一种新型数字芯片测试仪的制作方法

文档序号:6065904阅读:312来源:国知局
专利名称:一种新型数字芯片测试仪的制作方法
技术领域
:本实用新型涉及一种芯片测试仪,具体来说为一种新型数字芯片测试仪。
技术背景:在电子类实验室中,经常需要使用大量的集成芯片,实验中经常会出现某些芯片不能正常使用或型号字体模糊无法识别的情况,这时就需要一台测试仪来完成对芯片型号的识别和故障测试。目前市场上已经很多集成芯片测试仪,功能也比较齐全,可以完成芯片的故障分析、识别和老化测试,但是普遍存在体积大、不方便携带,成本高,价格贵,而且很少利用上位机进行在线升级和专项测试。设计一种新型数字芯片测试仪,除了具备普通测试仪功能,能够判断芯片好坏、检测芯片型号外,还能够通过USB接口利用上位机和测试仪进行通信来完成指定芯片的专项测试,并可以在上位机显示逻辑图、逻辑表达式、状态转换图,并通过输入管脚特性,来快速显示所需要的芯片型号、逻辑图和表达式。
发明内容:针对上述现有技术存在的问题,本实用新型提供一种新型数字芯片测试仪。为了实现上述目的,本实用新型采用的技术方案是:一种新型数字芯片测试仪,包括微控制器、键盘模块、显示模块、存储模块、报警模块、电源模块、USB接口和待测芯片测试插座,所述键盘模块、显示模块、存储模块、报警模块和待测芯片测试插座均与微控制器相连,微控制器通过USB接口和PC机连接,电源模块负责给测试仪供电。作为优选,键盘模块为矩阵式键盘,用于设定工作模式和输入已知数字芯片的型号。作为优选,报警模块为语音型报警器。作为优选,显示模块为IXD显示屏。作为优选,存储模块为I2C总线的EEPR0M。作为优选,电源模块为锂离子电池。与现有技术相比,本实用新型的优点在于:体积小巧,成本很低,操作简单,性能可靠,非常适合学生在创新实验室使用,采用模块化设计,便于检测和修改,布局明朗,界面友好,可广泛推广。

:图1为本实用新型所述一种新型数字芯片测试仪的结构示意图。
具体实施方式
:
以下结合附图对本实用新型进一步说明。作为本实用新型的一种实施方式,参阅图1,本实用新型包括微控制器、键盘模块、显示模块、存储模块、报警模块、电源模块、USB接口和待测芯片测试插座,所述键盘模块、显示模块、存储模块、报警模块和待测芯片测试插座均与微控制器相连,微控制器通过USB接口和PC机连接,电源模块负责给测试仪供电。键盘模块为矩阵式键盘,用于设定工作模式和输入已知数字芯片的型号。报警模块为语音型报警器。显示模块为IXD显示屏。存储模块为I2C总线的EEPROM。电源模块为锂离子电池。优选的是,所述的微控制器选用ATMEGA16单片机,所述显示模块选用IXD1602液晶显示器,所述存储模块选用数据存储器AT24C04芯片,所述报警模块选用ISD1420语音芯片,所述USB接口选用CH375芯片。使用时,按照待测芯片测试插座旁边的指向,插入待测的数字芯片,系统开机后,首先系统初始化,并调用显示子程序显示欢迎界面,然后进入测试功能选择界面,可以进入芯片型号识别和芯片故障测试两个测试通道。如果选择芯片型号识别后,系统会自动对芯片进行真值表匹配以确定被测芯片型号,如果选择芯片故障测试就会进入芯片系列选择界面,可以通过键盘控制,选择元器件系列和输入型号进行指定测试,当单片机得到测试命令后它会调用被测芯片的真值表和测试子程序,向被测芯片特定I/O端口发送输入或控制信号,再从特定I/o端口读取信息与存储模块中储存的真值表相比较得出测试结果,然后调用显示子程序,将测试结果送到IXD1602显示器上显示(Pass !或者False !)。同时可以将结果通过USB接口发送给PC机,PC机将接收到的数据经由VB编写的上位机通信程序处理,将单片机测试的结果通过自编的软件在计算机上显示出来,若测试芯片正常,软件弹出一个对话框“芯片测试正常!",芯片正常指示灯亮,若测试芯片损坏,软件弹出一个对话框"芯片已损坏!"。在上位机中可以显示逻辑图、逻辑表达式、状态转换图,并通过输入管脚特性,来快速显示所需要的芯片型号、逻辑图和表达式。测试完成后,通过键盘模块中的复位键可以使程序返回上一层或者回到初始状态,等待下一次测试。系统可以选择USB接口和电池两种供电方式。当测试仪独立工作的时采用电池供电方式,电池供电部分采用普通的9V锂电池和稳压芯片LM7805及滤波电容组成,能为系统提供稳定的5V电压信号。当使用上位机控制测试仪工作时,可以通过拨动开关把供电改为USB接口供电模式,此时US B 口具有通信和供电两种功能。尽管已经结合当前认作是一个最为实用和优选的实施例来描述了本实用新型,但应当理解,本实用新型不限于所公开的实施例,而相反是旨在涵盖包括在所附权利要求的精神和范围内的多种修改和同等布置。
权利要求1.一种新型数字芯片测试仪,包括微控制器、键盘模块、显示模块、存储模块、报警模块、电源模块、USB接口和待测芯片测试插座,所述键盘模块、显示模块、存储模块、报警模块和待测芯片测试插座均与微控制器相连,微控制器通过USB接口和PC机连接,所述电源模块负责给测试仪供电。
2.根据权利要求1所述的一种新型数字芯片测试仪,其特征在于:所述键盘模块为矩阵式键盘,用于设定工作模式和输入已知数字芯片的型号。
3.根据权利要求1所述的一种新型数字芯片测试仪,其特征在于:所述报警模块为语音型报警器。
4.根据权利要求1所述的一种新型数字芯片测试仪,其特征在于:所述显示模块为LCD显示屏。
5.根据权利要求1所述的一种新型数字芯片测试仪,其特征在于:所述存储模块为I2C总线的EEPROM。
6.根据权利要求1所述的一种新型数字芯片测试仪,其特征在于:所述电源模块为锂离子电池。
专利摘要本实用新型涉及一种新型数字芯片测试仪,包括微控制器、键盘模块、显示模块、存储模块、报警模块、电源模块、USB接口和待测芯片测试插座,所述键盘模块、显示模块、存储模块、报警模块和待测芯片测试插座均与微控制器相连,微控制器通过USB接口和PC机连接,电源模块负责给测试仪供电。本实用新型体积小巧,成本很低,操作简单,性能可靠,非常适合学生在创新实验室使用,采用模块化设计,便于检测和修改,布局明朗,界面友好,可广泛推广。
文档编号G01R31/3177GK203069750SQ20132007451
公开日2013年7月17日 申请日期2013年2月6日 优先权日2013年2月6日
发明者卢超, 黄卫红 申请人:陕西理工学院
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