专利名称：一种可测量复杂回转体零件表面轮廓的仪器的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测量仪器，尤其涉及一种可测量复杂回转体零件表面轮廓的仪
O
背景技术：
在测量内转子、棘轮等回转体零件表面轮廓时，圆度仪测量量程较小，不能满足测 量要求，轮廓仪虽然能满足测量量程的要求，但是不能实现对整个回转体的测量。
发明内容
本发明目的是提供一种可测量复杂回转体零件表面轮廓的仪器，其解决了现有圆 度仪或轮廓仪中不能对复杂回转体零件表面轮廓进行测量的技术问题。本发明的技术方案为一种可测量复杂回转体零件表面轮廓的仪器，包括工作台、设于工作台上的轮廓 仪，所述轮廓仪包括设置在工作台上的Z轴气浮立柱、设置在Z轴气浮立柱上的X轴气浮导 轨、设置在X轴气浮导轨上的传感器和测针、通过导轨安装在工作台上的移动平台；所述测 针与工作台的X轴平行；其特殊之处是所述仪器还包括设置工作台上的三维台，所述三维 台上设置有可夹持被测零件的夹爪；所述三维台的中心轴位于测针所在直线上。上述夹爪为三爪卡盘。本发明的技术效果为1、可在一台仪器上实现对轮廓和圆度的同时测量。2、能对简单轮廓或复杂回转体表面轮廓进行测量。
图1为本发明测量复杂回转体表面轮廓时的结构示意图；图2为本发明测量简单轮廓时的结构示意图；附图标记如下1-工作台，2-X轴气浮导轨，3-测针，4-被测零件，5-三爪卡盘， 6-三维台，7-移动平台，8-传感器，9-Z轴气浮立柱，10-导轨。
具体实施例方式参见图1及图2，本发明可在一台仪器上分别实现对轮廓和圆度的测量。在测量被 测零件圆度时，将移动平台7沿导轨10移动到远离传感器8的一端，将被测零件4放置在 三维台6的三爪卡盘5上，调整被测零件4和轮廓仪上的传感器8，进而转动三维台6就可 实现对圆度的测量，该测量原理同普通圆度仪相同，只是将原有圆度仪上的传感器用轮廓 仪上的传感器替代。在测量被测零件轮廓时，将移动平台7沿导轨10移向靠近传感器8的一端，将轮 廓测量工装放在移动平台7上，并装夹上待测被测零件，调整轮廓仪上的传感器8的触头垂直于被测零件表面，移动轮廓仪上的X轴气浮导轨2即可实现对被测零件工作轮廓的测量，该测量原理同普通轮廓仪相同。本发明工作原理本发明不但可单独测量被测零件的圆度或轮廓，而且还可以测量复杂回转体的轮 廓。这解决了转子和棘轮等复杂回转体表面轮廓的测量问题，同时提高了测量效率。在对 于内转子和棘轮等复杂回转体零件表面轮廓的测量时，本发明通过将现有圆度仪及轮廓仪 有机结合起来实现同时测量圆度和轮廓。首先将被测零件4放置在如图1所示三维台6中 的三爪卡盘5上，调整轮廓仪上的传感器8，使得传感器8中心过回转中心，其中传感器8可 为电感传感器，使得轮廓仪上的测针3正对三维台6的中心，其中测针3上的测头与被测零 件4接触，将被测零件4表面的极径变化传递给传感器，并传输到计算机中。然后开始旋转 三维台6，利用轮廓仪上的传感器测量圆度，同时由于三维台6自身的旋转，使得固定于其 上的被测零件4也随之发生旋转，则轮廓仪上的传感器即可采集到被测零件在旋转时的轮 廓，进而达到同时测得被测零件轮廓的效果。本发明利用圆度仪扫描方法对复杂回转体表面轮廓扫描，利用轮廓仪传感器测量 结构进行数据采集轮廓数据，从而实现了对转子和棘轮等复杂回转体表面轮廓的测量。
权利要求
1.一种可测量复杂回转体零件表面轮廓的仪器，包括工作台(1)、设于工作台(1)上 的轮廓仪，所述轮廓仪包括设置在工作台(1)上的ζ轴气浮立柱(9)、设置在Z轴气浮立柱 (9)上的X轴气浮导轨(2)、设置在X轴气浮导轨(2)上的传感器(8)和测针(3)、通过导 轨(10)安装在工作台上的移动平台(7)；所述测针(3)与工作台(1)的X轴平行；其特征 在于所述仪器还包括设置工作台(1)上的三维台(6)，所述三维台(6)上设置有可夹持被 测零件(4)的夹爪；所述三维台(6)的中心轴位于测针(3)所在直线上。
2.根据权利要求1所述的仪器，其特征在于所述夹爪为三爪卡盘(5)。
全文摘要
本发明涉及一种可测量复杂回转体零件表面轮廓的仪器，包括工作台、设于工作台上的轮廓仪，所述轮廓仪包括设置在工作台上的Z轴气浮立柱、设置在Z轴气浮立柱上的X轴气浮导轨、设置在X轴气浮导轨上的传感器和测针、通过导轨安装在工作台上的移动平台；所述测针与工作台的X轴平行；仪器还包括设置工作台上的三维台，三维台上设置有可夹持被测零件的夹爪；三维台的中心轴位于测针所在直线上。可在一台仪器上实现对轮廓和圆度的同时测量。
文档编号G01B7/28GK102102976SQ20091021956
公开日2011年6月22日 申请日期2009年12月18日 优先权日2009年12月18日
发明者戴桂秋 申请人:西安威而信精密仪器有限公司