出的待测数据线的实际负载值对显示装置的驱动过程有良好的参考价值，从而避免出现显示装置无法驱动的现象。测试过程不会影响显示装置的正常画面显示。
[0043]本发明实施例二提供了一种显示装置，该显示装置包括:负载测试电路。本实施例中，该负载测试电路可采用上述实施例一提供的负载测试电路。所述显示装置可以为:液晶面板、电子纸、OLED面板、液晶电视、液晶显示器、数码相框、手机、平板电脑等任何具有显示功能的产品或部件。
[0044]本实施例提供的显示装置中，负载测试电路包括信号生成单元、测试数据线、待测数据线、第一开关管和第二开关管，测试数据线的第二端为第一测试点，待测数据线的第二端为第二测试点，第一测试点和第二测试点均用于供负载测试设备进行负载测试，信号生成单元用于向第一开关管提供第一电压以及向第二开关管提供第二电压，采用本实施例的负载测试电路能够测试出待测数据线实际的负载值。负载测试过程实现简单、成本低，从而具有很强的实用性。测试出的待测数据线的实际负载值对显示装置的驱动过程有良好的参考价值，从而避免出现显示装置无法驱动的现象。测试过程不会影响显示装置的正常画面显不O
[0045]图2为本发明实施例三提供的一种负载测试方法的流程图，如图2所示，该方法用于对负载测试电路进行测试，该负载测试电路包括:信号生成单元、测试数据线、待测数据线、第一开关管和第二开关管，测试数据线的第一端、第一开关管、第二开关管和待测数据线的第一端依次连接；待测试数据线的第二端为第一测试点，待测数据线的第二端为第二测试点，第一测试点和第二测试点均用于供负载测试设备进行负载测试；信号生成单元用于向第一开关管提供第一电压以及向第二开关管提供第二电压。具体描述可参见上述实施例一和附图1中的描述。
[0046]所述方法包括:
[0047]步骤101、将负载测试设备与第一测试点和第二测试点连接。
[0048]本实施例中，负载测试设备可以为电阻测试仪。具体地，可将电阻测试仪的两个测试端分别与第一测试点和第二测试点连接
[0049]步骤102、通过信号生成单元向第一开关管提供第一电压以使第一开关管导通以及向第二开关管提供第二电压以使第二开关管导通。
[0050]如图1所示，当第一开关管Ml和第二开关管M2均导通时，第一开关管M1、第二开关管M2、测试数据线12、待测数据线13和负载测试设备形成电路回路。优选地，第一电压和第二电压的极性相同。
[0051]具体地，当第一开关管Ml和第二开关管M2均为NMOS管时，第一电压和第二电压为正电压，以使第一开关管Ml和第二开关管M2导通；或者，当第一开关管Ml和第二开关管M2均为PMOS管时，第一电压和第二电压为负电压，以使第一开关管Ml和第二开关管M2导通。
[0052]步骤103、通过负载测试设备获取负载测试值。
[0053]本实施例中，可从负载测试设备上直接读取出负载测试值，该负载测试值为整个负载测试电路的负载值，即:该负载测试值为第一开关管Ml的负载值、第二开关管M2的负载值、测试数据线12的负载值和待测数据线13的负载值之和。
[0054]步骤104、根据负载测试值生成待测数据线的负载值。
[0055]本实施例中，测试数据线12和待测数据线13相同，因此，测试数据线12的负载值和待测数据线13的负载值相同。则步骤104具体可包括:
[0056]步骤1041、将负载测试值减去第一开关管的负载值和第二开关管的负载值得出计算结果。
[0057]该计算结果为测试数据线12的负载值和待测数据线13的负载值之和。
[0058]步骤1042、将计算结果除以二生成待测数据线的负载值。
[0059]由于测试数据线12的负载值和待测数据线13的负载值相同，因此，将计算结果除以二即可得出待测数据线13的负载值。计算出的待测数据线13的负载值为待测数据线13的实际的负载值。
[0060]本实施例提供的负载测试方法中，将负载测试设备与第一测试点和第二测试点连接，通过信号生成单元向第一开关管提供第一电压以使第一开关管导通以及向第二开关管提供第二电压以使第二开关管导通，通过负载测试设备获取负载测试值，根据负载测试值生成待测数据线的负载值，采用本实施例的负载测试方法能够测试出待测数据线实际的负载值。负载测试过程实现简单、成本低，从而具有很强的实用性。测试出的待测数据线的实际负载值对显示装置的驱动过程有良好的参考价值，从而避免出现显示装置无法驱动的现象。测试过程不会影响显示装置的正常画面显示。
[0061]可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。
【主权项】
1.一种负载测试电路，其特征在于，包括:信号生成单元、测试数据线、待测数据线、第一开关管和第二开关管，所述测试数据线的第一端、所述第一开关管、所述第二开关管和所述待测数据线的第一端依次连接； 所述测试数据线的第二端为第一测试点，所述待测数据线的第二端为第二测试点，所述第一测试点和所述第二测试点均用于供负载测试设备进行负载测试； 所述信号生成单元用于向所述第一开关管提供第一电压以及向所述第二开关管提供第二电压。
2.根据权利要求1所述的负载测试电路，其特征在于，所述测试数据线的第一端和所述第一开关管的第一极连接，所述第二开关管的第一极和所述第一开关管的第二极连接，所述第二开关管的第二极和所述待测数据线的第一端连接，所述第一开关管的控制极和所述第二开关管的控制极均与所述信号生成单元连接。
3.根据权利要求1所述的负载测试电路，其特征在于，所述测试数据线为增设的数据线，所述待测数据线为原始数据线； 或者，所述测试数据线和所述待测数据线为相邻的两条原始数据线。
4.根据权利要求1至3任一所述的负载测试电路，其特征在于，负载测试时，所述第一电压和所述第二电压的极性相同。
5.根据权利要求4所述的负载测试电路，其特征在于，所述第一开关管和第二开关管均为NMOS管，所述第一电压和所述第二电压为正电压；或者，所述第一开关管和所述第二开关管均为PMOS管，所述第一电压和所述第二电压为负电压。
6.根据权利要求1至3任一所述的负载测试电路，其特征在于，画面显示时，所述第一电压和所述第二电压的极性相反。
7.根据权利要求1至3任一所述的负载测试电路，其特征在于，所述测试数据线和所述待测数据线相同。
8.—种显示装置，其特征在于，包括:权利要求1至7任一所述的负载测试电路。
9.一种负载测试方法，其特征在于，所述方法用于对权利要求1所述的负载测试电路进行测试； 所述方法包括: 将负载测试设备与所述第一测试点和所述第二测试点连接； 通过所述信号生成单元向所述第一开关管提供第一电压以使所述第一开关管导通以及向所述第二开关管提供所述第二电压以使所述第二开关管导通； 通过所述负载测试设备获取负载测试值； 根据所述负载测试值生成所述待测数据线的负载值。
10.根据权利要求9所述的负载测试方法，其特征在于，所述测试数据线和所述待测数据线相同；所述根据所述负载测试值生成待测数据线的负载值包括: 将所述负载测试值减去所述第一开关管的负载值和所述第二开关管的负载值得出计算结果； 将所述计算结果除以二生成所述待测数据线的负载值。
11.根据权利要求9所述的负载测试方法，其特征在于，所述第一电压和所述第二电压的极性相同。
【专利摘要】本发明公开了一种负载测试电路、方法和显示装置。该负载测试电路包括：信号生成单元、测试数据线、待测数据线、第一开关管和第二开关管，所述测试数据线的第一端、所述第一开关管、所述第二开关管和所述待测数据线的第一端依次连接；所述测试数据线的第二端为第一测试点，所述待测数据线的第二端为第二测试点，所述第一测试点和所述第二测试点均用于供负载测试设备进行负载测试；所述信号生成单元用于向所述第一开关管提供第一电压以及向所述第二开关管提供第二电压。采用本发明的负载测试电路能够测试出待测数据线实际的负载值。
【IPC分类】G09G3-00, G09G3-36
【公开号】CN104637426
【申请号】CN201510096736
【发明人】唐秀珠
【申请人】京东方科技集团股份有限公司, 成都京东方光电科技有限公司
【公开日】2015年5月20日
【申请日】2015年3月4日