术人员应该理解，以上例子仅是为了进行说明，而不是为了限制本发明的范围。本领域的技术人员应该理解，可在不脱离本发明的范围和精神的情况下，对以上实施例进行修改。本发明的范围由所附权利要求来限定。