力的了解对其它的生产步骤来说也很 重要。在图9a中示出了一种钢带1，该钢带具有一个有拉应力的区域22并且在22的外部 拥有一个无拉应力的区域21。此外示出了不同的构件23-26的截面形状23' -26'，其中比 如这些构件从所述扁平制品1中通过激光切割机来切去。拉应力的、对所述构件23-26的 所产生的形状的影响在图9b中示出。如在图9b中所示出的那样，所述构件24的上方的部 分由于所述拉应力22而向上弯曲，由此形状稳定性受损。在所述构件23的上方的部分中， 情况相类似。无论如何从图示中可以得知，在制造高精度的构件时对于内应力的了解极其 重要，因为否则无法排除构件的显著的扭曲。在考虑到在所述板状的扁平制品1中的、所检 测到的内应力分布的情况下检测所述截面形状26'，使得所述构件26的、在切除过程之后 的形状尽可能与所期望的形状相符。
[0056] 尽管通过优选的实施例详细地对本发明进行了说明和描述，但是本发明没有受到 所公开的实施例的限制，并且可以由本领域的技术人员从中推导出其它变型方案，而不离 开本发明的保护范围。
[0057] 附图标记列表:
【主权项】
1. 用于对金属的扁平制品（1)、优选由钢或侣制成的轴制品、尤其是钢带进行平整度 测量的方法，所述方法具有W下方法步骤： -在弯曲装置（3)中将所述扁平制品（1)弯曲，从而使得平坦的扁平制品（1)在弯曲之 后构成具有额定弯曲半径r。的弧形段（5); -在经过弯曲的扁平制品（1)的弧形段（5)的区域中沿着所述扁平制 品（1)的宽度方向在多个位置（y)上测量所述轮廓、尤其是实际弯曲半径 rM;并且 -在考虑到经过弯曲的扁平制品（1)的所测量的轮廓的情况下确定所述扁平制品（1) 的平整度。2. 按权利要求1所述的方法，其特征在于， 沿着所述扁平制品（1)的纵向方向在多个位置（X)上测量经过弯曲的扁平制品的轮 廓、尤其是实际弯曲半径，?.'〇.〇,，)；并且 在考虑到经过弯曲的扁平制品（1)的所测量的轮廓的情况下沿着所述扁平制品（1)的 纵向方向为多个位置（X)确定所述扁平制品（1)的平整度。3. 按权利要求1到2中任一项所述的方法，其特征在于，保存所述扁平制品（1)的平整 度并且在对所述扁平制品（1)进行进一步加工时进行考虑。4. 用于对金属的扁平制品（1)、优选由钢或侣制成的轴制品、尤其是钢带的内应力进 行测量的方法，所述方法具有W下方法步骤： -在弯曲装置（3)中将所述扁平制品（1)弯曲，从而使得无内应力的扁平制品（1)在弯 曲之后构成具有额定弯曲半径r。的弧形段（5); -在经过弯曲的扁平制品（1)的弧形段（5)的区域中沿着所述扁平制品的宽度方向在 多个位置（y)上测量轮廓、尤其是实际弯曲半径rtv); -在考虑到经过弯曲的扁平制品（1)的所测量的轮廓的情况下比如通过来计算所述扁平制品（1)的内应力订3 (y)。5. 按权利要求4所述的方法，其特征在于，沿着所述扁平制品（X)的纵向方向在多个位 置上测量经过弯曲的扁平制品（1)的轮廓、尤其是实际弯曲半径rtr，,>')；并且 在考虑到经过弯曲的扁平制品（1)的、所测量的轮廓的情况下比如通过沿着所述扁平制品（1)的纵向方向（X)为多个位置 (X)计算所述扁平制品（1)的内应力CTx(X，>，）。6. 按权利要求4到5中任一项所述的方法，其特征在于，保存所述扁平制品（1)的内应 力0X并且在对所述扁平制品（1)进行进一步加工时进行考虑。7. 按前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，对于实际弯曲半径r的测量W 光学的方式通过至少一个光束、尤其是激光束来进行，其中所述光束由光源（6)放射到所述 扁平制品（1)上，所述光束被所述扁平制品（1)的表面所反射，并且所反射的光束被接收器 (6)接收，并且所述光源（6)、扁平制品（1)与接收器（6)之间的间距通过所述光束的传播时 间、所放射的与所接收的光束之间的相位差或者通过=角测量法来检测。8. 按权利要求7所述的方法，其特征在于，将多个光束W光栅的形式投影到所述扁平 制品（1)上，所述光束被所述扁平制品（1)的表面反射并且所反射的光束被照相机接收。9. 按权利要求7所述的方法，其特征在于，沿着所述扁平制品（1)的宽度方向（y)布置 多个光源（6)和多个接收器（6)，其中对于沿着经过弯曲的扁平制品（1)的宽度方向的实际 弯曲半径的测量基本上同步地进行。10. 用于在轴机（9)中对金属的扁平制品（1)、优选是由钢或者侣制成的轴制品、尤其 是钢带进行平整度调节的方法，所述方法具有W下方法步骤： -在所述轴机（9)中对扁平制品（1)进行轴制； -按照权利要求1到3和7到9中任一项对所轴制的扁平制品（1)的实际平整度Pbt进行平整度测量； -确定在额定平整度PsDii与实际平整度Pbt之间的调节误差6,6=巧.; -根据偏差e借助于调节器来确定调节参量U; -给所述轴机（9)的轴制机架（9)中的执行机构加载所述调节参量U，从而将所述调节 误差e降低到最低限度。11. 按前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，在测量经过弯曲的扁平制品 (1)的轮廓时、在该种测量之前不久、优选刚好在该种测量之前或者在该种测量之后不久、 优选紧接在该种测量之后测量所述扁平制品（1)的、沿着宽度方向（y)的纤维的温度T(y)， 并且在确定所述平整度或者计算所述内应力时对所述温度T(y)加W考虑。12. 用于对金属的扁平制品（1)进行平整度测量或者用于对其进行内应力测量的装 置，所述装置具有： -用于对所述扁平制品（1)进行导引的、进口侧的漉道（2a); -具有至少两个用于将扁平制品（1)弯曲的入口漉（3a、3b)的、进口侧的弯曲装置（3)， 从而使得经过弯曲的扁平制品（1)可W构成弯曲半径r。； -用于沿着所述扁平制品（1)的宽度方向在多个位置上对经过弯曲的扁平制品（1)的 轮廓、尤其是实际弯曲半径r(y)进行测量的间距测量仪（6); -用于确定与所述间距测量仪（6)在信号技术上相连接的扁平制品（1)的平整度或者 内应力的计算单元。13. 按权利要求12所述的装置，其特征在于，所述间距测量仪（6)是光学的间距测量 仪。14. 按权利要求12到13中任一项所述的装置，其特征在于，所述间距测量仪（6)沿着 垂直的方向布置在所述扁平制品（1)的上方，并且优选所述间距测量仪（1)沿着水平的方 向布置在经过弯曲的扁平制品（1)的弧形段（5)的顶点的区域中。15. 按权利要求12到14中任一项所述的装置，其特征在于，所述装置此外包括： -具有至少两个用于将经过弯曲的扁平制品（1)反向弯曲的出口漉（4a、4b)的、出口侧 的弯曲装置（4) 及 -用于导引经过反向弯曲的扁平制品（1)的出口侧的漉道（2b)。16.按权利要求15所述装置，其特征在于，用于弯曲所述扁平制品（1)的、进口侧的弯 曲装置（3)的至少一个漉子（3a、3b)和/或用于反向弯曲经过弯曲的扁平制品（1)的、出口 侧的弯曲装置（4)的至少一个漉子（4a、4b)能够被驱动。
【专利摘要】本发明涉及在金属的扁平制品（1）中的平整度测量以及内应力的测量。本发明的任务是，提高既存的平整度测量仪（6）或者平整度测量方法的精度和可靠性。该任务通过一种用于对金属的扁平制品（1）进行平整度测量的方法得到解决，该方法具有以下方法步骤：在弯曲装置（3）中将所述扁平制品（1）弯曲，从而使得平坦的扁平制品（1）在弯曲之后构成具有额定弯曲半径r0的弧形段（5）；在经过弯曲的扁平制品（1）的弧形段（5）的区域中沿着所述扁平制品（1）的宽度方向在多个位置（y）上测量所述实际弯曲半径r（y）；并且在考虑到经过弯曲的扁平制品（1）的、所测量的轮廓的情况下确定所述扁平制品（1）的平整度。
【IPC分类】B21C51/00, G01B21/20, B21B38/02
【公开号】CN104936713
【申请号】CN201380064908
【发明人】R.林斯博德, A.格雷斯, R.布格, H.罗比, P.亨特
【申请人】首要金属科技奥地利有限责任公司
【公开日】2015年9月23日
【申请日】2013年11月25日
【公告号】EP2931447A1, US20150354948, WO2014090555A1