专利名称：天线性能测试箱的制作方法
技术领域：
本实用新型为一种天线性能测试箱，应用于配置有天线的电子仪器的天线性能测试。
背景技术：
由于无线传输的重要性日渐提高，因此许许多多的天线种类也就被研发出来，以配合各式各样的电子仪器，而符合现今市场对无线传输的需求。当然，在这些配置有天线的电子仪器出厂之前，其天线也必须经过测试的过程，才能知道此天线是否达到测试标准。
目前采用隔离测试室或是隔离测试箱测试天线的效能，但是因为隔离测试室为一个较大的房间，并且位于一个特定的地点，所以在对天线做测试时，必须将天线运至此地点，并置于隔离测试室中，以作测试，而得到三维空间下，天线在相异向量下的测试结果，因而其测试方式是相当麻烦的。当然，此隔离测试室设置有吸波组件，以吸收隔离测试室内测试天线的电磁波，而不让电磁波外露至隔离测试室外。
因为上述采用隔离测试室测试天线十分不方便，所以后期发展出以隔离测试箱作为测试天线性能的方式。在隔离测试箱中以一转盘转动配置有天线的电子仪器，以在二维平面下，对天线做其在此转盘平面高度下相异角度的测试(仅有约60度的角度转动范围)。然而，因为测试结果仅为二维平面下相异角度的测试结果，并非是上述隔离测试室所测得的相异向量的测试结果，所以只能够当做整体天线性能的参考。而该隔离测试箱也设置有吸波组件，以吸收隔离测试箱内用以测试天线的电磁波。
发明内容
鉴于以上的问题，本实用新型的主要目的在于提供一种天线性能测试箱，以提高测试天线性能的便利性，并且节省天线性能的测试费用及测试时间。
为达上述目的，本实用新型所揭露的天线性能测试箱包括有箱体、转盘及夹臂，其中箱体包括有可发出电磁波的电磁波发射组件，及相互枢接的掀盖及底座，且掀盖及底座形成有容置空间，转盘可旋转地设置于底座及容置空间内，至于夹臂则是可活动地设置于转盘，用以夹持配置有天线的电子仪器，以由转盘及夹臂改变天线在三维空间中的向量，并以电磁波发射组件所发出的电磁波测试天线。
因此，借由本实用新型的技术，将可在测试电子仪器的天线时，不再需要将电子仪器送至位于特定地点的隔离测试室，作测试，所以可以节省相当多的天线性能测试费用及时间，而提高测试天线性能的便利性。
为使对本实用新型的目的、构造、特征、及其功能有进一步的了解，兹配合实施例详细说明如下。
图1为本实用新型与连接其的相关仪器的示意图图2为本实用新型、连接其的相关仪器与电子仪器设置于本实用新型的示意图图3为本实用新型的底座、夹臂及电子仪器相关位置示意图具体实施方式
如图1所示为本实用新型与连接其的相关仪器的示意图，如图2所示的本实用新型、连接其的相关仪器与电子仪器设置于本实用新型的示意图，及如图3所示本实用新型的底座、夹臂及电子仪器相关位置示意图，根据本实用新型所揭露的天线性能测试箱包括有箱体10、转盘20及夹臂30。
箱体10包括有相互枢接的掀盖11及底座12，且掀盖11及底座12形成有容置空间13。掀盖11设有吸波组件111，用以吸收电磁波。底座12包括有电磁波发射组件121、转盘控制器122、夹臂控制器123、分析仪连接单元124及控制器连接单元125。电磁波发射组件121用以发出电磁波。转盘控制器122用以控制转盘20转动的角度，使转盘20可转动的角度为零度至一百八十度。夹臂控制器123用以控制夹臂30活动的角度，使夹臂30可转动的角度为零度至三百六十度。分析仪连接单元124用以供频谱分析仪40a、40b连接，且频谱分析仪40a、40b分别用以测量转盘20的特定角度及夹臂30的特定角度下的全辐射功率(TRP；total radiation power)及总全向灵敏度(TIS；total isotropicsensitivity)。控制器连接单元125用以供电磁波控制器50连接，且电磁波控制器50用以控制电磁波发射组件121所发出的电磁波强度。
转盘20可旋转地设置于底座12及容置空间13内。
而夹臂30可活动地设置于转盘20，用以夹持配置有天线61的电子仪器60。并且夹臂30包括有本体31、转体32及夹体33，本体31一端设置于转盘20，另一端枢设有可相对其旋转的转体32，而夹体33设置于转体32，以夹持电子仪器60，并可与转体32一同旋转。
因此在测试电子仪器60的天线61时，可先将电子仪器60被夹臂30的夹体33夹置，并且使掀盖11与底座12盖合，使分析仪连接单元124与频谱分析仪40a、40b连接，以及使控制器连接单元125与电磁波控制器50连接。
再以转盘控制器122控制转盘20转动的角度(介于零度至一百八十度)，以及以夹臂控制器123控制夹臂30活动的角度(介于零度至三百六十度)，也就是使转体32带动夹置电子仪器60的夹体33相对本体31旋转，因此转盘20及夹臂30可一起改变天线61在三维空间中的向量。然后，由电磁波控制器50控制电磁波发射组件121发出的电磁波强度。而在电磁波发射组件121发出电磁波的同时，吸波组件111也会吸收电磁波，以避免电磁波外露至箱体10外。并且由频谱分析仪40a、40b测得转盘20的特定角度及夹臂30的特定角度下的全辐射功率(TRP；total radiation power)及总全向灵敏度(TIS；total isotropicsensitivity)。借上述，天线61在此向量下的性能也就可以被测得。
当然，在测量天线61在相异向量下的性能时，也可由上述方式改变转盘20及夹臂30的特定角度，以作天线61性能的测试。
因此，借由本实用新型的技术，将可在测试电子仪器60的天线61时，不再需要将电子仪器60送至位于特定地点的隔离测试室，作测试，所以可以节省相当多的天线61性能测试费用及时间，而提高测试天线61性能的便利性。
以上所述者，仅为本实用新型其中的较佳实施例而已，并非用来限定本实用新型的实施范围；即凡依本实用新型申请专利范围所作的均等变化与修饰，为本实用新型专利范围所涵盖。
权利要求1.一种天线性能测试箱，其特征在于，该测试箱包括有一箱体，包括有可发出电磁波的一电磁波发射组件，及相互枢接的一掀盖及一底座，且该掀盖及该底座形成有一容置空间；一转盘，可旋转地设置于该底座及该容置空间内；及一夹臂，可活动地设置于该转盘，用以夹持配置有一天线的一电子仪器，以由该转盘及该夹臂改变该天线在三维空间中的向量，并以该电磁波发射组件所发出的电磁波测试该天线。
2.根据权利要求1所述的天线性能测试箱，其特征在于，该掀盖设置有一吸波组件，以吸收电磁波。
3.根据权利要求1所述的天线性能测试箱，其特征在于，该底座包括有一转盘控制器，以控制该转盘转动的角度。
4.根据权利要求3所述的天线性能测试箱，其特征在于，该转盘控制器控制该转盘所能转动的角度为零度至一百八十度。
5.根据权利要求1所述的天线性能测试箱，其特征在于，该底座包括有一夹臂控制器，以控制该夹臂活动的角度。
6.根据权利要求5所述的天线性能测试箱，其特征在于，该夹臂控制器以控制该夹臂所能活动的角度为零度至三百六十度。
7.根据权利要求1所述的天线性能测试箱，其特征在于，该底座包括有一分析仪连接单元，以供一频谱分析仪连接。
8.根据权利要求1所述的天线性能测试箱，其特征在于，该底座包括有一控制器连接单元，以供一电磁波控制器连接，而控制该电磁波发射组件所发出的电磁波强度。
9.根据权利要求1所述的天线性能测试箱，其特征在于，该夹臂包括有一本体、一转体及一夹体，该本体一端设置于该转盘，另一端枢设有可相对其旋转的该转体，而该夹体设置于该转体，以夹持该电子仪器，并可与该转体一同旋转。
专利摘要一种天线性能测试箱，借由箱体中转盘及夹臂的设置，使被夹臂夹置的电子仪器，得以改变其天线在箱体中的三维空间的向量，并以箱体的电磁波发射组件所发出的电磁波，对天线作测试，所以可以节省相当多的天线性能测试费用及时间，而提高测试天线性能的便利性。
文档编号G01R29/10GK2884214SQ200620056469
公开日2007年3月28日 申请日期2006年3月20日 优先权日2006年3月20日
发明者陈幼林 申请人:佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司, 神达电脑股份有限公司