晶粒检测设备的进料机构的制作方法
【专利摘要】本实用新型提供了一种晶粒检测设备的进料机构，所述晶粒检测设备的进料机构包括基座、震动供料盘、进料震动模组和回料震动模组。因此，本实用新型通过将进料震动模组与回料震动模组分别独立地设置在不同的载台上，以有效抑制进料震动模组与回料震动模组之间的共振的发生，从而可以提高供料的稳定度和吸料的准确度，并且可以加快进给速度。此外，本实用新型将进料震动模组的进料轨道直接邻接震动供料盘，以承接从出料口送出的晶粒，从而省略了熟知的缓冲直震模组，既可以大幅降低成本，并且由于进给距离的缩短，又可以显著提高进给速度。
【专利说明】晶粒检测设备的进料机构
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种晶粒检测设备的进料机构，具体地说，涉及一种适用于晶粒的进给供料的进料机构。
【背景技术】
[0002]晶粒检测设备一般会有进料机构，该进料机构主要用于将晶粒位移至取放装置的可取放的位置或检测装置上。然而，熟知的晶粒检测设备的进料机构请参阅图1和图2，图1为熟知的晶粒检测设备的进料机构的俯视图，图2为熟知的晶粒检测设备的进料机构的右视图。
[0003]如图1和图2所示，熟知的晶粒检测设备的进料机构主要包括一震动盘5、一缓冲直震模组6、一吸料直震模组7和一回料直震模组8。其中，震动盘5主要用于存放待测晶粒和供给待测晶粒；缓冲直震模组6主要介于震动盘5与吸料直震模组7之间，缓冲直震模组6主要用于承接从震动盘5流出的晶粒，并将晶粒传递至吸料直震模组7 ;吸料直震模组7则主要负责将来自缓冲直震模组6的待测晶粒传送至取放机构(图中未示)的取放位置。然而，通常待测晶粒不见得会很规律地依照顺序进给，所以吸料直震模组7的吸料轨道71会设计有落料的机构，以便使得进给位置不正确的晶粒能够重新进给。
[0004]另外，回料直震模组8用于使得落料的晶粒重新回到震动盘5，回料直震模组8包括一返料盘81，返料盘81位于吸料轨道71的下方，用于承接从吸料轨道71落下的晶粒。在现有技术中，缓冲直震模组6、吸料直震模组7和回料直震模组8的震动器均设置在一共同的基板9上。然而，因为回料直震模组8与吸料直震模组7和缓冲直震模组6的位移方向恰好是完全相反的，所以很容易产生共振，从而影响进给速度，甚至导致晶粒在进给过程中不规则跳动，从而使得在取放机构(图中未示)的取放过程中容易造成取放不顺或无法稳固取放等问题。
[0005]综上所述，设计一种结构简单、成本低廉，而且可以有效抑制共振的发生，从而提高供料的稳定度和吸料的准确度，并且可以加快进给速度的晶粒检测设备的进料机构实在是产业界的迫切的需要。
实用新型内容
[0006]为了解决现有技术的不足之处，本实用新型的主要目的在于提供一种晶粒检测设备的进料机构，以能够有效抑制进料震动模组与回料震动模组之间的共振的发生。
[0007]为了实现上述目的，本实用新型提供了一种晶粒检测设备的进料机构，所述晶粒检测设备的进料机构包括一基座、一震动供料盘、一进料震动模组和一回料震动模组；其中，所述震动供料盘包括一出料口，所述震动供料盘组装设置在所述基座上；所述进料震动模组包括一第一载台、一第一震动器和一进料轨道，所述第一载台组装设置在所述基座上，所述第一震动器组装设置在所述第一载台上，并且所述进料轨道组装设置在所述第一震动器上，所述进料轨道承接从所述震动供料盘的所述出料口流出的晶粒；所述回料震动模组包括一第二载台、一第二震动器和一回料轨道，所述第二载台组装设置在所述基座上，所述第二震动器组装设置在所述第二载台上，并且所述回料轨道组装设置在所述第二震动器上，所述回料轨道承接从所述进料轨道落下的晶粒。
[0008]优选地，本实用新型的所述回料震动模组的所述回料轨道位于所述进料轨道的下方，以便承接从所述进料轨道落下的晶粒。
[0009]优选地，本实用新型的所述进料震动模组的所述进料轨道包括一承接部和一直行部，所述承接部邻接在所述震动供料盘的所述出料口，并且所述回料轨道位于所述直行部的下方。由此，本实用新型完全省略了熟知的缓冲直震模组，而是直接由进料轨道的承接部来承接来自震动供料盘的晶粒。
[0010]优选地，本实用新型的所述进料轨道的所述直行部开设有一落料孔，所述晶粒通过所述落料孔落入所述回料轨道。换句话说，落料孔主要用于排除在进料轨道上没有按规则排列的晶粒。
[0011]优选地，本实用新型还包括一承载架，所述承载架组装设置在所述基座上，所述震动供料盘组装设置在所述承载架上。
[0012]优选地，本实用新型的进料震动模组还包括一 X轴位移调整机构和一 Y轴位移调整机构，所述X轴位移调整机构和所述Y轴位移调整机构设置在所述第一载台的下方，所述X轴位移调整机构和所述Y轴位移调整机构分别用于驱使所述第一载台在X轴向上和在Y轴向上位移。换句话说，本实用新型的第一载台可以通过X轴位移调整机构和Y轴位移调整机构进行位移的调整。
[0013]因此，本实用新型的晶粒检测设备的进料机构通过将进料震动模组与回料震动模组分别独立设置在不同的载台上，以有效抑制进料震动模组与回料震动模组之间的共振的发生，从而可以提高供料的稳定度和吸料的准确度，并且可以加快进给速度。此外，本实用新型将进料震动模组的进料轨道直接邻接震动供料盘，来承接从出料口送出的晶粒，从而省略了熟知的缓冲直震模组，既可以大幅降低成本，并且由于进给距离的缩短，又可以显著提闻进给速度。
【专利附图】
【附图说明】
[0014]图1为熟知的晶粒检测设备的进料机构的俯视图；
[0015]图2为熟知的晶粒检测设备的进料机构的右视图；
[0016]图3为本实用新型的晶粒检测设备的进料机构的一优选实施例的俯视图；
[0017]图4为本实用新型的晶粒检测设备的进料机构的一优选实施例的右视图。
[0018]附图标记说明如下:
[0019]基座1、震动供料盘2、承载架20、出料口 21、进料震动模组3、第一载台31、第一震动器32、进料轨道33、承接部331、直行部332、落料孔333、X轴位移调整机构34、Y轴位移调整机构35、回料震动模组4、第二载台41、第二震动器和42、回料轨道43、震动盘5、缓冲直震模组6、吸料直震模组7、吸料轨道71、回料直震模组8、返料盘81、共同基板9和晶粒C0
【具体实施方式】[0020]为了使审查员能够进一步了解本实用新型的结构、特征及其他目的，现结合所附优选实施例附以附图详细说明如下，使用本附图所说明的实施例仅用于说明本实用新型的技术方案，并非限定本实用新型。
[0021]在本实施例详细描述本实用新型的晶粒检测设备的进料机构之前，需要特别注意的是，在以下的说明中，类似的元件将以相同的元件符号来表示。
[0022]请同时参阅图3和图4，图3为本实用新型的晶粒检测设备的进料机构的一优选实施例的俯视图，图4为本实用新型的晶粒检测设备的进料机构的一优选实施例的右视图。
[0023]如图中所示,本实施例的晶粒检测设备的进料机构主要包括:一基座1、一震动供料盘2、一进料震动模组3、一回料震动模组4和一承载架20。其中，承载架20组装设置在基座I上，震动供料盘2组装设置在承载架20上，震动供料盘2主要用于存放晶粒C和供给晶粒C。另外，震动供料盘2包括一出料口 21，晶粒C便是通过出料口 21供给而出的。
[0024]此外，进料震动模组3包括一第一载台31、一第一震动器32、一进料轨道33、一 X轴位移调整机构34和一 Y轴位移调整机构35。其中，第一载台31组装设置在基座I上，第一震动器32组装设置在第一载台31上，并且进料轨道33组装设置在第一震动器32上。进料轨道33包括一承接部331和一直行部332，承接部331邻接在震动供料盘2的出料口21，以承接来自震动供料盘2的晶粒C。
[0025]进一步地，直行部332开设有一落料孔333，晶粒C可以通过落料孔333落入回料轨道43。换句话说，落料孔333主要用于排除在进料轨道33上没有按规则排列的晶粒C。此外，X轴位移调整机构34和Y轴位移调整机构35设置在第一载台31的下方，分别用于驱使第一载台31在X轴向上和在Y轴向上位移。也就是说，本实施例的第一载台31可以通过X轴位移调整机构34和Y轴位移调整机构35进行位移的调整。
[0026]另外，回料震动模组4包括一第二载台41、一第二震动器42和一回料轨道43，第二载台41组装设置在基座I上，第二震动器42组装设置在第二载台41上，回料轨道43组装设置在第二震动器42上，并且承接从进料轨道33落下的晶粒C。其中，回料轨道43位于进料轨道33的直行部332的下方。
[0027]由此，本实用新型通过将进料震动模组3与回料震动模组4分别独立地设置在不同的第一载台31和第二载台41上，以有效抑制进料震动模组3与回料震动模组4之间的共振的发生，从而可以提高供料的稳定度和吸料的准确度，并且可以加快进给速度。此外，本实用新型还直接省略了熟知的缓冲直震模组，既可以大幅降低成本，并且因为进给距离的缩短，又可以显著提高进给速度。
[0028]需要声明的是，上述实用新型内容及【具体实施方式】意在证明本实用新型所提供技术方案的实际应用，不应解释为对本实用新型保护范围的限定。本领域技术人员在本实用新型的精神和原理内，当可作各种修改、等同替换或改进。本实用新型的保护范围以所附权利要求书为准。
【权利要求】
1.一种晶粒检测设备的进料机构，其特征在于，所述晶粒检测设备的进料机构包括: 一基座; 一震动供料盘，所述震动供料盘包括一出料口，所述震动供料盘组装设置在所述基座上; 一进料震动模组，所述进料震动模组包括一第一载台、一第一震动器和一进料轨道，所述第一载台组装设置在所述基座上，所述第一震动器组装设置在所述第一载台上，所述进料轨道组装设置在所述第一震动器上，所述进料轨道承接从所述震动供料盘的所述出料口流出的晶粒；以及 一回料震动模组，所述回料震动模组包括一第二载台、一第二震动器和一回料轨道，所述第二载台组装设置在所述基座上，所述第二震动器组装设置在所述第二载台上，所述回料轨道组装设置在所述第二震动器上，并且所述回料轨道承接从所述进料轨道落下的晶粒。
2.根据权利要求1所述的晶粒检测设备的进料机构，其特征在于，所述回料轨道位于所述进料轨道的下方。
3.根据权利要求2所述的晶粒检测设备的进料机构，其特征在于，所述进料轨道包括一承接部和一直行部，所述承接部邻接在所述震动供料盘的所述出料口，所述回料轨道位于所述直行部的下方。
4.根据权利要求3所述的晶粒检测设备的进料机构，其特征在于，所述直行部开设有一落料孔，所述晶粒通过所述落料孔落入所述回料轨道。
5.根据权利要求1所述的晶粒检测设备的进料机构，其特征在于，所述晶粒检测设备的进料机构还包括一承载架，所述承载架组装设置在所述基座上，所述震动供料盘组装设置在所述承载架上。
6.根据权利要求1所述的晶粒检测设备的进料机构，其特征在于，所述进料震动模组还包括一 X轴位移调整机构和一 Y轴位移调整机构，所述X轴位移调整机构和所述Y轴位移调整机构设置在所述第一载台的下方，所述X轴位移调整机构和所述Y轴位移调整机构分别用于驱使所述第一载台在X轴向上和在Y轴向上位移。
【文档编号】B65G47/14GK203512701SQ201320542247
【公开日】2014年4月2日 申请日期:2013年9月2日 优先权日:2013年8月20日
【发明者】黄德崑 申请人:台北歆科科技有限公司