专利名称：射频测试接口的制作方法
技术领域：
本发明涉及电子装置，如移动终端，更特别地，涉及用于电子装置的射频 测试接口，例如移动终端。
背景技术：
Mil允许技术人员在不移除天线的情形下测试装置的射频性能，外部天线 可有利于电子装置如移动终端的测试。例如，图1A图示出一个可包含于一个电 子装置上以澳赋该装置的射频性能的常规外部天线连接器ioo。例如，该连接器100包括接口 110,用以接纳射频测试探针，以鄉频触点120和接地触点130, 其可分别连接至lj一印刷电路板上的射频和接地触点上。图1B提供了该孙懒虫点 120和接地触点130的另一个视图。不巧的是，该连接器100对于每个单元花费 大约0.15美元，当制作上百万的电子装置，如蜂窝式电话和其它使用射频通讯 技术的移动终端时，耗费是惊人的。 发明内容在本发明的一些实施例中， 一种用于电子装置的射频测试接口包括--电路 板，该电路板包括一射频触点并且具有一穿过该电路板延伸的开口。 一天线构 形成接合所述射频触点。 一测试连接器包括一构形成接合所，^I4点的导电 触点和一非导电柱，该非导电柱构形成通过电路板的开口被接纳，以使天线与射频触点脱开接合。在本发明的其它实施例中，该射频触点穿过电路板延伸，且该导电触点构 形成接合位于电路板的第一侧的射频触点，而天线构形成接合位于电路板的第 二侧的射频J虫点。在本发明的其它实施例中，天线为一片簧天线。在本发明的其它实施例中，该测试连接器为一弹簧加载的领iJ试连接器。在本发明的其它实施例中，该电路板还包括一接地触点，而该导电触点为 第一导电触点，和该测试连接器还包括一第二导电触点，该第二导电触点构形 成接合该接地触点。在本发明的其它实施例中，该电路板还包括一相配的部件触点。该天线包 括第一部分，该第一部分构形成接合射频触点，和第二部分，该第二部分构形 成接合相配的部件触点。该非导电柱构形成通过电路板的开口被接纳，以使该 第一天线部分与射频触点脱开接合，和将该第二天线部分与相配的部件触点脱 开接合。在本发明的其它实施例中，该电路板还包括一接地触点。该天线包括第一 部分，该第一部分构形成接合射频触点，和第二部分，该第二部分构形成接合 该接地触点。该非导电柱构形成通过电路板的开口被接纳，以使该第一天线部 分与射频触点脱开接合，而不使该第二天线部分与接地触点脱开接合。在本发明的其它实施例中，该，为一平面的倒F天线。在本发明的其它实施例中，该测试连接器为50欧姆的测i^接器。在本发明的其它实施例中，该电子装置为一移动终端。 在本发明的进一步实施例中， 一种用于电子装置的射频测试接口包括一电路板，该电路板包括一射频触点。 一天线包括一弹性件，该弹性fHS使天线接 合射频J4点。 一测试连接器包括一导电触点，以及构形成接合该弹性件，从而将天线iw频J4点移离开，从而使得导电触点能够接合射频触点。在本发明的更进一步实施例中，该弹性件包括一呈锥形的部分，该测试连接器构形成接合该弹性件的呈锥形的部分。在本发明的更进一步实施例中， 一对准结构构形成接纳从中通过的测试连接器，从而定位该导电触点对齐于射频J虫点。在本发明的更进一步实施例中，该对准结构包括在电子装置的外壳上的一个开口。在本发明的更进一步实施例中，该电路板还包括一接地触点，而导电触点 为一第一导电触点。该测试连接器还包括一第二导电触点，该第二导电触点构 形成接合该接地触点。在本发明的更进一步实施例中，该电路板还包括一相配的部件触点。该天 线包括第一部分，该第一部分构形成接合射频触点，和第二部分，该第二部分 构形成接合相配的部件触点。该测试连接器构形成接合该弹性件，从而将该第一天线部分力Alt繊虫点移离开，且将该第二天线部分从相配的部件触点移离开。在本发明的更进一步实施例中，该电路板还包括一接地触点。该天线包括6第一部分，该第一部分构形成接合射频触点，和第二部分，该第二部分构形成 接合该接地触点。该测试连接器构形成接合该弹性件，从而将该第一天线部分 ,AI^频J4点移离开，而不将该第二天线部分从接地触点移离开。在本发明的其它实施例中，用于电子装置的射频测试接口包括一电路板， 该电路板包括一射频触点并且具有一穿过电路板延伸的开口。 一天线构形成接 合射频J虫点。 一测试连接器包括一构形成接合射频J虫点的非导电触点和一导电柱，该导电柱构形成ffiil电路板的开口被接纳，以将天线与射频触点脱开接合。
图1A和1B图示出一常规外部天线连接器；图2A—2D图示出根据本发明的一些实施例的射频测i式接口；和 图3A—3D图示出根据本发明的进一步的实施例的一射频测试接口。
具体实施方式
现在将参考附图描述本发明的具体的示意性实施例。然而，本发明可以多 个不同的形式来实施，且不应当解释为对在此所述的实施例的限制；而是，提 供这些实施例，以使得本公开内容更为彻底和完整，且将向本领域技术人员完 整地表达出本发明的范围。在附图中所图示出的具体的示意性实施例的详细描 述中所采用的术语并不意味着是对本发明的限制。在附图中，相同的附图标记 代表相同的部件。在此所使用的，单数形式的"一"、"一个"和"这个"，如没有另夕卜特意的 声明，将同样意味着包括复数形式。可进一步理解，在本说明书中使用的术语 "包括"、"包含"、"包括有"和/或"具有"，指明了存在所述的特征，整数，步 骤，操作，部件和/或元件，但不排除存在或添加一个或多个其它特征，整数， 步骤，操作，部件，元件和/或他们所构成的组。a絵理解，当一个部件被称作 被"连接"或"$禺合(或联接)"到其它部件上，其可以被直接连接或耦合到另 一个部件，或存在中间部件。而且，在此所述的"连接"或"耦合"包括无线 连接或耦合。在此所述的术语"和/或"包括一个或多个相关联的任意和所有的 组合。除非另外进行定义，在此所用的所有的术语(包括技术和科学术语)具有 与本领域普通技术人员通常的理解相同的含义。可以进一步理解，所述术语， 如通常在词典中定义的术语，除非在此特别定义，应被解释成具有与在相关领义，而不应解释成理想化的或过于形式化的含义。在此使用的术语"移动终端"可包括一个带有或不带有多线显示的卫星或 蜂窝式无线电话(或移动电话)；个人通信系统(PCS)终端，其可将蜂窝式无 线电话与数据处理、传真和数据通信能力结合或组合；个人数字助理(PDA), 其可包括一无线电话，无线传呼机，因特网/企业内部互联网通道，网络浏览器， 管理器，日历和/或封求定位系统(GPS)接收器；和一个常规便携式电脑和/或 掌上型电脑接收器或其它包括一无线电话收发机的设备。移动终端也可被称作 "扩展计算"设备。本发明的一些实施例来源于M提供一内置的射频测试接口可减少电子装 置的费用从而不再需要附加的射频测i式连接器的实现，该电子装置，如移动终端结合有射频技术。现参考图2A所示，根据本发明的一些实施例， 一个用于电 子装置如移动终端的示例+ 频测试接口包括一电路板200,该电路板包括一射 '懒虫点205, —接地触点210和一穿过电路板的开口215。该测试接口还包括一 测试连接器230，该测试连接器包括一导电触点235， 一非导电柱240，和附加 的导电触点245。根据本发明的一些实施例，该测试连接器230可以是50欧姆 的测试连接器。 一个天线260,如一片簧天线，可构形成连接该射频J虫点205。 如图2A中所示，该测试连接器230例如可通过电子装置的外劍西入，以 接合电路板200，从而不需要电路板200上的一个单独(或分离)的连接器而执 行射频测试。而且，如图2A中所图示的该测试接口实施例，当在制微程和/ 或诊断服务过程中执行射频性能测试时，可以使测试连接器230能够与天线260 脱开接合。更具体地说，可通过开口215接纳测试连接器230的非导电柱240， 以使天线260与射频J4点205脱开接合。这可使测试连接器230上的导电触点 235冑,合射频触点205，而使测试连接器230上的导电触点245肖,接合接 地触点210，用以在电子装置上执行射频测试。该导电触点235可以是弹簧加载 的，以增强导电触点235和射频触点205之间的机械和电连接(或机电连接)。 为便于射频性能测试，该电路板200可构形成使电路板200相对天线260的一 侧暴露于电子装置的外壳。例如，在本发明的一些实施例中，电路板200相对 于外壳的一侧可通过移除电子装置的电池盖而被接近。在其它的实施例中，电 子装置的外壳可构形成具有开口，以接纳穿过该开口的导电触点235,非导电柱 240和附加的导电触点245。根据本发明的一些实施例，天线可包括一第一部分260，该第一部分构形 成与射频触点205接合以及与该射频触点205脱开接合，和一第二部分270，该 第二部分构形成与电路板200上的相配的(或匹配)部件触点275以及与电路 板200上的该相配的部件触点275脱开接合。该电路板200可在其上包括阻抗 相配的部件，其用来调谐天线，以提高天线性能。典型地，这些部件在制造或 诊断测试中的射频测试过程中是断开连接的。因此，测试连接器230的非导电 柱240在ilil开口 215被接纳时，也可使天线的第二部分270从相配的部件触 点275脱幵接合。然而，要注意的是，在本发明的其它实施例中，该第二部分 270可在非导电柱240插入时依然保持与相配的部件触点275接合。根据本发明的进一步的实施例，天线可包括一第三部分280，用于代替上 面讨论的第二部分270或作为前述的第二部分270的附加，该第三部分构形成 与电路板200的接鹏虫点210接合或接地一寄生辐射部件。这在当天线为一平 面倒F型天线时特别有效，该平面倒F型天线为一种用于多种类型的移动终端 上的常用天线构形。在天线部分280和接地触点210之间的这种连接在射频测 试中不需要断开；因此，天线部分280构形成当测试连接器230的非导电柱240 通过开口 215被接纳时保持与接地触点210接合。根据本发明的进一步的实施例，现将参考图2B-2D描述一个用于电子装置 的示例性射频测试接口。如图2B所示， 一外壳，例如它包括一开口215，和一射 频i虫点205'。该开口215'可构形成穿过其中以接纳一非导电柱240'，从而使天 线的第一部分或天线连接器260'与射频触点205'脱开接合，且使得导电触点235' 育滩接合射,働虫点205',以在电子装置上执行射频测试，如图2C所示。天线的 第二部分駄线连接器270可被用于接合相配的部件触点。这如图2D中所示， 其中图示出第一天线部分或天线触点部分260'和第二天线部分或天线触点部分 270'，该第二天线部分或天线触点部分270'接合相配的部件触点275'。应注意 的是，根据本发明的各种实施例，该第二天线或天线触点部分270'可在非导电 柱240'插入时保持与相配的部件触点275'接合或者在非导电柱240'插入时与相 配的部件触点275'脱开接合。再次如图2A所示，根据本发明的其它实施例，非导电柱240和导电触点 235的功能可进行互换。即，柱240可以是导电的，而触点235可以是非导电的， 从而允许天线，而不仅仅是电子装置，如移动终端的测M;。在其它的进一步的实施例中，柱240和触点235均可以是导电的以允许电子装置和天线的同步测 试。如一探针可包括附加的电路以确保在与柱240和触点235相关的两个信号 线之间存在有限的相互耦合。现如图3A所示，根据本发明的进一步的实施例的一个用于电子装置，如 移动终端，的一示例ftl^频测试接口，包括电路板300，该电路板300包括一射 频J虫点305和一接地触点310。 一天线315包括一弹性件320，该弹性件320促 使天线315接合射'懒虫点305，如图3A所示。该电子装置在其外壳330上包括 一开口，穿过该开口可接纳一测i式连接器。如图3B所示，图示出 测试连接器350，其包括一导电触点355，该导电 触点可构形成接合电路板300的射频触点305,以及包括触点360，触点360可 构形成接合电路板的接地触点310。根据本发明的一些实施例，该测试连接器 350可为50欧姆的测试连接器。特别地，该测试连接器350可接合该弹性件320 以将天线315 似部件从射频触点305上移开。应注意的是，在一些实施例 中，天线连接器和天线可以是单个部件。在如图3B中所示意的本发明的一些实 施例中，该弹性件320为锥型，使得当观l賦连接器350接合该弹性件320时， 将天线315位移到射频触点305的左侧。如图3C中进一步所图示的，其中，该 测试连接器350 S31弹性件320将天线315推到左侧而完全使天线315位移。 导电触点355接合射频触点305，而触点360接合接地触点310。外壳330上的 开口或其它对准结构可用以将触点355和360与触点305和310分别对齐。该 弹性件320构形成一旦测试连接器350被移去，就促使天线315返回到与射频 触点305接合。有利的是，如以上根据图2A—2D所讨论的实施例那样，图3A 一3C的射频测试接口实施例可允许该电子装置的射频性能被测试而不需要单独 的射频(RF)连接器。此外，以上关于图2A—2D所讨论的依据本发明的其它的实施例，天线315 可包括一第一部分，该第一部分构形成接合射频J纟点305和与射频J4点305脱 幵接合，和一第二部分，该第二部分构形成接合电路板300上的相配的部件角虫 点和与电路板300上的相配的部件触点脱开接合。该电路板300在其上可包括 阻抗相配的部件，该部件用于调谐天线，用以提高天线性能。典型地，这些部 件在制造或诊断测试中的射频测试过程中是断幵连接的。由此，当测试连接器 350接合弹性件320时,弹性件320也可将天线315的第二部分与相配的部件触点脱开接合。根据本发明的进一步实施例，天线315可包括一第三部分，用于代替前面 所讨论的第二部分或作为前述第二部分的附加，该第三部分构形成接合电路板300的接地触点310或接地一寄生辐射部件。这在当天线315为一平面倒F型天 线时特别有效。在第三天线部分和接地触点310之间的这种连接在射频测试中 不需要断开；因此，第三天线部分构形成当测试连接器350接合弹性件320时 保持与接地触点310接合。在附图和说明书中记载了本发明的示意性实施例。虽然使用了特殊的术语， 它们仅仅被用于普遍的和描述性的含义，而不是为了限制，本发明的保护范围 由所附的权利要求来定义。
权利要求
1、一种用于电子装置的射频测试接口，它包括电路板，所述电路板包括射频触点并且具有穿过所述电路板延伸的开口；天线，所述天线构形成接合所述射频触点；测试连接器，所述测试连接器包括构形成接合所述射频触点的导电触点和非导电柱，所述非导电柱构形成通过所述电路板的所述开口被接纳，以使所述天线与所述射频触点脱开接合。
2、 如权利要求l所述的射频测试接口，其特征在于，所述射频i4点穿过所述电路板延伸且所述导电触点构形成接合位于所述电路板的第一侧的所述射频触点，而所述天线构形成接合位于所述电路板的所述第二侧的所述射频i虫点。
3、 如权利要求l所述的射频测试接口，其特征在于，所述天线包括天线触 点，所述天线触点包括片簧。
4、 如权利要求l所述的射频测试接口，其特征在于，所述测试连接器是弹 簧加载的测试连接器。
5、 如权利要求l所述的射频测试接口，其特征在于，所述电路板还包括接 地触点，和其中所述导电触点是第一导电触点，以及所述测试连接器还包括第 二导电触点，所述第二导电触点构形成接合所述接地触点。
6、 如权利要求l所述的射频测试接口，其特征在于，所述电路板还包括相 配的部件触点，其中所述天线包括第一部分，所述第一部分构形成接合所述射 频触点，以及第二部分，所述第二部分构形成接合所述相配的部件触点，和其 中所述非导电柱构形皿过所述电路板的所述开口被接纳，以使所述第一天线 部分与所,繊4点脱开接合。
7、 如权利要求l所述的射频测试接口，其特征在于，所述电路板还包括接 地触点，所述天线包括第--部分，所述第一部分构形成接合所述射频触点，以 及第二部分，所述第二部分构形成接合所述接地触点，和其中所述非导电柱构 形成通过所述电路板的所述开口被接纳，以使所述第一天线部分与所述射频触 点脱开接合。
8、 如权利要求7所述的射频测试接口，其特征在于，所述天线为平面倒F 天线。
9、 如权利要求1所述的射频测试接口，其特征在于，所述测试连接器为 50欧姆的测试连接器。
10、 如权禾崾求1所述的射频测试接口，其特征在于，所述电子装置为移动终端。
11、 一种用于电子装置的射频测试接口，它包括 电路板，所述电路板包括射频J虫点；天线，所述天线包括弹性件，所述弹性件促^^f述天线接合所述射频J虫点;和测试连接器，所述观赋连接器包括导电触点，且构形成接合所述弹性件， 从而将所述天线与所，频触点脱开接合，以使所述导电触点能，合所， 繊虫点。
12、 如权利要求ll所述的射频测试接口，其特征在于，所述弹性件包括呈锥形的部分，且其中所述测试连接器构形成接合所述弹性件的所皿锥形的部 分。
13、 如权利要求11所述的射频测试接口，其特征在于，其还包括对准结构， 所述对准结构构形成接纳从中穿过的所述测试连接器，从而定位所述导电触点 对齐于所,频触点。
14、 如权禾腰求13所述的射频测试接口，其特征在于，所舰准结构包括在所述电子装置的外壳上的开口 。
15、 如权利要求1I所述的射频测试接口，其特征在于，所述电路板还包括 接地触点，和其中所述导电触点为第一导电触点，而所述测试连接器还包括第 二导电触点，所述第二导电触点构形成接合所述接地触点。
16、 如权利要求ll所述的射频测试接口，其特征在于，所述电路板还包括 相配的部件触点，其中所述天线包括第一部分，所述第一部分构形成接合所述 射频触点，以及第二部分，所述第二部分构形成接合所述相配的部件触点，和 其中所述测试连接器构形成接合所述弹性件，从而将所述第一天线部分从所述 射^M点移开。
17、如权利要求ll所述的射频测试接口，其特征在于，所述电路板还包括 接地触点，其中所述天线包括第一部分，所述第一部分构形成接合所述射频触 点，以及第二部分，所述第二部分构形成接合所述接地触点，和其中所述测试连接器构形成接合所述弹性件，从而将所述第一天线部分从所，频i虫点移开。
18、 如权利要求17所述的射频测试接口，其特征在于，所述天线为平面倒F天线。
19、 如权利要求ll所述的射频测试接口，其特征在于，所述测试连接器为 50欧姆的测试连接器。
20、 如权利要求ll所述的射频测试接口，其特征在于，所述电子装置为移 动终端。
21、 一种用于电子装置的射频测试接口，它包括.-电路板，所述电路板包括射频触点并且具有穿过所述电路板延伸的开口； 天线，所述天线构形成接合所述射频触点；和测试连接器，所述测试连接器包括构形成接合所述射步鹏4点的非导电触点 和导电柱，所述导电柱构形成通过所述电路板的所述开口被接纳，以使所述天 线与所述射^M点脱开接合。
全文摘要
一种电子装置的射频测试接口，包括一电路板，该电路板包括一射频触点并且具有一穿过电路板延伸的开口。一天线包括一弹性件，该弹性件促使天线连接到射频触点。一测试连接器包括一导电触点，以及被设置成连接该弹性件以将天线从射频触点移开，从而允许导电触点连接到射频触点。
文档编号G01R1/20GK101258648SQ200580045154
公开日2008年9月3日 申请日期2005年8月9日 优先权日2004年12月29日
发明者S·L·万斯 申请人:索尼爱立信移动通讯股份有限公司