专利名称：测量空间两轴平行度装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种检验测量装置，特别是一种测量空间两轴平行度装置。
背景技术：
目前，测量空间两轴轴线的平行度广泛采用块规或内径百分表，通过测量规定长度内空间两轴侧母线间的距离，经过计算得到两轴轴线的平行度值。块规的测量方式是利用几块块规重叠起来，放在空间两轴之间，靠测量人员的经验确定块规的松紧程度，判断空间两轴侧母线是否平行，经过计算得到两轴轴线的平行度。内径百分表的测量方式是利用内径百分表，靠测量人员的技术水平测量出空间两轴侧母线的距离，经过计算得到两轴轴线的平行度值。这两种测量方式在实际操作中都比较复杂，测量数值不准确。同时，要求测量人员有较高技术水平和实际操作经验，人为因素对测量数值的影响很大。
发明内容
本实用新型的目的是提供一种测量空间两轴平行度装置，它使用方便，结构简单，测量值精确，而且避免了人为因素对测量数值的影响。
本实用新型的技术方案是设计一种测量空间两轴平行度装置，其特征是在V形底座中间有一V字形槽，V字形槽中部有装表架孔，装表架孔中固定有千分表架，千分表架通过连接件固定有千分表，千分表的表头高出千分表架顶端。
所述的千分表架是T形表架，T形表架上有表孔。
所述的连接件是定位压板和螺钉。
所述的V字形槽夹角选择在120°～170°之间。
所述的千分表架通过蝶形螺钉固定在底座的装表架孔内。
本实用新型的特点是由于本实用新型的底座采用机械稳定性和耐磨性均较好的铸铁件制成V字形，把它放在空间轴上稳定性好，千分表装在T形表架中与底座用蝶形螺钉锁紧，整体刚性好，测量数值在千分表中直接读出，直观准确，测量精度为0.001毫米，并且操作简单，可以避免人为因素对测量数值的影响。
附图1是实施例结构示意图。
附图2是实施例T形表架结构示意图。
附图3是实施例底座结构示意图。
附图4是实施例底座B-B剖面示意图。
图中1、空间轴I；2、压板；3、螺钉；4、T形表架；5、千分表；6、蝶形螺钉；7、底座；8、空间轴II；9、表头；10、装表孔；11、装表架孔。
具体实施方式
图1是实施例结构示意图，如图所示，千分表5装在T形表架4的装表孔10中，用压板2定位，螺钉3紧固，T形表架4装在底座7的装表架孔11中，并用蝶形螺钉6锁紧。将此装置放于规定长度内一端的空间轴II8上，沿空间轴II8的外表面做微量滑动，使千分表5的表头9在空间轴I1上滑动，可从千分表5上读出最低点的值。同样方法可从千分表5上读出规定长度内另一端最低点的值，两值之差就是空间两轴平行度值。
图2是实施例T形表架结构示意图，如图所示，千分表5装在T形表架4的装表孔10内，用压板2定位，螺钉3紧固。
图3是实施例底座结构示意图，如图所示，V形底座7采用机械稳定性和耐磨性均较好的铸铁件制成，V字形夹角的大小可以根据轴径进行选取，一般不小于120°不大于170°。
图4是实施例底座B-B剖面示意图，如图所示，在底座7中间有一装表架孔11，T形表架4通过装表架孔11用蝶形螺钉6锁紧在底座7上。
权利要求1.测量空间两轴平行度装置，其特征是在V形底座中间有一V字形槽，V字形槽中部有装表架孔，装表架孔中固定有千分表架，千分表架通过连接件固定有千分表，千分表的表头高出千分表架顶端。
2.根据权利要求1所述的测量空间两轴平行度装置，其特征是所述的千分表架是T形表架，T形表架上有表孔。
3.根据权利要求1所述的测量空间两轴平行度装置，其特征是所述的连接件是定位压板和螺钉。
4.根据权利要求1所述的测量空间两轴平行度装置，其特征是所述的V字形槽夹角选择在120°～170°之间。
5.根据权利要求1所述的测量空间两轴平行度装置，其特征是所述的千分表架通过蝶形螺钉固定在底座的装表架孔内。
专利摘要本实用新型涉及一种检验测量装置，特别是一种测量空间两轴平行度装置，其特征是在V形底座中间有一V字形槽，V字形槽中部有装表架孔，装表架孔中固定有千分表架，千分表架通过连接件固定有千分表，千分表的表头高出千分表架顶端。所述的千分表架是T形表架，T形表架上有表孔。这种测量空间两轴平行度装置，使用方便，结构简单，测量值精确，而且避免了人为因素对测量数值的影响。
文档编号G01B5/24GK2804793SQ200520078919
公开日2006年8月9日 申请日期2005年6月14日 优先权日2005年6月14日
发明者吴宁军 申请人:西安启源机电装备股份有限公司