专利名称：一种smd元器件测试机构的制作方法
技术领域：
—种SMD元器件测试机构
技术领域：
本实用新型涉及一种测试装置，更具体的说，本实用新型涉及一种针对SMD元器件进行测试的测试机构。
背景技术：
在电子线路板生产的初级阶段，过孔装配完全由人工来完成，首批自动化机器推出后，它们可放置一些简单的引脚元件，但是复杂的元件仍需要手工放置方可进行波峰焊。表面贴装元件在大约二十年前推出，并就此开创了一个新纪元，从无源元件到有源元件和集成电路，最终都变成了表面贴装器件(SMD)并可通过拾放设备进行装配。SMD是SurfaceMounted Devices的缩写，它是SMT中兀器件中的一种。SMD元器件都需要进行电性测试，现有的SMD元器件的测试方法一般为测试探针 固定，需要测试的SMD元器件从上往下去接触SMD元器件测试装置的测试探针，这种测试装置的结构比较复杂，成本也就较高，并且测试的性能不是很稳定，所以测试效率比较低，仍然有待改进。
实用新型内容本实用新型的目的在于有效克服上述技术的不足，提供一种结构简单、控制方便、测试性能稳定的SMD元器件的测试机构，该测试机构的反应时间快，提高了 SMD元器件的测
试效率。本实用新型的技术方案是这样实现的它包括一固定座，该固定座由条状的第一固定座和设在第一固定座一端的下方的第二固定座组成，其改进之处在于所述第二固定座下端位置通过一转轴转动连接有一摆动板，该摆动板的另一端固定有一探针固定架，所述探针固定架上设有探针，所述摆动板上还设有一可驱动摆动板上下摆动的驱动装置以及
一复位装置；上述结构中，所述驱动装置为固定在第一固定座下方的电磁铁或气缸其中任意一种；上述结构中，所述驱动装置为气缸时，该气缸的气缸杆固定连接在摆动板上；上述结构中，所述探针顶部设有第一探针护套，该第一探针护套固定在第一固定座上，且第一探针护套顶部设有用于穿过探针的通孔；所述第一探针护套上还固定有第二探针护套，第二探针护套上设有孔洞，上述探针贯穿于第二探针护套上的孔洞；上述结构中，所述复位装置为复位弹簧，该复位弹簧的一端固定在摆动板上，另一端固定于一限位板上，该限位板为倒置的L形，具有一短边与一长边，所述复位弹簧的另一端即固定于倒置L形的限位板的短边上，且限位板的短边固定在第一固定座下方，该倒置L形的限位板的长边上设有条状通孔，所述摆动板穿过限位板的条状通孔；上述结构中，所述弹簧中部还设有一限位柱，该限位柱的一端固定在上述倒置L形的限位板的短边上，限位柱的另一端穿过于设在摆动板上的通孔。[0011]本实用新型的有益效果在于本实用新型的测试装置包括一固定座，固定座由条状的第一固定座和设在第一固定座一端的下方的第二固定座组成，第二固定座下端位置通过一转轴转动连接有一摆动板，摆动板的另一端固定有一探针固定架，该探针固定架上设有探针，摆动板上还设有一可驱动摆动板上下摆动的驱动装置以及一复位装置，通过此种结构，本实用新型可实现SMD元器件的测试，SMD元器件在需要测试时，则置于探针上方，驱动装置可驱动摆动板向上运动，以带动测试的探针接触SMD元器件，完成测试过程，测试完成后，复位装置即可将摆动板复位，从而完成一个测试周期，此种SMD元器件测试装置的结构简单、控制方便，只需要驱动装置控制摆动板上下运动即可，因此其反应时间也更快，能明显的提高SMD元器件的测试效率，另外，本实用新型的成本低，测试性能也更为稳定。
图I为本实用新型的主视图；图2为本实用新型的立体示意图。
具体实施方式
以下结合附图和实施例对本实用新型作进一步的描述。参照图I、图2所示，本实用新型揭示了一种SMD元器件测试机构，该测试机构包括一固定座10,固定座10由长方体形的第一固定座101和设在第一固定座101 —端的下方的第二固定座102组成，在本实施例中，第二固定座102垂直于第一固定座101，所述第二固定座102下端位置通过一转轴20转动连接有一摆动板30，该摆动板30的另一端固定有一探针固定架40，探针固定架40上固定有探针401，在本实施例中，探针固定架40上固定有四条探针401，在进行测试时，也可根据实际情况自行增减探针401的数量。探针401顶部设有第一探针护套50，该第一探针护套50固定在第一固定座101上，且第一探针护套50顶部设有用于穿过探针的通孔；第一探针护套50上还固定有第二探针护套60，第二探针护套60上设有孔洞，上述探针401贯穿于第二探针护套60上的孔洞。另外，摆动板30的中部还设有一驱动装置，该驱动装置可驱动摆动板30上下运动，在本实施例中，该驱动装置为一气缸70，该气缸70固定在第一固定座101下方，并且气缸70的气缸杆固定连接在摆动板30上，靠近气缸杆的摆动板30上还设有一复位装置，该复位装置即为一复位弹簧80，复位弹簧80的一端固定在摆动板30上，另一端固定于一限位板90上，该限位板90为倒置的L形，具有一短边901与一长边902，所述复位弹簧80的另一端即固定于倒置L形的限位板90的短边901上，且限位板90的短边901固定在第一固定座101下方，该倒置L形的限位板90的长边902上设有条状通孔，所述摆动板30穿过限位板90的条状通孔；复位弹簧80中部还设有一限位柱100，该限位柱100的一端固定在上述倒置L形的限位板90的短边901上，限位柱100的另一端穿过于设在摆动板30上的通孔。通过上述结构，我们对本实用新型的工作过程进行描述，在图I中可以看出，探针401从第一探针护套50顶部穿出，但在实际中，未进行测试时，探针401位于第一探针护套50下方，需要进行测试的SMD元器件则放置于第一探针护套50的上方，并通过一压板装置予以固定，此后，控制系统通过控制气缸70，使得气缸杆缩回，从而拉动摆动板30绕着转轴20向上摆动，探针401顶部则从第一探针护套50顶部穿出，与SMD元器件进行接触，从而进行测试，在上述测试过程中，第二探针护套60对探针401起到限位的作用，防止探针401偏离的情况的发生，对测试结果产生影响；测试完成后，摆动板30在复位弹簧80的作用下，绕着转轴20向下摆动，从而完成了一个测试周期；在摆动板上下摆动的过程中，摆动板始终位于限位板90长边902的条状通孔中，从而对摆动板30起到了限位的作用，另外，设置在复位弹簧80中的限位柱100，同样对摆动板30和复位弹簧80起到了限位的作用，从而提高了本实用新型整体的测试精度，测试性能更为稳定。上述描述仅为本实用新型的最佳实施例，上述具体实施例不是对本实用新型的限制。在本实用新型的技术思想范畴内，可以出现各种变形及修改，例如，驱动装置在上述实施例中为一气缸70，但在实际制造过程中，也可为其他驱动装置，如电磁铁，通过控制装置控制电磁铁的得失电，从而控制摆动板30的上下摆动；凡本领域的普通技术人员根据以上 描述所做的润饰、修改或等同替换，均属于本实用新型所保护的范围。
权利要求1.一种SMD兀器件测试机构,它包括一固定座,该固定座由条状的第一固定座和设在第一固定座一端的下方的第二固定座组成，其特征在于所述第二固定座下端位置通过一转轴转动连接有一摆动板，该摆动板的另一端固定有一探针固定架，所述探针固定架上设有探针，所述摆动板上还设有一可驱动摆动板上下摆动的驱动装置以及一复位装置。
2.根据权利要求I所述的一种SMD元器件测试机构，其特征在于所述驱动装置为固定在第一固定座下方的电磁铁或气缸其中任意一种。
3.根据权利要求2所述的一种SMD元器件测试机构，其特征在于所述驱动装置为气缸时，该气缸的气缸杆固定连接在摆动板上。
4.根据权利要求I所述的一种SMD元器件测试机构，其特征在于所述探针顶部设有第一探针护套，该第一探针护套固定在第一固定座上，且第一探针护套顶部设有用于穿过探针的通孔；所述第一探针护套上还固定有第二探针护套，第二探针护套上设有孔洞，上述探针贯穿于第二探针护套上的孔洞。
5.根据权利要求I所述的一种SMD元器件测试机构，其特征在于所述复位装置为复位弹簧，该复位弹簧的一端固定在摆动板上，另一端固定于一限位板上，该限位板为倒置的L形，具有一短边与一长边，所述复位弹簧的另一端即固定于倒置L形的限位板的短边上，且限位板的短边固定在第一固定座下方，该倒置L形的限位板的长边上设有条状通孔，所述摆动板穿过限位板的条状通孔。
6.根据权利要求5所述的一种SMD元器件测试机构，其特征在于所述复位弹簧中部还设有一限位柱，该限位柱的一端固定在上述倒置L形的限位板的短边上，限位柱的另一端穿过于设在摆动板上的通孔。
专利摘要本实用新型公开了一种SMD元器件测试机构，涉及SMD测试装置技术领域；它包括一固定座，该固定座由条状的第一固定座和设在第一固定座一端的下方的第二固定座组成，所述第二固定座下端位置通过一转轴转动连接有一摆动板，该摆动板的另一端固定有一探针固定架，所述探针固定架上设有探针，所述摆动板上还设有一可驱动摆动板上下摆动的驱动装置以及一复位装置；本实用新型的有益效果是本实用新型的测试装置的结构简单、控制方便，只需要驱动装置控制摆动板上下运动即可，因此其反应时间也更快，能明显的提高SMD元器件的测试效率，另外，本实用新型的成本低，测试性能也更为稳定。
文档编号G01R31/00GK202748422SQ20122041850
公开日2013年2月20日 申请日期2012年8月22日 优先权日2012年8月22日
发明者冯白华, 贾延蝶, 王振波, 黄宏涛 申请人:深圳市三一联光自动化设备有限公司