用于检测发光二极管模块的装置制造方法
【专利摘要】本发明涉及在输送发光二极管(LED)模块的同时检测所述LED模块的特性的LED模块检测装置，所述LED模块包括多个发光体，每个所述发光体包括LED和透镜，所述装置包括：传送器，其输送所述LED模块以制造所述LED模块；测量单元，其测量所述LED模块的特性；测量单元输送单元，其根据所述LED模块输送所述测量单元；电力供应单元，其向作为测量对象的所述LED模块供应电力；计算单元，其控制所述电力供应单元和所述测量单元输送单元的操作，并输出对应于所述测量单元的测量结果的控制信号；及主体，在所述主体中布置有所述传送器、所述电力供应单元、所述测量单元和所述计算单元。因此，在制造LED模块时，可在经由生产线的模块输送期间自动检查每个发光体的特性。
【专利说明】用于检测发光二极管模块的装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及用于检测发光二极管(LED)模块的装置，更具体地涉及用于检测各种类型的LED模块的装置，由此可减少检测所需要的时间。
【背景技术】
[0002]随着显示器件的需求以各种方式在不断增长，诸如液晶显示器(LCD)设备、等离子体显示面板(TOP)、电致发光显示器(ELD)和真空荧光显示器(VFD)等各种显示器件已得到研究并投入使用。
[0003]在这些显示器件中，LCD的液晶面板包括液晶层、薄膜晶体管(TFT)基板和彩色滤光基板，薄膜晶体管基板和彩色滤光基板这二者之间具有上述液晶层且二者彼此面对。液晶面板包括用于产生光的发光二极管(LED)模块，该发光二极管作为背光单元以提供用于显示图像的光。
[0004]图1图示了 LED模块10的结构的示例。
[0005]参考图1，LED模块10包括多个发光体12，发光体12以预定间隔布置在具有预定长度和宽度的杆11上。可根据需要增加或减少所要布置的发光体12的数量。
[0006]图2图示了其中布置有多个图1所示的LED模块10的结构。
[0007]可布置如图1所示的单个LED模块10，或者可布置如图2所示多个LED模块10。LED模块10的数量不限于如图所示的情形，但是可根据用户的需要增加或减少。
[0008]图3是图示了图1所示的发光体12的形状的平面图，且图4是图示了图3所示的发光体12的结构的横截面图。
[0009]参考图3和图4，发光体12各自包括LED14和透镜16，透镜16覆盖LED14并允许从LED14中射出的光在预定方向上被均匀地照射。
[0010]透镜16可以是非球面透镜，使得从LED14中射出的光可以容易地漫散射。虽然在图3和图4中放置了单个LED14，但也可以包括多个LED14的集合器(collector)。
[0011]这里，在制造LED模块10时，必须检测LED模块10中所包括的多个发光体12中的每个发光体的电特性，以基于每个发光体12的电特性来确定模块自身是否合格或具有缺陷。
[0012]然而，根据常规的技术，检测操作根据LED模块的模型需要专门的测量夹具及用于安装夹具的空间。因此，如果推出新的模块，则为此开发出专门的测量夹具，并且，如果模块停止生产，则原来使用的测量夹具就废弃了，因而这造成了大量的损失。
[0013]另外，仅通过开启发光体来确定模块是否合格或具有缺陷，因此检测精度相对较低，且不能够发现在开启后的预定时间段之后产生的缺陷。
[0014]可以将韩国专利KRl 101030指定为本发明的现有技术。
【发明内容】
[0015]本发明提供了一种发光二极管(LED)模块检测装置，所述装置能够在检测LED模块时检测任何模块类型的LED模块。
[0016]本发明还提供了一种发光二极管(LED)模块检测装置，在所述装置中，多个测量单位交替地测量多个发光体，从而减少检测时间，并实时地检测LED模块。
[0017]根据本发明的一个方面,提供了一种在输送发光二极管(LED)模块的同时检测所述LED模块的特性的LED模块检测装置，所述LED模块包括多个发光体，每个所述发光体包括LED和透镜，所述LED模块检测装置包括:传送器，其输送所述LED模块以制造所述LED模块；测量单元，其测量所述LED模块的特性；测量单元输送单元，其根据所述LED模块输送所述测量单元；电力供应单元，其向作为测量对象的所述LED模块供应电力；计算单元，其控制所述电力供应单元和所述测量单元输送单元的操作，并输出对应于所述测量单元的测量结果的控制信号；及主体，在所述主体中布置有所述传送器、所述电力供应单元、所述测量单元和所述计算单元。
[0018]所述传送器可包括:第一隔板和第二隔板，所述第一隔板和所述第二隔板彼此平行地布置；辅助隔板，其平行于所述第一隔板和所述第二隔板，并以可移动的方式布置在所述第一隔板和所述第二隔板之间；调节杆，其穿过所述第一隔板或所述第二隔板，其中所述调节杆的端部以可旋转的方式连接到所述辅助隔板；夹具，其以可移动的方式布置在所述辅助隔板上；及气缸，其移动所述夹具。
[0019]所述装置还可包括加热单元，所述加热单元用于对布置于所述传送器上的所述LED模块加热并保持所施加热量的状态，其中所述加热单元包括:加热板，其具有矩形板的形式并且是温度可控的；支撑轨道，其布置在所述加热板下面的两侧处；及多个支撑杆，每个所述支撑杆的两个端部连接到所述支撑轨道，且所述支撑杆具有可调节的长度。
[0020]所述多个支撑杆可彼此联动。
[0021]所述测量单元可包括:电压测量单元，其向所述LED模块中包括的所述多个发光体供应电力并测量输出电压；温度测量单元，其测量所述LED模块的温度并将对应的信号输出至所述计算单元；过热感测单元，其测量所述电力供应单元的温度，并当所述温度处于预定水平或大于所述预定水平时显示所述温度；及泄露电流测量单元，其测量所述LED模块和所述LED模块的散热板之间的泄露电流。
[0022]所述电压测量单元可包括:第一电压测量单元，其向布置在所述测量单元输送单元上的所述LED模块中包括的所述多个发光体中的半数发光体供应电压，并测量输出电压；及第二电压测量单元，其向布置在所述测量单元输送单元上的所述LED模块中包括的所述多个发光体中的半数发光体供应电压，并测量输出电压。
[0023]所述第一电压测量单元和所述第二电压测量单元将所测量的电压转换成能够被所述计算单元读取的信号，并输出所述信号。
[0024]由所述第一电压测量单元和所述第二电压测量单元进行的信号转换可交替地进行。
[0025]所述第一电压测量单元和所述第二电压测量单元可沿X轴和Y轴以可移动的方式布置。
[0026]所述测量单元输送单元可包括平行地布置的一对轨道，并测量作为检测对象的所述LED模块。
[0027]所述测量单元输送单元包括直线运动(LM)导轨。
[0028]所述计算单元将从所述第一电压测量单元和所述第二电压测量单元输出的电压校正为Current值，其中，根据下面的方程式I和方程式2进行所述校正。
[0029][方程式I]
[0030]Gain=(High Current(mA) - Low Current(mA))/(Measure High-Measure Low),
[0031]Offset=Low Current(mA) - (Gain*Measure Low),
[0032]High Current, Low Current 为期望的输出电流(400 毫安，10 毫安),
[0033]Measure High, Measure Low 为所测量的输出电流，
[0034]其中，可按照下面方程2表示的方式将基于方程式I计算的补偿值应用到输出电流:
[0035][方程式2]
[0036]Current=CalData^CurrentConst
[0037]CalData=(Current*Gain)+Offset
[0038]CurrentConst为通过设计时间中的计算所计算的唯一值，
[0039]Gain, Offset为在补偿值计算过程中产生的相应信道的补偿值，
[0040]CalData为应用有补偿值且被实际传输到数模(D/A)转换器的值。
[0041]所述过热感测单元具有以0.5°C为单位的测量精度。
【专利附图】
【附图说明】
[0042]通过参考附图详细地说明本发明的示例性实施例，本发明的上面和其它的特征及有点将会变得更加明显，这些附图包括:
[0043]图1图示了发光二极管(LED)模块的示例；
[0044]图2图示了其中布置有多个图1所示的LED模块的结构的示例；
[0045]图3图示了图1所示的发光体的形状的平面图；
[0046]图4是图示了图3所示的发光体的结构的横截面图；
[0047]图5是图示了根据本发明实施例的用于检测LED模块的装置的结构的立体图；
[0048]图6图示了根据本发明实施例所使用的测量单元的布置的示例；
[0049]图7是图示了根据本发明实施例所使用的传送器、测量单元输送单元和加热板的结构的分解立体图 '及
[0050]图8是示出了根据本发明的实施例所使用的第一电压测量单元和第二电压测量单元的操作的曲线图。
【具体实施方式】
[0051]在下文中，将参考附图详细地说明本发明的示例性实施例。
[0052]图5是图示了根据本发明实施例的用于检测LED模块的装置的结构的立体图。图6图示了根据本发明实施例所使用的测量单元的布置的示例。图7是图示了根据本发明实施例所使用的传送器、测量单元输送单元和加热板的结构的分解立体图。
[0053]参照图5-7，根据本发明实施例的用于检测LED模块的装置100包括传送器130、测量单元输送单元120、加热板140、供电单元150、测量单元170、计算单元180和主体110。
[0054]将参考图5-7说明根据本发明的当前实施例的用于检测LED模块的装置100的结构，且还将说明具有缺陷的LED模块的确定。
[0055]首先，对作为检测对象的LED模块10进行布置。将作为检测对象的LED模块10放置于主体110上所布置的传送器130上。可将LED模块10优选地放置于传送器130上，同时将LED模块10安装在具有预定尺寸的托架中(图中未显示)。
[0056]这里，主体110提供LED模块10的检测位置，且可将稍后说明的用于检测LED模块10的元件安装在主体110中。如图2所示，可放置和检测作为检测对象的多个LED模块10，或者可放置和检测如图1所示的单个LED模块10。
[0057]根据本发明的当前实施例，虽然主体110是具有预定高度的桌台形式，但是它也可根据用户的需要形成为其它各种形状。而且，主体110可装配有轮子以便移动到需要的地点，或者可固定到需要的地点。
[0058]将电力供应到被放置在主体110上的检测位置处的LED模块。为此目的，可将电力供应单元150布置在主体110上的预定位置处。根据用户的需要，可以按照不同的方式设置电力供应单元150的位置。电力供应单元150可向LED模块10供应由用户设置的恒定电流和恒定电压的电力。这里，可以根据检测的类型，修改通过使用电力供应单元150供应的电力的电流和电压。
[0059]可通过稍后说明的连接端部124将通过使用电力供应单元150供应的电力供应到LED模块10。
[0060]电力供应单元150可包括作为开关装置的场效应晶体管(FET)，以用于提供恒定电流。将FET用作电力供应单元150中的开关装置在本领域是众所周知的，因此，将省略对FET的详细说明。
[0061]通过使用稍后说明的计算单元180来控制电力供应单元150的操作状态。
[0062]计算单元180被布置在主体110上的预定位置处，并输出控制信号，该控制信号对应于通过使用测量单元170中包括的元件进行的测量的结果。而且，计算单元180可额外包括通信单元151以向外部通知检测装置的操作状态。
[0063]未说明的图6中的附图标记20表示条码扫描器，该条码扫描器检查作为检测对象的LED模块的序列号，以对LED模块进行分类。也就是说，为了分类，将条形码粘贴在作为检测对象的LED模块上，且可通过条码扫描器20来识别所粘贴的条形码以进行分类。因此，在将LED模块安装在传送器130上之前，可使用条码扫描器20来检查LED模块10的序列号，并可在检测期间中确定具有缺陷的产品，并接着可在辅助显示屏上向操作者显示已检测的LED模块的序列号。
[0064]这里，当能够对作为检测对象的LED模块进行分类时，可根据用户的需要使用不同的识别装置。
[0065]将传送器130、测量单元输送单元120和加热板140放置在主体110上，以分别地输送LED模块10，输送测量单元170并加热LED模块10。
[0066]将更详细地说明上述内容。
[0067]参考图7，将其上安装有LED模块10的传送器130放置于稍后说明的测量单元输送单元120上，且将稍后说明的加热板140放置在测量输送单元120下方。
[0068]当将LED模块10安装在传送器130上时，传送器130在预定的方向上且以预定的输送速度输送LED模块10。
[0069]在附图中，为简化附图而省略了 LED模块10。
[0070]传送器130经配置使得可根据待放置的作为检测对象的LED模块10的数量来调节传送器130的宽度。如图7所示，传送器130包括具有预定尺寸并平行地布置的第一隔板131a和第二隔板131b，且辅助隔板132相对于第一隔板131a和第二隔板131b平行地布置在第一隔板131a和第二隔板131b之间。
[0071]第一隔板131a和第二隔板131b中的第一隔板131a或第二隔板131b通过相对于这些隔板垂直地布置的调节杆134连接到辅助隔板132。详细地，调节杆134的端部以可旋转的方式连接到辅助隔板132。调节杆134以穿过第一隔板131a或第二隔板131b的方式连接。这里，为了经由调节杆134使辅助隔板132便于移动，可在调节杆134的外周表面上形成螺纹，且可将连接到调节杆134的螺帽固定在第一隔板131a或第二隔板131b上。
[0072]同时，将由用户操纵的手柄连接到调节杆134的另一端部，但是，根据用户的需要，可连接电机来代替手柄。
[0073]因此，当用户旋转手柄时，调节杆134旋转，以改变辅助隔板132与第一和第二隔板131a、131b之间的距离。
[0074]此外，将夹具133布置在辅助隔板132上。当LED模块10到达检测位置且进行检测时，夹具133经配置以在用户旋转手柄时允许辅助隔板132横向移动。当辅助隔板132移动时，夹具133接触LED模块10的侧表面，由此保持LED稳定。
[0075]夹具133可通过气缸(图中没有示出)沿辅助隔板132在辅助隔板132上向前或向后移动。可将气缸的操作关联到传送器130的操作。
[0076]夹具133可接触安装和固定有LED模块10的托架的侧面，以便在检测操作期间防止托架的晃动。
[0077]测量单元输送单元120将稍后说明的测量单元170输送到必需位置，同时通过传送器130输送LED模块，从而可检测LED模块的电特性。
[0078]测量单元输送单元120包括输送轨道122和接触端部124。
[0079]输送轨道122可根据作为检测对象的LED模块的长度来移动稍后说明的接触端部124的位置。
[0080]输送轨道122包括一对彼此平行的轨道。可使用直线运动(LM)导轨作为输送轨道。
[0081]接触端部124可接触LED模块10的两个端部，从而为LED模块10供应电力。
[0082]可将加热板140布置在传送器130下方。
[0083]加热板140允许LED模块10停留在高温环境下，从而可测量LED模块的耐热性。
[0084]加热板140以预定的温度向LED模块10施加热量，从而LED模块10保持高温状态。这里，在本发明的当前实施例中使用的加热板140所保持的温度的范围可优选地为0°C至约200 °C。
[0085]加热板140具有矩形形状和预定面积。加热板140的面积可对应于安装有作为检测对象的LED模块10的载体的尺寸。
[0086]将支撑轨道142平行地布置在加热板140下方的两侧处。支撑轨道142和加热板140通过使用多个可调节高度的支撑杆144来连接。可根据需要改变多个支撑杆144的长度，并且支撑杆144连同操作。因此，可水平地保持加热板140，且仅当需要加热LED模块10时，可提升热板140。
[0087]与LED模块10的端部相接触的接触端部124连接到测量单元170，使得可从接触端部124发送信号。
[0088]测量单元170可测量通过传送器130输送的LED模块10的特性。这里，LED模块10的特性包括正向电压、温度和泄露电流。
[0089]为了通过使用测量单元170来测量LED模块10的特性，与LED模块10的两个端部相接触的接触端部124布置在测量单元输送单元120的两个端部处。接触端部124以彼此面对的方式被布置成接触LED模块10的两个端部。
[0090]接触端部124被布置成可通过输送轨道122移动，并对应于作为检测对象的LED模块10的长度。而且，接触端部124沿X轴、Y轴和Z轴以可移动的方式布置。移动电机可优选地布置在X轴、Y轴和Z轴中的每个轴上，以移动接触端部124。
[0091]测量单元170包括电压测量单元172、温度测量单元174和泄露电流测量单元178。
[0092]电压测量单元172可测量LED模块10中所包括的发光体12的正向电压Vf。
[0093]由于LED模块10包括多个发光体12，所以向LED模块10供应的电力被顺序地供应到多个发光体12，且发光体12中所包括的LED14根据所供应的电力发光。在LED14发出光之后，LED14的输出端子的电压被减小至预定的电平或更低。当LED14的输出端子处的经减小的电压的量大于设定电平时，可将LED14确定为缺陷产品。例如，如果将合格的LED14的电压降的量设定为0.05V,而实际测量的电压超过0.05V,则可将包括有待测量LED的LED模块10确定为缺陷产品。
[0094]这里，电压测量单元172包括第一电压测量单元172a和第二电压测量单元172b。
[0095]第一电压测量单元172a和第二电压测量单元172b可测量LED模块10中包括的多个发光体12中的半数发光体12的正向电压，并可将测量的电压值转换成可通过使用计算单元180读取的信号，以输出该信号。
[0096]由于所测量的电压值是模拟信号，所以第一电压测量单元172a和第二电压测量单元172b可均为模数转换器(ADC)，该ADC将所测量的电压(即模拟信号)转换成可通过使用计算单元180读取的数字信号。
[0097]而且，第一电压测量单元172a和第二电压测量单元172b交替地操作。因此，当第一电压测量单元172a测量电压并转换和输出该电压时，稍后说明的计算单元180处理第二电压测量单元172b的输出信号；而当第二电压测量单元172b测量电压并转换和输出该电压时，稍后说明的计算单元180处理第一电压测量单元172a的输出信号。
[0098]根据本发明的当前实施例，LED模块10可包括48个发光体12。第一电压测量单元172a和第二电压测量单元172b可各自测量LED模块10中包括的48个发光体12中的24个发光体12的正向电压Vf，并输出对应于测量结果的信号。
[0099]计算单元180可接收测量单元170的测量值并处理该测量值，且可输出对应于所处理的测量值的信号。而且，计算单元180可控制处理单元输送单元120和电力供应单元150的操作。
[0100]这里，将说明计算单元180和电压测量单元172之间的连接。
[0101]计算单元180可接收从第一电压测量单元172a和第二电压测量单元172b输出的信号，以检查LED14的所测量的正向电压，并可输出对应于所测量的正向电压的控制信号。
[0102]将更详细地说明上述内容。
[0103]根据本发明所使用的计算单元180是接收和处理16位信号的微处理器。16位微处理器在本领域是众所周知的，因而，将省略对它的说明。用作计算单元180的微处理器还可以是16位微处理器以外的8位微处理器或32位微处理器等。
[0104]无论用作计算单元180的微处理器的位数是多少，计算单元180的信号处理速度快于信号测量和转换的速度及ADC的信号输出速度。因此，在计算单元180的暂停周期中可包括信号输入和信号处理所需的总时间。
[0105]在下文中，将说明采用单个ADC作为电压测量单元的实施例。
[0106]当单个ADC的数据测量和数据转换各需要I毫秒(ms)，且使用常规的方法，即顺序进行数据转换和采集的方法时，那么测量包括48个发光体12的LED模块10的正向电压Vf需要96毫秒。
[0107]在这种情况下，当单个ADC对测量值进行测量并转换该测量值时没有额外信号输出，且计算单元180也不能进行任何额外操作。因此，96毫秒的时间包括计算单元180的暂停时间。
[0108]为了通过排除计算单元180的暂停时间来减小整个处理时间，可优选地以如下方式进行信号处理。
[0109]可布置第一电压测量单元172a和第二电压测量单元172b，且第一电压测量单元172a和第二电压测量单元172b可交替地操作，且可将从第一电压测量单元172a和第二电压测量单元172b输出的信号交替地输入到计算单元180。而且，计算单元180连续不断地处理交替地输入的信号。
[0110]图8是示出了根据本发明的实施例所使用的第一电压测量单元和第二电压测量单元的操作的曲线图。参考图8，当第一电压测量单元172a和第二电压测量单元172b将测量的正向电压转换成数字信号时，计算单元180获得第一电压测量单元172a或第二电压测量单元172b的数据，并排列和计算获得的信号，以检查信号的正向电压。
[0111]再次参考图8，tl表示计算单元180排列和计算所获得的数据的时间段。t2表示当第一电压测量单元172a将测量的电压转换成数字信号的同时计算单元180获得从第二电压测量单元172b输出的数字信号以处理该数字信号的时间段，而t3则表示当第二电压测量单元172b将测量的电压转换成数字信号的同时计算单元180获得从第一电压测量单元172a输出的数字信号以处理该数字信号的时间段。如图8所示，tl小于t2或t3。
[0112]如上所述，当第一电压测量单元172a和第二电压测量单元172b交替地操作时，计算单元180执行的正向电压测量所需的时间可减小一半。
[0113]对于上述操作，第一电压测量单元172a和第二电压测量单元172b可优选地包括均与多个LED14的+端子和-端子相接触的电力供应端部和电压测量端部。电力供应端部和电压测量端部的数量对应于使用第一电压测量单元172a和第二电压测量单元172b中每一者所测量的LED14的最大数量。
[0114]多个电力供应端部和电压测量端部同时地接触多个LED14并顺序测量LED14的电压。
[0115]当检测LED模块10的电特性时，需要测量电力供应单元150的过热状态，以便准确地供应电力。
[0116]为此目的，温度测量单元174可优选地布置在电力供应单元150中。详细地，温度测量单元174可优选地布置成用于测量FET的温度，该FET供应电力供应单元150所使用的恒定电流。
[0117]包含在电力供应单元150中并测量用于供应恒定电流的FET的温度的温度测量单元174可优选地布置在电力供应单元150中。
[0118]温度测量单元174测量电力供应单元150的FET的温度，并将对应于所测量的温度的信号输出至计算单元180。温度测量单元174可优选地以0.5°C为单位的精度测量温度。而且，温度测量单元174测量每个预定时段的温度并输出信号。根据本发明的当前实施例，温度测量单元174可优选地每5秒测量一次温度。而且，温度测量单元174可优选地花费12毫秒或更少的周期来测量温度。
[0119]根据用户的需要，可增加或减小根据本发明的当前实施例使用的温度测量单元174的温度测量的测量精度和时间间隔。
[0120]从温度测量单元174输出的输出信号被输入到计算单元180。计算单元180比较电力供应单元150的温度和LED14的操作状态，以确定是否存在回路缺陷或诸如通风扇等外部部件是否缺陷地操作，并输出对应的出错信息。
[0121]同时，除输出电压的测量之外，LED模块10还需要输出电流的测量。也就是说，由于用于构成电力供应单元的内部回路的部件的加工误差，被提供到LED模块10的电力稍微不同于用户需要的电力。因此，必须校正这个电力差异。
[0122]以下述方式进行电力差异的校正。
[0123]将最小电流(例如，10毫安；LI)施加到LED14，以便打开LED14。在打开LED14之后，测量从LED14输出的当前的MLI。然后，将最大电流(例如，400毫安；HI)施加到LED14，以打开LED14。在打开LED14之后，测量从LED14输出的当前的MHI。
[0124]在当分别将上述电流施加到LED14时以打开LED14之后，比较从LED14中输出的电流，以计算补偿值。
[0125]可基于下面的方程式I来进行补偿值的计算。
[0126][方程式I]
[0127]Gain= (HI (mA) - LI (mA)) / (MH1-MLI)
[0128]补偿值(Offset)=LI (mA) - (Gain^MLI)
[0129]H1:最大电流，L1:最小电流
[0130]MH1:施加最大电流之后测量的电流
[0131]ML1:施加最小电流之后测量的电流
[0132]按照下面的方程式2所表示的方式，可将基于以上方程式I计算的补偿值应用到输出电流 Output current ο
[0133][方程式2]
[0134]Output Current=CalData氺CurrentConst
[0135]CalData=(Current*Gain)+Offset
[0136]CurrentConst:通过设计阶段中的计算所计算的唯一值。
[0137]Gain, Offset:补偿值计算过程中产生的对应信道的补偿值
[0138]CalData:应用有补偿值并实际被输送到数模(D/A)转换器的值。
[0139]如上所述,除理论计算的增益值之外,计算单元180还可输出应用有Gain, Offset值的值，Gain, Offset值是在校正时被使用并在校正过程中计算出的值。这里，由于计算单元180输出数字信号，所以需要将该数字信号转换成模拟信号以用于控制电力供应单元150。为此，在计算单元180和电力供应单元150之间布置有用于转换计算单元180的信号的D/A转换器(DAC ;数模转换器)176。
[0140]需要测量LED14和散热板11之间的电流泄露。
[0141]也就是说，必须测量LED模块10中包括的LED14与用于使在LED14的发光操作期间产生的热量散去的散热板11之间的电流泄露。
[0142]在正常的LED模块10的情况下，当将900v的电压施加到LED模块10时，在每个LED14和散热板11之间感感测到100微安或更小的电流。然而，如果出现电流泄露，可感测到比这更大的电流。因此，为了感测电流泄露，包括了泄露电流感测单元187。泄露电流感测单元178测量LED14和散热板11之间的电流，从而将对应于测量值的信号输出至计算单元180。计算单元180根据测量的电流来感测电流的泄露，并输出对应于电流泄露的信号。
[0143]泄露电流测量单元178的端部接触散热板11，且泄露电流测量单元178的信号线连接到计算单元180。
[0144]根据如上述配置的本发明，当制造LED模块时，可在经由生产线的模块输送过程中自动地检查每个发光体的特性。
[0145]根据本发明的实施例，当制造包括多个发光体的LED模块时，可在经由生产线的模块输送过程中自动地检查每个发光体的特性。
[0146]虽然通过参考本发明的示例性实施例详细地示出和说明了本发明，但本领域的技术人员应当理解，可以在不偏离由权利要求界定的本发明的精神和范围的情况下进行各种形式和细节上的修改。
【权利要求】
1.一种在输送LED模块的同时检测所述LED模块的特性的LED模块检测装置，所述LED模块包括多个发光体，每个所述发光体包括LED和透镜，所述LED模块检测装置包括: 传送器，其输送所述LED模块以用于所述LED模块的制造； 测量单元，其测量所述LED模块的特性； 测量单元输送单元，其根据所述LED模块输送所述测量单元； 电力供应单元，其向作为测量对象的所述LED模块供应电力； 计算单元，其控制所述电力供应单元和所述测量单元输送单元的操作，并输出对应于所述测量单元的测量结果的控制信号；及 主体，在所述主体中布置有所述传送器、所述电力供应单元、所述测量单元和所述计算单元。
2.如权利要求1所述的LED模块检测装置，其中，所述传送器包括: 第一隔板和第二隔板，它们彼此平行地布置； 辅助隔板，其平行于所述第一隔板和所述第二隔板，并以可移动的方式布置在所述第一隔板和所述第二隔板之间； 调节杆，其穿过所述第一隔板或所述第二隔板，其中所述调节杆的端部以可旋转的方式连接到所述辅助隔板； 夹具，其以可移动的方式布置在所述辅助隔板上；及 气缸，其移动所述夹具。
3.如权利要求1所述的LED模块检测装置，其还包括加热单元，所述加热单元用于向布置于所述传送器上的所述LED模块施加热量并保持所施加的热量的状态， 其中，所述加热单元包括: 加热板，其具有矩形板的形式并且是温度可控的； 支撑轨道，其布置在所述加热板下面的两侧处；及 多个支撑杆，每个所述支撑杆的两个端部连接到所述支撑轨道，且所述支撑杆具有可调节的长度。
4.如权利要求3所述的LED模块检测装置，其中，所述多个支撑杆彼此联动。
5.如权利要求1所述的LED模块检测装置，其中，所述测量单元包括: 电压测量单元，其向所述LED模块中包括的所述多个发光体供应电力并测量输出电压； 温度测量单元，其测量所述LED模块的温度并将对应的信号输出至所述计算单元；过热感测单元，其测量所述电力供应单元的温度，并当所述温度处于预定水平或大于所述预定水平时显示所述温度；及 泄露电流测量单元，其测量所述LED模块和所述LED模块的散热板之间的泄露电流。
6.如权利要求5所述的LED模块检测装置，其中，所述电压测量单元包括: 第一电压测量单元，其向布置在所述测量单元输送单元上的所述LED模块中包括的所述多个发光体中的半数发光体供应电压，并测量输出电压 '及 第二电压测量单元，其向布置在所述测量单元输送单元上的所述LED模块中包括的所述多个发光体中的半数发光体供应电压，并测量输出电压。
7.如权利要求6所述的LED模块检测装置，其中，所述第一电压测量单元和所述第二电压测量单元将所测量的电压转换成能够被所述计算单元读取的信号，并输出所述信号。
8.如权利要求7所述的LED模块检测装置，其中，由所述第一电压测量单元和所述第二电压测量单元执行的信号转换交替地进行。
9.如权利要求6所述的LED模块检测装置，其中，所述第一电压测量单元和所述第二电压测量单元沿X轴和Y轴以可移动的方式布置。
10.如权利要求1所述的LED模块检测装置，其中，所述测量单元输送单元包括平行地布置的一对轨道，并测量作为检测对象的所述LED模块。
11.如权利要求10所述的LED模块检测装置，其中，所述测量单元输送单元包括直线运动导轨。
12.如权利要求1所述的LED模块检测装置，其中，所述计算单元将从所述第一电压测量单元和所述第二电压测量单元输出的电压校正为电流值Current，其中，根据下面的方程式I和方程式2进行所述校正: [方程式I]
Gain=(High Current(mA) - Low Current(mA))/(Measure High-Measure Low)
Offset=Low Current (mA) - (Gain*Measure Low) High Current 和 Low Current 为期望的输出电流(400mA, 10mA), Measure High和Measure Low为测量的输出电流， 其中，可按照下面方程2表示的方式将基于方程式I计算的补偿值应用到输出电流Output current: [方程式2]
Current=CalData^CurrentConst
CalData=(Current氺Gain)+Offset CurrentConst为通过设计时间中的计算而计算的唯一值， Gain, Offset为在补偿值计算过程中产生的相应信道的补偿值， CalData为应用有补偿值且被实际传输到数模转换器的值。
13.如权利要求1所述的LED模块检测装置，其中，所述过热感测单元具有以0.5°C为单位的测量精度。
【文档编号】G01K13/00GK104422817SQ201310407357
【公开日】2015年3月18日 申请日期:2013年9月9日 优先权日:2013年9月9日
【发明者】徐承焕, 魏相玉, 李大熙, 成始容 申请人:太白Hitech公司