具有减小的偏振相关损耗的硅基光电集成电路的制作方法与工艺

技术总结
通过策略性地将光电检测器件放置得尽可能靠近光信号进到光电电路布置中的进入点，硅基光电电路被形成为表现出减小的偏振相关损耗。虽然传入光信号将包括TE和TM模式两者，通过使信号在到达光电检测器之前必须沿其传播的光波导路径的长度最小化，与TM模式信号相关联的衰减将可忽略。

技术研发人员：卡尔潘都·夏斯特里;雷蒙德·纳林格
受保护的技术使用者：思科技术公司
文档号码：201180060347
技术研发日：2011.12.14
技术公布日：2016.11.16