一种阵列基板、其检测方法、显示面板及显示装置与流程

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种阵列基板、其检测方法、显示面板及显示装置。

背景技术：

随着显示技术的飞速发展，显示器越来越向着高集成度和低成本的方向发展。其中，goa(gatedriveronarray，阵列基板行驱动)技术将tft(thinfilmtransistor，薄膜晶体管)栅极驱动电路集成在显示面板的阵列基板上以形成对显示面板的扫描驱动，从而可以省去栅极集成电路(ic，integratedcircuit)的绑定(bonding)区域以及扇出(fan-out)区域的布线空间，不仅可以在材料成本和制作工艺两方面降低产品成本，而且可以使显示面板做到两边对称和窄边框的美观设计；并且，这种集成工艺还可以省去栅极扫描线方向的bonding工艺，从而提高了产能和良率。

现有的阵列基板一般包括：多条栅线以及与各条栅线连接的goa电路；其中，goa电路由多个级联的移位寄存器构成，用于依次向各条栅线输入扫描信号，以控制每行栅线对应的像素开启。在工艺制备流程中，为了保证阵列基板上形成的goa电路能够正常工作，一般需要对goa电路输出的各个扫描信号进行检测。然而，由于阵列基板的布线限制，并不能针对goa电路输出的每一个扫描信号分别设置一条走线以将扫描信号输出并用于检测，一般仅针对最前几个移位寄存器与最后几个移位寄存器输出的扫描信号进行布线，导致仅能针对部分区域的扫描信号进行检测，从而在除上述部分区域之外的其余区域的扫描信号出现不良情况时将无法进行检测，进而导致不利于检测全部的扫描信号。

技术实现要素：

本发明实施例提供一种阵列基板、其检测方法、显示面板及显示装置，用以解决现有技术中不利于检测阵列基板上全部扫描信号的问题。

因此，本发明实施例提供了一种阵列基板，包括：多条栅线；还包括：与各所述栅线一一对应的信号输出单元以及与各所述栅线交叉且绝缘设置的2n条信号传输线，n为正整数；将所有所述信号输出单元分为2n个单元组，同一单元组中的各信号输出单元分别与间隔2n-1行的栅线连接，且同一所述单元组连接同一信号传输线，不同单元组连接不同信号传输线；

各所述信号输出单元用于在连接的栅线上输入的扫描信号的有效电压大于预设阈值电压时，将所述扫描信号输出给连接的信号传输线。

优选地，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，各所述信号输出单元包括：开关晶体管，所述预设阈值电压为所述开关晶体管的阈值电压；

所述开关晶体管的栅极与源极均与对应的栅线连接，所述开关晶体管的漏极与对应的信号传输线连接。

优选地，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，所述阵列基板还包括：与各所述栅线交叉且绝缘设置的多条数据线，各所述信号传输线与各所述数据线同层同材质。

优选地，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，所述阵列基板还包括：位于所述阵列基板的非显示区域且与各所述信号传输线一一对应电连接的测试端子。

优选地，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，n＝1，所述阵列基板还包括：一个栅极驱动电路；所述栅极驱动电路包括级联的多级移位寄存器，且各级所述移位寄存器分别对应连接一条所述栅线。

优选地，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，n＝2，所述阵列基板还包括：两个栅极驱动电路；各所述栅极驱动电路包括级联的多级移位寄存器；

所述两个栅极驱动电路中的一个栅极驱动电路的各级移位寄存器分别对应连接奇数行的一条栅线，另一个栅极驱动电路的各级移位寄存器分别对应连接偶数行的一条栅线。

相应地，本发明实施例还提供了一种显示面板，包括本发明实施例提供的上述任一种阵列基板。

相应地，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括本发明实施例提供的上述显示面板。

相应地，本发明实施例还提供了一种对本发明实施例提供的上述阵列基板的检测方法，包括：

将各外部测试探针与各信号传输线一一对应导通，并控制所述栅极驱动电路依次向连接的栅线输入扫描信号，获取各所述信号传输线上对应的信号；其中，针对一条栅线，在所述栅线上的扫描信号的有效电压大于预设阈值电压时，与所述栅线连接的信号输出单元将所述扫描信号输出给连接的信号传输线。

优选地，在本发明实施例提供的上述检测方法中，在获取各所述信号传输线上对应的信号之后还包括：采用示波器针对每一条信号传输线，将获取到的所述信号传输线上信号的波形与预设标准信号的波形进行比较，确定所述信号传输线信号中的异常波形；

根据确定出的异常波形确定所述异常波形对应的扫描信号，并根据确定出的扫描信号确定对应的栅极驱动电路中移位寄存器的级数。

本发明有益效果如下：

本发明实施例提供的阵列基板、其检测方法、显示面板及显示装置，通过设置与每一条栅线连接的信号输出单元，以将每一条栅线上输入的扫描信号输出，以及设置2n条信号传输线并将所有信号输出单元分为2n个单元组，使每个单元组一一对应连接一条信号传输线，以将同一个单元组中的所有信号输出单元输出的扫描信号通过一条信号传输线输出给外部的检测装置，即同一个单元组中的所有信号输出单元共用一条信号传输线，从而可以设置较少的信号传输线将全部栅线上的扫描信号输出给外部的检测装置以实现对全部扫描信号的检测。并且由于设置的信号传输线较少，还可以节省阵列基板的走线布局空间以及降低工艺制备难度。

附图说明

图1a为本发明实施例提供的阵列基板的结构示意图之一；

图1b为本发明实施例提供的阵列基板的结构示意图之二；

图2a为图1a所示的阵列基板的具体结构示意图之一；

图2b为图1b所示的阵列基板的具体结构示意图之二；

图3a为图2a所示的阵列基板的信号时序示意图；

图3b为图2b所示的阵列基板的信号时序示意图；

图4为本发明实施例提供的检测方法的流程图。

具体实施方式

为了使本发明的目的，技术方案和优点更加清楚，下面结合附图，对本发明实施例提供的阵列基板、其驱动方法、显示面板及显示装置的具体实施方式进行详细地说明。应当理解，下面所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。并且在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

附图中各图形的大小和形状等均不反映阵列基板的真实比例，目的只是示意说明本发明内容。

本发明实施例提供了一种阵列基板，如图1a与图1b(图1a以n＝1为例，图1b以n＝2为例)所示，包括：多条栅线gate_m(m＝1、2、3…m；m为阵列基板中栅线的总数)；与各栅线gate_m一一对应的信号输出单元100以及与各栅线gate_m交叉且绝缘设置的2n条信号传输线200_n(n＝1、2、3…2n)，n为正整数；将所有信号输出单元100分为2n个单元组300_n，同一单元组300_n中的各信号输出单元100分别与间隔2n-1行的栅线连接，且同一单元组300_n连接同一信号传输线200_n，不同单元组连接不同信号传输线；

各信号输出单元100用于在连接的栅线gate_m上输入的扫描信号的有效电压大于预设阈值电压时，将扫描信号输出给连接的信号传输线200_n。

本发明实施例提供的上述阵列基板，通过设置与每一条栅线连接的信号输出单元，以将每一条栅线上输入的扫描信号输出，以及设置2n条信号传输线并将所有信号输出单元分为2n个单元组，使每个单元组一一对应连接一条信号传输线，以将同一个单元组中的所有信号输出单元输出的扫描信号通过一条信号传输线输出给外部的检测装置，即同一个单元组中的所有信号输出单元共用一条信号传输线，从而可以设置较少的信号传输线将全部栅线上的扫描信号输出给外部的检测装置以实现对全部扫描信号的检测。并且由于设置的信号传输线较少，还可以节省阵列基板的走线布局空间以及降低工艺制备难度。

在具体实施时，本发明实施例提供的上述阵列基板还可以包括设置各栅线以及各信号输出单元的衬底基板。

一般阵列基板中具有多个像素单元，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，扫描信号的有效脉冲信号可以打开对应行栅线连接的各像素单元。该扫描信号的有效脉冲信号的电压即为其有效电压，该有效电压可以为高电压，或者也可以为低电压，在此不作限定。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，如图2a与图2b所示，各信号输出单元100具体可以包括：开关晶体管m0，预设阈值电压为开关晶体管m0的阈值电压；

开关晶体管m0的栅极与源极均与对应的栅线连接，开关晶体管m0的漏极与对应的信号传输线连接。其中，该开关晶体管m0可以是薄膜晶体管(tft，thinfilmtransistor)，也可以是金属氧化物半导体场效应管(mos，metaloxidescmiconductor)，在此不作限定。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，如图2a与图2b所示，开关晶体管m0可以为n型晶体管。当然，开关晶体管也可以为p型晶体管，在此不作限定。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，开关晶体管在其栅极的信号的电压大于其阈值电压vth时导通，在其栅极的信号的电压小于或等于其阈值电压vth时截止。在实际应用中，阈值电压vth可以为0.7v，当然该阈值电压也可以为其它电压值，这需要根据实际应用环境来设计确定，在此不作限定。

以上仅是举例说明本发明实施例提供的信号输出单元的具体结构，在具体实施时，信号输出单元的具体结构不限于本发明实施例提供的上述结构，还可以是本领域技术人员可知的其他结构，在此不作限定。

一般在阵列基板中设置用于与外部测试装置连接的测试端子来输出信号的，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，如图1a至图2b所示，阵列基板还可以包括：位于阵列基板的非显示区域且与各信号传输线200_n一一对应电连接的测试端子400。这样可以通过测试端子将信号传输线上的信号输出给外部测试装置。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，如图1a与图2a所示，阵列基板还可以包括：一个栅极驱动电路goa；栅极驱动电路goa包括级联的多级移位寄存器sr(m)，且各级移位寄存器sr(m)分别对应连接一条栅线gate_m。该栅极驱动电路依次向连接的栅线输入扫描信号，如图3a所示，相邻两行栅线gate_m与gate_m+1输入的扫描信号gate_m与gate_m+1的有效电平无交叠。其中，如图1a与图2a所示，可以使n＝1，此时阵列基板中包括2条信号传输线且所有的信号输出单元被划分为2个单元组。这样在阵列基板设置一个栅极驱动电路时可以使设置的信号传输线的个数最少。当然，也可以使n＝2，此时阵列基板中包括4条信号传输线且所有的信号输出单元被划分为4个单元组。或者也可以使n＝3，此时阵列基板中包括6条信号传输线且所有的信号输出单元被划分为6个单元组。当然，在实际应用中，信号传输线个数的设置需要根据实际应用环境来设计确定，在此不作限定。

或者，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，如图1b与图2b所示，阵列基板还可以包括：两个栅极驱动电路goa_p(p＝1、2)；各栅极驱动电路goa_p包括级联的多级移位寄存器

两个栅极驱动电路中的一个栅极驱动电路goa_1的各级移位寄存器sr(1_k)分别对应连接奇数行的一条栅线，另一个栅极驱动电路goa_1的各级移位寄存器sr(2_k)分别对应连接偶数行的一条栅线。这两个栅极驱动电路依次向连接的栅线输入扫描信号，如图3b所示，相邻两行栅线gate_m与gate_m+1输入的扫描信号gate_m与gate_m+1的有效电平具有交叠，且使间隔一条栅线的两条栅线gate_m与gate_m+2输入的扫描信号gate_m与gate_m+2的有效电平无交叠。其中，如图1b与图2b所示，可以使n＝2，此时阵列基板中包括4条信号传输线且所有的信号输出单元被划分为4个单元组。这样在阵列基板设置两个栅极驱动电路时可以使设置的信号传输线的个数最少。当然，也可以使n＝3，此时阵列基板中包括6条信号传输线且所有的信号输出单元被划分为6个单元组。当然，在实际应用中，信号传输线个数的设置需要根据实际应用环境来设计确定，在此不作限定。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，栅极驱动电路中的第一极移位寄存器的输入信号端与帧触发信号端相连，除第一极移位寄存器之外，其余各级移位寄存器的输入信号端分别与其相邻的上一级移位寄存器的输出信号端相连。这样可以采用上一级输出的扫描信号作为下一级移位寄存器的输入信号，已触发下一级移位寄存器进行移位输出。在实际应用中，各级移位寄存器输出的扫描信号的有效脉冲信号一般由时钟信号输出。在上一级移位寄存器输出的扫描信号为正常信号时，下一级移位寄存器可以正常移位输出扫描信号。在上一级移位寄存器输出的扫描信号为异常信号时，若该异常信号的有效电压满足预设电压范围，在误差允许的情况下，不会使下一级移位寄存器移位输出异常的扫描信号；若该异常信号的有效电压不满足预设电压范围，下一级移位寄存器输出的扫描信号才会移位输出异常的扫描信号或者输出为零电压的信号。在实际应用中，移位寄存器的结构和工作过程与现有技术中的移位寄存器基本相同，其具体组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解具有的，在此不做赘述，也不应作为对本发明的限制。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，各栅极驱动电路、各信号传输线以及各信号输出单元均设置于阵列基板的非显示区域中。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，如图1a至图2b所示，阵列基板还可以包括：与各栅线gate_m交叉且绝缘设置的多条数据线data，各信号传输线200_n与各数据线data可以同层同材质。这样可以不需要增加额外的制备各信号传输线200_n的工序，只需要通过一次构图工艺即可形成各信号传输线200_n和各数据线data的图形，能够简化制备工艺，节省生产成本，提高生产效率。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述阵列基板中，如图1a至图2b所示，各信号传输线200_n与各数据线data平行设置。当然，各信号传输线200_n也可以不与数据线data平行设置，在此不作限定。

在实际应用中，外部检测装置可以为示波器。当然，外部检测装置也可以为其它能够用于分析和研究全部扫描信号的装置，在此不作限定。

下面以图2a与图2b所示的阵列基板的结构为例，结合信号时序图对本发明实施例提供的阵列基板在检测时的工作过程进行说明。并且下面均是以各扫描信号的有效电压为高电压并且各扫描信号的有效电压均大于开关晶体管m0的阈值电压vth，以及栅线gate_7输入扫描信号gate_7为异常信号为例进行说明。

实施例一、

以图2a所示的阵列基板为例，输入该阵列基板中的各栅线gate_m的扫描信号gate_m如图3a所示。在图3a中，sn_1代表信号传输线200_1上的信号，sn_2代表信号传输线200_2上的信号。

在栅线gate_1输入的扫描信号gate_1为有效电压时，由于扫描信号gate_1的有效电压大于开关晶体管m0的阈值电压vth，因此栅线gate_1连接的开关晶体管m0将扫描信号gate_1输出给信号传输线200_1，以使此时信号传输线200_1上的信号sn_1为具有扫描信号gate_1的有效电压的信号。在栅线gate_2输入的扫描信号gate_2为有效电压时，由于扫描信号gate_2的有效电压大于开关晶体管m0的阈值电压vth，因此栅线gate_2连接的开关晶体管m0将扫描信号gate_2输出给信号传输线200_2，以使此时信号传输线200_2上的信号sn_2为具有扫描信号gate_2的有效电压的信号。

同理，在栅线gate_3输入的扫描信号gate_3为有效电压时，信号传输线200_1上的信号sn_1为具有扫描信号gate_3的有效电压的信号。在栅线gate_4输入的扫描信号gate_4为有效电压时，信号传输线200_2上的信号sn_2为具有扫描信号gate_4的有效电压的信号。在栅线gate_5输入的扫描信号gate_5为有效电压时，信号传输线200_1上的信号sn_1为具有扫描信号gate_5的有效电压的信号。在栅线gate_6输入的扫描信号gate_6为有效电压时，信号传输线200_2上的信号sn_2为具有扫描信号gate_6的有效电压的信号。在栅线gate_7输入的扫描信号gate_7为有效电压时，信号传输线200_1上的信号sn_1为具有扫描信号gate_7的有效电压的信号。在栅线gate_8输入的扫描信号gate_8为有效电压时，信号传输线200_2上的信号sn_2为具有扫描信号gate_8的有效电压的信号。

另外，在其余栅线依次输入的扫描信号为有效电压时，若其余栅线输入的扫描信号的有效电压均大于开关晶体管m0的阈值电压vth时，则信号传输线200_n上的信号此时为具有这些扫描信号的有效电压的信号。若其余栅线中的一条栅线输入的扫描信号的有效电压小于或等于开关晶体管m0的阈值电压vth时，信号传输线200_n上的信号此时为零电压。

在针对上述阵列基板的全部扫描信号进行测试时，可以通过外部检测装置获取信号传输线200_1上的信号sn_1以及获取信号传输线200_2上的信号sn_2。之后可以采用示波器针对每一条信号传输线200_n，将获取到的信号传输线200_n上信号sn_n的波形与预设标准信号的波形进行比较，确定信号传输线200_n信号sn_n中的异常波形；并根据确定出的异常波形确定异常波形对应的扫描信号，以及根据确定出的扫描信号确定对应的栅极驱动电路中移位寄存器的级数。这样即可实现对全部扫描信号的分析和研究。

具体地，采用示波器针对信号传输线200_1，将获取到的信号传输线200_1上信号sn_1的波形与对应的预设标准信号的波形进行比较，确定信号传输线200_1信号sn_1中的异常波形；根据确定出的异常波形确定异常波形对应的扫描信号，信号sn_1中的异常波形对应扫描信号gate_7，从而可以根据确定出的扫描信号gate_7确定对应的栅极驱动电路goa中移位寄存器的级数，即对应栅极驱动电路goa中第七级移位寄存器sr(7)，从而可以得出第七级移位寄存器sr(7)输出异常。并且，采用示波器针对信号传输线200_2，将获取到的信号传输线200_2上信号sn_2的波形与对应的预设标准信号的波形进行比较，可以确定信号传输线200_2信号sn_2中无异常波形。

另外，还可以通过外部检测装置对全部扫描信号的延时进行分析与研究。

实施例二、

以图2b所示的阵列基板为例，输入该阵列基板中的各栅线gate_m的扫描信号gate_m如图3b所示。在图3b中，sn_1代表信号传输线200_1上的信号，sn_2代表信号传输线200_2上的信号，sn_3代表信号传输线200_3上的信号，sn_4代表信号传输线200_4上的信号。

在栅线gate_1输入的扫描信号gate_1为有效电压时，由于扫描信号gate_1的有效电压大于开关晶体管m0的阈值电压vth，因此栅线gate_1连接的开关晶体管m0将扫描信号gate_1输出给信号传输线200_1，以使此时信号传输线200_1上的信号sn_1为具有扫描信号gate_1的有效电压的信号。在栅线gate_2输入的扫描信号gate_2为有效电压时，由于扫描信号gate_2的有效电压大于开关晶体管m0的阈值电压vth，因此栅线gate_2连接的开关晶体管m0将扫描信号gate_2输出给信号传输线200_2，以使此时信号传输线200_2上的信号sn_2为具有扫描信号gate_2的有效电压的信号。在栅线gate_3输入的扫描信号gate_3为有效电压时，由于扫描信号gate_3的有效电压大于开关晶体管m0的阈值电压vth，因此栅线gate_3连接的开关晶体管m0将扫描信号gate_3输出给信号传输线200_3，以使此时信号传输线200_3上的信号sn_3为具有扫描信号gate_3的有效电压的信号。在栅线gate_4输入的扫描信号gate_4为有效电压时，由于扫描信号gate_4的有效电压大于开关晶体管m0的阈值电压vth，因此栅线gate_4连接的开关晶体管m0将扫描信号gate_4输出给信号传输线200_4，以使此时信号传输线200_4上的信号sn_4为具有扫描信号gate_4的有效电压的信号。

同理，在栅线gate_5输入的扫描信号gate_5为有效电压时，信号传输线200_1上的信号sn_1为具有扫描信号gate_5的有效电压的信号。在栅线gate_6输入的扫描信号gate_6为有效电压时，信号传输线200_2上的信号sn_2为具有扫描信号gate_6的有效电压的信号。在栅线gate_7输入的扫描信号gate_7为有效电压时，信号传输线200_3上的信号sn_3为具有扫描信号gate_7的有效电压的信号。在栅线gate_8输入的扫描信号gate_8为有效电压时，信号传输线200_4上的信号sn_4为具有扫描信号gate_8的有效电压的信号。

另外，在其余栅线依次输入的扫描信号为有效电压时，若其余栅线输入的扫描信号的有效电压均大于开关晶体管m0的阈值电压vth时，则信号传输线200_n上的信号此时为具有这些扫描信号的有效电压的信号。若其余栅线中的一条栅线输入的扫描信号的有效电压小于或等于开关晶体管m0的阈值电压vth时，信号传输线200_n上的信号此时为零电压。

在针对上述阵列基板的全部扫描信号进行测试时，可以通过外部检测装置获取信号传输线200_1上的信号sn_1、获取信号传输线200_2上的信号sn_2、获取信号传输线200_3上的信号sn_3以及获取信号传输线200_4上的信号sn_4。之后可以采用示波器针对每一条信号传输线200_n，将获取到的信号传输线200_n上信号sn_n的波形与预设标准信号的波形进行比较，确定信号传输线200_n信号sn_n中的异常波形；并根据确定出的异常波形确定异常波形对应的扫描信号，以及根据确定出的扫描信号确定对应的栅极驱动电路中移位寄存器的级数。这样即可实现对全部扫描信号的分析和研究。

具体地，采用示波器针对信号传输线200_1，将获取到的信号传输线200_1上信号sn_1的波形与对应的预设标准信号的波形进行比较，可以确定信号传输线200_1信号sn_1中无异常波形。采用示波器针对信号传输线200_2，将获取到的信号传输线200_2上信号sn_2的波形与对应的预设标准信号的波形进行比较，可以确定信号传输线200_2信号sn_2中无异常波形。采用示波器针对信号传输线200_3，将获取到的信号传输线200_3上信号sn_3的波形与对应的预设标准信号的波形进行比较，确定信号传输线200_3信号sn_3中的异常波形；根据确定出的异常波形确定异常波形对应的扫描信号，即可确定信号sn_3中的异常波形对应扫描信号gate_7，从而可以根据确定出的扫描信号gate_7确定对应的栅极驱动电路goa_1中移位寄存器的级数，即对应栅极驱动电路goa_1中的第四级移位寄存器sr(1_4)，从而可以得出第四级移位寄存器sr(1_4)输出异常。并且，采用示波器针对信号传输线200_4，将获取到的信号传输线200_4上信号sn_4的波形与对应的预设标准信号的波形进行比较，可以确定信号传输线200_4信号sn_4中无异常波形。

另外，还可以通过外部检测装置对全部扫描信号的延时进行分析与研究。

在实际应用中，每个信号传输线上的信号一一对应一个预设标准信号。各预设标准信号分别为对应的信号传输线所连接的开关晶体管对应的栅线上的扫描信号的有效脉冲信号的叠加。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种对本发明实施例提供的上述阵列基板的检测方法，如图4所示，包括：

s401、将各外部测试探针与各信号传输线一一对应导通，并控制栅极驱动电路依次向连接的栅线输入扫描信号，获取各信号传输线上对应的信号；其中，针对一条栅线，在栅线上的扫描信号的有效电压大于预设阈值电压时，与栅线连接的信号输出单元将扫描信号输出给连接的信号传输线。

在具体实施时，在本发明实施例提供的上述检测方法中，在获取各信号传输线上对应的信号之后还包括：采用示波器针对每一条信号传输线，将获取到的信号传输线上信号的波形与预设标准信号的波形进行比较，确定信号传输线信号中的异常波形；

根据确定出的异常波形确定异常波形对应的扫描信号，并根据确定出的扫描信号确定对应的栅极驱动电路中移位寄存器的级数。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示面板，包括本发明实施例提供的上述任一种阵列基板。该显示面板解决问题的原理与前述阵列基板相似，因此该显示面板的实施可以参见上述阵列基板的实施，重复之处在此不再赘述。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括本发明实施例提供的上述显示面板。该显示装置可以为：手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。对于该显示装置的其它必不可少的组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解具有的，在此不做赘述，也不应作为对本发明的限制。该显示装置的实施可以参见上述阵列基板的实施例，重复之处不再赘述。

本发明实施例提供的阵列基板、其检测方法、显示面板及显示装置，通过设置与每一条栅线连接的信号输出单元，以将每一条栅线上输入的扫描信号输出，以及设置2n条信号传输线并将所有信号输出单元分为2n个单元组，使每个单元组一一对应连接一条信号传输线，以将同一个单元组中的所有信号输出单元输出的扫描信号通过一条信号传输线输出给外部的检测装置，即同一个单元组中的所有信号输出单元共用一条信号传输线，从而可以设置较少的信号传输线将全部栅线上的扫描信号输出给外部的检测装置以实现对全部扫描信号的检测。并且由于设置的信号传输线较少，还可以节省阵列基板的走线布局空间以及降低工艺制备难度。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。