具有测量标记的液晶显示装置、测量密封线的设备和方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及液晶显示装置，更具体地，涉及在其虚设(dummy)区域上具有金属图案的液晶显示装置的密封线的检查设备和测量方法，以由人眼检测密封线。
【背景技术】
[0002]—般而言，由于轻重量、低功耗和高分辨率特点，液晶显示装置可以被用于电视的大尺寸显示装置以及移动电子产品的小尺寸显示装置。
[0003]液晶显示装置包括在其上具有薄膜晶体管和像素电极的下基板、在其上具有红色滤色器、绿色滤色器和蓝色滤色器的上部基板、以及在附接的下基板和上基板之间的液晶层。当通过将两个基板彼此附接来制造液晶显示装置时，驱动信号(即，选通信号)和数据信号被施加到显示区，以在液晶层中生成电场，然后液晶层的液晶分子通过电场在预定方向上布置，以控制来自背光的光的透射率，因此图像被显示在液晶显示装置中。
[0004]图1是示意性地例示了相关的液晶显示装置的结构的平面图。
[0005]如图1所示，该相关的液晶显示装置包括第一基板10、第二基板40、以及设置在第一基板10和第二基板40之间的液晶层。
[0006]在作为下基板的第一基板10上，垂直地设置有多条选通线24和数据线25，以限定多个像素区，在所述多个像素区中，设置有像素电极23和公共电极。在选通线24和数据线25的每个交叉部处，薄膜晶体管被设置为开关器件。此外，选通线24和数据线25的一个端部分别连接到选通焊盘24a和数据焊盘25a，使得驱动信号和数据信号从印刷电路板被施加到选通线24和数据线25。
[0007]第二基板40是上基板。未在图中示出，滤色器层和黑底设置在第二基板上，使得彩色图像被显示，并且可以阻挡穿过非图像显示区的光，以防止图像恶化。由于第二基板40的面积小于第一基板10的面积，因此第一基板10的虚设区由于从第二基板40延伸而暴露。在第一基板10的暴露的虚设区上，设置有选通焊盘24a、数据焊盘25a、以及将选通焊盘24a和数据焊盘25a分别连接到选通线24和数据线25的连接线。
[0008]第一基板10和第二基板40通过密封线50而彼此附接。这里，密封线50通过在此沉积密封剂沿着第一基板10或者第二基板40的边缘区域而形成，然后按压具有密封线50的第一基板10和第二基板40并且使密封线50硬化，由此使第一基板10和第二基板40彼此附接。
[0009]然而，在相关的液晶显示装置中存在如下的一些问题。
[0010]一般而言，通过丝网印刷方法、狭缝涂敷方法和注射器涂敷方法来沉积密封剂，以形成密封线50。这里，密封线50形成在液晶显示装置的虚设区中。然而，当密封线50延伸到显示区时，显示区中的液晶层与密封线50接触，使得液晶分子受到污染。这种受污染的液晶分子导致液晶分子在液晶显示装置的驱动模式下的未对准(mis-alignment)，使得通过液晶层的透光率不能被控制，然后图像可能被恶化。
[0011]因此，密封线50应当设置在虚设区处，而不是显示区处。为了达到这个目的，密封线50应当按预定宽度形成在预定位置处。另外，密封线50应当被精确地测量，以便按预定宽度在预定位置处形成密封线。然而，在相关的液晶显示装置中，由于密封线50的宽度不能在液晶显示装置制造处理期间被测量，因此在制造处理期间仅能基于来自丝网打印机、狭缝涂敷机或者注射器的密封剂的沉积量来估计密封线50的宽度。为了测量密封线50的宽度，密封线50应当在制造处理完成之后由人眼观测(observe)。
[0012]因此，由于不能在制造处理期间实时地测量密封线50的宽度，因此接下来的制造处理可能在下面的情况下进行:密封线50的宽度不是预定的宽度，然后制造的基板可能是有缺陷的。结果，由这些接下来的制造处理浪费了成本和时间。
[0013]另外，由于密封线50由操作者的眼睛来检查，因此当在终止液晶显示装置的制造处理之后对密封线50进行检查时，不可能精确地测量密封线50的宽度和位置。为了解决这个问题，操作者能够利用显微镜来测量密封线50的宽度和位置。然而，在这种情况下，操作者必须利用显微镜逐一检查所制造的液晶显示装置，使得制造处理会由于时间消耗而延迟。
【发明内容】
[0014]因此，本发明致力于一种液晶显示装置，该液晶显示装置基本上消除了由于相关技术的局限性和缺点而导致的一个或更多个问题。
[0015]因此，本发明的一个目的在于提供一种检测和测量液晶显示装置的密封线的位置和宽度的设备和方法。
[0016]本发明的附加的特征和优点将在以下的说明书中进行阐述，并且部分地将从说明书将是显而易见的，或者可以通过本发明的实践而得知。本发明的这些目的和其它优点将通过在书面的说明书和权利要求以及所附的权利要求书中具体指出的结构来实现并获得。
[0017]为了实现这些和其它优点，并且根据本发明的目的，如具体实现和广泛描述的，一种液晶显示装置包括:第一基板和第二基板，所述第一基板和所述第二基板包括显示区以及在所述显示区的外部的虚设区；密封线，所述密封线在述第一基板和所述第二基板的所述虚设区中；以及多个测量标记，在所述虚设区中所述多个测量标记与所述密封线的至少一部分交叠。在本实施方式中，通过所述多个测量标记，可以在制造处理期间实时地测量密封线是否设置在精确的预定位置处以及当密封线未设置在所述预定位置时距所述预定位置的距离。
[0018]所述多个测量标记可以按照规则距离间隔沿着所述密封线的宽度方向设置。
[0019]所述多个测量标记包括两个位置测量标记，以判断所述密封线是否设置在精确的预定位置，并且所述两个位置测量标记之间的距离可以与所述密封线的宽度相对应。
[0020]通过对在所述密封线的一端部与所述两个位置测量标记中的靠近所述密封线的所述一端部的位置测量标记之间的多个测量标记进行计数，能够测量所述密封线距所述预定位置的距离。
[0021]所述测量标记的宽度可以为约3.0 μ m-4.0ym0
[0022]相邻的测量标记之间的间隔距离可以为约4.5 μ m-5.5 μ m。
[0023]所述测量标记可以设置在所述密封线的侧端部附近。
[0024]所述测量标记可以是金属图案、绝缘图案或者半导体图案。
[0025]在另一个方面，一种密封线检查设备包括:相机，所述相机用于拍摄在液晶显示装置的虚设区中的测量标记和密封线；以及控制单元，所述控制单元用于通过分析由相机拍摄的图像信息来检测所述密封线的位置和宽度。
[0026]所述控制单元包括:图像分析单元，所述图像分析单元用于分析来自所述相机的所述图像，以生成所述密封线和所述测量标记的位置信息；位置检测单元，所述位置检测单元用于基于由所述图像分析单元分析的所述密封线的所述位置信息来检测所述密封线的位置；以及宽度测量单元，所述宽度测量单元用于基于由所述图像分析单元分析的所述密封线的所述位置信息来测量所述密封线的宽度。
[0027]所述控制单元还包括:比较单元，所述比较单元用于将测量的密封线的位置和宽度与预定的位置和宽度进行比较；以及判断单元，所述判断单元用于基于由所述比较单元的比较结果来判断质量差的密封线。
[0028]在另一个方面，一种液晶显示装置的密封线的测量方法包括以下步骤:提供液晶显示装置，所述液晶显示装置包括显示区以及具有密封线和多个测量标记的虚设区；通过相机来获得所述密封线和所述测量标记的图像；通过分析所述图像，基于所述密封线和所述测量标记的信息来检测所述密封线的位置；以及基于所述密封线和所述测量标记的信息来检测所述密封线的宽度。
[0029]测量所述密封线的所述位置的步骤包括以下步骤:分析所获得的图像，以检测所述密封线和位置测量标记的位置；以及对所述密封线和位置测量标记之间的测量标记进行计数，以检测所述密封线的位置。
[0030]检测所述密封线的宽度的步骤包括以下步骤:对与所述密封线交叠的测量标记进行计数。
[0031]所述密封线测量方法还包括以下步骤:将所检测的所述密封线的位置和宽度与预定的位置和宽度进行比较，以判断质量差的密封线。
[0032]根据本发明的一个实施方式的在基板上沉积密封剂的方法包括以下步骤:通过使用在所述基板的显示区的外部区域处的测量装置(means)以及用于检测所述测量装置的检查装置，在基板制造处理中实时检测所述密封剂的位置和宽度，而无需基于密封剂的沉积量进行估计。
[0033]所述测量装置包括按照规则距离间隔沿着所述密封剂的宽度方向的多个测量标记，并且检测所述密封剂的位置和宽度的方法包括以下步骤:观测所述密封剂和所述测量标记的交叠部分。
[0034]检查装置包括:相机，所述相机用于获得所述密封剂和所述测量标记的图像信息；以及控制单元，所述控制单元用于分析所述密封剂和所述测量标记的图像信息，然后使用分析的结果来实时地检测所述密封剂的位置和宽度。
[0035]要理解的是，前述一般描述和以下详细描述是示例性和解释性的，并且旨在提供对所要求保护的本发明的进一步解释。
【附图说明】
[0036]附图被包括进来以提供对本公开的进一步理解，并且被并入本说明书且构成本说明书的一部分，附图示出了示例性实施方式，并且与本说明书一起用来解释本公开的原理。在附图中:
[0037]图1是例示了相关的液晶显示装置的结构的平面图。
[0038]图2是示意性地例示了根据本发明的示例实施方式的液晶显示装置的结构的平面图。
[0039]图3是根据本发明的示例实施方式的液晶显示装置的截面图。
[0040]图4是例示了液晶显示装置的虚设区中的多个测量标记和密封线的图。
[0041]图5例示了液晶显示装置的虚设区中的测量标记和密封线的其它结构的图。
[0042]图6是例示了根据本发明的示例实施方式的密封线检查设备的结构的框图。
[0043]图7是例示了根据本发明的示例实施方式的液晶显示装置的密封线测