专利名称：一种测量介质热光系数和热膨胀系数的装置及方法
技术领域：
本发明涉及一种光学测量技术，尤其是涉及一种测量介质热光系数和热膨胀系数的 装置及方法。
背景技术：
热光效应是指介质的折射率随温度的变化而改变的现象；热膨胀效应是指介质的体 积随温度的变化而改变的现象。热光效应应用范围较广，如热光效应光开关是目前研究 较多，应用价值较高的一种光开关技术。与机械式光开关相比，热光效应光开关具有稳 定性好、尺寸小、易于集成等优点，且适合大规模生产。可以预计，伴随着全光网络的 发展及OADM (Optical Add-Drop Multiplexer,光分插复用器)、OXC (optic cross connection,光交叉连接)的应用需求，高性能的基于热光技术的光开关产品将在光网 络中得到更广泛的应用。热膨胀效应是自然界的普遍现象，材料的热胀冷缩的性质成为 建筑、工程应用、机械加工等领域必须加以考虑的问题，特别是薄膜材料的热变形对精 密加工的精度等级有非常重要的影响。随着材料科学技术的发展,人们对材料的要求越 来越高,材料的热光系数和热膨胀系数有时成为衡量材料性能的重要指标。因此，研究 介质的热光系数和热膨胀系数的测量装置及方法具有重要意义。
目前，测量介质热光系数的方法有使用Abbe折射仪的测量方法、基于椭偏原理的 测量方法、棱镜耦合测量方法等。但是这些测量方法均存在一些缺点，如使用Abbe折 射仪进行测量，必须把待测介质置于某种液体材料中，且该液体材料的折射率大小必须 保持在待测介质的折射率和棱镜的折射率之间，这一条件限制了实验中可用Abbe折射 仪测量的待测介质的折射率最高为1.81;基于椭偏原理的测量方法，其测量过程相对比 较简单，但是计算过程复杂，难以从测量值直接得到介质的热光系数；棱镜耦合测量方 法是基于光在介质波导中的传输特性，测量过程中需要非常精确的角度测量，角度误差 直接影响到测量精度，所以对测量仪器的机械精密度要求很高，此外，样品温度的控制 也不容易操作。对于材料热膨胀系数的测量，目前多数采用电阻线圈加热的接触式测量 方法，如把材料制成约0.5-1.0m长的棒，置于恒温电炉加热然后测量棒的微小伸长量， 从而求得材料的热膨胀系数，显然这种方法有很大的局限性。
发明内容
本发明所要解决的第一个技术问题是提供一种结构紧凑、操作简单、测量精度高的 测量介质热光系数和热膨胀系数的装置。
本发明所要解决的另一个技术问题是提供一种计算过程简单、测量精度高的测量介 质热光系数和热膨胀系数的方法。
本发明解决上述第一个技术问题所采用的技术方案为 一种测量介质热光系数和热 膨胀系数的装置，包括底座、光源组件和条纹观测组件，所述的底座上设置有支架、由 金属材料制成的中空样品台、加热装置和温度测量装置，所述的光源组件和所述的条纹 观测组件活动连接在所述的支架上，所述的样品台上置放有试样，所述的加热装置包括 电源、恒温调节控制器和电热器件，所述的恒温调节控制器与所述的电热器件连接，所 述的电热器件置放在所述的样品台内，所述的温度测量装置分别与所述的样品台和所述 的恒温调节控制器连接。
所述的金属材料为导热性能良好的金属材料。
所述的试样包括衬底薄片和沉积在所述的衬底薄片上的待测介质膜，所述的衬底薄 片与所述的样品台的正表面平整接触。
所述的衬底薄片为一面为毛面且另一面为抛光面的毛玻璃片，所述的待测介质膜沉 积在所述的抛光面上，所述的毛面与所述的样品台的正表面紧密平整接触。
所述的光源组件包括第一底盘，所述的第一底盘周边设置有角度标度值，所述的第 一底盘上设置有第一可旋转动片，所述的第一可旋转动片上设置有光源、光扩束器、第 一凸透镜、第一螺旋及第一校准线，所述的第一校准线位于所述的光源、所述的光扩束 器及所述的第一凸透镜的光轴上。
所述的条纹观测组件包括第二底盘，所述的第二底盘周边设置有角度标度值，所述 的第二底盘上设置有第二可旋转动片，所述的第二可旋转动片上设置有螺旋测微目镜、 第二凸透镜、第二螺旋及第二校准线，所述的第二校准线位于所述的螺旋测微目镜及所 述的第二凸透镜的光轴上，所述的螺旋测微目镜位于所述的第二凸透镜的焦平面上。
所述的温度测量装置包括热敏探头和与所述的热敏探头连接的温度探测器，所述的 热敏探头连接在所述的样品台的正表面上并靠近所述的试样，所述的温度探测器与所述 的恒温调节控制器连接。
本发明解决上述另一个技术问题所采用的技术方案为 一种测量介质热光系数和热 膨胀系数的方法，包括以下步骤
1)选择一单面抛光的毛玻璃片作为衬底薄片，采用制膜工艺在毛玻璃片的抛光面 上沉积一层待测介质膜形成试样；将试样固定在样品台上使毛玻璃片的毛面与样品台的 正表面紧密平整接触；
62) 转动第一螺旋，使第一校准线对准第一设定角度值，第一设定角度值用《表示，
打开光源，移动整个光源组件，使光源发出的光入射到待测介质膜上；转动第二螺旋， 使第二校准线对准第一设定角度值，移动整个条纹观测组件，使条纹观测组件接收到千 涉条纹场；
3) 打开电源，开启恒温调节控制器，调节恒温调节控制器设定试样的初始温度为 1，由恒温调节控制器控制加热器件对试样进行加热，通过温度测量装置监测试样的温 度，试样的温度达到T,后，由温度测量装置反馈信息给恒温调节控制器，恒温调节控 制器接收到信息后控制加热器件使试样保持恒温；在温度T,下，通过螺旋测微目镜观
测干涉条纹场中待测介质膜的任意两条相邻干涉明条纹或者干涉暗条纹的表观间距"i，
同时通过螺旋测微目镜观察待测介质膜表面一固定位置上的干涉条纹；然后调节恒温调 节控制器设定试样的最后温度为T2，由恒温调节控制器控制加热器件对试样进行加热， 使试样的温度由T！开始缓慢升高，通过温度测量装置监测试样的温度，试样的温度达 到T2后，由温度测量装置反馈信息给恒温调节控制器，恒温调节控制器接收到信息后 控制加热器件使试样保持恒温；在温度调节和试样加热过程中，观察待测介质膜表面在 同一固定位置上移动过的干涉条纹并记录移动过的干涉条纹的数目，该数目用^表示；
4) 关闭恒温调节控制器，停止电热器件对试样的加热，等待试样的温度从T2自然 冷却到室温；
5) 、再次转动第一螺旋，使第一校准线对准第二设定角度值，第二设定角度值用《
表示，打开光源，移动整个光源组件，使光源发出的光入射到待测介质膜上；转动第二 螺旋，使第二校准线对准第二设定角度值，移动整个条纹观测组件，使条纹观测组件接 收到干涉条纹场；
6) 开启恒温调节控制器，调节恒温调节控制器设定试样的初始温度为T!，由恒温 调节控制器控制加热器件对试样进行加热，通过温度测量装置监测试样的温度，试样的 温度达到T,后，由温度测量装置反馈信息给恒温调节控制器，恒温调节控制器接收到 信息后控制加热器件使试样保持恒温；在温度1下，通过螺旋测微目镜观测干涉条纹
场中待测介质膜的任意两条相邻干涉明条纹或者干涉暗条纹的表观间距"2 ，同时通过螺
旋测微目镜观察待测介质膜表面一固定位置上的干涉条纹；然后调节恒温调节控制器设 定试样的最后温度为T2，由恒温调节控制器控制加热器件对试样进行加热，使试样的温 度由L开始缓慢升高，通过温度测量装置监测试样的温度，试样的温度达到T2后，由 温度测量装置反馈信息给恒温调节控制器，恒温调节控制器接收到信息后控制加热器件 使试样保持恒温；在温度调节和试样加热过程中，观察待测介质膜表面在同一固定位置 上移动过的干涉条纹并记录移动过的干涉条纹的数目，该数目用k2表示；7)根据薄膜等倾干涉理论，首先计算待测介质膜在温度L时的折射率",和物理厚度h1, <formula>formula see original document page 8</formula>, a1为在第一设定角度值《和温度T!下待测介质膜的任意两条相邻干涉明条纹或者干涉暗条纹的表观间距， "2为在第二设定角度值《和温度T,下待测介质膜的任意两条相邻干涉明条纹或者千涉暗条纹的表观间距，M为螺旋测微目镜的放大倍数；然后计算待测介质膜在温度T2时的折射率"2和物理厚度h2,
<formula>formula see original document page 8</formula>
其中，ld为在第一设定角度值《下温度从Ti变化到T2时在固定位置上移动过的干涉条纹
的数目，k2为在第二设定角度值《下温度从L变化到T2时在固定位置上移动过的干涉条
纹的数目，义为光源波长；
8)最后由热光系数和热膨胀系数的定义计算待测介质膜的热光系数《和热膨胀系数"，"=^5 "， "二^1，其中，A为待测介质膜在温度T,时的折射率， 2为待测介质膜在温度T2时的折射率，/^为待测介质膜在温度Ti时的物理厚度，；^为待测介质膜在温度T2时的物理厚度，T,为试样的初始温度，T2为试样的最后温度。
与现有技术相比，本发明的优点在于①测量装置由简单的机械部件和电路构成， 容易实现；②测量过程中，通过旋转第一螺旋和第二螺旋精确设定测量时所需的角度， 通过移动光源组件可使光源发射的光直接照射到待测介质膜上，通过移动条纹观测组件 可以观测到整个干涉条纹场，利用加热器件对试样进行加热，观测不同温度下某个固定 位置上移过的干涉条纹的数目，由此测量介质的热光系数和热膨胀系数，操作方便，可 调性好；③测量过程中，只通过改变角度和温度，进行两次测量，就能同时测量出待测 介质的热光系数和热膨胀系数，限制因素少；④采用薄膜等倾干涉法测量条纹的变化， 测量精度高，计算过程简单。
图1为本发明装置的结构示意图； 图2为光源组件的结构示意图； 图3为条纹观测组件的结构示意图； 图4a为试样的结构示意图4b为样品台与置放在样品台内的加热器件的结构示意图5a为加热装置的结构示意图5b为温度测量装置的结构示意图6a为光程差分析光路图6b为螺旋测微目镜观察到的干涉条纹场的示意图，图中lr与22'是固定十字线， 3和3，是两条相邻的干涉条纹，"为表观间距，44，是螺旋测微目镜的动丝； 图7a为第一设定角度值为30。时的光路分析图； 图7b为第二设定角度值为45。时的光路分析图。
具体实施例方式
以下结合附图实施例对本发明作进一步详细描述。
如图1所示， 一种测量介质热光系数和热膨胀系数的装置，该装置包括底座l、光 源组件2和条纹观测组件3，底座1上设置有支架4、由金属材料制成的中空样品台5、 加热装置7 (如图5a所示)和温度测量装置6。
支架4与底座1固定连接，支架4包括横支架41和两个竖支架42，横支架41的一 端与其中一个竖支架42连接，横支架41的另一端与另一个竖支架42连接。光源组件2 和条纹观测组件3活动连接在横支架41上，光源组件2和条纹观测组件3可在横支架 41上左右移动。
光源组件2如图2所示，包括第一底盘16，第一底盘16周边设置有角度角度值(图 中未示出)，第一底盘16上设置有第一可旋转动片10，第一可旋转动片10上设置有单 色或准单色光源11、光扩束器12、第一凸透镜14、第一螺旋13及第一校准线15，第 一凸透镜14的作用是产生平行光。第一校准线15位于光源11、光扩束器12及第一凸 透镜14的光轴上。旋转第一螺旋13，通过第一校准线15可以方便的控制第一可旋转动 片10旋转的角度。在此实施例中，要求光源ll的光束对于待测介质是透明的。
条纹观测组件3如图3所示，包括第二底盘22，第二底盘22周边设置有角度角度 值(图中未示出)，第二底盘22上设置有第二可旋转动片17，第二可旋转动片17上设置有螺旋测微目镜18、第二凸透镜19、第二螺旋20及第二校准线21，第二凸透镜19 的作用是由于平行光干涉条纹发生在无穷远处，所以可通过第二凸透镜19把干涉条
纹移到螺旋测微目镜18处。第二校准线21位于螺旋测微目镜18及第二凸透镜19的光 轴上。螺旋测微目镜18位于第二凸透镜19的焦平面上，这样，便于观测干涉条纹的移 动。旋转第二螺旋20，通过第二校准线21可以方便的控制第二可旋转动片17旋转的角 度。在本实施例中螺旋测微目镜18采用现有的技术，本发明采用螺旋测微目镜18的目 的是为了测量待测介质膜在初始温度下的折射率和物理厚度。如果待测介质膜在初始温 度下的折射率和物理厚度已知，这种情况下，本发明可以采用任意现有的显微目镜替代 本实施例中的螺旋测微目镜18，只需观测待测介质膜的任意固定位置上干涉条纹的移 动，计算得到待测介质膜的热光系数和热膨胀系数。
样品台5上置放有试样8，试样8如图4a所示，包括衬底薄片81和沉积在衬底薄 片81上的待测介质膜82，衬底薄片81为一单面抛光的毛玻璃片即一面为毛面且另一面 为抛光面的毛玻璃片，采用常规制膜工艺将待测介质膜82沉积在抛光面上，毛面与样 品台5的正表面紧密平整接触。
本实施例的待测介质膜82直接沉积在单面抛光的毛玻璃片上形成试样8，然后将毛 玻璃片的毛面与样品台5的正表面紧密平整地接触和固定。这里，待测介质膜82的制 备方式可采用真空蒸镀和涂覆成膜等常规制膜工艺，在制膜过程中，要求待测介质膜82 平整，并准确控制待测介质膜82的厚度。此外，基于薄膜等倾干涉理论，选择单面抛 光的毛玻璃片可以避免衬底薄片81产生干涉条纹，提高待测介质膜82产生的干涉条纹 对比度。
样品台5如图4b所示，其由导热性能良好的金属材料制成，样品台5与底座1固 定连接。本实施例中的样品台5也可以设计成只有一面即正面由导热性能良好的金属材 料制成，此时，试样8就放置在正面上。
加热装置7如图5a所示，包括电源71、恒温调节控制器72和电热器件73，恒温 调节控制器72与电热器件73连接，电热器件73置放在样品台5内，可通过支柱74将 电热器件73固定在底座1上(如图4b所示)。在本实施例中，恒温调节控制器72采用 现有技术，电热器件73可以是现有的电阻丝、电热片或电热板等。
温度测量装置6如图5b所示，包括热敏探头61和温度探测器62。在本实施例中， 热敏探头61可以采用BaTi03陶瓷PTC热敏电阻器，热敏探头61紧贴连接在样品台5 的正表面上，并靠近试样8放置，这样通过热敏探头61获取的温度更接近试样8的温 度，因此，在本实施例中，将热敏探头61获取的温度作为试样8的温度。温度探测器 62与恒温调节控制器72连接，温度探测器62可采用现有技术。
本发明装置的工作原理为由光源11发出的光经光扩束器12扩束后照射到第一凸 透镜14上，经第一凸透镜14出射的平行光再入射到待测介质膜82上，经待测介质膜82上下表面的反射，反射光由于满足干涉条件而发生干涉。由于待测介质膜82上下表 面的反射光相互平行，所以待测介质膜82上下表面的反射光应该在无穷远处发生干涉， 为此，条纹观测组件3通过第二凸透镜19把干涉条纹移到螺旋测微目镜18处，螺旋测 微目镜18处于第二凸透镜19的焦平面上，这样便于观测条纹的移动。测量过程中，通 过加热器件73改变样品台5的正表面的温度，从而改变试样8的温度，使得待测介质 膜82的温度由从室温变化到另一温度，在这个过程中，有两个因素会导致待测介质膜 82上下表面的反射光之间的光程差发生改变 一是由于热光效应，待测介质膜82的折 射率发生改变，从而改变光程差；二是由于热膨胀效应，待测介质膜82的物理厚度发 生改变，从而改变光程差。光程差的变化会直接引起干涉条纹的移动，在固定位置上移 动过一个干涉条纹意味着光程差相应改变一个波长。因此，可以通过螺旋测微目镜18 观测在固定位置上移动过的干涉条纹的数目来求得光程差的改变量，得到待测介质膜82 的折射率改变量和厚度改变量。基于薄膜等倾千涉理论，通过改变光的入射角度和试样 的温度，进行两次测量，就能同时测量得到待测介质的热光系数和热膨胀系数。
由上述原理给出本发明方法，具体步骤如下-
1) 选择一单面抛光的毛玻璃片作为衬底薄片，采用制膜工艺在毛玻璃片的抛光面 上沉积一层待测介质膜形成试样；将试样固定在样品台上使毛玻璃片的毛面与样品台的 正表面紧密平整接触。
2) 转动第一螺旋，使第一校准线对准第一设定角度值，第一设定角度值用《表示，
打开光源，移动整个光源组件，使光源发出的光入射到待测介质膜上；转动第二螺旋， 使第二校准线对准第一设定角度值，移动整个条纹观测组件，使条纹观测组件接收到干 涉条纹场。
3) 打开电源，开启恒温调节控制器，调节恒温调节控制器设定试样的初始温度为 T!，由恒温调节控制器控制加热器件对试样进行加热，通过温度测量装置监测试样的温 度，试样的温度达到1后，由温度测量装置反馈信息给恒温调节控制器，恒温调节控 制器接收到信息后控制加热器件使试样保持恒温；在温度T!下，通过螺旋测微目镜观
测干涉条纹场中待测介质膜的任意两条相邻干涉明条纹或者干涉暗条纹的表观间距A
(如图6b所示的fl )，同时通过螺旋测微目镜观察待测介质膜表面一固定位置上的干涉 条纹；然后调节恒温调节控制器设定试样的最后温度为T2，由恒温调节控制器控制加热 器件对试样进行加热，使试样的温度由T,开始缓慢升高，通过温度测量装置监测试样 的温度，试样的温度达到丁2后，由温度测量装置反馈信息给恒温调节控制器，恒温调 节控制器接收到信息后控制加热器件使试样保持恒温；在温度调节和试样加热过程中，
11观察待测介质膜表面在同一固定位置上移动过的干涉条纹并记录移动过的干涉条纹的 数目，该数目用k,表示；
此处固定位置是指当观察者通过螺旋测微目镜能够观察到干涉条纹时，由观察者主 观确定的某个位置，在观察过程中均以这个位置为参照。
4) 关闭恒温调节控制器，停止电热器件对试样的加热，等待试样的温度从T2自然 冷却到室温。
5) 、再次转动第一螺旋，使第一校准线对准第二设定角度值，第二设定角度值用《 表示，打开光源，移动整个光源组件，使光源发出的光入射到待测介质膜上；转动第二
螺旋，使第二校准线对准第二设定角度值，移动整个条纹观测组件，使条纹观测组件接 收到干涉条纹场。
6) 开启恒温调节控制器，调节恒温调节控制器设定试样的初始温度为Tn由恒温
调节控制器控制加热器件对试样进行加热，通过温度测量装置监测试样的温度，试样的
温度达到T！后，由温度测量装置反馈信息给恒温调节控制器，恒温调节控制器接收到 信息后控制加热器件使试样保持恒温；在温度L下，通过螺旋测微目镜观测干涉条纹
场中待测介质膜的任意两条相邻干涉明条纹或者干涉暗条纹的表观间距^ (如图6b所
示的")，同时通过螺旋测微目镜观察待测介质膜表面一固定位置上的干涉条纹；然后 调节恒温调节控制器设定试样的最后温度为T2，由恒温调节控制器控制加热器件对试样 进行加热，使试样的温度由1开始缓慢升高，通过温度测量装置监测试样的温度，试 样的温度达到T2后，由温度测量装置反馈信息给恒温调节控制器，恒温调节控制器接 收到信息后控制加热器件使试样保持恒温；在温度调节和试样加热过程中，观察待测介 质膜表面在同一固定位置上移动过的干涉条纹并记录移动过的干涉条纹的数目，该数目 用k2表示；
此处固定位置是指当观察者通过螺旋测微目镜能够观察到干涉条纹时，由观察者主 观确定的某个位置，在观察过程中均以这个位置为参照。
7) 由于光以e角从折射率为w。的介质入射至折射率为 的介质薄膜时，如图6a所
示，介质薄膜上下表面的反射光f和g之间的光程差为厶=2仏2-">112"(垂,0)，
式中，h为介质薄膜的物理厚度，( ，())的取值有两种情况第一情况，当介质薄膜上
下表面反射光之一有半波损失时，取^;第二情况，当介质薄膜上下表面反射光都有半
2
波损失或都没有半波损失时，取0。半波损失是指当反射光从折射率小的介质(即光疏 介质)入射到折射率大的介质(即光密介质)界面上，反射时有^的附加光程。根据以上介质薄膜上下表面的反射光仔[]g之间的光程差的表达式，可以获得任意两 个入射角情况下对应不同温度的介质薄膜上下表面反射光之间的光程差，并根据薄膜等
倾千涉理论，首先计算待测介质膜在温度T,时的折射率w,和物理厚度lu，
<formula>formula see original document page 13</formula>
和温度L下待测介质膜的任意两条相邻干涉明条纹或者千涉暗条纹的表观间距，"2为在 第二设定角度值《和温度T,下待测介质膜的任意两条相邻干涉明条纹或者干涉暗条纹 的表观间距，M为螺旋测微目镜的放大倍数；然后计算待测介质膜在温度T2时的折射率 "2和物理厚度&，<formula>formula see original document page 13</formula>
其中，ki为在第一设定角度值《下温度从T,变化到T2时在固定位置上移动过的干涉条纹
的数目，k2为在第二设定角度值《下温度从TV变化到T2时在固定位置上移动过的干涉条
纹的数目，义为光源波长。
在此具体实施例中，以两个特殊入射角的情形，测量和计算待测介质膜在温度Tj 时的折射率巧和物理厚度h！以及待测介质膜在温度T2时的折射率A和物理厚度/^ 。具
体过程为
取第一设定角度值《=30° ，光路分析如图7a所示，在温度Ti下，光源发出的光 以30°角从折射率为w。的介质入射至折射率为w,的待测介质膜，由螺旋测微目镜18观
测待测介质膜上任意两条相邻干涉明条纹或者干涉暗条纹的表观间距A ，计算待测介质 膜上下表面反射光之间的光程差为A,， A^V—2—1+(垂,0)，式中，"。=1为空气的 折射率，^为待测介质膜在温度^时的物理厚度，^为待测介质膜在温度Ti时的折射 率，( ，())的取值有两种情况第一种情况，当待测介质膜上下表面反射光之一有半波损失，取^;第二种情况，当待测介质膜上下表面反射光均有半波损失或均没有半波损 2
失，取0;计算在温度丁2下，光源发出的光以30。角从折射率为W。介质入射至折射率
为"2待测介质膜，待测介质膜上下表面反射光之间的光程差A2 ， A2 = /^4g -1 +(|,0)，
式中，/^为待测介质膜在温度T2时的厚度，^为待测介质膜在温度T2时的折射率；根
据在固定位置上移动过一个干涉条纹意味着光程差相应改变一个波长，得出
^-△,=^;1，其中，A,为在第一设定角度值30。下，试样的温度从T,变化到T2时， 在待测介质膜上的固定位置移动过的干涉条纹的数目；根据 A—V4巧2-1+(鲁，0),A2 =/^74"22-1+(垂，0)禾口A2—A,=W， 得到
同理，取第二设定角度值《=45°时，由螺旋测微目镜18观测待测介质膜上任意两
条相邻干涉明条纹或者干涉暗条纹的表观间距& ，计算得到 /^4"22-2^4"f-2化;i。其中&为在第二设定角度值45°下，试样的温度从T！ 变化到T2时，在待测介质膜上的固定位置移动过的干涉条纹的数目，光路分析如图7b 所示。
综合上述，可得到n,、/17 2< 2 ， h Ji!izl，
8)最后由热光系数和热膨胀系数的定义计算待测介质膜的热光系数a和热膨胀系 数"，"=^^， / -^1，其中，",为待测介质膜在温度T,时的折射率， 2为待
测介质膜在温度T2时的折射率，^为待测介质膜在温度T!时的物理厚度，/^为待测介 质膜在温度T2时的物理厚度，l为试样的初始温度，T2为试样的最后温度。
& = A - 2^単2 -5 — V化2 J) - (《-《^ ;
权利要求
1、一种测量介质热光系数和热膨胀系数的装置，其特征在于包括底座、光源组件和条纹观测组件，所述的底座上设置有支架、由金属材料制成的中空样品台、加热装置和温度测量装置，所述的光源组件和所述的条纹观测组件活动连接在所述的支架上，所述的样品台上置放有试样，所述的加热装置包括电源、恒温调节控制器和电热器件，所述的恒温调节控制器与所述的电热器件连接，所述的电热器件置放在所述的样品台内，所述的温度测量装置分别与所述的样品台和所述的恒温调节控制器连接。
2、 根据权利要求1所述的一种测量介质热光系数和热膨胀系数的装置，其特征在于所述的金属材料为导热性能良好的金属材料。
3、 根据权利要求1所述的一种测量介质热光系数和热膨胀系数的装置，其特征在 于所述的试样包括衬底薄片和沉积在所述的衬底薄片上的待测介质膜，所述的衬底薄片 与所述的样品台的正表面平整接触。
4、 根据权利要求3所述的一种测量介质热光系数和热膨胀系数的装置，其特征在 于所述的衬底薄片为一面为毛面且另一面为抛光面的毛玻璃片，所述的待测介质膜沉积 在所述的抛光面上，所述的毛面与所述的样品台的正表面紧密平整接触。
5、 根据权利要求1所述的一种测量介质热光系数和热膨胀系数的装置，其特征在 于所述的光源组件包括第一底盘，所述的第一底盘周边设置有角度标度值，所述的第一 底盘上设置有第一可旋转动片，所述的第一可旋转动片上设置有光源、光扩束器、第一 凸透镜、第一螺旋及第一校准线，所述的第一校准线位于所述的光源、所述的光扩束器 及所述的第一凸透镜的光轴上。
6、 根据权利要求1所述的一种测量介质热光系数和热膨胀系数的装置，其特征在 于所述的条纹观测组件包括第二底盘，所述的第二底盘周边设置有角度标度值，所述的 第二底盘上设置有第二可旋转动片，所述的第二可旋转动片上设置有螺旋测微目镜、第 二凸透镜、第二螺旋及第二校准线，所述的第二校准线位于所述的螺旋测微目镜及所述 的第二凸透镜的光轴上，所述的螺旋测微目镜位于所述的第二凸透镜的焦平面上。
7、 根据权利要求1所述的一种测量介质热光系数和热膨胀系数的装置，其特征在 于所述的温度测量装置包括热敏探头和与所述的热敏探头连接的温度探测器，所述的热 敏探头连接在所述的样品台的正表面上并靠近所述的试样，所述的温度探测器与所述的 恒温调节控制器连接。
8、 一种测量介质热光系数和热膨胀系数的方法，其特征在于包括以下步骤1)选择一单面抛光的毛玻璃片作为衬底薄片，采用制膜工艺在毛玻璃片的抛光面 上沉积一层待测介质膜形成试样；将试样固定在样品台上使毛玻璃片的毛面与样品台的正表面紧密平整接触；2) 转动第一螺旋，使第一校准线对准第一设定角度值，第一设定角度值用《表示，打开光源，移动整个光源组件，使光源发出的光入射到待测介质膜上；转动第二螺旋， 使第二校准线对准第一设定角度值，移动整个条纹观测组件，使条纹观测组件接收到干 涉条纹场；3) 打开电源，开启恒温调节控制器，调节恒温调节控制器设定试样的初始温度为 T,，由恒温调节控制器控制加热器件对试样进行加热，通过温度测量装置监测试样的温 度，试样的温度达到T,后，由温度测量装置反馈信息给恒温调节控制器，恒温调节控 制器接收到信息后控制加热器件使试样保持恒温；在温度L下，通过螺旋测微目镜观测干涉条纹场中待测介质膜的任意两条相邻干涉明条纹或者干涉暗条纹的表观间距"i，同时通过螺旋测微目镜观察待测介质膜表面一固定位置上的干涉条纹；然后调节恒温调 节控制器设定试样的最后温度为T2，由恒温调节控制器控制加热器件对试样进行加热， 使试样的温度由T\开始缓慢升高，通过温度测量装置监测试样的温度，试样的温度达 到T2后，由温度测量装置反馈信息给恒温调节控制器，恒温调节控制器接收到信息后 控制加热器件使试样保持恒温；在温度调节和试样加热过程中，观察待测介质膜表面在 同一固定位置上移动过的干涉条纹并记录移动过的干涉条纹的数目，该数目用^表示；4) 关闭恒温调节控制器，停止电热器件对试样的加热，等待试样的温度从T2自然 冷却到室温；5) 、再次转动第一螺旋，使第一校准线对准第二设定角度值，第二设定角度值用《表示，打开光源，移动整个光源组件，使光源发出的光入射到待测介质膜上；转动第二 螺旋，使第二校准线对准第二设定角度值，移动整个条纹观测组件，使条纹观测组件接 收到干涉条纹场；6) 开启恒温调节控制器，调节恒温调节控制器设定试样的初始温度为T!，由恒温 调节控制器控制加热器件对试样进行加热，通过温度测量装置监测试样的温度，试样的 温度达到1后，由温度测量装置反馈信息给恒温调节控制器，恒温调节控制器接收到 信息后控制加热器件使试样保持恒温；在温度1下，通过螺旋测微目镜观测干涉条纹场中待测介质膜的任意两条相邻干涉明条纹或者干涉暗条纹的表观间距"2，同时通过螺旋测微目镜观察待测介质膜表面一固定位置上的干涉条纹；然后调节恒温调节控制器设 定试样的最后温度为T2，由恒温调节控制器控制加热器件对试样进行加热，使试样的温 度由Ti开始缓慢升高，通过温度测量装置监测试样的温度，试样的温度达到T2后，由 温度测量装置反馈信息给恒温调节控制器，恒温调节控制器接收到信息后控制加热器件使试样保持恒温；在温度调节和试样加热过程中，观察待测介质膜表面在同一固定位置 上移动过的干涉条纹并记录移动过的干涉条纹的数目，该数目用k2表示；7)根据薄膜等倾干涉理论，首先计算待测介质膜在温度L时的折射率",和物理厚度 |(—2阔2—(—《sin2《 " 、 ， ^为在第一设定角 Y (。2sin2《)2-(0,sin2《)2 Msin2(9,度值《和温度T,下待测介质膜的任意两条相邻干涉明条纹或者干涉暗条纹的表观间距，"2为在第二设定角度值《和温度1下待测介质膜的任意两条相邻干涉明条纹或者干涉暗条纹的表观间距，M为螺旋测微目镜的放大倍数；然后计算待测介质膜在温度T2时的 折射率A和物理厚度&，"2:(《sin'e2一《sin厶^)/^+4/l/ i(Ai sin 02一i 一sin 《sin乙《^"^ 一sin % )+4、 "i (sin ^2—s'n ^1) (/cj2—fc，)A2 +4;^J" —sin2Jw〖一sin2 6>2 )+4、2 (sin2 02—sin2力)^ 一l J(^2 _A22 )义2 +4义/^ (A V";2 —sin2《—sin2《)+4/^2 (sin2 <92 —sin2《)sin2《—sin2《其中，k,为在第一设定角度值《下温度从TV变化到T2时在固定位置上移动过的干涉条纹的数目，k2为在第二设定角度值《下温度从TV变化到T2时在固定位置上移动过的干涉条纹的数目，A为光源波长；8)最后由热光系数和热膨胀系数的定义计算待测介质膜的热光系数a和热膨胀系数"，a=^^， p = ^^，其中，^为待测介质膜在温度T,时的折射率， 为待K-K K-^测介质膜在温度T2时的折射率，A为待测介质膜在温度T,时的物理厚度，；^为待测介 质膜在温度T2时的物理厚度，Ti为试样的初始温度，T2为试样的最后温度。
全文摘要
本发明公开一种测量介质热光系数和热膨胀系数的装置及方法，包括底座、光源组件和条纹观测组件，底座上设置有支架、由金属材料制成的中空样品台、加热装置和温度测量装置，光源组件和条纹观测组件活动连接在支架上，样品台上置放有试样，加热装置包括电源、恒温调节控制器和电热器件，电热器件置放在样品台内，温度测量装置分别与样品台和恒温调节控制器连接，通过旋转第一、第二螺旋设定所需的角度，移动光源组件可使光源发射的光照射到介质膜上，移动条纹观测组件可观测到整个干涉条纹，利用加热器件对试样加热，观测不同温度下固定位置上移过的干涉条纹数目，由此测得介质的热光系数和热膨胀系数；此外，装置结构简单、测量精度高。
文档编号G01N21/45GK101441174SQ200810163500
公开日2009年5月27日 申请日期2008年12月17日 优先权日2008年12月17日
发明者丁海芳, 冯亚萍, 晓 刘, 骏 周, 马伟涛, 马佑桥 申请人:宁波大学