专利名称：基于散热基片的微波检波器件的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种微波检波器件。具体地说，它是一种基于散热基片的微波检波器件。
背景技术：
在已有技术中，参见图6，普通的微波检波器主要包括一个同轴结构11和设在该同轴结构中的微波检波器件12，其中微波检波器件实际上是一只半导体二极管D。在实际微波测量中，同轴结构中还设有一个电阻R、电容C和电感L，其中电阻R用于与微波输入阻抗的匹配，电容C和电感L可以根据被测微波频率的不同选择它们的参数，有时也可以用分布电容和分布电感代替。它所存在的问题是检波二极管D不具备良好的散热性能，这是由它的机械结构所导致的。例如它通常采用如图7所示的机械结构，该结构具有一个可串联在同轴结构芯线上的短轴13(参见图8)，在该短轴上设有一个用于安装定位的小圆片14，所述的检波二极管装在小圆片上或装在短轴中，同轴结构中的定位结构15、16将小圆片夹在中间，使其在轴向得到定位。参见图8、9，所述的小圆片有时也作为载片，前述匹配电阻R和电容C可以集成在上面。
上述结构基本没有考虑检波二极管D的散热问题，如果有散热，也是通过小圆片来散热的，不仅其散热面积小，且材料的散热性也不一定好，故器件的散热性能较差。由于散热性能不好，使检波器件对被测微波信号功率的承受力降低，一般它的最大测量功率在0.1W左右，输出信号幅度最大只有200mV左右，抗干扰能力较差。另外，如果用该检波器测量10W、100W或1000W量级的较高功率微波，需在它之前加一级或多级微波衰减器，如果衰减器配置的不好，会影响测量精度，特别是加多级衰减器时，同时，也增加了操作环节，使测量不够方便。
实用新型内容本实用新型的目的是针对已有技术中的缺点，首先是提供一种能提高测量功率和抗干扰能力的基于散热基片的微波检波器器件，其次是利用散热基片提高测量电路的集成度，从而简化测量环节。
为实现上述目的，本实用新型的解决方案如下本微波检波器件具有一个导热介质基片，在该导热介质基片的中轴线上至少设有前、后两段印刷导线，并在该两段印刷导线之间设有一个检波二极管，所述检波二极管的输入端与前段印刷导线相接，其输出端与后段印刷导线相接。
上述的导热介质基片以采用氧化铍或氧化铝或氮化铝或低碳钢材料制成的厚膜或薄膜电路基片为宜。
在上述导热介质基片两个与其中轴线平行的端边上设有导线，并且在该导热介质基片上还接有匹配电阻R、电容C和电感L。
在上述导热介质基片前段印刷导线上串接一个横布的电阻膜层，并且该电阻膜层横跨所述基片的两端边导线。
通过上述解决方案可以看出，本实用新型采用了一个具有良导热系数的导热介质基片作检波二极管的载体，检波二极管通过该载体进行散热，不仅散热面积大，且材料的散热性能也好，故大大加强了检波二极管器件的散热性能，提高了对测量信号功率的承受力。对于同一型号的检波二极管，已有技术的量大测量功率仅为0.1W左右，信号的输出幅度为200mV左右，而采用本结构，在同等条件下测量，它的最大测量功率可达W级，信号的输出幅度达V级，比已有技术提高了近一个数量级，因此，大大提高了信号的测量功率和抗干扰能力。再者，根据被测微波功率的不同，可将衰减电阻网络直接集成在导热介质基片上，不仅简化了操作环节，方便了测量，更重要的是可以从器件设计上整体考虑衰减参数和输入阻抗匹配的问题，从而消除多级衰减对测量的影响，提高测量精度。
图1、本实用新型的整体结构示意图。
图2、本检波器件安装在同轴结构中的结构示意图。
图3、图3的A-A面结构示意图。
图4、本检波器件的整体结构示意图之二。
图5、图5的后视图。
图6、现有同轴检波器的测量原理示意图。
图7、现有同轴检波器的结构示意图。
图8、检波器件机械结构的放大示意图。
图9、检波器件的等效结构图(图8的侧视图)。
具体实施方式
下面根据实施例详细说明本实用新型的具体结构。
参见图1，本检波器件用一个导热介质基片1作为载片，在基片1的中轴线上设有前段印刷导线2和后段印刷导线3，在该两段印刷导线之间设有一个检波二极管4，并且该检波二极管的输入端与前段印刷导线2相接，其输出端与后段印刷导线3相接。所述的基片1可以采用厚膜或薄膜电路基片，并且最好采用氧化铍或氧化铝或氮化铝或低碳钢材料制作，以保证其良好的导热性能。基片1的面积很大，是已有小圆片的几倍，再加之材料具有很好的散热性能，故可使检波二极管4散热性能大大高于已有技术。
参见图2、3，由于基片面积较大，它的安装结构也与已有技术大不相同。在同轴结构6中设有一个圆筒5，圆筒5的内壁两端分别设有基片插槽，基片1通过插槽安装在圆筒5中，并通过同轴结构中的定位块7进行圆筒5的轴向定位，其中同轴结构中的芯线8和8’分别与基片上的前段印刷导线和后段印刷导线抵触相接。
参见图4、5，为了将前述的匹配电阻R、电容C和电感L设置在基片1上，需将基片1的两端边线设置导线9、9’，它们用于与同轴结构的外壳电连接，然后再将匹配电阻R、电容C和电感L设在基片1上，构成检波测量电路。为了使本器件能直接测量不同功率的较高功率微波，在该基片的前段印刷导线2上可串接一个横布的电阻膜层10，也就是说，将前段印刷导线2的中部截掉一段，然后将与截掉部分等宽的电阻膜层10布置在截掉部位，并且该电阻膜层横跨两端边导线9、9’，实际上，该电阻膜层在该检波器的信号输入端形成一个电阻匹配网络，调节该电阻膜层10的参数，可以改变电阻匹配网络值的大小，依此可做成几种相应规格的器件，用来测量几种不同功率的较高功率微波(如10W、100W、1000W等)。
权利要求1.一种基于散热基片的微波检波器件，其特征是它具有一个导热介质基片(1)，在该导热介质基片的中轴线上至少设有前、后两段印刷导线(2)、(3)，并在该两段印刷导线之间设有一个检波二极管(4)，所述检波二极管(4)的输入端与前段印刷导线(2)相接，其输出端与后段印刷导线(3)相接。
2.根据权利要求1所述的基于散热基片的微波检波器件，其特征是所述的导热介质基片(1)是采用氧化铍或氧化铝或氮化铝或低碳钢材料制成的厚膜或薄膜电路基片。
3.根据权利要求1或2所述的基于散热基片的微波检波器件，其特征是在所述导热介质基片(1)的两个与其中轴线平行的端边上设有导线(9)、(9’)，并且在该导热介质基片(1)上还接有匹配电阻R、电容C和电感L。
4.根据权利要求3所述的基于散热基片的微波检波器件，其特征是在所述导热介质基片前段印刷导线(9)上串接一个横布的电阻膜层(10)，并且该电阻膜层横跨所述基片的两端边导线(9)、(9’)。
专利摘要本实用新型是一种基于散热基片的微波检波器件。它具有一个导热介质基片，在该导热介质基片的中轴线上设有前、后两段印刷导线，并在该两段印刷导线之间设有一个检波二极管，所述检波二极管的输入端与前段印刷导线相接，其输出端与后段印刷导线相接。本实用新型采用一个具有良导热系数的导热介质基片作检波二极管的载体，检波二极管通过该载体进行散热，不仅散热面积大，且材料的散热性能也好，故大大加强了检波二极管器件的散热性，提高了对测量信号功率的承受力，经实际测量，它的最大测量功率可达到W级，输出信号的幅度可达V级，比已有技术提高了近一个数量级，因此，提高了信号的测量功率和抗干扰能力。
文档编号G01R29/08GK2816823SQ20052007917
公开日2006年9月13日 申请日期2005年8月1日 优先权日2005年8月1日
发明者方进勇 申请人:方进勇