一种光具组基点测定仪的制作方法
【技术领域】
[0001] 本实用新型设及物理实验仪器技术领域，具体设及一种光具组基点测定仪。
【背景技术】
[0002] 由2个或2个W上的共轴薄透镜组合而成的光学系统，称为光具组。光具组的应用 较为广泛，如显微镜的目镜、全景式照相机等。光具组有6个特征点，统称为光具组的基点。 通过光具组基点测定实验可使学生对光具组的原理及性质有比较直观的认识。
[0003] 目前商品化测节器存在W下问题：1)光具组设计问题：（a)有套筒，套筒长度可调， 但较短，无法全面研究光具组基点的性质；（b)无套筒，用=爪式镜夹固定透镜，透镜光屯、位 置不易确定，且成像清晰度较差，影响测量精度;2)支架及轨道的设计：（a)只有一个支架， 将轨道直接固定在支架上，仪器结构简单，但稳定性较差，无法调节系统同轴，测量范围小， 误差大；（b)有=个支架，轨道材质为铸铁，二者相对独立，仪器结构复杂，且轨道容易脱落， 安全性较差。
【发明内容】
[0004] 本实用新型为克服上述现有技术所述的至少一种缺陷，提供一种光具组基点测定 仪，包括光具组、轨道、支架W及移动滑座，所述光具组设置在所述轨道上，所述轨道通过支 架固定，所述支架安装在所述移动滑座上，所述支架W及所述移动滑座均为2个，所述光具 组包括两个透镜，且所述透镜光屯、同轴。
[0005] 作为优选，为了更好的固定轨道，所述支架为两段式结构，且所述支架的两段式结 构通过制动螺钉固定连接，所述支架的顶部设有托架，所述轨道通过放置在所述托架内达 到固定在所述支架上。所述支架采用的两段式结构，松开支架上的制动螺钉，即可让两段支 架自由转动，转动角度可达360°，同时通过松开移动滑座上的制动螺钉还可调节测定仪的 高度；同时在支架的顶部设置托架，把轨道放置在托架内，运样的设计保证了轨道的稳固 性。
[0006] 作为优选，为了更好的固定光具组，所述轨道的横截面为凹字形结构（即为一个凹 槽），所述轨道的外侧面上设有刻度。所述光具组内的透镜放置在轨道的凹槽内，运样可保 证透镜固定在轨道的稳定性。
[0007] 作为优选，为了更好的放置透镜，所述透镜的光屯、设有标记，且所述透镜的外侧设 有镜框，且所述镜框的宽度为2.5mm。在透镜外用镜框来固定并放置轨道上，且在透镜的光 屯、设有标记，运样能够保证测定仪成像清晰，减小仪器系统误差。
[000引作为优选，为了更好的调节两个透镜同轴，所述移动滑座上还设有测微手轮。所述 支架与所述移动滑座配合使用，测量前，可通过移动滑座的测微手轮进行微调，方便调节两 个透镜同轴，测量时，通过调节移动滑座的测微手轮微调，即可提高测定仪的灵敏度。
[0009] 与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
[0010] 本实用新型通过把支架改为两个，增强仪器的稳定性；同时每个支架采用两段式 设计的结构，可360°自由转动，每个支架还均可作为转轴，扩大仪器测量范围；光具组采用 商品化的带框透镜，透镜光屯、易于标定，运样使得测定仪成像清晰，减小仪器系统误差。
【附图说明】
[0011] 图1为本实用新型结构示意图；
[0012] 图2为本实用新型的支架结构示意图。
【具体实施方式】
[0013] 下面结合【具体实施方式】对本实用新型作进一步的说明。其中，附图仅用于示例性 说明，表示的仅是示意图，而非实物图，不能理解为对本专利的限制；为了更好地说明本实 用新型的实施例，附图某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品的尺寸;对本领 域技术人员来说，附图中某些公知结构及其说明可能省略是可W理解的。
[0014] 本实用新型实施例的附图中相同或相似的标号对应相同或相似的部件;在本实用 新型的描述中，需要理解的是，若有术语"上"、"下"、"左"、"右"等指示的方位或位置关系为 基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示 或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、W特定的方位构造和操作，因此附图中描 述位置关系的用语仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制，对于本领域的普通技 术人员而言，可W根据具体情况理解上述术语的具体含义。 实施例
[0015] 如图1至图2所示，本实用新型最佳实施例的一种光具组基点测定仪，包括光具组 4、轨道3、支架1W及移动滑座6，所述光具组4设置在所述轨道3上，所述轨道3通过支架1固 定，所述支架1安装在所述移动滑座6上，所述支架IW及所述移动滑座6均为2个，所述光具 组4包括两个透镜5，且所述透镜5光屯、同轴。
[0016] 作为优选，为了更好的固定轨道，所述支架1为两段式结构，且所述支架1的两段式 结构通过制动螺钉2固定连接，所述支架1的顶部设有托架8,所述轨道4通过放置在所述托 架8内达到固定在所述支架1上。所述支架采用的两段式结构，松开制动螺钉，两段支架可相 对自由转动，通过调节移动滑座上的制动螺钉，可自由调节测定仪的高度；同时在支架的顶 部设置托架，把轨道放置在托架内，运样的设计保证了轨道的稳固性。
[0017] 作为优选，为了更好的固定光具组，所述轨道3的横截面为凹字形结构（即为一个 凹槽），所述轨道3的外侧面上设有刻度。所述光具组内的透镜放置在轨道的凹槽内，运样可 保证透镜固定在轨道的稳定性。
[0018] 作为优选，为了更好的放置透镜，所述透镜5的光屯、设有标记，且所述透镜5的外侧 设有镜框，且所述镜框的宽度为2.5mm。在透镜外用镜框来固定并放置轨道上，且在透镜的 光屯、设有标记，运样能够保证测定仪成像清晰，减小仪器系统误差。
[0019] 作为优选，为了更好的调节两个透镜同轴，所述移动滑座6上还设有测微手轮7。所 述支架与所述移动滑座配合使用，测量前，可通过移动滑座的测微手轮进行微调，方便调节 两个透镜同轴，测量时，通过调节移动滑座的测微手轮微调，即可提高测定仪的灵敏度。
[0020] 具体的测量原理为：
[0021] 将光具组置于同一介质中时，两主点分别与两节点重合。设两薄透镜光屯、的位置 分别为^、L2,其像方焦距分别为冕和J，两透镜之间距离为d，则透镜组的像方焦距f ' 为：
[0022]
[0023] 组物方焦距与像方焦距大小相等，通过计算可得出系统像方主 点和物 式决定：
[0024]
[0025] 式中P'是第二透镜光屯、L2到像方主点的距离，P是从第一透镜光屯、^到物方主点的 距离。
[00%] 实施例1:如图1所示，选择焦距分别为100.0 mm及-100.0 mm的两透镜，镜间距(/ = 50.0臟，组成光具组，根据理论计算可得：'护=-100.0 mm，.沪=200臟。根据理论值摆放 仪器各元件的位置，平行光入射，W左侧支架为转轴，调节右侧移动滑座的测微手轮，观察 像的移动方向，根据像的移动方向，进一步调节左侧支架的位置，直到调节右侧移动滑座的 测微手轮时，像不动。此时左侧支架所在的位置即为节点的位置。
[0027] 实施例2:如图1所示，选择焦距分别为75.0 mm及60.0 mm的两透镜，镜间距rf''.= 210.0 mm，组成光具组，根据理论计算可得:丑*'= -168.0 mm，/*'= -60.0 mm。根据理论值摆 放仪器各元件的位置，平行光入射，W右侧为转轴，调节左侧移动滑座的测微手轮，观察像 的移动方向，根据像的移动方向，进一步调节右侧支架的位置，直到调节左侧移动滑座的测 微手轮时，像不动。此时右侧支架所在的位置即为节点的位置。
[0028] 与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
[0029] 本实用新型通过把支架改为两个，增强仪器的稳定性；同时每个支架采用两段式 设计的结构，可360°自由转动，每个支架还均可作为转轴，扩大仪器测量范围；光具组采用 商品化的带框透镜，透镜光屯、易于标定，运样使得测定仪成像清晰，减小仪器系统误差。
[0030] 显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型所作的举例，而 并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明 的基础上还可W做出其它不同形式的变化或变动。运里无需也无法对所有的实施方式予W 穷举。凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在 本实用新型权利要求的保护范围之内。
【主权项】
1. 一种光具组基点测定仪，其特征在于，包括光具组(4)、轨道(3)、支架（1)以及移动滑 座(6)，所述光具组(4)设置在所述轨道(3)上，所述轨道(3)通过支架（1)固定，所述支架（1) 安装在所述移动滑座(6)上，所述支架（1)以及所述移动滑座(6)均为2个，所述光具组(4)包 括两个透镜(5)，且所述透镜(5)光心同轴。2. 根据权利要求1所述的光具组基点测定仪，其特征在于，所述支架（1)为两段式结构， 且所述支架（1)的两段式结构通过制动螺钉（2)固定连接，所述支架（1)的顶部设有托架 (8)，所述轨道(3)通过放置在所述托架(8)内达到固定在所述支架(1)上。3. 根据权利要求2所述的光具组基点测定仪，其特征在于，所述轨道(3)的横截面为凹 字形结构，所述轨道(3)的外侧面上设有刻度。4. 根据权利要求2或3所述的任一项光具组基点测定仪，其特征在于，所述透镜(5)的光 心设有标记，且所述透镜(5)的外侧设有镜框，且所述镜框的宽度为2.5mm。5. 根据权利要求4所述的光具组基点测定仪，其特征在于，所述移动滑座(6)上还设有 测微手轮(7)。
【专利摘要】本实用新型涉及提供一种光具组基点测定仪，包括光具组、轨道、支架以及移动滑座，所述光具组设置在所述轨道上，所述轨道通过支架固定，所述支架安装在所述移动滑座上，所述支架以及所述移动滑座均为2个，所述光具组包括两个透镜，且所述透镜光心同轴。本实用新型通过把支架改为两个，增强仪器的稳定性，并且可根据使用者的习惯来自由调节测定仪的整个高度；同时每个支架采用两段式设计的结构，可360°自由转动，每个支架还均可作为转轴，扩大仪器测量范围；光具组采用商品化的带框透镜，透镜光心易于标定，这样使得测定仪成像清晰，减小仪器系统误差。
【IPC分类】G09B23/22
【公开号】CN205318722
【申请号】CN201520974724
【发明人】梁枫, 邹长伟, 谢伟, 李松权
【申请人】岭南师范学院
【公开日】2016年6月15日
【申请日】2015年12月1日