压紧机构的制作方法

本实用新型涉及料带输送技术领域，尤其涉及一种压紧机构。

背景技术：

led支架在生产制作过程中，通常先对料带进行注塑，然后对料带切割以得到led支架，但由于料带的长度以及输送过程中振动的影响，通常会改变缺陷颗粒相对输送设备的位置，如此将会使刀具无法完整的将缺陷颗粒从料带中剔除，甚至会损坏料带，严重影响led支架的生产质量。

技术实现要素：

为解决上述问题，本实用新型提供的压紧机构，能够对移动过程中的料带进行压紧，防止料带因振动或其他外界因素脱离原有的运动轨迹。

本实用新型提供一种压紧机构包括：底座、压紧滚轮、与所述压紧滚轮转动连接的升降支架、用于带动所述升降支架沿上下方向移动的压紧驱动件、位于所述限位轨道下方的支撑板、用于支撑所述压紧驱动件的压紧支架，以及用于限定料带传送方向的限位轨道；

所述支撑板水平放置，所述压紧支架和所述限位轨道均与所述底座固定连接，所述压紧滚轮位于所述限位轨道的正上方，且所述压紧滚轮的转轴水平放置并与所述压紧滚轮下方的料带的传送方向垂直，所述压紧驱动件位于所述压紧滚轮的上方。

可选地，所述压紧机构还包括：压紧滑轨和压紧滑块，所述压紧滑轨与所述压紧滑块沿上下方向滑移连接；

所述压紧滑轨与所述压紧支架固定连接，且所述压紧滑块与所述升降支架固定连接，或者所述压紧滑轨与所述升降支架固定连接，且所述压紧滑块与所述压紧支架固定连接。

可选地，所述压紧支架和所述升降支架均为n型结构，所述压紧支架的底端与所述底座固定连接，所述升降支架位于所述压紧支架的内部。

可选地，所述压紧驱动件包括：气缸，所述气缸与所述压紧支架的顶部固定连接，所述气缸的驱动杆贯穿所述压紧支架的顶部并与所述升降支架的顶部固定连接。

可选地，所述限位轨道包括：进料口和出料口；

所述料带通过进料口进入所述限位轨道并通过出料口离开所述限位轨道，所述压紧机构位于所述进料口的上方。

可选地，所述底座远离出料口的一侧固定设置有缓冲轨道，所述缓冲轨道向远离所述出料口的方向且向下弯曲。

可选地，所述缓冲轨道上设置有第一限位轮和第二限位轮，所述第一限位轮和所述第二限位轮均与所述缓冲轨道转动连接，且所述第一限位轮和所述第二限位轮用于限定所述料带在所述缓冲轨道上的传送方向。

可选地，所述压紧滚轮的周侧固定设置有具有弹性的缓冲圈。

可选地，所述压紧滚轮的数量为两。

可选地，每个压紧滚轮上的缓冲圈的数量为三个，且每个压紧滚轮上的缓冲圈等间距排列。

本实用新型实施例提供的压紧机构中的压紧滚轮能够通过上方的压紧驱动件的带动，而向下移动，从而使得压紧滚轮对下方的料带进行压紧，如此能够防止料带因振动或其他外界因素脱离原有的运动轨迹。同时压紧滚轮的转轴水平放置并与所述压紧滚轮下方的料带的传送方向垂直，且所述压紧滚轮与升降支架转动连接能够减少压紧滚轮对料带施加的摩擦力，从而在压紧料带的同时也能够便于料带的传送。

附图说明

图1为本申请一实施例的led支架缺陷检测及剔除设备去除机柜中的部分侧壁的结构图；

图2为本申请一实施例的压紧机构的结构图；

图3为本申请一实施例的缺陷检测装置的结构图；

图4为本申请一实施例的缺陷剔除装置的结构图；

图5为本申请一实施例的缓冲机构的结构图；

图6为本申请一实施例的剔除模组在工作状态下的局部剖视图；

图7为本申请一实施例的为体现提升杆工作原理的局部剖视图；

图8为本申请一实施例的上料机构的结构图；

图9为本申请一实施例的led支架缺陷检测及剔除设备的结构图。

附图标记

1、机柜；11、显示器；12、声光报警装置；13、控制按钮；14、鼠标键盘操作模块；2、限位轨道；21、进料口；22、出料口；3、缺陷检测装置；31、相机镜头；32、取像驱动机构；321、取像支座；322、升降驱动组件；323、取像滑轨；324、取像滑块；325、光源；326、第一支架；327、第二支架；328、第三支架；4、缺陷剔除装置；41、剔除模组；411、凸模；4111、冲压头；412、凹模；4121、冲压口；42、剔除驱动机构；421、冲压组件；4211、冲压支架；4212、冲压驱动件；422、平移组件；4221、平移上支架；4222、平移单元；42221、平移支座；42222、平移丝杠；42223、平移驱动件；4223、平移下支架；4224、平移滑轨；4225、平移滑块；423、顶升组件；4231、顶升支架；4232、顶升驱动件；4233、顶升滑块；4234、顶升滑轨；424、剔除支架；425、固定板；5、废料收集箱；51、出料管；6、缓冲机构；61、提升板；62、缓冲板；63、缓冲件；64、提升杆；641、连接部；642、定位部；65、导向柱；7、压紧机构；71、底座；72、压紧滚轮；73、缓冲圈；74、升降支架；75、压紧驱动件；76、压紧支架；77、压紧滑轨；78、压紧滑块；79、支撑板；8、上料机构；81、缓冲环；82、从动滚轮；83、上料支架；831、底板；832、第一侧板；833、第二侧板；834、条形孔；84、上料驱动组件；841、主带轮、842、从带轮、843、传送带；844、上料驱动件；8441、上料伺服电机；8442、减速器；85、惰性滚轮；9、缓冲轨道；91、第一限位轮；92、第二限位轮。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型提供一种led支架缺陷检测及剔除设备，结合图1，所述led支架缺陷检测及剔除设备包括：机柜1、限位轨道2、缺陷检测装置3和缺陷剔除装置4。所述限位轨道2用于限定料带在所述led支架缺陷检测及剔除设备的传送方向，所述机柜1用于支撑所述限位轨道2、缺陷检测装置3和缺陷剔除装置4。

结合图3，所述缺陷检测装置3包括：相机镜头31和计算模块，所述相机镜头31位于所述限位轨道2的上方，所述相机镜头31的拍摄方向朝向未通过缺陷剔除装置4的料带，以获取料带的图像，所述计算模块与所述相机镜头31通信连接，所述计算模块用于根据通过相机镜头31获取到的图像判断料带是否存在缺陷颗粒。在本实施例中，所述相机镜头31的拍摄方向朝向正下方。

结合图4，所述缺陷剔除装置4包括：剔除模组41和用于驱动所述剔除模组41移动的剔除驱动机构42。

结合图1和图4，所述限位轨道2包括：进料口21和出料口22。所述料带通过进料口21进入所述限位轨道2并通过出料口22离开所述限位轨道2，所述剔除模组41位于所述出料口22远离所述进料口21的一侧；

在所述计算模块确定料带存在缺陷颗粒，且缺陷颗粒移动至所述缺陷剔除装置4的情况下，计算模块控制剔除驱动机构42通过移动所述剔除模组41，以使剔除模组41将料带上的缺陷颗粒进行剔除。

所述led支架缺陷检测及剔除设备自动化程度高，其中，所述缺陷检测装置3能够获得料带的图像，并将料带的图像传送至计算模块，在所述计算模块确定料带存在缺陷颗粒，且缺陷颗粒移动至所述缺陷剔除装置4的情况下，计算模块能够控制剔除驱动机构42通过移动所述剔除模组41，将料带上的缺陷颗粒进行剔除，方便快捷，节省人力。

结合图2，所述led支架缺陷检测及剔除设备还包括：压紧机构7。压紧机构7包括：底座71、压紧滚轮72、与所述压紧滚轮72转动连接的升降支架74、用于带动所述升降支架74沿上下方向移动的压紧驱动件75、位于所述限位轨道2下方的支撑板79，以及用于支撑所述压紧驱动件75的压紧支架76。

在本实例中，所述支撑板79水平放置，所述压紧支架76和所述限位轨道2均与所述支撑板79固定连接，所述支撑板79与所述底座71固定连接，所述压紧滚轮72位于所述限位轨道2的正上方，且所述压紧滚轮72的转轴水平放置并与所述压紧滚轮72下方的料带的传送方向垂直，所述压紧驱动件75位于所述压紧滚轮72的上方。所述底座71与所述机柜1固定连接。

所述压紧机构7中的压紧滚轮72能够通过上方的压紧驱动件75的带动，而向下移动，从而使得压紧滚轮72对下方的料带进行压紧，如此能够防止料带因振动或其他外界因素脱离原有的运动轨迹，并保证料带的平坦性。同时压紧滚轮72的转轴水平放置并与所述压紧滚轮72下方的料带的传送方向垂直，且所述压紧滚轮72与升降支架74转动连接能够减少压紧滚轮72对料带施加的摩擦力，从而在压紧料带的同时也能够便于料带的传送。

所述压紧机构7还包括：压紧滑轨77和压紧滑块78。所述压紧滑轨77与所述压紧滑块78沿上下方向滑移连接。

其中，所述压紧滑轨77与所述压紧支架76固定连接，且所述压紧滑块78与所述升降支架74固定连接；或者所述压紧滑轨77与所述升降支架74固定连接，且所述压紧滑块78与所述压紧支架76固定连接。所述压紧滑轨77和所述压紧滑块78的设置，能够增加压紧滚轮72在上下移动过程中的稳定性，防止滚轮在下降的过程中与料带发生错位，影响压紧滚轮72对料带的压紧效果。

所述压紧支架76和所述升降支架74均为n型结构，所述压紧支架76的底端与所述底座71固定连接，所述升降支架74位于所述压紧支架76的内部。对所述压紧支架76和所述升降支架74结构以及位置的限定，能够在保证压紧滚轮72上下移动的同时，提高所述压紧机构7的空间利用率。

所述压紧驱动件75包括：气缸。所述气缸与所述压紧支架76的顶部固定连接，所述气缸的驱动杆贯穿所述压紧支架76的顶部并与所述升降支架74的顶部固定连接。采用气缸驱动所述压紧滚轮72，能够快速对驱动压紧滚轮72移动，且气缸承载的负载大，能够对压紧滚轮72施加较大的压力，从而保证压紧滚轮72对料带的压紧效果。

所述压紧滚轮72的周侧固定设置有具有弹性的缓冲圈73。所述缓冲圈73的设置能够减少对料带的硬性挤压的力度，从而能够减少对料带的损坏。

所述压紧滚轮72的数量为两个，且两个压紧滚轮72沿料带的传送方向平行排列。如此能够保证料带的平坦性。

每个压紧滚轮72上的缓冲圈73的数量为三个，且每个压紧滚轮72上的缓冲圈73等间距排列。对缓冲圈73排列方式进行限定能够保证所述压紧滚轮72对料带进行均匀的挤压，从而能够进一步防止料带在压紧的过程中发生塑性变形或损坏。

结合图3，所述缺陷检测装置3还包括：用于驱动所述相机镜头31移动的取像驱动机构32。所述取像驱动机构32包括：与相机镜头31固定连接的取像支座321、用于带动所述取像支座321上下移动的升降驱动组件322、取像滑轨323、与所述取像滑轨323滑移连接的取像滑块324。在本实施例中，所述升降驱动组件322为滚珠丝杠升降组件。通过转动滚珠丝杠升降组件中的手柄，即可带动丝杠相对机柜1上下移动，进而使得丝杠带动所述取像支座321上下移动。

所述升降驱动组件322与所述机柜1固定连接，所述取像滑轨323固定设置于所述升降驱动组件322的一侧，所述取像滑块324与所述相机镜头31固定连接，所述取像滑块324相对所述取像滑轨323的移动方向与所述升降驱动组件322带动所述取像支座321移动的方向相同。在本实施例中，所述取像滑轨323与所述升降驱动组件322的机壳固定连接。所述取像滑轨323和所述取像滑块324的设置能够增加升降驱动组件322带动所述相机镜头31上下移动的稳定性。

所述缺陷检测装置3还包括：光源325、第一支架326、第二支架327和固定设置于所述机柜1内的第三支架328。

所述光源325位于所述限位轨道2的上方，所述光源325与所述第一支架326固定连接，所述第一支架326沿左右方向与所述第二支架327滑移连接，所述第二支架327沿上下方向与是第三支架328滑移连接。所述第三支架328与所述底座71固定连接。在所述光源325的位置确定后，所述第一支架326通过螺钉与第二支架327可拆卸固定连接，所述第二支架327通过螺钉与第三支架328可拆卸固定连接。所述第一支架326、第二支架327和第三支架328的设置能够调整光源325相对限位轨道2的位置。

结合图4、图5和图6，所述剔除模组41包括：凸模411和凹模412。所述凸模411朝向所述凹模412的一端固定设置有冲压头4111，所述凹模412朝向所述冲压头4111的一端开设有冲压口4121，所述冲压口4121与所述冲压头4111适配。所述剔除驱动机构42包括：用于带动所述凸模411沿上下方向移动的冲压组件421、用于带动所述凸模411和所述凹模412沿左右方向移动的平移组件422，以及用于固定所述冲压组件421和所述平移组件422的剔除支架424。在本实施例中，所述剔除支架424与所述机柜1固定连接；所述冲压组件421位于所述平移组件422的上方；所述平移组件422用于带动所述冲压组件421和所述剔除模组41沿左右方向移动。

在料带上的缺陷颗粒移动至所述凸模411和所述凹模412之间的情况下，所述平移组件422用于带动所述凸模411和所述凹模412水平移动，以使缺陷颗粒位于所述冲压头4111和所述冲压口4121之间，所述冲压组件421带动所述冲压头4111通过所述冲压口4121与所述凹模412插接，以将料带上的缺陷颗粒剔除。

所述缺陷剔除装置4能够通过平移组件422使剔除模组41对准缺陷颗粒，并通过冲压组件421带动凸模411向下移动，使得冲压头4111通过冲压口4121插入所述凹模412中，从而将料带上的缺陷颗粒剔除，结构简单，省时省力。

所述剔除驱动机构42还包括：用于带动所述凹模412沿上下方向移动的顶升组件423。在需要对料带进行剔除的情况下，所述顶升组件423带动所述凹模412向上移动，以使所述凹模412与所述料带相抵触。所述顶升组件423的设置能够在料带上的缺陷颗粒被剔除模组41进行剔除前，对料带的底部起到支撑的作用，如此能够避免所述剔除模组41在剔除料带上的缺陷颗粒过程中使料带发生形变。

所述顶升组件423包括：顶升支架4231和用于带动所述顶升支架4231沿上下方向移动的顶升驱动件4232。所述顶升驱动件4232与所述剔除支架424固定连接，所述顶升支架4231用于支撑所述平移组件422。所述顶升支架4231的侧壁与所述剔除支架424的侧壁之间设置有顶升滑块4233和顶升滑轨4234，所述顶升滑块4233与所述顶升滑轨4234滑移连接；在本实施例中，所述顶升支架4231和所述剔除支架424均为u型结构，且所述顶升支架4231位于所述剔除支架424的内部；所述顶升滑块4233与所述顶升支架4231的外侧壁固定连接，所述顶升滑轨4234与所述剔除支架424的内侧壁固定连接；所述剔除支架424滑移连接；所述剔除支架424的外侧的顶部固定设置有固定板425，所述剔除支架424通过所述固定板425与所述机柜1固定连接；所述顶升组件423为竖直放置的气缸，且所述气缸的支撑座与所述剔除支架424固定连接，所述气缸的伸缩杆的一端与顶升支架4231的底部固定连接。通过对所述顶升支架4231和所述剔除支架424结构的限定能够提高所述顶升组件423的空间利用率，同时还能够保证所述顶升支架4231稳定的上下移动。

所述平移组件422包括：平移上支架4221、用于带动所述平移上支架4221沿左右方向移动的平移单元4222，以及用于支撑所述平移单元4222的平移下支架4223。所述平移下支架4223与所述顶升支架4231固定连接，所述平移上支架4221用于支撑所述冲压组件421。

所述平移单元4222包括：平移支座42221、用于带动所述平移支座42221沿左右方向移动的平移丝杠42222和用于带动所述平移丝杠42222转动的平移驱动件42223。所述平移支座42221与所述平移上支架4221固定连接。在本实施中所述平移驱动件42223为伺服电机，所述平移丝杠42222与所述顶升支架4231转动连接，所述伺服电机的输出轴与所述平移丝杠42222固定连接，所述伺服电机通过带动所述平移丝杠42222转动使得平移丝杠42222带动所述平移支座42221沿所述平移丝杠42222左右移动，进而带动所述凸模411和所述凹模412左右移动，以使料带上的缺陷颗粒位于所述冲压头4111的正下方。

所述平移上支架4221位于所述平移下支架4223的上方。所述平移上支架4221和所述平移下支架4223之间设置有平移滑轨4224，以及与所述平移滑轨4224滑移连接的平移滑块4225。

所述平移滑轨4224与所述平移下支架4223固定连接，且所述平移滑块4225与所述平移上支架4221固定连接，或者所述平移滑轨4224与所述平移上支架4221固定连接，且所述平移滑块4225与所述平移下支架4223固定连接。所述平移滑轨4224和所述平移滑块4225的设置能够提高所述平移驱动件42223驱动所述凸模411和所述凹模412的稳定性。

所述缺陷剔除装置4还包括：废料收集箱5，用于存放已被剔除且通过所述冲压口4121脱离所述凹模412的缺陷颗粒。所述废料收集箱5位于所述凹模412下方，所述冲压口4121贯穿所述凹模412，以使已被剔除的缺陷颗粒通过所述冲压口4121脱离所述凹模412。在本实施例中，所述平移下支架4223的中间位置沿左右方向开设有条形通孔，所述条形通孔贯穿所述平移下支架4223的上表面和下表面，且所述冲压口4121远离所述冲压头4111的一端位于所述条形通孔的正下方；所述废料收集箱5位于所述平移下支架4223的下方并与所述顶升支架4231固定连接，且所述废料收集箱5的开口朝向所述条形通孔，如此料带上被剔除的缺陷颗粒可依次通过所述冲压口4121和条形通孔落入所述废料收集箱5内。所述废料收集箱5的底部设置有与所述废料收集箱5连通的出料管51，所述出料管51远离所述废料收集箱5的一端外接吸料器，所述吸料器通过所述收料管使废料收集箱5的底部产生负压，进而将落入所述废料收集箱5内的缺陷颗粒吸入所述吸料器内。

所述冲压组件421包括：冲压支架4211和用于带动所述凸模411沿上下方向移动的冲压驱动件4212。所述冲压支架4211与所述平移上支架4221固定连接，所述凹模412位于所述凸模411的正下方并与所述冲压支架4211固定连接。在本实施例中，所述冲压驱动件4212为冲压气缸。

结合图5、图6和图7，所述缺陷剔除装置4还包括：缓冲机构6。所述缓冲机构6包括：提升板61、位于所述提升板61下方的缓冲板62、位于所述提升板61和所述缓冲板62之间的缓冲件63，以及连接所述提升板61和所述缓冲板62的提升杆64。在本实施例中，所述缓冲件63为弹簧。

所述凸模411位于所述提升板61的下方并与所述提升板61固定连接，所述缓冲板62位于所述凹模412的上方，所述缓冲板62开设有贯穿所述缓冲板62的缓冲孔，所述凸模411通过所述缓冲孔与所述缓冲板62插接。所述提升杆64包括：连接部641和定位部642，所述定位部642固定设置在所述连接部641一端的周侧。所述缓冲件63套接在所述连接部641的外侧。所述凸模411与所述提升板61固定连接。在所述冲压驱动件4212通过所述提升板61带动所述凸模411向下移动的过程中，所述缓冲板62先与料带相抵触，所述冲压驱动件4212继续带动所述凸模411向下移动，以使缓冲件63发生弹性形变并对所述提升板61施加向上的作用力，如此会对所述凸模411下降进行缓冲，同时缓冲板62对所述料带的按压能够进一步防止料带在剔除过程中发生形变或损坏。所述平移上支架4221的上方固定设置有导向柱65，所述缓冲板62和所述提升板61均与所述导向柱65沿上下方向滑移连接。

在一种可选的实施例中，所述连接部641远离所述定位部642的一端沿自上而下的方向贯穿所述提升板61，并与所述缓冲板62固定连接，所述提升板61与所述连接部641滑移连接。如此在所述冲压驱动件4212带动所述提升板61向上移动的过程中，所述定位部642沿上下方向与所述提升板61卡接，从而使得连接部641带动所述缓冲板62向上移动。

在一种可选的实施例中，所述连接部641远离所述定位部642的一端沿自下而上的方向贯穿所述缓冲板62，并与所述提升板61固定连接，所述缓冲板62与所述连接部641滑移连接。如此在所述冲压驱动件4212带动所述提升板61向上移动的过程中，所述定位部642沿上下方向与所述缓冲板62卡接，从而使得提升杆64带动所述缓冲板62随所述提升板61向上移动。

在所述冲压头4111通过所述冲压口4121与所述凹模412插接的情况下，所述冲压头4111的侧壁至所述凹模412的距离小于料带的厚度。对所述冲压头4111与所述凹模412的单边间隙进行限定能够进一步防止料带在剔除的过程中发生形变，具体的可以防止位于缺陷颗粒边缘的料带在剔除的过程中向下变形。

结合图8，所述led支架缺陷检测及剔除设备还包括：上料机构8。所述上料机构8包括：主动滚轮、从动滚轮82、用于支撑所述主动滚轮和所述从动滚轮82的上料支架83，以及用于带动所述主动滚轮和所述从动滚轮82转动的上料驱动组件84。

所述主动滚轮和所述从动滚轮82的正上方均设置有惰性滚轮85，所述惰性滚轮85与所述上料支架83转动连接，所述惰性滚轮85的转轴与所述从动滚轮82的转轴平行，所述从动滚轮82的转轴与所述主动滚轮的转轴平行，所述惰性滚轮85用于通过所述主动滚轮和所述从动滚轮82下压料带。

在料带在惰性滚轮85、主动滚轮和从动滚轮82之间移动的过程中，惰性滚轮85通过对料带施加向下的压力增大料带与主动滚轮和从动滚轮82的摩擦力，从而使得主动滚轮和从动滚轮82在上料驱动组件84的驱动下稳定的带动料带移动，结构简单，省时省力。

所述上料驱动组件84包括：主带轮841、从带轮842、传送带843和用于带动所述主带轮841转动的上料驱动件844。

所述传送带843套接在所述主带轮841和所述从带轮842的外侧，所述主带轮841与所述主动滚轮同轴心，且所述主带轮841的转轴与所述主动滚轮的转轴固定连接，所述从带轮842与所述从动滚轮82同轴心，且所述从带轮842的转轴与所述从动滚轮82的转轴固定连接。通过主带轮841带动所述主动滚轮转动，并通过从带轮842带动所述从动滚轮82转动能够提高料带的传送效率。

所述主带轮841的半径与所述从带轮842的半径相同，所述主动滚轮的半径与所述从动滚轮82的半径相同。对所述主带轮841、从带轮842、主动滚轮和所述从动滚轮82半径的限定能够保证所述主动滚轮和所述从动滚轮82的转速相同，从而能够避免因所述主动滚轮和所述从动滚轮82的转速不同，传送料带的过程中对料带产生不利的摩擦进而损坏料带的表面。

所述主动滚轮、从动滚轮82和所述惰性滚轮85的周侧均固定设置有具有弹性的缓冲环81。所述缓冲环81的设置能够减少对料带的硬性挤压的力度，从而能够减少对料带的损坏。在本实施例中，所述缓冲圈73和所述缓冲环81的材质均为橡胶。

所述主动滚轮上的缓冲环81至所述主动滚轮正上方的惰性滚轮85上的缓冲环81的距离，和所述从动滚轮82上的缓冲环81至所述从动滚轮82正上方的惰性滚轮85上的缓冲环81的距离均小于所述料带的厚度。如此能够保证在左右方向上缓冲环81均匀的对料带施加作用力，以带动料带移动。

所述主动滚轮、从动滚轮82和每个惰性滚轮85上的缓冲环81的数量均为三个，且所述主动滚轮、从动滚轮82和每个惰性滚轮85上的缓冲环81等间距排列。对缓冲圈73排列方式进行限定能够保证在左右方向上缓冲环81均匀的对料带施加作用力，以带动料带移动，从而能够进一步防止料带在移动的过程中移动方向发生改变。

所述主动滚轮上的缓冲环81至所述主动滚轮正上方的惰性滚轮85上的缓冲环81的距离与所述从动滚轮82上的缓冲环81至所述从动滚轮82正上方的惰性滚轮85上的缓冲环81的距离相等。如此能够进一步保证在左右方向上缓冲环81均匀的对料带施加作用力，以带动料带移动。

所述上料支架83包括：底板831、第一侧板832和第二侧板833。所述第一侧板832和所述第二侧板833相互平行，且所述第一侧板832和所述第二侧板833均位于所述底板831的上方并与所述底板831固定连接。所述主动滚轮、从动滚轮82和所述惰性滚轮85均位于所述第一侧板832和所述第二侧板833之间，并与所述第一侧板832和所述第二侧板833转动连接。在本实施例中，所述底板831与所述机柜1固定连接。通过对所述上料支架83形状的限定，能够使得所述上料支架83稳定的支撑所述主动滚轮、从动滚轮82和所述惰性滚轮85的转动。

所述主带轮841与所述从带轮842均位于所述第一侧板832远离所述第二侧板833的一侧，并与所述第一侧板832转动连接。所述上料驱动件844位于所述第二侧边远离所述第一侧板832的一侧，并且所述上料驱动件844的输出轴与所述第二侧板833转动连接。在本实施例中，所述上料驱动件844包括：上料伺服电机8441和减速器8442。所述上料伺服电机8441的输出轴与所述减速器8442连接，所述减速器8442的输出轴与所述第二侧板833转动连接，所述减速器8442的输出轴并与所述主动滚轮的转轴固定连接。对所述主带轮841、所述从带轮842和上料驱动件844位置的限定，能够提高所述上料支架83的利用率，使所述上料支架83在有限的空间内也能够保证上料驱动组件84工作的稳定性。

所述第一侧板832和所述第二侧板833顶部均开设有条形孔834，所述惰性滚轮85的转轴通过所述条形孔834分别与第一侧板832和第二侧板833可拆卸固定连接，所述惰性滚轮85的轮体与所述惰性滚轮85的转轴转动连接。所述条形孔834的设置能够便于改变所述惰性滚轮85相对所述主动滚轮和从动滚轮82的间距，进而使得所述上料机构8能够对不同厚度的料带进行传送。

在一种可选的实施例中，结合图9，所述机柜1为双层结构，所述计算模块位于所述机柜1的下层，所述压紧机构7、缺陷检测装置3、缺陷剔除装置4和上料装置位于所述机柜1的上层。所述计算模块为工业计算机。所述机柜1的上层的外侧固定设置有显示器11、声光报警装置12、控制按钮13和鼠标键盘操作模块14，所述显示器11、声光报警装置12、控制按钮13和鼠标键盘操作模块14均与所述计算模块通信连接。显示器11用于提供人机交互界面，如工作人员可以通过所述显示器11观察相机镜头31拍摄到的图像，通过显示器11控制计算模块等；所述声光报警装置12用于在设备异常的情况下进行报警，如计算模块获取不到相机镜头31拍摄的图像，计算模块无法控制平移驱动件42223移动等；所述控制按钮13用于快速控制设备中的各个驱动件的工作状态，如在紧急情况下通过所述控制按钮13快速停止冲压驱动件4212等；所述鼠标键盘操作模块14用于通过显示器11调控计算模块，进而操控设备中的各个驱动件。

所述压紧机构7位于所述进料口21的上方，所述缺陷检测装置3位于所述压紧机构7和所述缺陷剔除装置4之间，所述上料机构8位于所述缺陷剔除装置4远离所述缺陷检测机构的一侧。将所述上料机构8设置在所述缺陷剔除装置4远离所述缺陷检测机构的一侧能够保证经过所述缺陷检测装置3和所述缺陷剔除装置4的料带的平坦性，防止经过所述缺陷检测装置3和所述缺陷剔除装置4的料带发生翘曲，从而能够提高所述缺陷检测装置3的检测效率和所述缺陷剔除装置4的剔除效率。

所述压紧机构7远离所述缺陷检测装置3的一侧和所述上料机构8远离所述缺陷检测装置3的一侧均固定设置有缓冲轨道9，所述缓冲轨道9向远离所述缺陷检测装置3的方向且向下弯曲。所述缓冲轨道9的设置能在料带进入和离开所述led支架缺陷检测及剔除设备时，对料带起到支撑的作用，防止所述led支架缺陷检测及剔除设备外侧的料带因重力带动所述led支架缺陷检测及剔除设备内的料带移动，从而影响对料带检测和缺陷颗粒剔除的效果，同时还能够避免料带在所述压紧机构7远离所述缺陷检测装置3的一侧和所述上料机构8远离所述缺陷检测装置3的一侧因自身重力发生塑性弯曲变形。

所述缓冲轨道9上设置有第一限位轮91和第二限位轮92，所述第一限位轮91和所述第二限位轮92均与所述缓冲轨道9转动连接，且所述第一限位轮91和所述第二限位轮92用于限定所述料带在所述缓冲轨道9上的传送方向。所述第一限位轮91和第二限位轮92的设置能够在料带进入和离开所述led支架缺陷检测及剔除设备时对料带的移动方向进限定，从而能够保证料带在所述led支架缺陷检测及剔除设备中稳定的移动。

所述led支架缺陷检测及剔除设备的基本工作过程如下：

步骤s1：计算模块控制上料驱动件844，以使所述上料机构8带动料带依次经过压料机构、缺陷检测装置3和缺陷剔除装置4；在计算模块通过相机镜头31获取到的料带的图像进行处理，并确定料带至少一处存在缺陷颗粒时，计算模块根据缺陷颗粒的相对料带的位置，控制上料机构8带动料带移动，以使缺陷颗粒移动至冲压头4111下方。

步骤s2：计算模块控制上料机构8停止带动料带移动；。

步骤s3：控制平移驱动件42223带动凸模411和凹模412沿左右方向移动，以使缺陷颗粒位于冲压头4111的正下方。

步骤s4：计算模块控制顶升驱动件4232带动平移组件422、冲压组件421和剔除模组41向上移动，以使凹模412的上表面与料带接触。

步骤s5：计算模块控制冲压驱动件4212带动凸模411向下移动，使缺陷颗粒脱离料带并通过冲压口4121落入废料收集器内。

当料带在沿左右方向的直线上同时出现至少两个缺陷颗粒时，在缺陷剔除装置4先将其中一个缺陷颗粒剔除后，计算模块重复执行步骤s3至步骤s5，以将料带在沿左右方向的同一直线上的所有缺陷颗粒剔除掉。

上述为所述led支架缺陷检测及剔除设备其中一种工作过程，而本申请并不限于此。所述led支架缺陷检测及剔除设备结构简单、自动化程度高，能够快速的将料带上的缺陷颗粒进行剔除，操作方便，省时省力。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。