专利名称：扫描测试装置的制作方法
技术领域：
本发明是有关于一种测试装置，尤指一种对电子装置的内部元器件进行除 错或更新的扫描测试装置。
背景技术：
先前一般基板测试的方式，大都由基板的表面，利用探针法来进行所谓「插
入式电路测试(in-Circuit Test,简称ICE)」，以得知元器件的功能正常与否， 然而，随着计算机及各种信息产品的生产技术不断的推陈出新，加上现今电子 信息产品的设计导向均是以轻薄短'小为趋势，使得各种电子产品的内部以及电 路板上所装设的芯片及元器件的数量与密度均快速提高，导致安装各元器件的 脚端的节距，已逐渐小于测试用探针的节距，因此，先前插入式电路测试的方 法即无法满足现今的需求。
因此，另一种称之为「JTAG (即所谓边界扫描测试Boundary Scan Test )」 的测试方式即因应而生，而所谓JTAG的测试方法，是依序扫描集成电路元器件 的全部外界输入输出脚端，撷取输入输出端的测试数据，进而测试元器件内部 的功能，而一般使用JTAG的测试方式，是可针对元器件的误插接、外界电路与 元器件间的输入/输出信号监视、元器件间的互接测试，以及内部逻辑电路的功 能测试，不仅测试方便，且由于其测试速度快，故深受各制造厂商所欢迎，此 外，经由外界计算机主机即可进行JTAG测试，在使用上极具弹性。
而目前开发中的芯片或微处理器均具有JTAG接口 ，以供用以进行侦测或除 错，然而，当该所述芯片或微处理器在研发完成后，通常该JTAG接口即再无机 会进行使用，特别是体积轻薄短小的电子产品，要迸行JTAG测试即需拆除外壳， 并在JTAG的信号在线加焊连接接口后，方能进行侦测、除错或更新韧体程序， 不仅相当不便，且往往对该电子产品造成破坏，因此，便有业者开发出一种「具 USB的JTAG除错界面(Debugging Interface",该除错接口是具有USB (Universal Serial Bus,万用串行总线)连接端口及一控制芯片，通过该USB 连接端口连接在一电子产品上，即可以该控制芯片快速地对该电子产品进行除 错和程序烧录，由于方便且即具弹性，深受电子产品相关的使用者及工作者所 欢迎。
此外，对于另一种对于「芯片系统」(System-On-Chip,简称S0C)的测试， 亦遭遇与上述JTAG测试相同的问题，即一般的芯片系统上虽均设有一通用异步 收发传输(Universal Asynchronous Receiver / Transmitter)接口， 以辅助
软件开发人员在进行程序除错时输出除错信息，但当该芯片系统进入量产阶段 后，为避免占用空间，该通用异步收发传输接口即不再保留，若要再进行除错
或固件更新，即需拆除产品外壳。前述具USB的JTAG除错接口虽可解决JTAG的测 试问题，但却无法对于芯片系统进行除错，且由于前述具USB的JTAG除错接口的 价格过于昂贵，亦令消费者望之却步，因为当一产品需花费昂贵的代价购得时， 该产品即需具有极优异的功能，方能提高消费者之购买意愿，因此，如何使用 最低成本以解决上述问题，即成为相关制造商的一大挑战。
发明内容
有鉴于前述使用JTAG的测试方法，成本过于昂贵及无法对芯片系统进行测 试等诸多缺失，发明人经过长久努力研究与实验，终于开发设计出本发明的一 种扫描测试装置，以期降低所需的成本，并借此提供更多测试功能。
本发明的一目的，在于提供一种扫描测试装置，且该扫描测试装置设有一 扫描测试单元，在该扫描测试单元上设有一信号传输部，该信号传输部与该扫 描测试装置内所设的一标准连接接口相连接，而该标准连接接口是另外与一电 子装置相连接，通过该标准连接接口，该扫描测试单元与该电子装置的内部元 器件之间，是可传送边界扫描测试数据或芯片系统测试数据，以对该电子装置 的内部元器件进行侦测、除错或更新等动作。
通过本发明所述，可很方便的对芯片系统进行测试，并且该测试简单，测 试速度快，且成本较低，另，还可提供多种测试功能。
图1为本发明的扫描测试装置示意图； 图2为本发明的扫描测试装置电路图。
具体实施例方式
本发明为一种扫描测试装置，请参阅图1所示，其为一扫描测试单元2及 一标准连接接口4所组成，其中该扫描测试单元2设有一信号传输部21，而该 标准连接接口4的一侧供与一电子装置5上所设的另一标准连接接口50的连接， 该标准连接接口4的另一侧则与该信号传输部21相接，如此，通过该标准连接 接口4，所述扫描测试单元2与电子装置5的内部元器件间，是可进行边界扫描 测试数据或芯片系统测试数据的传输，以对所述电子装置5进行侦测、除错或 更新等动作。
在本发明的一实施例中，请参阅图1所示，所述扫描测试单元2是包括一 第一测试模块23及一第二测试模块25，其中所述第一测试模块23是提供产生 边界扫描测试数据，用以对所述电子装置5进行边界扫描测试，所述边界扫描
测试数据至少包括一输入信号、 一频率信号、 一操作信号及一重置信号，而所
述第二测试模块25是供产生所述芯片系统测试数据，用以对所述电子装置5进 行芯片系统测试，所述芯片系统测试数据至少包括另一输入信号。
在该实施例中，请参阅图2所示，所述信号传输部21包括一测试信号输入 脚211、 一测试信号输出脚212、 一频率信号传输脚213、 一测试模式控制脚214 及一重置信号传输脚215，其中所述测试信号输入脚211是可传送该输入信号或 另一输入信号到所述标准连接接口 4，所述测试信号输出脚212是可接收自该标 准连接接口 4所传输的一输出信号或另一输出信号，所述频率信号传输脚213 是可传送所述频率信号到所述标准连接接口 4，所述测试模式控制脚214是可传 送该操作信号到该所述标准连接接口 4，而该所述重置信号传输脚215可传送该 重置信号到所述标准连接接口 4，如此，经由所述信号传输部21及标准连接接 口4传送该等信号，即可对该所述电子装置5进行侦测、除错或更新等动作。
在该实施例中，请再参阅图2中所示，所述标准连接接口 4的一侧是设有 一命令信号传输端40，该命令信号传输端40是可接收该测试信号输入脚211传 送的输入信号或另一输入信号，并传送到所述另一标准连接接口 50上所设的另 一命令信号传输端，使得该所述输入信号或另一输入信号被传送到所述电子装 置5内部所设的各元器件，以对该所述电子装置5进行除错或侦测等动作。
在该实施例中，请参阅图2中所示，该所述标准连接接口 4的一侧设有一 第一数据传输端42，该所述第一数据传输端42与所述另一标准连接接口 50上 所设的另一第一数据传输端连接，供接收所述电子装置5内的各元器件所传送 的输出信号或另一输出信号，并经所述测试信号输出脚212传送到所述扫描测 试单元2，即可得知对该所述电子装置5进行侦测或除错的结果。
在该实施例中，请参阅图2中所示，该所述标准连接接口 4的一侧设有一 频率信号传输端44，该所述频率信号传输端44与另一标准连接接口 50上所设 的另一频率信号传输端连接，所述频率信号传输脚213传送的该频率信号即可 经该频率信号传输端44，被传送到所述电子装置5内所设的一计时单元，以校 正该电子装置5内的一计时单元所记录的时间。
在该实施例中，请参阅图2中所示，该所述标准连接接口 4的一侧设有一 第二数据传输端46,该所述第二数据传输端46是与所述另一标准连接接口 50 上所设的另一第二数据传输端相连接，所述测试模式控制脚214传送的该操作 信号即可经该所述第二数据传输端46，被传送到该所述电子装置5内部所设的 各元器件，该所述电子装置5内的各元器件即产生不同的动作状态，如此，即 可在各个状态下通过传送该等输入信号以进行侦测。
在该实施例中，请参阅图2所示，该图标准连接接口 4的一侧设有一第三 数据传输端48，该图第三数据传输端48是与另一标准连接接口 50上所设的另 一第三数据传输端相连接，该重置信号传输脚215传送的该重置信号，是被传
送到图电子装置5内部所设的各元器件，以解除该电子装置5内的各元器件不 同的动作状态。
在该实施例中，请参阅图2中所示，所述标准连接接口 4尚设有一接地端 49，该接地端49是与另一标准连接接口 50所设的另一接地端相连接。结合上 述结构，即可通过该所述第一测试模块23与标准连接接口 4，对所述电子装置 5进行边界扫描测试，而该所述第二测试模块25是可产生另一输入信号并传送 到该所述标准连接接口4，又可接收另一输出信号，使所述第二测试模块25即 可通过该所述测试信号输入脚211及测试信号输出脚212,作为通用异步收发传 输(Universal Asynchronous Receiver / Transmitter)端PI, 对所述电子装 置5内的芯片系统(S0C)进行测试。如此，即可达到对该所述电子装置5进行 其内各元器件的误插接测试，外界电路与元器件间的输入/输出信号监视，元器 件间的互接测试，以及内部逻辑电路的功能测试等目的。
在该实施例中，请参阅图1所示，所述标准连接接口 4、 50可为一 SD(Serial Data)接口，也可为一安全数字输出入(Serial Data Input/Output)接口， 而所述电子装置5是可为具有该SD接口或该安全数字输出入接口的一行动电 话，或一个人数字助理器(Personal Digital Assistant,简称PDA),如此， 通过该标准连接接口 4及另一标准连接接口 50，即可对该电子装置5进行JTAG 及S0C之测试方法，不仅成本低廉，并扩大该扫描测试装置的测试功能。
按，以上所述，仅为本发明最佳的一具体实施例，惟本发明的构造特征并 不局限于此，任何熟悉该项技艺者在本发明领域内，可轻易思及的变化或修饰， 皆可涵盖在以下本案之专利范围。
权利要求
1、一种扫描测试装置，其特征在于，包括一标准连接接口，该标准连接接口的一侧至少包括一命令信号传输端、一第一数据传输端及一第二数据传输端；及一扫描测试单元，其设有一信号传输部，且该信号传输部是与上述标准连接接口的另一侧连接，该扫描测试单元是通过所述命令信号传输端、第一数据传输端及第二数据传输端传送边界扫描测试数据，或通过所述命令信号传输端及第一数据传输端传送芯片系统测试数据。
2、 如权利要求1所述的扫描测试装置，其特征在于，所述标准连接接口的 一侧上分别设有一频率信号传输端及一第三数据传输端，且该频率信号传输端 与第三数据传输端为分别用以传送该边界扫描测试数据。
3、 如权利要求1所述的扫描测试装置，其特征在于，所述扫描测试单元包括一第一测试模块，是供产生边界扫描测试数据，且该边界扫描测试数据至 少包括一输入信号、 一频率信号、 一操作信号及一重置信号；及一第二测试模块，是供产生芯片系统测试数据，且该芯片系统测试数据至 少包括另一输入信号。
4、 如权利要求1所述的扫描测试装置，其特征在于，所述信号传输部设有 一用以传送输入信号或另一输入信号到命令信号传输端的测试信号输入脚。
5、 如权利要求1所述的扫描测试装置，其特征在于，所述信号传输部设有 一用以接收第一数据传输端传输的一输出信号或另一输出信号的测试信号输出 脚。
6、 如权利要求1所述的扫描测试装置，其特征在于，所述信号传输部设有 一频率信号传输脚，该频率信号传输脚与所述标准连接接口之是一侧所设有的 一频率信号传输端连接，且该频率信号经该频率信号传输脚传送到所述频率信 号传输端。
7、 如权利要求1所述的扫描测试装置，其特征在于，所述信号传输部设有 一用以传送操作信号到所述第二数据传输端的测试模式控制脚。
8、 如权利要求1所述的扫描测试装置，其特征在于，所述信号传输部设有 一重置信号传输脚，该重置信号传输脚与所述标准连接接口的侧所设有的一第 三数据传输端连接，且重置信号是经该重置信号传输脚传送到所述第三数据传
9、 如权利要求1所述的扫描测试装置，其特征在于，所述标准连接接口的 一侧上设有一接地端。
10、 如权利要求1所述的扫描测试装置，其特征在于，所述标准连接接口为一SD接口。
11、如权利要求l所述的扫描测试装置，其特征在于，所述标准连接接口 为一安全数字输出入接口。
全文摘要
本发明公开了一种扫描测试装置，其包括一扫描测试单元及一标准连接接口，该标准连接接口的一侧至少包括一命令信号传输端、一第一数据传输端及一第二数据传输端，且该扫描测试单元上是通过其上所设的一信号传输部与该标准连接接口的另一侧相接，另，该扫描测试单元是通过命令信号传输端、第一数据传输端及第二数据传输端传送边界扫描测试数据，或通过命令信号传输端及第一数据传输端传送芯片系统测试数据，使得所述扫描测试单元得以对一电子装置进行侦测、除错或更新等动作。
文档编号G01R31/28GK101339228SQ200710028968
公开日2009年1月7日 申请日期2007年7月2日 优先权日2007年7月2日
发明者杨益彰 申请人:佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司;神达电脑股份有限公司