一种纳米晶材料性能测试设备的制作方法

本实用新型涉及一种纳米晶材料性能测试设备，属于检测设备的技术领域。

背景技术：

电子产品中存在纳米晶材料，而纳米晶材料在生产后需要对其进行多项检测，包括电感值测试、网分值测试等。多采用手工测试的方式，测试效率慢，人力成本较高，而且存在漏检隐患。

现有技术中的自动化检测产线均为传送带结构，其运行行程对空间需求较高，且单线检测功能单一，需要配合多套自动化上料机构与卸料机构，构造非常复杂。

技术实现要素：

本实用新型的目的是解决上述现有技术的不足，针对传统手工作业及单线自动化检测产线不足的问题，提出一种纳米晶材料性能测试设备。

为了达到上述目的，本实用新型所采用的技术方案为：

一种纳米晶材料性能测试设备，包括旋转工作基台和作业单元；

所述旋转工作基台上设有周向均布的六个载料工位，

所述作业单元包括沿旋转工作基台旋转路径依次设置的上料机构、第一检测机构、第二检测机构、合格品卸料机构、不良品卸料机构、及空载识别机构，

在所述旋转工作基台步进式旋转状态下，六个所述载料工位在所述作业单元上进行位移切换。

优选地，所述第一检测机构为电感值测试机构、所述第二检测机构为网分值测试机构；

或所述第二检测机构为电感值测试机构、所述第一检测机构为网分值测试机构。

优选地，所述第一检测机构与所述第二检测机构均设置于所述旋转工作基台的底部，并且所述第一检测机构与所述第二检测机构分别具备垂直向升降位移。

优选地，任意所述载料工位上设有至少两个工件装载部。

优选地，所述不良品卸料机构包括集料舱、用于拾取工件的拾取部、及驱动源，

所述集料舱至少包括两个与检测项相一一对应的缺陷品舱位，所述拾取部上设有与所述缺陷品舱位相匹配的若干吸附端，

所述驱动源包括用于所述拾取部在所述集料舱顶部至所述载料工位之间位移切换的线性驱动源、用于所述拾取部垂直向升降的升降驱动源、及驱动所述拾取部旋转后吸附端与缺陷品舱位相匹配的旋转驱动源。

优选地，所述集料舱具备垂直于所述拾取部线性位移的水平向线性位移。

优选地，所述上料机构包括上料基座及在所述上料基座与所述载料工位之间径向往复位移的上料运转部。

优选地，所述合格品卸料机构包括卸料基座及在所述卸料基座与所述载料工位之间径向往复位移的卸料运转部。

本实用新型的有益效果主要体现在：

1.采用旋转工作基台步进式旋转切换相对工位从而实现了针对纳米晶材料的旋转检测作业，自动化程度较高，作业单元设计合理，提高了检测效率、降低人力成本及漏检率。

2.能实现多个工件的同步检测作业，且配套有具备缺陷分拣功能的不良品卸料机构，分拣高效快捷。

3.整体构造简洁紧凑，占用空间较小，降低了空间成本及制造成本。

附图说明

图1是本实用新型一种纳米晶材料性能测试设备的结构示意图。

图2是本实用新型一种纳米晶材料性能测试设备的俯视示意图。

图3是本实用新型中旋转工作基台的结构示意图。

图4是本实用新型中不良品卸料机构的结构示意图。

具体实施方式

本实用新型提供一种纳米晶材料性能测试设备。以下结合附图对本实用新型技术方案进行详细描述，以使其更易于理解和掌握。

一种纳米晶材料性能测试设备，如图1至图4所示，包括旋转工作基台1和作业单元。

旋转工作基台1上设有周向均布的六个载料工位11，其具备中央旋转主轴12。

作业单元包括沿旋转工作基台1旋转路径依次设置的上料机构2、第一检测机构3、第二检测机构4、合格品卸料机构5、不良品卸料机构6、及空载识别机构7。

在旋转工作基台1步进式旋转状态下，六个载料工位11在作业单元上进行位移切换。

具体地实现过程及原理说明：

通过上料机构2向当前状态下的载料工位11进行上料作业。

上料作业完成后，该载料工位11随着旋转工作基台1旋转至第一检测机构3进行检测，后再次旋转至第二检测机构4进行检测。

经过检测完成后的载料工位11运行至合格品卸料机构5处，对该载料工位11上的合格品进行卸料运输。

再进入不良品卸料机构6进行不良品卸料。

最后经过空载识别机构7进行载料工位11的视觉识别，识别是否存在滞留工件，最终空载的载料工位11运行至上料机构2处，如此实现循环检测。

在一个具体实施例中，如图3所示，第一检测机构3为电感值测试机构、第二检测机构4为网分值测试机构；或第二检测机构为电感值测试机构、第一检测机构为网分值测试机构。

两个检测工位可以相互交换，还可以增设第三乃至第四检测机构，相应的需要配套更多的载料工位11。

第一检测机构与第二检测机构均设置于旋转工作基台的底部，并且第一检测机构与第二检测机构分别具备垂直向升降位移。

通过升降位移从而进行接触式检测。

在一个具体实施例中，任意载料工位11上设有至少两个工件装载部。如此设计，能实现多个工件同步运行检测，提高了工作效率。

针对多装载部的设计，如图4所示，不良品卸料机构6包括集料舱61、用于拾取工件的拾取部62、及驱动源63。

集料舱61至少包括两个与检测项相一一对应的缺陷品舱位611，拾取部62上设有与缺陷品舱位611相匹配的若干吸附端621，该拾取部62与工件装载部相匹配。

驱动源63包括用于拾取部在集料舱顶部至载料工位之间位移切换的线性驱动源631、用于拾取部垂直向升降的升降驱动源632、及驱动拾取部旋转后吸附端621与缺陷品舱位611相匹配的旋转驱动源633。

通过旋转驱动源633驱动拾取部旋转，从而调节吸附端621上的缺陷工件与相对应的缺陷品舱位611相对，从而归类放置。

更优化地，集料舱61具备垂直于拾取部线性位移的水平向线性位移，即通过线性滑轨612具备位置度调节。

本案中，上料机构2包括上料基座及在上料基座与载料工位之间径向往复位移的上料运转部21。合格品卸料机构5包括卸料基座及在卸料基座与载料工位之间径向往复位移的卸料运转部51。

对工件进行上下料的运转基本采用负压式吸头，其属于现有技术，在此不再赘述，只要能实现针对纳米晶材料上下料的运转机构均在本案的保护范围之内。

通过以上描述可以发现，本实用新型一种纳米晶材料性能测试设备，采用旋转工作基台步进式旋转切换相对工位从而实现了针对纳米晶材料的旋转检测作业，自动化程度较高，作业单元设计合理，提高了检测效率、降低人力成本及漏检率。能实现多个工件的同步检测作业，且配套有具备缺陷分拣功能的不良品卸料机构，分拣高效快捷。整体构造简洁紧凑，占用空间较小，降低了空间成本及制造成本。

以上对本实用新型的技术方案进行了充分描述，需要说明的是，本实用新型的具体实施方式并不受上述描述的限制，本领域的普通技术人员依据本实用新型的精神实质在结构、方法或功能等方面采用等同变换或者等效变换而形成的所有技术方案，均落在本实用新型的保护范围之内。