技术总结
本发明涉及一种用于天线测试的紧缩场装置，公开了一种紧缩场产生装置，该装置包括馈源以及超材料面板，超材料面板包括核心层，核心层包括核心层片层，核心层片层包括圆形区域及分布在圆形区域周围的多个环形区域，圆形区域及环形区域内相同半径处的折射率相同，且在圆形区域及环形区域各自的区域内随着半径的增大折射率逐渐减小，圆形区域的折射率的最小值小于与其相邻的环形区域的折射率的最大值，相邻两个环形区域，处于内侧的环形区域的折射率的最小值小于处于外侧的环形区域的折射率的最大值。根据本发明的紧缩场产生装置，由片状的超材料面板代替了传统的抛物状反射面，制造加工更加容易，成本更加低廉。
技术研发人员：刘若鹏;季春霖;岳玉涛;李星昆
受保护的技术使用者：深圳光启创新技术有限公司
文档号码：201210050862
技术研发日：2012.02.29
技术公布日：2017.04.05