技术特征：
技术总结
本发明公开了一种显示面板检测方法及装置，其中方法包括：获取显示面板被预设光源照射时对应的灰阶图像，其中所述灰阶图像包括所述显示面板中的多个像素电极对应的像素电极图像；以及获取所述像素电极图像对应的灰阶范围；调用预设灰阶范围与像素电极类别的预设对应关系；根据所述预设对应关系和灰阶范围识别所述像素电极图像对应的像素电极类别。该检测方法利用灰阶识别出不同类型的像素电极，同时该方法适合反射光或透射光，降低了检测设备设计时对光源的要求。此外，该方法是通过软件实现，无需增加硬件成本。
技术研发人员：李进
受保护的技术使用者：惠科股份有限公司;重庆惠科金渝光电科技有限公司
技术研发日：2017.06.30
技术公布日：2017.09.08