专利名称：一种用光纤位移传感器测定工件圆度误差的装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及ー种测定エ件圆度误差的装置，属于测量技术领域。
背景技术：
在エ业控制和精密机械制造中，通常使用专业圆度仪来测量エ件的圆度误差。被测エ件安装在中心可做精确调整的微动定心台上，用ー个精密回转轴系上一个动点(測量装置的触头)所产生的理想圆与被测轮廓进行比较，就可求得圆度误差值。但是高精度的圆度仪售价相当昂贵，一般都是上百万元才能买到，而且这种圆度仪专业性强、操作复杂、现 场测量能力差，对エ件的实时残品控制应用不便。而用便携式圆度仪测量时支撑转子具有偏心误差，圆盘エ件与支撑转子之间也存在安装偏心误差，那么测量信号中就包含这些偏心误差信号，为了测量圆盘エ件的圆度误差就必须去除这些误差信号，目前的技术人员还没有找到较好的方法和装置。
发明内容本实用新型提供一种用光纤位移传感器测定エ件圆度误差的装置，可以快速的检测出圆盘エ件的圆度误差是否在正常范围内，快速识别残次品，它结构简单、安装调试方便、成本低廉、操作方便。为了解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案一种用光纤位移传感器测定エ件圆度误差的装置，包括待测エ件I、支撑转子2、反射式光纤位移传感器I 4、双踪示波器5、反射式光纤位移传感器II 6，待测エ件I安装在支撑转子2上，待测エ件I和支撑转子2的侧面一周均匀涂抹高反光材料3，反射式光纤位移传感器I 4和反射式光纤位移传感器II 6分别置于待测エ件I和支撑转子2的反光材料3涂抹处，且都与双踪示波器5连接。所述的反射式光纤位移传感器I 4和反射式光纤位移传感器II 6为相同结构的光纤位移传感器，反射式光纤位移传感器I 4和反射式光纤位移传感器II 6到反光材料3的距离均为5mm。所述的待测エ件I、支撑转子2、反射式光纤位移传感器I 4、双踪示波器5、反射式光纤位移传感器II 6均为市售的普通元件。本实用新型的工作原理当两个信号接入双踪示波器后，双踪示波器将待测エ件的信号和支撑转子的信号相减，然后与标准エ件的信号比对，识别待测エ件的圆度误差是否在允许的范围，进而识别残次品。本实用新型的有益效果是I、可以去除支撑转子产生的偏心误差和圆盘エ件与支撑转子之间的安装偏心误差;2、可以在加工现场对圆盘エ件进行单个或者批次检测；3、可快速的检测出圆盘エ件的圆度误差是否在正常范围内，快速识别残次品；[0012]4、结构简单、安装调试方便、操作方便、成本低廉。
[0013]图I本实用新型的结构示意图；图中1_待测エ件、2-支撑转子、3-高反光材料、4-反射式光纤位移传感器I、5-双踪示波器、6-反射式光纤位移传感器II。
具体实施方式
如
以下结合附图和实施例对本实用新型进ー步说明，以方便技术人员理解。图I所示本实用新型的结构示意图，装置包括待测エ件I、支撑转子2、反射式光纤位移传感器I 4、双踪示波器5、反射式光纤位移传感器II 6，待测エ件I安装在支撑转子2上，待测エ件I和支撑转子2的侧面一周均匀涂抹高反光材料3，反射式光纤位移传感器
I4和反射式光纤位移传感器II 6分别置于待测エ件I和支撑转子2的反光材料3涂抹处，且都与双踪示波器5连接，标定反射式光纤位移传感器I 4和反射式光纤位移传感器II 6到反光材料3的距离均为5mm。本实用新型的具体測量步骤如下(I)用如图I所示的装置測量标准エ件获得标准信号。用标准エ件代替待测エ件1，标准エ件的侧面一周也均匀涂抹高反光材料3，反射式光纤位移传感器I 4和反射式光纤位移传感器II 6分别从标准エ件和支撑转子2处测得信号，两个信号接入双踪示波器5，然后将标准エ件的信号和支撑转子2的信号相减得到标准信号，用双踪示波器5储存标准信号。(2)在图I所示的装置里安装待测エ件1，待测エ件I和支撑转子2的侧面一周均勻涂抹高反光材料3,反射式光纤位移传感器I 4和反射式光纤位移传感器II 6分别置于待测エ件I和支撑转子2的反光材料3涂抹处,标定反射式光纤位移传感器I 4、反射式光纤位移传感器II 6和反光材料3的距离为5mm,反射式光纤位移传感器I 4和反射式光纤位移传感器II 6分别从待测エ件I和支撑转子2处测得信号，两个信号接入双踪示波器5，然后将待测エ件I的信号和支撑转子2的信号相减，最后与步骤(I)里双踪示波器5储存的标准信号比对，识别待测エ件的圆度误差是否在允许的范围，进而识别残次品。本实用新型是通过具体实施过程进行说明的，在不脱离本实用新型范围的情况下，还可以对实用新型进行各种变换及等同代替，因此，本实用新型不局限于所公开的具体实施过程，而应当包括落入本实用新型权利要求范围内的全部实施方案。
权利要求1.ー种利用光纤位移传感器测定エ件圆度误差的装置，其特征在于包括待测エ件(I)、支撑转子(2)、反射式光纤位移传感器I (4)、双踪示波器(5)、反射式光纤位移传感器II (6)，待测エ件(I)安装在支撑转子(2)上，待测エ件(I)和支撑转子(2)的侧面一周均匀涂抹高反光材料(3)，反射式光纤位移传感器I (4)和反射式光纤位移传感器II (6)分别置于待测エ件(I)和支撑转子(2)的反光材料(3)涂抹处，且都与双踪示波器(5)连接。
2.根据权利要求I所述的利用光纤位移传感器测定エ件圆度误差的装置，其特征在于反射式光纤位移传感器I (4)和反射式光纤位移传感器II (6)到反光材料(3)的距离均为 Smnin
3.根据权利要求I所述的利用光纤位移传感器测定エ件圆度误差的装置，其特征在于所述的反射式光纤位移传感器I (4)和反射式光纤位移传感器II (6)为相同结构的光纤位移传感器。
专利摘要本实用新型涉及一种用光纤位移传感器测定工件圆度误差的装置，属于测量技术领域，包括反射式光纤位移传感器、待测工件、支撑转子、双踪示波器组成，待测工件安装在支撑转子上，待测工件和支撑转子的侧面一周涂抹高反光材料，光纤位移传感器分别置于待测工件和支撑转子的反光材料涂抹处；本实用新型可以去除支撑转子的偏心误差和圆盘工件与支撑转子之间的安装偏心误差，可以在加工现场对圆盘工件进行单个或者批次检测，可快速的检测出圆盘工件的圆度误差是否在正常范围内，快速识别残次品，同时它结构简单、安装调试方便、成本低廉、操作方便。
文档编号G01B11/24GK202403678SQ201120550129
公开日2012年8月29日 申请日期2011年12月26日 优先权日2011年12月26日
发明者刘志强, 吴加权, 曾春平, 李方江, 李迅鹏, 马琨 申请人:昆明理工大学