专利名称：全自动平面光谱分析仪的制作方法
技术领域：
本实用新型属于一种光学镜片检测仪器，尤其是涉及一种全自动平面光谱分析仪。
背景技术：
现有的平面光学镜片的检测仪器在检测镜片的光学性能时，大多采用光栅扫描的方式进行透过率测量，一次只能检测镜片的某一特定角度的光的折射或者反射，如果需要进行另一角度的测量，则需要重新装载待测镜片和调整反射镜片的位置。而调整待测镜片和反射镜片的相对角度时，需要手动调节，检测效率低，难度较大。现有的平面光学镜片的检测仪器能检测到的光的波长范围一般为250nnTll00nm，波长范围较窄，从而不能得出准确的光学镜片的性能。
实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种能够方便快捷检测光学镜片的任意角度的光的折射和反射性能，检测效率高以及能检测波长范围很广的全自动平面光谱分析仪。根据本实用新型的一个方面，提供了一种全自动平面光谱分析仪，包括外罩、光源、前端与光源相连接的光路、二轴控制器、与二轴控制器连接的载物台、与二轴控制器连接的检测装置和与检测装置连接的数据处理装置，二轴控制器与数据处理装置相连接，检测装置包括反射镜和检测器，检测器包括相并联的可见光检测器和不可见光检测器。二轴控制器与载物台和检测装置相连接，使得可以通过二轴控制器控制载物台与检测装置的位置，即控制载物台上的待测光学镜片与反射镜的位置，方便快捷的检测光学镜片任意角度的折射和反射性能。设有并联的可见光检测器和不可见光检测器使本实用新型的全自动平面光谱分析仪的检测波长范围增加，检测光学镜片对可见光的性能时，开启可见光检测器，检测光学镜片对不可见光的性能时，开启不可见光 检测器，使用方便。数据处理装置可以将检测器检测到的光的能量转换为透过率或反射率能量曲线显示出来，从而可以直观地得出待测镜片的透光率或反射率。在一些实施方式中，全自动平面光谱分析仪还包括底座，载物台设于底座上，保证了载物台的平稳性。在一些实施方式中，检测装置还包括设于反射镜与检测器之间的积分球和与检测器相连接的连接件，积分球与检测器和反射镜相连接，检测装置通过连接件与底座相连接，连接件设于底座与载物台之间。设有积分球，从而使得反射镜反射的光经过积分球很高效地作用在检测器上，减少了光的散失。在一些实施方式中，数据处理装置为电脑，从而，可以将检测器检测的结果通过电脑显示出来。在一些实施方式中，光源与光路通过光纤相连接。在一些实施方式中，载物台和连接件与底座连接处设有刻度盘，使得更直观的观察到载物台和检测装置的位置关系。在一些实施方式中，光路后端设有偏振片。从而通过调整偏振片的方向，达到自动测量S偏振光和P偏振光的要求。 在一些实施方式中，二轴控制器为步进电机控制器。
图1是本实用新型的全自动平面光谱分析仪的一种实施方式示意图；图2是本实用新型的全自动平面光谱分析仪的另一种实施方式示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。参照图1和图2:全自动平面光谱分析仪，包括外罩1、光源2、前端与光源2相连接的光路3、二轴控制器4、与二轴控制器4连接的载物台8、与二轴控制器4连接的检测装置5和与检测装置5连接的数据处理装置6，检测装置5与数据处理装置6通过数据线相连接，光源2与光路3通过光纤9相连接，二轴控制器4与数据处理装置6相连接。数据处理装置6为电脑，二轴控制器4为步进电机控制器。检测装置5包括反射镜51和检测器52，检测器52包括相并联的可见光检测器521和不可见光检测器522，可见光检测器521和不可见光检测器522通过数据线分别与数据处理装置6连接，检测器52的检测波长范围为380nnT2500nm。全自动平 面光谱分析仪还包括底座7，载物台8设于底座7上。检测装置5还包括设于反射镜51与检测器52之间的积分球53和与检测器52相连接的连接件54，检测器52通过可见光检测器521与连接件54相连接，可见光检测器521设于连接件54上，积分球53与检测器52和反射镜51相连接，积分球53通过光纤与检测器52连接，检测装置5通过连接件54与底座7相连接，连接件54设于底座7与载物台8之间。载物台8和连接件54与底座7连接处设有刻度盘10。光路3后端设有偏振片31，通过调整偏振片31的方向，实现自动测量S偏振光和P偏振光。当全自动平面光谱分析仪工作时，开启光源2，确认光源发出的光经光路3后进入积分球53，确认光的能量，将待测镜片置于载物台8，通过二轴控制器4设置载物台8的旋转角度，从而设定固定在载物台8上的待测镜片与光路3的水平角度。启动光源2，光线经过光路3后边为I飞mm的平行光，再作用在待测镜片上。参照图1，当待测镜片与光路3垂直时，同时通过二轴控制器4的控制，连接件54带动反射镜51、积分球53和检测器52旋转适当的角度，使得由光路3发出的光水平作用在待测镜片上，透过待测镜片的光水平作用在反射镜51上,作用在反射镜51的光经过积分球53作用,积分球53将光的能量经由光纤传送至检测器52上，电脑再将传送至检测器52的能量运算出待测镜片的透过能量曲线，将检测结果显示出来，从而测得待测镜片的透光率，检测时间在0.5s以内，提高了检测速度。参照图2:当待测镜片与光路3不垂直时，通过二轴控制器4的控制，将反射镜51旋转一定角度，角度测量范围为5° ^80°，使得光路2作用于待测镜片的光，经待测镜片反射后，反射光线作用在反射镜51上，最后测得光学镜片的反射性能。同时，可以通过使用可见光检测器521和不可见光检测器522，得出待测镜片对不同波长的光的反射性能。本实用新型的全自动平面光谱分析仪通过对待测镜片的透光率和反射率的测量，可得出待测镜片的能量吸收量。以上所述的仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护 范围。
权利要求1.全自动平面光谱分析仪，其特征在于，包括外罩、光源、前端与光源相连接的光路、二轴控制器、与二轴控制器连接的载物台、与二轴控制器连接的检测装置和与检测装置连接的数据处理装置，所述二轴控制器与数据处理装置相连接，所述检测装置包括反射镜和检测器，所述检测器包括相并联的可见光检测器和不可见光检测器。
2.根据权利要求1所述的全自动平面光谱分析仪，其特征在于，还包括底座，所述载物台设于底座上。
3.根据权利要求2所述的全自动平面光谱分析仪，其特征在于，所述检测装置还包括设于反射镜与检测器之间的积分球和与检测器相连接的连接件，所述积分球与检测器和反射镜相连接，所述检测装置通过连接件与底座相连接，所述连接件设于底座与载物台之间。
4.根据权利要求1所述的全自动平面光谱分析仪，其特征在于，所述数据处理装置为电脑。
5.根据权利要求1所述的全自动平面光谱分析仪，其特征在于，所述光源与光路通过光纤相连接。
6.根据权利要求3所述的全自动平面光谱分析仪，其特征在于，所述载物台和连接件与底座连接处设有刻度盘。
7.根据权利要求5所述的全自动平面光谱分析仪，其特征在于，所述光路后端设有偏振片。
8.根据权利要求1所述的全自动平面光谱分析仪，其特征在于，所述二轴控制器为步进电机控制器 。
专利摘要本实用新型公开了一种全自动平面光谱分析仪，包括外罩、光源、前端与光源相连接的光路、二轴控制器、与二轴控制器连接的载物台、与二轴控制器连接的检测装置和与检测装置连接的数据处理装置，二轴控制器与数据处理装置相连接，检测装置包括反射镜和检测器，检测器包括相并联的可见光检测器和不可见光检测器。本实用新型公开的全自动平面光谱分析仪具有能够方便快捷检测光学镜片的任意角度的光的折射和反射性能，检测效率高以及能检测波长范围很广的特点。
文档编号G01J3/28GK203101026SQ20132005066
公开日2013年7月31日 申请日期2013年1月30日 优先权日2013年1月30日
发明者覃亚, 肖顺东 申请人:佛山市北创光电科技有限公司