专利名称：智能卡芯片频率检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及RFID测试技术领域，特别涉及一种智能卡芯片频率检测装置。
背景技术：
在RFID卡制造过程中，不同厂商的RFID芯片频率不同，当厂商的RFID芯片出现混合时，用户很难区别出不同厂商住处民。
实用新型内容本实用新型主要解决的技术问题是提供一种智能卡芯片频率检测装置，该智能卡芯片频率检测装置可以精确地检测出智能卡RFID芯片的频率，方便用户理好管理智能卡RFID芯片。为了解决上述问题，本实用新型提供一种智能卡，该智能卡芯片频率检测装置包括频率采集装置和与该频率采集装置电连接的频谱仪，所述频率采集装置包括本体，在该本体上设有收纳RFID卡的空腔，在该空腔的上下面设有两个藕合线圈。进一步地说，所述空腔呈偏平状结构。进一步地说，所述藕合线圈平行放置在空腔上下两面。本实用新型智能卡芯片频率检测装置，包括频率采集装置和与该频率采集装置电连接的频谱仪，其中所述频率采集装置包括本体，在该本体上设有收纳RFID卡的空腔，在该空腔的上下面设有两个藕合线圈。当所述RFID卡放入本体上的空腔内时，所述RFID卡上的RFID芯片在两个藕合线圈的作用下输出相应的频率信号传输到频谱仪上，从而准确的检测到RFID芯片的效率，方便用户理好管理RFID芯片。
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，而描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来说，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图。图1是本实用新型RFID大板测试仪实施例原理示意图。下面结合实施例，并参照附图，对本实用新型目的的实现、功能特点及优点作进一步说明。
具体实施方式
为了使要实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。如图1所示，本实用新型提供一种RFID频率测试装置实施例。频率采集装置I和与该频率采集装置电连接的频谱仪2，其中所述频率采集装置I包括本体11，在该本体11上设有收纳RFID卡的空腔14，在该空腔14的上下面设有第一藕合线圈12和第二藕合线圈13。具地说，所述空腔14呈偏平状结构，与待测效率的智能卡相匹配。所述第一藕合线圈12和第二藕合线圈13平行放置在空腔14上下两面。本实用新型RFID频率测试装置，包括频率采集装置和与该频率采集装置电连接的频谱仪，其中所述频率采集装置包括本体，在该本体上设有收纳RFID卡的空腔，在该空腔的上下面设有两个藕合线圈。当所述RFID卡放入本体上的空腔内时，所述RFID卡上的RFID芯片在两个藕合线圈的作用下输出相应的频率信号传输到频谱仪上，从而准确的检测到RFID芯片的效率，方便用户理好管理RFID芯片。以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，而这些修改或替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。
权利要求1.一种智能卡芯片频率检测装置，包括频率采集装置和与该频率采集装置电连接的频谱仪，其特征在于所述频率采集装置包括本体，在该本体上设有收纳RFID卡的空腔，在该空腔的上下面设有两个藕合线圈。
2.根据权利要求1所述的智能卡芯片频率检测装置，其特征在于所述空腔呈偏平状结构。
3.根据权利要求1或2所述的智能卡芯片频率检测装置，其特征在于所述藕合线圈平行放置在空腔上下两面。
专利摘要本实用新型智能卡芯片频率检测装置，包括频率采集装置和与该频率采集装置电连接的频谱仪，其中所述频率采集装置包括本体，在该本体上设有收纳RFID卡的空腔，在该空腔的上下面设有两个藕合线圈。当所述RFID卡放入本体上的空腔内时，所述RFID卡上的RFID芯片在两个藕合线圈的作用下输出相应的频率信号传输到频谱仪上，从而准确的检测到RFID芯片的效率，方便用户理好管理RFID芯片。
文档编号G01R23/02GK202837396SQ20122051487
公开日2013年3月27日 申请日期2012年9月28日 优先权日2012年9月28日
发明者兰荣 申请人:兰荣