液晶显示面板的光配向方法与流程

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种液晶显示面板的光配向方法。

背景技术：

液晶显示器(liquidcrystaldisplay，lcd)具有机身薄、省电、无辐射等众多优点，得到了广泛的应用，如液晶电视、移动电话、个人数字助理、数字相机、计算机屏幕或笔记本电脑屏幕等。

现有的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器，其包括壳体、设于壳体内的液晶面板及设于壳体内的背光模组。通常液晶面板由一彩色滤光片基板(colorfilter，cf)、一薄膜晶体管阵列基板(thinfilmtransistorarraysubstrate，tftarraysubstrate)以及一填充于两基板间的液晶层(liquidcrystallayer)所构成，其工作原理是通过在cf基板和tft基板上施加驱动电压来控制液晶层的液晶分子的旋转，控制光的输出量，将背光模组的光线折射出来产生画面。

在液晶显示面板的制作过程中，对液晶进行配向是一项重要工艺，通过配向工艺来实现液晶分子按照特定的方向与角度排列。在tft-lcd生产中，有两种配向方法：摩擦配向和光配向。摩擦配向为物理方法，会产生静电和颗粒的污染。光配向是一种非接触式的配向技术，利用线偏振光透过光罩照射在对光敏感的高分子聚合物配向膜上，在配向膜表面形成一定倾斜角度的配向微结构达到配向效果。

具体地，现有的光配向过程为：先在液晶层中掺入一定比例的高纯度反应型液晶(趋光性单体)，然后在cf基板和tft基板之间施加一个配向电压，促使液晶分子产生一个预倾角度，并且对应像素不同的畴，液晶分子倾向方向不同，随后用特定波长范围内的紫外(uv)光从tft基板一侧照射所述反应型液晶，使得反应型液晶聚合成高分子网络吸引表层的液晶分子形成固定的预倾角。在实际制程中，预倾角度的大小主要受到配向电压(curingvoltage)、配向时长(curingtime)、及uv光强度三个因素的影响，不同制程线体中，由于机台的差异，会使得相同配向参数下的各个机台实际的配向电压和uv光强度仍有所差异，从而使产品出现预倾角的角度不均匀的现象，导致液晶显示面板出现碎亮点等问题，降低产品制程良率。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种液晶显示面板的光配向方法，能够减小配向机台的配向电压和uv光强度的差异，避免液晶显示面板出现预倾角的角度不均匀的现象，提升产品制程良率。

为实现上述目的，本发明提供一种液晶显示面板的配向方法，包括如下步骤：

步骤s1、提供至少两个配向机台，选定所述至少两个配向机台中的一个配向机台为参考配向机台，其余配向机台为待调试配向机台；所述参考配向机台的配向参数与所述待调试配向机台的配向参数不同；

步骤s2、利用参考配向机台对液晶显示面板进行配向，使得液晶显示面板的液晶达到目标预倾角；

步骤s3、利用uv光强度侦测仪和配向电压侦测仪分别侦测所述参考配向机台的实际uv光强度和实际配向电压；

步骤s4、根据所述参考配向机台的实际uv光强度和实际配向电压调整所述待调试配向机台的配向参数，使得所述待调试配向机台的实际uv光强度和实际配向电压与所述参考配向机台的实际uv光强度和实际配向电压相同。

所述配向参数包括uv光强度参数和配向电压参数。

可选地，所述步骤s4包括：

调整所述待调试配向机台的配向参数，并通过uv光强度侦测仪和配向电压侦测仪侦测所述待调试配向机台的实际uv光强度和实际配向电压，直到所述待调试配向机台的实际uv光强度和实际配向电压与所述参考配向机台的uv光强度和实际配向电压相同。

可选地，所述步骤s4包括：

根据所述参考配向机台的实际uv光强度和实际配向电压，从预设的待调试配向机台的配向参数与uv光强度及配向电压的映射关系中查找到对应的待调试配向机台的配向参数；

根据所述查找到的待调试配向机台的配向参数调整所述待调试配向机台，使得所述待调试配向机台的实际uv光强度和实际配向电压与所述参考配向机台的实际uv光强度和实际配向电压相同。

可选地，所述方法还包括：

预设待调试配向机台的配向参数与uv光强度及配向电压的映射关系；各个待调试配向机台的配向参数与uv光强度及配向电压的映射关系不同。

所述预设待调试配向机台的配向参数与uv光强度及配向电压的映射关系的步骤包括：

通过uv光强度侦测仪和配向电压侦测仪侦测所述待调试配向机台在不同的配向参数下的实际uv光强度和实际配向电压；

根据所述待调试配向机台的配向参数及该配向参数对应的实际uv光强度和实际配向电压，生成该待调试配向机台的配向参数与uv光强度及配向电压的映射关系。

可选地，所述方法还包括：

判断所述配向机台是否达到预设的补偿量测条件；

在所述配向机台达到预设的补偿量测条件时，通过所述uv光强度侦测仪和配向电压侦测仪侦测所述配向机台的实际的uv光强度和实际配向电压；

在所述配向机台的实际的uv光强度和实际配向电压与步骤3中侦测的所述参考配向机台的实际uv光强度和实际配向电压不同时，对所述配向机台的配向参数进行调整，使得所述配向机台的实际uv光强度和实际配向电压与步骤3中侦测的所述参考配向机台的实际uv光强度和实际配向电压相同。

可选地，所述步骤s5包括：

监控通过所述配向机台配向的液晶显示面板的液晶的预倾角；

当所述液晶显示面板的液晶的预倾角与目标预倾角之间的差值超过预设的偏差阈值时，判定所述配向机台达到预设的补偿量测条件，否则判定所述配向机台未达到预设的补偿量测条件。

可选地，所述步骤s5包括：

预设补偿量测时长；

在每一次配向机台的配向参数调整后开始计时；

当计时的时长超过预设的补偿量测时长时，判定所述配向机台达到预设的补偿量测条件，否则判定所述配向机台未达到预设的补偿量测条件。

本发明的有益效果：本发明提供一种液晶显示面板的光配向方法，该方法利用uv光强度侦测仪和配向电压侦测仪分别侦测参考配向机台的使得液晶显示面板的液晶达到目标预倾角时的实际uv光强度和实际配向电压，并根据所述参考配向机台的实际uv光强度和实际配向电压调整所述待调试配向机台的配向参数，使得所述待调试配向机台的实际uv光强度和实际配向电压与所述参考配向机台的实际uv光强度和实际配向电压相同，能够减小配向机台的配向电压和uv光强度的差异，避免液晶显示面板出现预倾角的角度不均匀的现象，提升产品制程良率。

附图说明

为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。

附图中，

图1为本发明的液晶显示面板的光配向方法中通过uv光强度侦测仪和配向电压侦测仪侦测配向机台的实际的uv光强度和配向电压时的示意图；

图2为本发明的液晶显示面板的光配向方法的流程图。

具体实施方式

为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。

请参阅图1和图2，本发明提供一种液晶显示面板的配向方法，包括如下步骤：

步骤s1、提供至少两个配向机台1，选定所述至少两个配向机台1中的一个配向机台1为参考配向机台，其余配向机台1为待调试配向机台；所述参考配向机台的配向参数与所述待调试配向机台的配向参数不同。

具体地，所述参考配向机台的配向参数与所述待调试配向机台的配向参数不同是指，所述参考配向机台使得液晶显示面板达到目标预倾角的配向参数与所述待调试配向机台使得液晶显示面板达到目标预倾角的配向参数不同。

进一步地，所述配向参数包括：uv光强度参数和配向电压参数，分别用于控制所述配向机台的uv光强度和配向电压。

步骤s2、利用参考配向机台对液晶显示面板进行配向，使得液晶显示面板的液晶达到目标预倾角。

优选地，所述液晶显示面板为垂直配向(verticalalignment，va)型液晶显示面板。所述液晶显示面板的液晶材料中混合有能够在uv光照射下发生聚合反应的趋光性单体，可通过所述配向机台进行uv光配向。配向时，所述配向机台1先向所述液晶显示面板施加与配向电压，然后配向机台1发出uv光，利用所述uv光照射所述待配向液晶显示面板，使得液晶显示面板形成所需的预倾角。

步骤s3、利用uv光强度侦测仪2和配向电压侦测仪3分别侦测所述参考配向机台的实际uv光强度和实际配向电压。

步骤s4、根据所述参考配向机台的实际uv光强度和实际配向电压调整所述待调试配向机台的配向参数，使得所述待调试配向机台的实际uv光强度和实际配向电压与所述参考配向机台的实际uv光强度和实际配向电压相同。

具体地，在本发明的第一实施例中，所述步骤s4包括：调整所述待调试配向机台的配向参数，并通过uv光强度侦测仪和配向电压侦测仪侦测所述待调试配向机台的实际uv光强度和实际配向电压，直到所述待调试配向机台的实际uv光强度和实际配向电压与所述参考配向机台的实际uv光强度和实际配向电压相同。

举例来说，在本发明的第一实施例中，提供2个配向机台，分别定义为配向机台a和配向机台b，然后选定配向机台a为参考配向机台，配向机台b为待调试配向机台，再利用配向机台a对液晶显示面板进行配向，使得液晶显示面板的液晶达到目标预倾角，接着利用uv光强度侦测仪2和配向电压侦测仪3分别测得此时所述配向机台a的实际uv光强度为l和实际配向电压为v，然后，调整所述配向机台b的配向参数，同时测量所述配向机台b的实际uv光强度和实际配向电压，若所述配向机台b的实际uv光强度不等于l和实际配向电压不等于v，则继续调整配向参数，直至所述所述配向机台b的实际uv光强度等于l和实际配向电压等于v。

进一步地，具体调整时，可先将配向机台b的配向参数调整到与所述参考配向机台a的配向参数相同，再通过uv光强度侦测仪和配向电压侦测仪侦测所述待调试配向机台的实际uv光强度和实际配向电压，比较所述配向机台b的实际uv光强度是否等于l和实际配向电压是否等于v，若不等，则继续变化所述配向机台b的配向参数，直至所述配向机台b的实际uv光强度等于l和实际配向电压等于v。

调整后，配向机台a和配向机台b在实际配向过程中产生的实际uv光强度均等于l和实际配向电压均等于v，减少了配向机台之间的差异性，保证了通过配向机台a和配向机台b配向得到的液晶显示面板的预倾角的均匀性。

具体地，在本发明的第二实施例中，所述步骤s4包括：根据所述参考配向机台的实际uv光强度和实际配向电压，从预设的待调试配向机台的配向参数与uv光强度及配向电压的映射关系中查找到对应的待调试配向机台的配向参数；根据所述查找到的待调试配向机台的配向参数调整所述待调试配向机台，使得所述待调试配向机台的实际uv光强度和实际配向电压与所述参考配向机台的uv光强度和实际配向电压相同。

进一步地，在本发明的第二实施例中，所述液晶显示面板的配向方法还包括：预设待调试配向机台的配向参数与uv光强度及配向电压的映射关系；各个待调试配向机台的配向参数与uv光强度及配向电压的映射关系不同。

详细地，所述预设待调试配向机台的配向参数与uv光强度及配向电压的映射关系的步骤包括：

通过uv光强度侦测仪和配向电压侦测仪侦测所述待调试配向机台在不同的配向参数下的实际uv光强度和实际配向电压；

根据所述待调试配向机台的配向参数及该配向参数对应的实际uv光强度和实际配向电压，生成该待调试配向机台的配向参数与uv光强度及配向电压的映射关系。

举例来说，在本发明的第二实施例中，同样提供2个配向机台，分别为配向机台a和配向机台b，然后选定配向机台a为参考配向机台，配向机台b为待调试配向机台，再利用配向机台a对液晶显示面板进行配向，使得液晶显示面板的液晶达到目标预倾角，接着利用uv光强度侦测仪2和配向电压侦测仪3分别测得此时所述配向机台a的实际uv光强度为l和实际配向电压为v，然后从预设的呈现所述配向机台b的配向参数与uv光强度及配向电压的映射关系的参数表中查找到uv光强度等于l且配向电压等于v的配向参数，及使得配向机台b的uv光强度为l的uv光强度参数使得配向机台b的配向电压为v的配向电压参数，并将配向机台b调整到此配向参数下工作。

具体实施时，需要预先测量配向机台b在不同配向参数下的实际uv光强度和实际配向电压，得出呈现所述配向机台b的配向参数与uv光强度及配向电压的映射关系的参数表。

具体地，为了补偿因配向机台的老化而造成的uv光强度和配向电压的改变，所述液晶显示面板的配向方法还包括如下步骤：

判断所述配向机台是否达到预设的补偿量测条件；

在所述配向机台达到预设的补偿量测条件时，通过所述uv光强度侦测仪2和配向电压侦测仪3侦测所述配向机台的实际的uv光强度和实际配向电压；

在所述配向机台的实际的uv光强度和实际配向电压与步骤3中侦测的所述参考配向机台的实际uv光强度和实际配向电压不同时，对所述配向机台的配向参数进行调整，使得所述配向机台的实际uv光强度和实际配向电压与步骤3中侦测的所述参考配向机台的实际uv光强度和实际配向电压相同。

可选地，所述判断所述配向机台是否达到预设的补偿量测条件的步骤包括：

监控通过所述配向机台配向的液晶显示面板的液晶的预倾角；

当所述液晶显示面板的液晶的预倾角与目标预倾角之间的差值超过预设的偏差阈值时，判定所述配向机台达到预设的补偿量测条件，否则判定所述配向机台未达到预设的补偿量测条件。

举例来说，设定所述偏差阈值为x，步骤3中侦测到实际uv光强度和实际配向电压分别为l’和v’，即使得液晶显示面板达到目标预倾角所需要的实际uv光强度和实际配向电压分别为l’和v’，当监控到某一配向机台的配向后的实际液晶预倾角与目标预倾角之间的偏差为y，且y大于x时，判定达到该配向机台的补偿量测条件，重新测量此时该配向机台的实际uv光强度和实际配向电压，并比较此时配向机台的实际uv光强度是否等于l’和实际配向电压是否等于v’，若不等，则重新对该配向机台的配向参数进行调整，使得该配向机台的实际uv光强度等于l’和实际配向电压等于v’。

可选地，所述判断所述配向机台是否达到预设的补偿量测条件的步骤包括：

预设补偿量测时长；

在每一次待调试配向机台的配向参数调整后开始计时；

当计时的时长超过预设的补偿量测时长时，判定所述配向机台达到预设的补偿量测条件，否则判定所述配向机台未达到预设的补偿量测条件。

举例来说，设定所述补偿量测时长为一个月，步骤3中侦测到实际uv光强度和实际配向电压分别为l’和v’，即使得液晶显示面板达到目标预倾角所需要的实际uv光强度和实际配向电压分别为l’和v’，则每经过一个月，重新测量此时各个配向机台的实际uv光强度和实际配向电压，并比较此时各个配向机台的实际uv光强度是否等于l’和实际配向电压是否等于v’，若不等，则重新对该配向机台的配向参数进行调整，使得该配向机台的实际uv光强度等于l’和实际配向电压等于v’，若相等，则无需调整，继续以现有的配向参数正常工作即可。

进一步地，为了保证不同配向机台1之间的光强度侦测精度，本发明在每一个配向机台1均设有一光强度侦测位置，且各个配向机台1的光强度侦测位置均相同，所述uv光强度侦测仪2每一次侦测得到的所述配向机台1的实际uv光强度均为该配向机台1的光强度侦测位置处实际uv光强度，以减少因侦测的位置的不同而导致的误差，同时为了进一步提升精度，本发明中的所有uv光强度侦测和配向电压均通过同一台uv光强度侦测仪和同一台配向电压侦测仪完成，以减少因设备差异导致的误差。

应当理解的是，本发明的液晶显示面板的配向方法不受所述液晶显示面板的型号的限制，对于各种型号的液晶显示面板均可通过上述配向方法来调整各个配向机台的配向参数，从而减小配向机台的配向电压和uv光强度的差异，避免液晶显示面板出现预倾角的角度不均匀的现象，提升产品制程良率。

综上所述，本发明提供一种液晶显示面板的光配向方法，该方法利用uv光强度侦测仪和配向电压侦测仪分别侦测参考配向机台的使得液晶显示面板的液晶达到目标预倾角时的实际uv光强度和实际配向电压，并根据所述参考配向机台的实际uv光强度和实际配向电压调整所述待调试配向机台的配向参数，使得所述待调试配向机台的实际uv光强度和实际配向电压与所述参考配向机台的实际uv光强度和实际配向电压相同，能够减小配向机台的配向电压和uv光强度的差异，避免液晶显示面板出现预倾角的角度不均匀的现象，提升产品制程良率。

以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本发明权利要求的保护范围。