专利名称：一种电信卡密码覆膜性能的测定、评价方法及其装置的制作方法
技术领域：
本发明属于电信卡密码覆膜去除技术领域，特别涉及规范、统ー评价各类电信卡密码覆膜去除的难易程度，用于筛选、评价在一定划擦载荷下具有较好去除效果(容易去除)的电信卡。
背景技术：
现有仪器“电信卡密码覆膜手动刮擦测试仪”是通过手动方式施加载荷，在试验过程中易于因划擦力较小而没有有效去除，或者由于划擦カ太大而破坏基底的密码，仅仅是用做尝试性的实验。同吋，到目前为止，还没有一种能有效评价电信卡中密码覆膜去除性能的方法，用以来规范评价厂家提供的的各种卡的密码覆膜性能。
发明内容
本发明的目的是为解决评价各类电信卡密码覆膜去除的难易程度，筛选、评价在一定划擦载荷下具有较好去除效果(容易去除)的电信卡的问题，提出一种电信卡密码覆膜性能的測定、评价方法及其装置，该方法可以简单、有效的测试不同速度、划擦载荷下电信卡密码覆膜的去除結果。帮助筛选评价在划擦载荷下去除效果较好的刮卡。该装置操作简单，能很好地实现本方法所达到的效果。本发明提出的一种电信卡密码覆膜有效去除及其性能评定方法，其特征在干，包括以下步骤(1)设置实验參数设置待测电信卡的起始位置、结束位置、运行速度，以及划擦载荷值；(2)在预定的运行速度和载荷条件下对使电信卡进行刮膜实验，测得电信卡密码覆膜在该速度和划擦载荷下的ー组实验数据(密码覆膜的去除宽度和去除长度)；(3)更换同一类别新电信卡，重复上述步骤( 二次，得到在相同运行速度和划擦载荷下电信卡密码覆膜去除的三组实验数据；(4)改变划擦载荷值，重复上述中的步骤( 、(3)，得到不同划擦载荷下多组实验数据；(5)依次更换另一种待测电信卡，每更换ー种待测电信卡，均重复上述的(1)、 O)、(3)、(4)步骤，得到每种待测电信卡在不同划擦载荷下多组实验数据；(6)根据每种待测电信卡在不同划擦载荷下多组实验数据进行处理，得到该种待测电信卡在不同划擦载荷下的有效去除面积比数，并制作每种待测电信卡密码覆膜有效去除面积比数与划擦载荷的关系曲线，(7)对比各测试载荷下各种待测电信卡的有效去除面积比数，筛选出相同载荷范围内去除面积比数大的电信卡为具有较好密码覆膜性能的电信卡。所述步骤(6)中每种待测电信卡的实验数据处理的具体步骤如下<6. 1>将每种卡在同一种划擦载荷下密码覆膜去除的三组实验数据分别求得有效去除面积比数，取其平均值作为该类卡在该条件(运行速度、划擦载荷)下的最终结果；定义密码覆膜层的有效去除面积比数A为A=(去除宽度*去除长度)/(覆膜宽度*覆膜长度)<6. 2>将每种卡在不同划擦载荷下的数据按<6. 1>进行处理，得到不同载荷下密码覆膜的有效去除面积比数A ；<6. 3>使用上述同样的方法依次处理所有待测电信卡的实验結果，得到不同划擦载荷下各种电信卡密码覆膜有效去除面积比数A ；将实验测试中的划擦载荷作为横坐标，在不同划擦载荷下，电信卡密码覆膜的有效去除面积比数作为纵坐标，得到各种待测电信卡划擦载荷与有效去除面积比数的关系曲线。井根据该分布曲线，筛选出电信卡密码覆膜的性能。本发明还提出实现上述方法的实验装置，其特征在干，该实验装置包括基座以及安装在基座上的控制面板、一维电动平台、电信卡固定槽板、由刮膜器卡具以及刮膜器組成的刮膜装置、由竖杆和套在竖杆上的砝码组成的载荷施加装置，以及由平衡杆、支座、平衡配重块、平衡调节螺栓组成的平衡配置装置；其中，控制面板安装在基座的前侧面板上；一维电动平台安装在基座上表面；电信卡固定槽板安装在一维电动平台上且随着该平台运动而运动；载荷施加装置安装于基座上；刮膜装置安装于载荷施加装置上。本发明的特点及有益效果本发明方法首次提出采用一次去除有效面积比数作为评价指标，以实现评价、区分各种电信卡密码覆膜在划擦载荷下的去除效果。该方法可以简单、有效的测试不同速度、划擦载荷下电信卡密码覆膜的去除結果。 使用装置分别测量各种电信卡在不同划擦载荷下的去除結果，采用一次刮除有效去除面积比数表征刮卡密码覆膜的去除效果，帮助筛选评价在划擦载荷下去除效果较好的刮卡。该装置操作简单，能很好地实现本方法所达到的效果。
图1为本发明方法的实现装置实施例结构示意图；图2为采用本发明方法得到的待测电信卡划擦载荷与有效去除面积比数的变化曲线。
具体实施例方式本发明提出的电信卡密码覆膜的性能測定方法结合实施例及附图详细说明如下本发明提出的一种电信卡密码覆膜有效去除及其性能评定方法，其特征在干，包括以下步骤(1)设置实验參数设置待测电信卡的起始位置、结束位置、运行速度，以及划擦载荷值；(2)在预定的运行速度和载荷条件下对使电信卡进行刮膜实验，测得电信卡密码覆膜在该速度和划擦载荷下的ー组实验数据(密码覆膜的去除宽度和去除长度)；(3)更换同一类别新电信卡，重复上述步骤(2) 二次，得到在相同运行速度和划擦载荷下电信卡密码覆膜去除的三组实验数据；(4)改变划擦载荷值，重复上述中的步骤( 、(3)，得到不同划擦载荷下多组实验数据；(5)依次更换另一种待测电信卡，每更换ー种待测电信卡，均重复上述的(1)、 O)、(3)、(4)步骤，得到每种待测电信卡在不同划擦载荷下多组实验数据；(6)根据每种待测电信卡在不同划擦载荷下多组实验数据进行处理，得到该种待测电信卡在不同划擦载荷下的有效去除面积比数，并制作每种待测电信卡密码覆膜有效去除面积比数与划擦载荷的关系曲线，(7)对比各测试载荷下各种待测电信卡的有效去除面积比数，筛选出相同载荷范围内去除面积比数大的电信卡为具有较好密码覆膜性能的电信卡。所述步骤(6)中每种待测电信卡的实验数据处理的具体步骤如下<6. 1>将每种卡在同一种划擦载荷下密码覆膜去除的三组实验数据分别求得有效去除面积比数，取其平均值作为该类卡在该条件(运行速度、划擦载荷)下的最终结果；定义密码覆膜层的有效去除面积比数A为A=(去除宽度*去除长度)/(覆膜宽度*覆膜长度)<6. 2>将每种卡在不同划擦载荷下的数据按<6. 1>进行处理，得到不同载荷下密码覆膜的有效去除面积比数A ；<6. 3>使用上述同样的方法依次处理所有待测电信卡的实验結果，得到不同划擦载荷下各种电信卡密码覆膜有效去除面积比数A ；将实验测试中的划擦载荷作为横坐标，在不同划擦载荷下，电信卡密码覆膜的有效去除面积比数作为纵坐标，得到各种待测电信卡划擦载荷与有效去除面积比数的关系曲线。井根据该分布曲线，筛选出电信卡密码覆膜的性能。为实现上述方法，本发明所采用的实验装置实施例结构，如图1所示，该实验装置由基座1以及安装在基座上的控制面板2、一维电动平台3、电信卡固定槽板4、由刮膜器卡具以及刮膜器組成的刮膜装置6、由竖杆和套在竖杆上的砝码组成的载荷施加装置7，以及由平衡杆8、支座9、平衡配重块10、平衡调节螺栓11組成的平衡配置装置。连接关系及各部件具体实现方式控制面板2安装在基座1的前侧面板上；一维电动平台3安装在基座1上表面；电信卡固定槽板4安装在一维电动平台3上且随着该平台运动而运动；载荷施加装置7由砝码和竖杆组成，安装于基座上；刮膜器卡具安装于载荷施加装置7上。本实施例中的装置的实验參数如下装置外形尺寸(mm)约500*500*520 (高)； 移动平台行程63mm ；运行速度100mm/S，刮膜器为厚度为1. 5mm，直径为25mm的钢片，划擦载荷范围3-42N，増幅IN ；(以上參数仅为举例说明，并不用以限定本发明方法的实现)采用上述装置的测试方法的实施例，包括以下步骤(1)首先将待测电信卡5安装于电信卡固定槽板4上；接通测试装置电源，开机， 使用测试装置的平衡配重块以及平衡调节螺栓将初始载荷调整为零；(2)将电动平台运行速度调整到预定的80-150mm/s (转速參数的选择，可根据实际ェ况进行选择，本实施例中速度选定为lOOmm/s)，依据电信卡密码覆膜层的长度调整好电信卡固定槽板的起始位置、结束位置；(3)安装电信卡到固定槽板，使用载荷施加装置施加划擦载荷到预定值(一般为 1-3N，本实施例中选择3N)然后按控制面板，运行实验装置，测得电信卡密码覆膜在该速度和划擦载荷下的实验数据(该电信卡密码覆膜的去除宽度以及去除长度)；(4)更换同一类别新卡，将刮膜器上的覆膜清除棹，重复上述步骤C3) 二次，得到在相同运行速度和划擦载荷下电信卡密码覆膜去除的三组实验数据；(5)改变划擦载荷，(本实施例中是采用IN(载荷的単位)的幅值递加，从3N开始直到电信卡密码基底层擦伤。可根据实际的エ况选择划擦载荷范围及其増幅)，重复上述步骤C3)、，直到电信卡密码基底层擦伤，得到各种划擦载荷下电信卡密码覆膜去除的三組实验数据；(6)将电信卡取下来，并将刮膜器上的覆膜清除棹，实验结束；(7)依次更换另ー种的待测电信卡，每更换ー种待测卡，均重复上述的(1)、(2), (3)、(4)、(5)、(6)步骤；(8)对获得各种待测电信卡的实验数据进行处理具体的步骤如下<8. 1>将每种卡在同一种划擦载荷下密码覆膜去除的三組实验结果分别求得有效去除面积比数，取其平均值作为该类卡在该条件(运行速度、划擦载荷)下的最终结果；定义密码覆膜层的有效去除面积比数为A=(去除宽度*去除长度)/(覆膜宽度*覆膜长度)<8. 2>将每种卡在不同划擦载荷下的数据按<8. 1>进行处理，计算得到不同载荷下密码覆膜的有效去除面积比数；<8. 3>使用上述同样的方法依次处理所有待测电信卡的实验結果，得到不同划擦载荷下各种电信卡密码覆膜有效去除面积比数；将实验测试中的划擦载荷作为横坐标，在不同划擦载荷下，电信卡密码覆膜的有效去除面积比数作为纵坐标，得到各种待测电信卡划擦载荷与有效去除面积比数的关系曲线。井根据该分布曲线，确定电信卡密码覆膜的性能；(9)根据所得到的待测电信卡密码覆膜有效去除面积比数与划擦载荷的关系曲线，对比各测试载荷下待测电信卡的有效去除面积比数，确定相同载荷范围内去除面积比数大的电信卡其密码覆膜性能好。在本实施实例中，待测电信卡密码覆膜有效去除面积比数与划擦载荷的关系曲线，如图2可以看出(图中三角形表示A卡，方形表示B卡)，相同划擦载荷范围内卡B有效去除面积比数大于卡A，同时卡B在一个较大的划擦载荷范围内(拥有极小和极大划擦载荷)比之卡A都能有较大的有效去除面积比数，即好的刮除效果。通过对比这两种待测刮卡得出，在划擦载荷作用下卡B密码覆膜去除性能较卡A好。通过本发明可以比较一定划擦载荷范围内电信卡密码覆膜的去除效果，进而可简单有效的筛选、评价在一定划擦载荷下具有较好去除效果(容易去除)的电信卡。
权利要求
1.一种电信卡密码覆膜有效去除及其性能评定方法，其特征在于，该方法包括以下步骤(1)设置实验參数设置待测电信卡的起始位置、结束位置、运行速度，以及划擦载荷值；(2)在预定的运行速度和载荷条件下对使电信卡进行刮膜实验，测得电信卡密码覆膜在该速度和划擦载荷下的ー组实验数据(密码覆膜的去除宽度和去除长度)；(3)更换同一类别新电信卡，重复上述步骤(2)二次，得到在相同运行速度和划擦载荷下电信卡密码覆膜去除的三组实验数据；(4)改变划擦载荷值，重复上述中的步骤O)、(3)，得到不同划擦载荷下多组实验数据；(5)依次更换另一种待测电信卡，每更换ー种待测电信卡，均重复上述的(1)、(2), (3)、(4)步骤，得到每种待测电信卡在不同划擦载荷下多组实验数据；(6)根据每种待测电信卡在不同划擦载荷下多组实验数据进行处理，得到该种待测电信卡在不同划擦载荷下的有效去除面积比数，并制作每种待测电信卡密码覆膜有效去除面积比数与划擦载荷的关系曲线，(7)对比各测试载荷下各种待测电信卡的有效去除面积比数，筛选出相同载荷范围内去除面积比数大的电信卡为具有较好密码覆膜性能的电信卡。
2.根据权利要求1中的所述的方法，其特征在干，所述步骤(6)中每种待测电信卡的实验数据处理的具体步骤如下<6. 1>将每种卡在同一种划擦载荷下密码覆膜去除的三组实验数据分别求得有效去除面积比数，取其平均值作为该类卡在该条件(运行速度、划擦载荷)下的最终結果； 定义密码覆膜层的有效去除面积比数A为 A=(去除宽度*去除长度)/(覆膜宽度*覆膜长度)<6. 2>将每种卡在不同划擦载荷下的数据按<6. 1>进行处理，得到不同载荷下密码覆膜的有效去除面积比数A ；<6. 3>使用上述同样的方法依次处理所有待测电信卡的实验結果，得到不同划擦载荷下各种电信卡密码覆膜有效去除面积比数A ；将实验测试中的划擦载荷作为横坐标，在不同划擦载荷下，电信卡密码覆膜的有效去除面积比数作为纵坐标，得到各种待测电信卡划擦载荷与有效去除面积比数的关系曲线。 井根据该分布曲线，筛选出电信卡密码覆膜的性能。
3.ー种用于实现如权利要求1所述方法的实验装置，其特征在干，该实验装置包括 基座以及安装在基座上的控制面板、一维电动平台、电信卡固定槽板、由刮膜器卡具以及刮膜器組成的刮膜装置、由竖杆和套在竖杆上的砝码组成的载荷施加装置，以及由平衡杆、支座、平衡配重块、平衡调节螺栓组成的平衡配置装置；其中，控制面板安装在基座的前侧面板上；一维电动平台安装在基座上表面；电信卡固定槽板安装在一维电动平台上且随着该平台运动而运动；载荷施加装置安装于基座上；刮膜装置安装于载荷施加装置上。
全文摘要
本发明涉及一种电信卡密码覆膜性能的测定、评价方法及其装置，属于电信卡密码覆膜去除技术领域，该方法包括以下步骤设置实验参数；测得电信卡密码覆膜在该速度和划擦载荷下的一组实验数据；并更换同一类别新电信卡，得到在相同参数的三组实验数据；改变划擦载荷值，得到多组实验数据；依次更换另一种待测电信卡，得到每种待测电信卡的多组实验数据；制作每种待测电信卡密码覆膜有效去除面积比数与划擦载荷的关系曲线，对比各测试载荷下待测电信卡的有效去除面积比数，筛选出相同具有较好密码覆膜性能的电信卡。本发明可用于确立电信卡密码覆膜层的测试标准，并判断电信卡供应厂家生产的电信卡密码覆膜是否合格。
文档编号G01N19/04GK102564945SQ201110452020
公开日2012年7月11日 申请日期2011年12月29日 优先权日2011年12月29日
发明者卢丽敏, 张向军, 李晨光, 李红, 覃珊, 颜浩 申请人:清华大学, 联通兴业通信技术有限公司