抗冲击测试装置的制作方法

文档序号:5849332阅读:199来源:国知局
专利名称:抗冲击测试装置的制作方法
技术领域
本实用新型涉及抗冲击测试装置,特别涉及一种采用钢球自由落体时检 测样品的抗冲击检测装置。
背景技术
现有技术,为了检测样品的抗冲击性,须在样品上方距离一定高度的位 置投放一钢球来对其进行冲击检测。为检测玻璃类或含玻璃类产品的耐冲击 性,根据产品性质和成型阶段的不同,钢球的规格以及其下落的高度均有所 不同,且考虑到检测效果,保证钢球正好撞击在样品中心位置有一定难度。 通常实践中,操作人员在真正测试样品前,通过空投钢球估计其着陆点后再 放置待检测的样品,调整时间大,测试误差较大。钢球的释放点与样品中心 间的空间使得中心校准存在一定难度,且最后的测试结果存在一定误差。另 外,针对不同样品或同一样品多次检测要求的不同,检测时钢球需从同一高 度反复下落撞击对样品进行检测,现有技术无法准确记录钢球投放点,使得 测试前需要反复调试。

实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是为了克服现有技术在冲撞测试前中心 调整困难,且钢球下落高度较难固定的缺陷,提供一种抗冲击测试装置。 本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题的 一种抗冲击测试装置,其特点在于,其包括一冲击轨道,垂直该冲击轨
道中轴线方向设有若干通孔; 一阻挡件,该阻挡件插设于该通孔中; 一用于 支撑该冲击轨道的支架。其中,该抗冲击测试装置还包括一用于放置样品的冲击平台,该冲击平 台为中空。
其中,该冲击平台顶面的四周设有一台阶。 其中,该冲击轨道为管状。 其中,该通孔为等间距设置。
本实用新型的积极进步效果在于本实用新型设有一冲击轨道,该冲击 轨道可延伸至样品表面,节省了测试时,将钢球的抛出点与样品中心进行校 对的过程,保证了更高的准确度。此外,该冲击轨道上设置的通孔配合一阻 挡件,可任意决定钢球的下落高度,且便于进行同一高度的反复测试,减少 了因冲击高度的变化而导致测试结果的误差。


图1为本实用新型实施例中的抗冲击检测装置的立体图。
具体实施方式

下面举出较佳实施例,并结合附图来更清楚完整地说明本实用新型。 如图1所示,本实用新型设有一管状的冲击轨道2,该冲击轨道2竖直 固设于支架l上,冲击轨道2可根据实际测试中使用的钢球3的直径,选择
内径相符的管状件。冲击轨道2上设有十个通孔21,该通孔21配合一阻挡 件4将冲击用的钢球3定位在一预设高度,其中,该阻挡件4可以为插销或 螺母等。在冲击轨道2的下方放置一用于承载待测样品的冲击平台5,该平 台为中空,其内沿设有一台阶6,待测样品搭载于该台阶6上。
另外,在该冲击轨道2上的通孔21为等间距设置。同时,为数据记录 的需要,冲击轨道2上设有标高刻度。
测试前,将阻挡件4插设在预设的高度处的通孔21处,然后放入钢球3。 将冲击轨道2的下端面紧贴于被放置在冲击平台5中的待测样品的上表面的中心位置。测试时,抽出阻挡件4则钢球3自由下落冲击被测样品。由于在 中心校对时,冲击轨道2的下端面与待测样品的上端面相互靠近或紧贴,相 对于现有技术中在距离待测样品一定高度的位置调整钢球3投出点与待测样 品中心位置的方法而言,其精确度更为可靠,且耗时小。而冲击轨道2上的 通孔21配合阻挡件4,可以满足任意高度的选择,且提高了在同一高度反复 测试的准确度。
虽然以上描述了本实用新型的具体实施方式
,但是本领域的技术人员应 当理解,这些仅是举例说明,在不背离本实用新型的原理和实质的前提下, 可以对这些实施方式做出多种变更或修改。因此,本实用新型的保护范围由 所附权利要求书限定。
权利要求1、一种抗冲击测试装置,其特征在于,其包括一冲击轨道,垂直该冲击轨道中轴线方向设有若干通孔;一阻挡件,该阻挡件插设于该通孔中;一用于支撑该冲击轨道的支架。
2、 根据权利要求1所述的抗冲击测试装置,其特征在于,该抗冲击测 试装置还包括一用于放置样品的冲击平台,该冲击平台为中空。
3、 根据权利要求2所述的抗冲击测试装置,其特征在于,该冲击平台 顶面的四周设有一台阶。
4、 根据权利要求1所述的抗冲击测试装置,其特征在于,该冲击轨道 为管状。
5、 根据权利要求1所述的抗冲击测试装置,其特征在于,该通孔为等 间距设置。
专利摘要本实用新型公开了一种抗冲击测试装置,其特点在于,其包括一冲击轨道,垂直该冲击轨道中轴线方向设有若干通孔;一阻挡件,该阻挡件插设于该通孔中;一用于支撑该冲击轨道的支架。本实用新型设有一冲击轨道,该冲击轨道可延伸至样品表面,节省了测试时,将钢球的抛出点与样品中心进行校对的过程,保证了更高的准确度。此外,该冲击轨道上设置的通孔配合一阻挡件,可任意决定钢球的下落高度,且便于进行同一高度的反复测试,减少了因冲击高度的变化而导致测试结果的误差。
文档编号G01N3/303GK201397227SQ20092007189
公开日2010年2月3日 申请日期2009年5月8日 优先权日2009年5月8日
发明者杨长泉 申请人:上海晨兴希姆通电子科技有限公司
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