专利名称：一种探针和用于电子产品测试的连通装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及连通装置，尤其涉及一种探针和用于电子产品测试的连通装置。
背景技术：
目前由于手机、NB等光学类电子产品日益普及，对产品的要求越来越精密，各类电子测试要求也越来越高。在现有测试方式中，一般是使用一种小型双头弹簧探针来制作治夹具结构。该结构上下定位座制作精度高，加工难度大，而且长时间使用会使探针头磨损大，探针歪曲及发生其它不良反应。对测试稳定性存在影响。而且探针测试治具维护成本高，经常需要更换探针。因此，现有技术亟待改进。
实用新型内容本实用新型要解决的技术问题是针对现有技术的不足，提供一种结构简单且不易损坏的探针。本实用新型要解决的另一技术问题是提供一种具有上述探针且加工简单的用于电子产品测试的连通装置。本实用新型要解决的技术问题通过以下技术方案加以解决—种探针，包括焊杆和针体，所述焊杆上设置有定位孔，所述针体包括连接部、针头部和中间部，所述连接部设置在所述定位孔内。所述中间部表面设置有绝缘材料。所述焊杆上设置有与用于电子产品测试的连通装置配合的第一限位机构和第二限位机构。一种用于电子产品测试的连通装置，包括探针固定部、探针套座和探针；所述探针包括焊杆和针体，所述焊杆上设置有定位孔，所述针体包括连接部、针头部和中间部，所述连接部的一端设置在所述定位孔内；所述探针套座设置在所述固定部的下方，并可使所述探针固定部在所述探针套座的中心轴线方向上下移动，所述探针设置在所述探针固定部上并可穿过所述探针套座。所述探针固定部包括探针固定上座、探针固定下座、针盘母座和支撑柱，所述探针固定上座设置在所述探针固定下座上，所述探针固定下座和所述探针母座之间通过所述支撑柱连接，所述探针固定上座上设置有第一通孔，所述探针固定下座相应位置上设置有第二通孔，所以第一通孔和所述第二通孔配合用于夹持所述探针。所述焊杆上设置有第一限位机构和第二限位机构，所述第一限位机构与所述第一通孔配合，所述第二限位机构与所述第二通孔配合。所述第一通孔为台阶孔，所述第二通孔为台阶孔。所述探针套座包括探针下套座和设置在所述探针下套座上的探针上套座，所述探针上套座上设置有可使探针穿过的第三通孔，所述探针下套座相应位置上设置有可使探针穿过的第四通孔。所述探针上套座和所述针盘母座通过活动卡销连接。所述针盘母座上还设置有弹针，所述弹针的针尾穿过所述针盘母座与所述探针上套座连接。由于采用了以上技术方案，使本实用新型具备的有益效果在于(1)在本实用新型的具体实施方式
中，由于焊杆上设置有定位孔，针体的连接部设置在定位孔内，焊针结构简单且不易损坏。(2)在本实用新型的具体实施方式
中，由于探针固定部包括探针固定上座、探针固定下座、针盘母座和支撑柱，通过探针固定下座和探针母座之间通过支撑柱连接，易于组装定位；探针固定下座相应位置上设置有第二通孔，通过第一通孔和第二通孔配合来夹持探针，结构简单，易于实施。(3)在本实用新型的具体实施方式
中，由于探针上套座和所述针盘母座通过活动卡销连接，活动卡销可对探针套座起定位和导向作用，使探针套座在探针固定部的中心轴线方向上下移动。(4)在本实用新型的具体实施方式
中，由于针盘母座上设置有弹针，弹针的针尾穿过针盘母座与探针上套座连接，当无外力作用于本装置时，弹针针尾可弹开探针上套座，使本连通装置复位。
图1为本实用新型一种实施方式中的探针结构示意图；图2为本实用新型一种实施方式中的探针分解示意图；图3为本实用新型一种实施方式中，用于电子产品测试的连通装置的结构示意图；图4为本实用新型一种实施方式中，用于电子产品测试的连通装置的剖视图；图5为图4中的A部分的放大示意图；图6为本实用新型一种实施方式中的探针固定下座的结构示意图；图7为本实用新型一种实施方式中的探针上套座的结构示意图；图8为本实用新型一种实施方式中的探针下套座的结构示意图；图9为本实用新型一种实施方式中，用于电子产品测试的连通装置的分解示意图。
具体实施方式
下面通过具体实施方式
结合附图对本实用新型作进一步详细说明。如图1至图5所示，本实用新型的探针100，其一种实施方式，包括焊杆110和针体120，焊杆110上设置有定位孔113，针体120包括连接部121、针头部123和中间部122，连接部121的一端设置在定位孔113内。针体120是一根有一定长度的细小钢丝，钢丝表面镀金。在一种实施方式中，中间部122表面设置有绝缘材料。中间部122涂有绝缘材料， 是为了防止因探针之间间距很小，受压缩弹力后易接触到，而引起的探针之间的短路。
4[0035]焊杆110上设置有第一限位机构111和第二限位机构112。在一种实施方式中，该第一限位机构111可以是一个凸台，或是一个环形台阶。第二限位机构112也可以是一个凸台，或是一个环形台阶。本实用新型的用于电子产品测试的连通装置，其一种实施方式，包括探针固定部、 探针套座和探针100。探针100包括焊杆110和针体120，焊杆110上设置有定位孔113，针体120包括连接部121、针头部123和中间部122，连接部121的一端设置在定位孔113内。 针体120是一根有一定长度的细小钢丝，钢丝表面镀金。探针套座设置在固定部的下方，并可使探针固定部在探针套座的中心轴线方向上下移动，探针设置在探针固定部上并可穿过探针套座。探针固定部包括探针固定上座210、探针固定下座220、针盘母座230和支撑柱 M0，探针固定上座210设置在探针固定下座220上，探针固定下座220和探针母座230之间通过支撑柱240连接，探针固定上座210上设置有第一通孔211，探针固定下座220上设置有第二通孔221。针盘母座230上设置有可供探针100穿过的通孔。在一种实施方式中， 该通孔为腰形孔。第一通孔211的个数可以根据用户的需要来设定，第一通孔211和第二通孔221的位置相对应，第一通孔211和第二通孔221配合用于夹持探针100。焊杆110上设置有第一限位机构111和第二限位机构112，第一限位机构111与第一通孔211配合，第二限位机构112与第二通孔221配合。第一通孔211为台阶孔，该台阶孔的形状为上小下大型。第二通孔221也为台阶孔，该台阶孔为上大下型。在一种实施方式中，该第一限位机构111可以是一个凸台，或是一个环形台阶。第二限位机构112也可以是一个凸台，或是一个环形台阶。第一限位机构 111设置在第一通孔211内，由于第一限位机构111的限制，使探针的焊杆110无法向上移动。第二限位机构112设置在第二通孔221内，由于第二限位机构112的限制，使探针的焊杆110无法向下移动，因此在第一通孔211和第一限位机构111的配合，第二通孔221和第二限位机构112的配合下，焊针被牢固地固定在探针固定部上。探针套座包括探针上套座310和探针下套座320，探针上套座310设置在探针下套座320上。探针上套座310上设置有第三通孔311，探针下套座320上设置有第四通孔 321，第三通孔311和第四通孔321位置相对对应，并可使探针100穿过探针套座。在一种具体实施方式
中，第三通孔311和第四通孔321的个数与第一通孔211的个数相同。探针上套座310和针盘母座230可以通过活动卡销410连接。探针上套座310和探针下套座320固定连接后，探针固定部在探针套座的中心轴线方向上下移动。针盘母座230上还设置有弹针420，弹针420的针尾穿过针盘母座230与探针上套座310连接。当有外力下压探针固定部时，探针固定部在探针套座的中心轴线方向向下移动。当无外力作用时，探针固定部可在弹针作用下回弹复位。当使用本实用新型的用于电子产品测试的连通装置时，探针固定部受外力往下压时，当压至被测产品时，探针针头接触被测物，针体发生弯曲产生弹性变形，在其弹性压力下可满足探针与被测试产品的要求。以上内容是结合具体的实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属
5于本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种探针，其特征在于，包括焊杆和针体，所述焊杆上设置有定位孔，所述针体包括连接部、针头部和中间部，所述连接部设置在所述定位孔内。
2.如权利要求1所述的探针，其特征在于，所述中间部表面设置有绝缘材料。
3.如权利要求1所述的探针，其特征在于，所述焊杆上设置有与用于电子产品测试的连通装置配合的第一限位机构和第二限位机构。
4.一种用于电子产品测试的连通装置，其特征在于，包括探针固定部、探针套座和探针；所述探针包括焊杆和针体，所述焊杆上设置有定位孔，所述针体包括连接部、针头部和中间部，所述连接部的一端设置在所述定位孔内；所述探针套座设置在所述探针固定部的下方，并可使所述探针固定部在所述探针套座的中心轴线方向上下移动，所述探针设置在所述探针固定部上并可穿过所述探针套座。
5.如权利要求4所述的用于电子产品测试的连通装置，其特征在于，所述探针固定部包括探针固定上座、探针固定下座、针盘母座和支撑柱，所述探针固定上座设置在所述探针固定下座上，所述探针固定下座和所述探针母座之间通过所述支撑柱连接，所述探针固定上座上设置有第一通孔，所述探针固定下座相应位置上设置有第二通孔，所以第一通孔和所述第二通孔配合用于夹持所述探针。
6.如权利要求5所述的用于电子产品测试的连通装置，其特征在于，所述焊杆上设置有第一限位机构和第二限位机构，所述第一限位机构与所述第一通孔配合，所述第二限位机构与所述第二通孔配合。
7.如权利要求6所述的用于电子产品测试的连通装置，其特征在于，所述第一通孔为台阶孔，所述第二通孔为台阶孔。
8.如权利要求5所述的用于电子产品测试的连通装置，其特征在于，所述探针套座包括探针下套座和设置在所述探针下套座上的探针上套座，所述探针上套座上设置有可使探针穿过的第三通孔，所述探针下套座相应位置上设置有可使探针穿过的第四通孔。
9.如权利要求8所述的用于电子产品测试的连通装置，其特征在于，所述探针上套座和所述针盘母座通过活动卡销连接。
10.如权利要求9所述的用于电子产品测试的连通装置，其特征在于，所述针盘母座上还设置有弹针，所述弹针的针尾穿过所述针盘母座与所述探针上套座连接。
专利摘要本实用新型公开了一种探针，包括焊杆和针体，所述焊杆上设置有定位孔，所述针体包括连接部、针头部和中间部，所述连接部设置在所述定位孔内。本实用新型还公开了一种用于电子产品测试的连通装置。在本实用新型的具体实施方式
中，由于焊杆上设置有定位孔，针体的连接部设置在定位孔内，焊针结构简单且不易损坏。
文档编号G01R1/067GK201984088SQ201020695828
公开日2011年9月21日 申请日期2010年12月31日 优先权日2010年12月31日
发明者董植锋, 钟周桂, 陈建坤 申请人:深圳市普智捷电子科技有限公司