专利名称：测量设备及其测量方法
技术领域：
本发明是关于 一种测量设备及其测量方法，特别是关于 一种测 量工件几何参量的测量设备及其测量方法。
背景技术：
工业生产中，为判断工件是否符合尺寸标准，常常需要对工件 进行几何参量的测量。目前，在该领域主要釆用三次元测量技术对 精密工件进行测量。现有的三次元测量仪器体积较为庞大，结构复杂，移动不便，只适合在实验室中对少数工件样本进行测量，不能 满足在生产线上进行夫规模测量的要求。另外，为达到精确测量，可单独使用千分尺对工件进行测量， 并由检测人员读数并手工记录。该千分尺虽然体积较小，结构简单， 易于操作，但这样测量不仅效率低，容易造成读数错误。更重要的 是，需用检测人员判断工件是否符合标准，增加了检测人员的作业 强度。发明内容鉴于以上缺点，有必要提供一种体积小，可直接显示工件几何 参量及工件是否通过测量的测量设备。另外，有必要提供一种操作简便快捷的量测方法。 一种用以测量工件几何参量的测量设备，其包括一测量仪器及 一数据处理装置，该测量仪器包括一基座、 一导柱、 一滑块及一千 分尺，该导柱垂直固定在基座上，该滑块可移动的设置于所述导柱上，并固定所述千分尺；该数据处理装置与该测量仪器相连，该数 据处理装置用以分析由测量仪器测得的测量值，并显示测量结果。一种量测方法，该方法包括以下步骤对测量仪器进行校零操作，对数据处理装置进行测量参数设定，用所述测量仪器测量工件的几何参量，从而得到若干测量值， 该数据处理装置分析由测量仪器测得的测量值，判断所述工件几何参量是否符合预定要求。与现有技术相比，本发明提供一带有数据处理装置的测量设备，其可直接显示工件几何参量及测量结果。另外，应用千分尺对工件进行测量，使得该数据处理装置体积小，并可显示工件的测量值，读数精确。该测量方法简单、快捷，易于操作。
图1为本发明测量设备的较佳实施例的立体示意图；图2为本发明测量设备的较佳实施例的测量仪器的立体示意图；图3为本发明测量设备的较佳实施例中数据处理装置的功能模 块图。
具体实施方式
请参阅图1,本发明测量设备80的较佳实施例包括一测量仪器 IO及一与该测量仪器10相互连接的数据处理装置20,该测量设备 80可用于对工件的高度、宽度及厚度等几何参量进行测量并显示该 工件是否符合标准。请参阅图2，该测量仪器10包括一基座14、 一导柱16、 一滑 块18及一千分尺12。该基座14为一大致呈矩形的金属板，其上表 面具有很高的平面度。在该上表面临近边缘处开有一通孔(图未示)。 该导柱16为一金属棒，其横截面与所述通孔大小相当，该导柱16 可卡固在该通孔中并与该基座14相垂直。该滑块18包括一滑动部 182及一夹持部184，所述滑动部182大致呈长方体，其上开设有通 孔(图未示)，滑块18通过该通孔套设在导柱16上，并通过一螺钉 将该滑块18可移动的连接在该导柱16上。夹持部184大致呈长方 体，其由滑动部182的一侧向外延伸，该夹持部184表面开设有一矩形槽(图未示)。该千分尺12在本发明中的较佳实施例为一数显千 分尺，其包括一主体122及一表盘124。该主体122包括一测量螺 杆1222及一棘轮1224,旋转该棘轮1224可使该测量螺杆1222上 下移动。该表盘124固定在该主体122的周缘。该表盘124的表面 设有一数字显示屏1242;在表盘124上另设有一复零按钮1244，用 于该千分尺12的校零操作；在该表盘124的一侧壁上开有一数据输 出接口 1246，用于与数据处理装置20连接输出测量值；在该表盘 124的另 一側壁延伸出 一装夹部(图未示)，用于与夹持部184的矩 形槽相配合，使该千分尺12固定在所述滑块18上。请一并参阅图1和图3，该数据处理装置20用于处理由测量仪 器10测得的数据并输出所需测量结果。该数据处理装置20为计算 机等装置，其包括有一内置的功能模块21及一显示屏29，该功能 模块21包括一输入模块22、 一参数设置模块24、 一数据处理模块 26及一显示模块28。该输入模块22可通过一数据传输线与千分尺 12的数据输出接口 1246连接，以使数据处理装置20与测量仪器10 之间实现数据的传输。参数设置模块24与数据处理模块26及显示 模块28相互电连接以用于将一测量参数储存在数据处理模块26中， 并由一与该显示模块28电连接的显示屏29显示。该输入模块22 与数据处理模块26电连接，由数据处理模块26储存测得的数据， 用于将测得的数据与测量参数相比较，由与显示模块28电连接的显 示屏29显示出被测工件的实际几何参量值及是否符合标准。安装时，将测量仪器10的数据输出接口 1246通过一数据传输 线与数据处理装置20连接，并开启数据处理装置20及测量仪器10 的电源。本发明测量方法的较佳实施例即采用上述装置对工件进行测 量，该测量方法的较佳实施例包括以下步骤首先，对所述测量仪器IO进行校零操作，其目的是在测量前将 测量螺杆1222顶点的位置调节至一基准面上，使千分尺12的数字 显示屏1242显示为零。校零的具体方法是将一标准校零块放置在基 座14上，且位于该测量螺杆1222的下方，通过滑块18调节千分尺12的高度，使测量螺杆1222的顶点接触在该标准校零块的校零平 面上，该校零平面即为所述的基准面。之后按复零按钮1244对该千 分尺12进行校零操作，将测量螺杆1222此时所在的位置设定为千 分尺12的零值位置，即完成校零操作。校零操作完成后，参数设置模块24需判断是否已经设置测量参 数，若尚未设置测量参数，则需要通过参数设置模块24在数据处理 装置20中设置一测量参数及标准校零块的高度值并加以储存。测量参数设置完成后即可进行测量操作。具体方法是将工件放 置在基座14的上表面，然后旋转该千分尺12的棘轮1224，使测量 螺杆1222接触工件的上表面，千分尺12的数字显示屏1242显示一 数值，即测量点与基准面之间的位移量，即一测量值。该测量值可 正可负，当工件的几何参量小于标准校零块的高度时，该测量值为 正；当工件的几何参量大于标准校零块的高度时，该测量值为负。 通过数据传输线将测量仪器10中的所述测量值记录在数据处理模 块26中。最后，数据处理模块26对测量值进行处理。该数据处理模块 26将标准校零块的高度减去测量值，即得出工件的实际几何参量 值，由显示屏29显示。然后将该工件的实际几何参量值与预先设置 的测量参数进行比较，以判断工件几何参量是否符合预定要求。若 该工件的实际几何参量值在预先设置的测量参数范围内，则表示该工件几何参量符合要求，此时显示屏29即可显示如"pass"字样， 该工件通过测量。若超出预先设置的测量参数范围，则表明该工件 的几何参量不符合要求，此时显示屏29显示"nopass"，该工件不 能通过测量。可以理解，为了节省测量时间，也可在校零操作之前完成测量 参数的设置及储存；若本发明测量设备的较佳实施例并非首次被使 用，且工件测量标准并未改变，则设置及储存测量参数的步骤可以 省略，依靠数据处理装置20储存的测量参数即可完成测量过程。
权利要求
1. 一种用以测量工件几何参量的测量设备，其包括一测量仪器及一数据处理装置，其特征在于该测量仪器包括一基座、一导柱、一滑块及一千分尺，该导柱垂直固定在基座上，该滑块可移动的设置于所述导柱上，并固定所述千分尺；该数据处理装置与该测量仪器相连，该数据处理装置用以分析由测量仪器测得的测量值，并显示测量结果。
2. 如权利要求1所述的测量设备，其特征在于该千分尺包括一 主体，该主体包括一测量螺杆及一棘轮，旋转该棘轮控制该测量螺杆 上下移动，以接触工件。
3. 如权利要求2所述的测量设备，其特征在于该千分尺还包括 一带有数字显示屏的表盘及一数据输出接口 ，该表盘固定于所述主体 的周缘，该数据输出接口开设在表盘的外缘周側，所述千分尺通过该 数据输出接口经一数据传输线与该数据处理装置连接。
4. 如权利要求3所述的测量设备，其特征在于该表盘设有一复 零按钮。
5. 如权利要求1所述的测量设备，其特征在于该数据处理装置 包括一输入模块，该输入模块与所述千分尺相连接，使该数据处理装 置与所述测量仪器进行数据传输。
6. 如权利要求5所述的测量设备，其特征在于该数据处理装置 还包括一参数设置模块及一数据处理模块，该参数设置模块与数据处 理模块电连接，以用于将一测量参数储存在数据处理模块中；该输入 模块与数据处理模块电连接，由数据处理模块储存测量值。
7. 如权利要求5所述的测量设备，其特征在于该数据处理装置 包括一显示屏，该显示屏显示工件的几何参量及测试结果。
8. —种应用权利要求1所述测量设备的测量方法，其特征在于 该方法包括以下步骤对测量仪器进行校零操作，对数据处理装置进行测量参数设定，用所述测量仪器测量工件的几何参量，从而得到若干测量值， 该数据处理装置分析由测量仪器测得的测量值，并显示测量结果。
9. 如权利要求8所述的测量方法，其特征在于进行校零操作时 需用 一标准校零块对千分尺进行校零。
10. 如权利要求9所述的测量方法，其特征在于该数据处理模 块将标准校零块的高度值减去测量值得出工件的实际几何参量值，将 该实际几何参量值与测量参数进行比较。
全文摘要
本发明提供一种测量设备及其测量方法，该测量设备用以测量工件的几何参量，该测量设备包括一测量仪器及一数据处理装置，该测量仪器包括一基座、一导柱、一滑块及一千分尺，该导柱垂直固定在基座上，该滑块可移动的设置于所述导柱上，并固定所述千分尺；该数据处理装置与该测量仪器相连，该数据处理装置用以分析由测量仪器测得的测量值，并显示测量结果。
文档编号G01B5/00GK101236059SQ20071007307
公开日2008年8月6日 申请日期2007年2月2日 优先权日2007年2月2日
发明者冬 李, 雷 李, 军 蒋, 赵云芳, 平 陈, 陈志礼 申请人:深圳富泰宏精密工业有限公司