涂布后干涂量的测量方法

文档序号:6176719阅读:2269来源:国知局
涂布后干涂量的测量方法
【专利摘要】本发明公开了一种涂布后干涂量的测量方法,包括以下步骤:步骤一,制作一块一定面积的板状模具,将模具压在薄膜上切下等面积的薄膜;步骤二,将此部分薄膜称重;步骤三,将薄膜上的涂料洗净;步骤四,称重洗净后的薄膜,计算两次称重的差值,即可根据面积得到干涂量。本发明再行测量截取的面积,减少工作量;模具制造一个即可多次使用。
【专利说明】涂布后干涂量的测量方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种涂布量测量方法。
【背景技术】
[0002]现有的涂布量测量方法,是截取一块薄膜下来,先测量其面积,然后再称重,将涂布洗净之后再测量一次重量,两次重量的差值比上面积,就可以得到涂布的干涂量。这种方法每次截取的下来的薄膜面积不一,测量面积比较麻烦。

【发明内容】

[0003]本发明要解决的技术问题:针对现在的测量方法需要测量面积的问题,提供了一种不需要测量面积的测量方法。
[0004]本发明技术方案:
一种涂布后干涂量的测量方法,其特征在于:包括以下步骤:
步骤一,制作一块一定面积的板状模具,将模具压在薄膜上切下等面积的薄膜;
步骤二,将此部分薄膜称重;
步骤三,将薄膜上的涂料洗净;
步骤四,称重洗净后的薄膜,计算两次称重的差值,即可根据面积得到干涂量。
[0005]模具为圆形,半径0.0565m,厚I — 2mm。
[0006]本发明有益效果:
测定涂布重量时用模具平压在涂布后的薄膜上,用刀片取样即为标准的圆形,面积刚好为0.01 m--,这样就不用再行测量截取的面积,减少工作量。模具制造一个即可多次使用。
[0007]【具体实施方式】:
实施例:
先一个金属的模具,圆形薄片状半径0.0565m,厚为可为I 一 2mm,测定涂布重量时用模具平压在涂布后的薄膜上,用刀片取样即为标准的圆形,面积刚好为0.01 m--。将涂布后的薄膜先用电子天平称重,再用化学溶剂(酯溶性涂布用丁酮或乙酯)清洗干净后再称基膜,两者差值经单位换算后即可得出干涂量的大小。
【权利要求】
1.一种涂布后干涂量的测量方法,其特征在于:包括以下步骤: 步骤一,制作一块一定面积的板状模具,将模具压在薄膜上切下等面积的薄膜; 步骤二,将此部分薄膜称重; 步骤三,将薄膜上的涂料洗净; 步骤四,称重洗净后的薄膜,计算两次称重的差值,即可根据面积得到干涂量。
2.根据权利要求1所述的涂布后干涂量的测量方法,其特征在于:模具为圆形,半径0.0565m,厚 I — 2mm。
【文档编号】G01N5/04GK103471955SQ201310428239
【公开日】2013年12月25日 申请日期:2013年9月18日 优先权日:2013年9月18日
【发明者】黄丹阳 申请人:贵州劲嘉新型包装材料有限公司
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