一种半导体自动进给检验平台的制作方法

文档序号:9209880阅读:272来源:国知局
一种半导体自动进给检验平台的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种检验平台,尤其涉及一种半导体自动进给检验平台。
【背景技术】
[0002]目前,在半导体生产时,半导体固定在引线框架上进行焊线,焊线结束后,操作人员需要通过显微镜检验半导体焊线是否存在断线、漏焊等不良,检验时,手动移动引线框架进行半导体的切换,由于半导体体积小、数量多,操作人员容易漏检和重复检验,为了避免漏检和重复检验,需要多次检验以保证产品质量,这样一来,操作人员劳动强度大大提高,生产效率大大降低。鉴于上述缺陷,实有必要设计一种半导体自动进给检验平台。

【发明内容】

[0003]本发明所要解决的技术问题在于:提供一种半导体自动进给检验平台,来解决操作人员检验时,手动移动半导体容易造成漏检和重复检验的问题。
[0004]为解决上述技术问题,本发明的技术方案是:
[0005]一种半导体自动进给检验平台,包括底座、显微镜、纵向进给组件,所述的纵向进给组件还包括第一托板、第一伺服电机、第一丝杠、第一丝杠螺母,所述的第一托板位于底座上端,所述的第一托板与底座滑动相连,所述第一伺服电机位于第一托板下表面上端,所述的第一伺服电机与第一托板螺纹相连,所述的第一丝杠位于第一伺服电机下端,所述的第一丝杠与第一伺服电机紧配相连且与第一托板转动相连,所述的第一丝杠螺母贯穿第一丝杠,所述的第一丝杠螺母与第一丝杠螺纹相连且与底座螺纹相连;以及横向进给组件,所述的横向进给组件还包括第二托板、第二伺服电机、第二丝杠、第二丝杠螺母,所述的第二托板位于第一托板上端,所述的第二托板与第一托板滑动相连,所述第二伺服电机位于第二托板下表面右端,所述的第二伺服电机与第二托板螺纹相连,所述的第二丝杠位于第二伺服电机下端,所述的第二丝杠与第二伺服电机紧配相连且与第二托板转动相连,所述的第二丝杠螺母贯穿第二丝杠,所述第二丝杠螺母与第二丝杠螺纹相连且与第一托板螺纹相连。
[0006]本发明进一步的改进如下:
[0007]进一步的,所述的底座上表面还设有第一按钮、第二按钮、第三按钮、第四按钮,所述的第一按钮与底座螺纹相连,所述的第二按钮与底座螺纹相连,所述的第三按钮与底座螺纹相连,所述的第四按钮与底座螺纹相连,所述的第一按钮控制第一伺服电机正转,所述的第二按钮控制第一伺服电机反正,所述的第三按钮控制第二伺服电机正转,所述的第四按钮控制第二伺服电机反转。
[0008]进一步的,所述的底座上表面左右两侧还设有第一导槽,所述第一导槽与底座螺纹相连。
[0009]进一步的,所述的第一托板还设有第一导轨,所述的第一导轨位于第一托板下表面左右两侧,所述的第一导轨与第一托板螺纹相连。
[0010]进一步的,所述的第一托板还设有第二导槽,所述的第二导槽位于第一托板上表面上下两侧,所述的第二导槽与第一托板螺纹相连。
[0011]进一步的,所述的第二托板还设有第二导轨,所述的第二导轨位于第二托板下表面上下两侧,所述的第二导轨与第二托板螺纹相连。
[0012]进一步的,所述的第二托板上表面设有凹槽,所述凹槽不贯穿第二托板主体。
[0013]与现有技术相比,该半导体自动进给检验平台,工作时,将半导体放置于设置在第二托板表面的凹槽内,使用显微镜开始检验,当第一个半导体检验完成后,按下第一按钮,第一伺服电机正转,设定第一伺服电机转动角度,使得每按下一次第一按钮,第一伺服电机带动第一托板运动的距离等于两个半导体之间的间距,当第一纵列的半导体检验完成后,按下第三按钮,第二伺服电机正转,设定第二伺服电机转动角度,使得每按下一次第三按钮,第二伺服电机带动第二托板运动的距离等于两个半导体之间的间距,当第二托板移动完成后,按下第二按钮,第一伺服电机反转,设定第一伺服电机转动角度,使得每按下一次第二按钮,第一伺服电机带动第一托板运动的距离等于两个半导体之间的间距,完成第二纵列检验,以此方式进行操作直到半导体检验完成。该平台结构简单,操作人员按特定的操作方式进行检验,可以保证每个半导体都被检验,不会发生漏检和重复检验,降低操作人员劳动强度,提高生产效率。
【附图说明】
[0014]图1示出本发明轴视图
[0015]图2示出本发明横向进给组件后视图
[0016]图3示出本发明纵向进给组件剖视图
[0017]底座 I显微镜2
[0018]纵向进给组件 3横向进给组件4
[0019]第一按钮 101第二按钮102
[0020]第三按钮 103第四按钮104
[0021]第一导槽 105第一托板301
[0022]第一伺服电机 302第一丝杠303
[0023]第一丝杠螺母 304第一导轨305
[0024]第二导槽 306第二托板401
[0025]第二伺服电机 402第二丝杠403
[0026]第二丝杠螺母 404第二导轨405
[0027]凹槽405
【具体实施方式】
[0028]如图1、图2、图3所示,一种半导体自动进给检验平台,包括底座1、显微镜2、纵向进给组件3,所述的纵向进给组件3还包括第一托板301、第一伺服电机302、第一丝杠303、第一丝杠螺母304,所述的第一托板301位于底座I上端,所述的第一托板301与底座I滑动相连,所述第一伺服电机302位于第一托板301下表面上端,所述的第一伺服电机302与第一托板301螺纹相连,所述的第一丝杠303位于第一伺服电机302下端,所述的第一丝杠303与第一伺服电机302紧配相连且与第一托板301转动相连,所述的第一丝杠螺母304贯穿第一丝杠303,所述的第一丝杠螺母304与第一丝杠303螺纹相连且与底座I螺纹相连;以及横向进给组件4,所述的横向进给组件4还包括第二托板401、第二伺服电机402、第二丝杠403、第二丝杠螺母404,所述的第二托板401位于第一托板301上端,所述的第二托板401与第一托板301滑动相连,所述第二伺服电机402位于第二托板4
当前第1页1 2 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1